Aca - Departamento de Física - Universidad Técnica Federico Santa ...

V Encuentro Sud Americano de Colisiones Inelásticas en la Materia
Processos de Troca de Carga na Ionização Múltipla de Gases Nobres por
Íons de C 3 +
G. M. Sigaud 1 , A. C. F. Santos 2 , M. M. Sant’Anna 2 , W. S. Melo 3 , E. C. Montenegro 2
1 Departamento. de Física, Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, 22453-900, Brasil
2 Instituto de Física, Universidade Federal do Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, 21941-972,Brasil
3 Departamento de Física, Universidade Federal de Juiz de Fora, 36036-330, Brasil
Endereço de e-mail do autor para correspondência: gms@vdg.fis.puc-rio.br
Seções de choque absolutas para a perda
eletrônica do projétil, a captura eletrônica
pelo projétil e a ionização múltipla do alvo
foram medidas em colisões entre íons de carbono
triplamente ionizados e gases nobres,
em função dos estados de carga finais do projétil
e do alvo, para energias entre 1,3 e 3,5
MeV [1]. Os dados foram comparados com
outros resultados experimentais semelhantes
existentes na literatura para diversos projéteis.
Foram realizados cálculos a perda eletrônica
simples do projétil acompanhada pela
ionização múltipla do alvo para o modo de
blindagem (screening), usando tanto uma
versão estendida do Modelo de Impulso Clássico
de Colisões Livres (FCM) [2] quanto a
Aproximação de Born de Ondas Planas (PW-
BA), e para o modo de antiblindagem (antiscreening)
dentro da PWBA [3]. A dependência
do número de elétrons ativos para o antiscreening
com a energia da colisão foi descrita
por uma função simples, que é “universal” no
que diz respeito aos alvos, mas que, em princípio,
depende do projétil considerado. Foi
desenvolvido um método, dentro da Aproximação
de Impulso [4], para determinar o número
de elétrons ativos para o antiscreening
em cada subcamada do alvo, no limite de altas
velocidades.
No caso da captura eletrônica, a análise
da dependência dos processos de captura
simples e de ionização com transferência com
a carga do projétil mostrou que, no caso do
alvo de He, projéteis desprovidos de elétrons
e projéteis carregando elétrons, mas com o
mesmo estado de carga, apresentam seções de
choque muito semelhantes. Este fato indica
que, nestes processos para o He, íons vestidos
se comportam como partículas carregadas
sem estrutura.
Um comportamento semelhante ao da
captura simples foi também observado na ionização
simples pura do átomo de He por
projéteis com diferentes estados de carga.
Para os demais gases nobres, este comportamento
foi observado apenas para projéteis
simplesmente carregados.
Mostrou-se, ainda, que a dependência
das seções de choque de ionização simples
pura do alvo com o quadrado da carga do
projétil, predita por modelos de primeira ordem,
só é válida no regime de altas velocidades.
Para colisões mais lentas, a captura eletrônica
pelo projétil se torna mais relevante e
compete com a ionização simples pura do
alvo. Tal fato se torna ainda mais importante
à medida que a carga do projétil aumenta.
Referências
[1] A. C. F. Santos et al., Phys. Rev. A 82,
012704 (2010).
[2] G. M. Sigaud, J. Phys. B 41, 015205 (2008).
[3] E. C. Montenegro e W. E. Meyerhof, Phys.
Rev. A 43, 2289 (1991).
[4] E. C. Montenegro e T. J. M. Zouros, Phys.
Rev. A 50, 3186 (1994).
50 Valparaíso, Chile