Untitled - Materials Science Institute of Madrid - Consejo Superior de ...

12. Espectroscopía Brillouin y caracterización
acústica de materiales base de
dispositivos SAW
En un material piezoeléctrico, los campos eléctricos
estimulan las ondas acústicas, entre ellas las de superficie
(SAWs). Éstas son la base de filtros de alta frecuencia
de aplicación por ejemplo en telefonía celular y
en detectores de gases. La espectroscopía Brillouin de
alta resolución (EBAR) es un método no destructivo y
que no precisa de contacto físico con la muestra y que
permite caracterizar las propiedades elásticas, mecánicas
y ópticas de este tipo de materiales, incluyendo las
relacionadas con las ondas acústicas de superficie. El
método de preparación de estos materiales en forma de
lámina es determinante en las propiedades acústicas
finales como los resultados obtenidos por EBAR así lo
muestran.
12. Brillouin spectroscopy and acoustic
characterization of base materials for
SAW devices
In a piezoelectric material the electric field stimulates
acoustic waves, surface acoustic waves among them
(SAWs). High frequency filters are based on these ones
and can be applied, for instance, in the field of cellular
phones and gas detectors. High resolution Brillouin
spectroscopy (HRBS) is a non destructive and non contacting
method allowing the characterization of elastic,
mechanical and optical properties of this kind of materials,
including those properties related to the surface
acoustic waves. Thin film preparation methods are of
crucial importance in the final acoustic properties as
HRBS results show.
1. J. Pedrós, F. Calle, J. Grajal, R. J. Jiménez Riobóo, C. Prieto, J. L. Pau, J. Pereiro, M. Hermann, M. Eickhoff, and Z. Bougrioua, “Anisotropic
propagation of surface acoustic waves on nitride layers”, Mat. Science & Engineering B (enviado, mayo 2004).
Proyectos: “Láminas delgadas y heteroestructuras para dispositivos magnetoelectrónicos y acustoelectrónicos: Efectos de tamaño finito,
de substrato y de interfaces en sus propiedades” (CICyT, MAT2003-01880). I. Ciencia de Materiales de Madrid, (2004-2006). IP: A.
de Andrés.
13. Estudio de las propiedades estructurales
de laminas delgadas de Ag sobre
As/Si(111)
Los sistemas Ag/Si han suscitado durante mucho tiempo
una especial atención, debido a sus aplicaciones
tecnológicas en optoelectrónica. Nuestro grupo ha
estudiado las propiedades estructurales de Ag(111),
mediante espectroscopía de fotoelectrones resuelta en
ángulo. Las capas fueron depositadas sobre superficies
pasivadas As/Si(111)-(1x1). Tras un detallado análisis,
se concluyó que las capas de Ag crecían siguiendo un
mecanismo Volmer- Weber, desde la primera etapa de
formación de la intercara. Todas las películas de plata
examinadas presentan un buen crecimiento epitaxial,
donde coexisten dos dominios monocristalinos
fcc(111), girados entre si 60 grados uno respecto al
otro. Un análisis cuantitativo más detallado muestra
que el crecimiento de Ag mediado por As promueve
mayoritariamente la presencia de uno de los dominios.
13. Structural properties of metallic films
of Ag on As/Si(111)1x1
Ag/Si systems have aroused an special attention for a
long time, due to their technological applications in
optoelectronics. Our group has studied the electronic
properties of the valence band and the Fermi surface by
angle- resolved photoelectron spectroscopy of Ag(111)
films. The films were deposited onto silicon passivated
surface As/Si(111)-(1x1). After a detailed analysis, one
can concluded that Ag films grown following a mechanism
Volmer-Weber, from the first stage of formation of
the interface. All the films of silver examined present a
good epitaxial growth, where there coexist two
monocrystalline fcc (111) domains, turned 60 degrees
one respect to the other one. A more detailed quantitative
analysis shows that Ag’s growth on the presence of
As promotes one of the domains.
1. V. Pantín, J. Avila, M. E. Dávila, J. E. Bonnet and M. C. Asensio, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Volumes
137-140, July 2004, Pages 155-160
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