Sinterizazio-atmosferaren eragina M graduko (ASP 30 ... - Euskara

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hartu ziren kontutan : Banadio-, Kromo-, Burdina-, Manganeso-, Sufre- eta Kobalto-ren K lerroak eta Molibdeno- eta Wolframio-ren L-ak, beharrezko korrekzioa aplikatzen zelarik /27/ . Argazkiak atera zitzaizkien laginei karburoen frakzio bolumetriko eta tamaina neurtzeko ; MC karburoak eta matrizea ondo bereizten ez zirenean erasotu egiten ziren %5-eko Nital edo %5-eko Pikralez . Hondar-hutsune eta sinterizazioaren homogenotasuna ere begiratu zen . Beste zerbaitetarako ere erabili ziren Arakapenezko Mikroskopio Elektronikoko teknikak : Haustura-azalak behatzeko eta haustura-hasiera akatsen behaketa eta identifikaziorako, azken hau makurduran saiatutako probetetan, hain zuzen ere . 3 .5 .4 X-Izpiren Difrakzioa Hondar-austenita kopurua X-Izpiren difrakzioaren bidez neurtu zen, Philips PW1825/00 bat erabiliz, zein konputagailuz kontrolatua zen eta laguntza eta datu-tratamendurako APD 1700 sistema bat zuen ; azken honek tontor bakoitzaren azpiko azalera ematen zuen . Kuprearen Ka radiazioa erabili zen, X=1 .542 A-eko uhin-luzerakoa, grafitozko monokro- madore bat (20=26°) erabiliz . 31 .99° eta 100 .57° artean arakatu zen, 0 .01 ° s-1 -eko abiadura erabiliz . Maeder eta lag . -ek /81/ proposatutako metodoa erabili zen : intentsitate integratuak (hau da, difraktatutako tontorren azpiko azalera) neurtzen ziren, eta fase bakoitzaren frakzio bolumetrikoa kalkulatu zenbait iterizazioren bidez ; hauetan tontor bereiztuak ez ezik, estaliak ere hartzen ziren kontutan . Kontutan hartu ziren faseak hauexek dira : austenita (y), martensita (a) eta M6C karburoak eta MX partikulak (karbonitruroak gasezko sinterizazioan eta MC karburoak hutsezkoan) . Fase hauen frakzio bolumetrikoak honela kalkulatu ziren : Aq va = Aq +Bq +Cq +Dq Bq Vy= Aq +Bq +Cq +D q Cq VM6C= Aq +Bq +Cq +D q D q VMx = Aq +B q +Cq +D q 49
sideraron las líneas K del vanadio, cromo, hierro, manganeso, azufre y cobalto y las L del molibdeno y wolframio, aplicando la correspondiente corrección /27/ . Se fotografiaron las distintas muestras para medir la fracción volumétrica y tamaño de los carburos, atacándose las superficies con Nital 5% o Picral 5% sólo en aquellos casos en que no se distinguían bien los carburos MC de la matriz . Se observó asimismo la porosidad residual y la homogeneidad de la sinterización . También se utilizaron técnicas de Microscopio Electrónico de Barrido para analizar las superficies de fractura y para la búsqueda e identificación de los defectos de iniciación de la fractura en las probetas ensayadas a flexión . 3 .5 .4 Difracción de Rayos X La cantidad de austenita retenida se midió por difracción de rayos X en un equipo Philips PW 1825/00 controlado por computador y con un sistema de ayuda y tratamiento de datos APD 1700 que determinaba el área comprendida bajo cada pico . Se empleó la radiación K« del cobre, de longitud de onda X =1 .542 A, utilizando un monocromador de grafito (20=26°) . Se barrió entre 31 .99° y 100 .57° a una velocidad de 0 .01°s-1 . Se siguió el método propuesto por Maeder y col . /81/, consistente en medir las intensidades integradas -área bajo el pico difractado- y calcular la fracción volumétrica de cada fase mediante sucesivas iteraciones en las que se tienen en cuenta no sólo los picos resueltos de cada fase, sino también los solapados . Los valores de las fracciones volumétricas de las diferentes fases : austenita (y), martensita (a) y carburos M6C y partículas MX (carbonitruros en el caso de sinterización en gas y carburos MC en vacío) se calcularon como donde A q , Bq, C q y D q son los coeficientes obtenidos tras q iteraciones de las expre- siones : 49 Aq ve¿ - A q +Bq +Cq D Vy Bq - A q +Bq +Cq +D q Cq VM0C = Aq + Bq + Cq + D q D q VM X = Aq +Bq +Cq +Dq
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Javiri neuk baino ondiokan poza hau
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Las diferencias en el coste de sint
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A partir de dichas curvas se calcul
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ésta, hasta llegar al máximo de d
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Deflexioaren neurketa makinaren def
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Módulo de Young El módulo de Youn
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Transformación de la austenita Par
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con el mismo o también con que al
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donde fvj es la fracción volumétr
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mas de sinterizado de los mismos ac
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Estos contenidos se calcularon para
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do la misma dureza y cantidad de au
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En la figura 5 .13 se presentan est
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Material Sinterizazio- Atmosfera At
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(77) H . Takigawa, H . Manto, N. Ka
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306 Urr uibeaskoa et al . Metallogr
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AVOIDING GRAIN GROWTH DURING THE SU
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Publishing & Editorial The Institut
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INTRODUCTION Work carried out in th
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