Sinterizazio-atmosferaren eragina M graduko (ASP 30 ... - Euskara
Sinterizazio-atmosferaren eragina M graduko (ASP 30 ... - Euskara Sinterizazio-atmosferaren eragina M graduko (ASP 30 ... - Euskara
5 .3 .2 .3 Pitzaduraren tamaina kritikoaren eragina Bestalde, hausturarekiko erresistentziaren balioetan aurkitutako dispertsioak (4 .41 . ir .) haustura has erazten duen akatsa ez dela mikroegiturala agertzen du, inklusioak, mekanizazio-akatsak edota hondar-hutsuneak bezalako besteren bat baino . Hau dela eta, mikroplastizidadea aurkitu da isurpen makroskopikora iritsi baino lehen hautsi ziren probetetan . Akatsei dagokienean, trakzio-gainazalaren hurbil dagoen bakan txiki bat nahikoa zen haustura hasteko . Saiakuntza hau, beraz, ezin hobea agertzen da sinterizazioaren kalitatea kuantifikatzeko . Trakzio-gainazalaren gertu akatsik agertzen ez zuten laginetan, aldiz, siakuntzan neurtutako erresistentzia askoz handiagoa izan zen (1500 MPa-ekoa, alegia) gogortasun eta hondaraustenita kopuru bera agertzen bazuten ere . Lagin hauetan mikroegiturak eragina izaten hasia zela aurkitu zen (pitzadurak aurkitu ziren trakzio-gainazalean, 4 .53 . ir .) . 5 .12 . irudian agertzen dira plastizidadea agertu zuten laginei aplikatutako Weibullanalisiaren emaitzak. Lortutako Weibull-modulua, m = 7 .6 ± 1 .9, makurduran saiatutako altzairu lasterrezko lagin-taldeentzat argitaratutakoen beheko mugaren gertu dago . Zenbait autorek /12,38,56,69,70/ akats kritikoaren tamaina jakinda haustura-zailtasuna kalkulatzen saiatu dira, akatsak eliptikoak edo . semi-eliptikoak kontsideratuz eta Mekanika Elastiko Lineala (L .E .F.M.) erabiliz. Irwin-ek /63/ gainazaleko akats semi-eliptiko batentzat a c tamaina kritikoa hauxe zela esan zuen KI c2 I
-mediante la expresión (2 .31)- y los obtenidos aplicando la expresión (3 .10), o resistencia aparente . Si bien se suele considerar ésta última como una aproximación al valor de uf, se observa en la tabla que la sobreestimación llega a ser del 20 % (Shelton y col /67/ llegan a encontrar sobreestimaciones del 50 %) . Sin embargo, ha de tenerse en cuenta que, debido a la relativa fragilidad y a los grandes defectos encontrados en las muestras, sólo se midieron pequeñas deformaciones plásticas (< 1 .02 %, tabla 5 .X) y el error en el módulo de ruptura o resistencia aparente crece al aumentar la deformación plástica . Puesto que el procedimiento para evaluar ésta y calcular of es relativamente simple, no hay razón para continuar utilizando af * por of en discusiones científicas . Evidentemente, of * mantiene su validez en control de calidad o ensayos realizados sobre muestras geométricamente idénticas . Los valores obtenidos en este trabajo resultaron ser del orden de los publicados por otros autores como Wronski y col . /12/, 1-2 GPa para el T6, Shellton y col . /67/, 0 .9-1.5 GPa para el M2 o Wright y col . /56/, 0 .3-1 .3 GPa para el T42 sinterizados en vacío ; Martínez, por su parte, reporta 0 .9-1 .5 GPa para el T15 sinterizado en gas y 0 .8-1 .3 GPa en el sinterizado en vacío /28/ . Beiss y Wáhling /104/, en cambio, encontraron resistencias de entre 3 .2 y 3 .9 GPa en aceros convencionales y Takigawa y col . /77/, 4.1 GPa en un T15 sinterizado mediante HIP . En todos los casos, sin embargo, los ensayos se realizaron bien en flexión en 3 puntos o en 4 puntos pero con un span interior más pequeño (8 mm) que el utilizado en este trabajo, que fue de 20 mm, de modo el volumen de material sometido a la tensión máxima era mucho más pequeño ; de ahí que la probabilidad de encontrar un defecto fuera también menor y por tanto mayor la resistencia a la fractura . Esta relación entre las resistencias encontradas ensayando en 3 y 4 puntos ha sido reportada por Wronski y col . /12/ . 5 .3 .2 .3 Efecto del tamaño crítico de grieta La dispersión observada en los valores de resistencia a la fractura (fig . 4 .41) indica que el defecto desencadenante de la fractura no es microestructural, sino algún otro como puedan ser inclusiones, fallos de mecanizado o porosidad residual . Así, se observa microplasticidad en superficies de fractura de muestras que rompieron antes de llegar a la fluencia macroscópica . En cuanto a los defectos, se encontró que uno solo y de pequeño tamaño pero situado en las cercanías de la superficie de tracción era suficiente para desencadenar la fractura . Así, este ensayo resulta ser óptimo para cuantificar la calidad de la sinterización . Sin embargo, en aquellas muestras que no presentaban defectos cerca de la superficie de tracción la resistencia medida en el ensayo resultó mucho mayor (1500 MPa) aún tenien- 160
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Bestalde, hausturarekiko erresistentziaren balioetan aurkitutako dispertsioak (4 .41 . ir .)<br />
haustura has erazten duen akatsa ez dela mikroegiturala agertzen du, inklusioak,<br />
mekanizazio-akatsak edota hondar-hutsuneak bezalako besteren bat baino . Hau dela eta,<br />
mikroplastizidadea aurkitu da isurpen makroskopikora iritsi baino lehen hautsi ziren<br />
probetetan .<br />
Akatsei dagokienean, trakzio-gainazalaren hurbil dagoen bakan txiki bat nahikoa zen<br />
haustura hasteko . Saiakuntza hau, beraz, ezin hobea agertzen da sinterizazioaren kalitatea<br />
kuantifikatzeko .<br />
Trakzio-gainazalaren gertu akatsik agertzen ez zuten laginetan, aldiz, siakuntzan neurtutako<br />
erresistentzia askoz handiagoa izan zen (1500 MPa-ekoa, alegia) gogortasun eta hondaraustenita<br />
kopuru bera agertzen bazuten ere . Lagin hauetan mikroegiturak <strong>eragina</strong> izaten<br />
hasia zela aurkitu zen (pitzadurak aurkitu ziren trakzio-gainazalean, 4 .53 . ir .) .<br />
5 .12 . irudian agertzen dira plastizidadea agertu zuten laginei aplikatutako Weibullanalisiaren<br />
emaitzak. Lortutako Weibull-modulua, m = 7 .6 ± 1 .9, makurduran saiatutako<br />
altzairu lasterrezko lagin-taldeentzat argitaratutakoen beheko mugaren gertu dago .<br />
Zenbait autorek /12,38,56,69,70/ akats kritikoaren tamaina jakinda haustura-zailtasuna<br />
kalkulatzen saiatu dira, akatsak eliptikoak edo . semi-eliptikoak kontsideratuz eta Mekanika<br />
Elastiko Lineala (L .E .F.M.) erabiliz. Irwin-ek /63/ gainazaleko akats semi-eliptiko<br />
batentzat a c tamaina kritikoa hauxe zela esan zuen<br />
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