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Departamento de Física Teórica, Atómica y Óptica - Quantalab ...

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Φ<br />

=<br />

( ) ⎟ ⎛ ⎞<br />

2<br />

Φ ⎜<br />

ρv<br />

f v<br />

ρ f<br />

3 ρ p m 0 d<br />

(1-39)<br />

ρ p<br />

⎜<br />

⎝<br />

Siguiendo el procedimiento, po<strong>de</strong>mos ver que el flujo total que le llega al<br />

<strong>de</strong>tector será:<br />

⎠<br />

Φ d = Φ + Φ + Φ + ...<br />

(1-40)<br />

1<br />

2<br />

(<br />

3<br />

⎡ f<br />

⎤<br />

vρ<br />

v<br />

2 3<br />

Φ d = f d ρ mΦ<br />

0 ⎢η<br />

m + ρ p + ρ p + ρ p + ... ) ⎥<br />

(1-41)<br />

⎢⎣<br />

ρ p<br />

⎥⎦<br />

Φ<br />

d<br />

=<br />

f<br />

d<br />

⎡ f ⎤<br />

vρ<br />

v<br />

ρmΦ<br />

⎢η<br />

m + ⎥<br />

⎢⎣<br />

1−<br />

ρ p ⎥⎦<br />

0 (1-42)<br />

Si <strong>de</strong>ntro <strong>de</strong>l campo <strong>de</strong> visión no está incluida la muestra, entonces ηm = 0 y el<br />

flujo total que llega al <strong>de</strong>tector será:<br />

Φ<br />

d<br />

=<br />

f<br />

v<br />

fd<br />

ρm<br />

ρvΦ<br />

1−<br />

ρ<br />

p<br />

0 (1-43)<br />

El método más habitual para obtener experimentalmente la reflectancia <strong>de</strong> una<br />

muestra (Hansen, 1989) consiste en comparar dos medidas, en las que se proyecta luz<br />

sobre la muestra que se preten<strong>de</strong> medir y sobre un patrón <strong>de</strong> referencia <strong>de</strong> reflectancia<br />

conocida, <strong>de</strong> tal modo que la esfera sea iluminada por el flujo reflejado en cada caso.<br />

Por su parte, para medir la transmitancia también se compara la medida realizada<br />

mientras iluminamos el patrón, con otra en la que iluminamos la muestra, pero en este<br />

caso la luz se proyecta sobre la muestra <strong>de</strong>s<strong>de</strong> el exterior <strong>de</strong> la esfera, <strong>de</strong> modo que el<br />

flujo que ilumina en este caso el interior <strong>de</strong> la esfera es el transmitido por la muestra. A<br />

pesar <strong>de</strong> existir diversas configuraciones para conseguir este objetivo (Snail & Hansen,<br />

1989), el caso más habitual es en el que tanto muestra como patrón permanecen en la<br />

esfera durante la realización <strong>de</strong> todas las medidas a fin <strong>de</strong> evitar modificar la<br />

reflectancia promedio <strong>de</strong> la pared ρ p .<br />

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