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Guia_Examen_Patentes

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3.4.4.2 Concisión de la reivindicación<br />

165<br />

Si las reivindicaciones se refieren a pocos polimorfos, se considerará que son<br />

concisas.<br />

3.4.4.3 Soporte de la reivindicación en la descripción<br />

Una reivindicación de un polimorfo se considerará debidamente soportada en la<br />

descripción si esta divulga:<br />

- Los parámetros fisicoquímicos del polimorfo reivindicado.<br />

- Las condiciones experimentales relevantes de los métodos de medida usados<br />

para determinar las características del polimorfo reivindicado junto con las<br />

características del cristal y de su estructura, y<br />

- Los procesos de preparación del polimorfo que se reivindican.<br />

3.4.5 <strong>Examen</strong> de patentabilidad<br />

El examen de una solicitud de patente de un polimorfo se realiza en el orden<br />

convencional. Es decir, primero se examina novedad, y después nivel inventivo.<br />

3.4.6 <strong>Examen</strong> de novedad<br />

El examen de novedad debe realizarse así:<br />

1. Identificar y listar las características técnicas esenciales del polimorfo de la<br />

reivindicación independiente, es decir los valores de los picos del patrón de<br />

difracción de Rayos X en mono cristal o del patrón de difracción de Rayos X<br />

en polvo, de las espectroscopías Raman, IR, RMN-C13 y de los diagramas<br />

y curvas TGA, DTA ó DSC.<br />

2. Identificar las características técnicas de los polimorfos del estado de la<br />

técnica.

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