23.04.2013 Views

caracteristicas de las fibras opticas - publicaciones de Roberto Ares

caracteristicas de las fibras opticas - publicaciones de Roberto Ares

caracteristicas de las fibras opticas - publicaciones de Roberto Ares

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

4. ATENUACIÓN ESPECTRAL<br />

CARACTERISTICAS DE LAS FIBRAS OPTICAS<br />

La estructura básica <strong>de</strong> la red cristalina <strong>de</strong> la fibra óptica es el dióxido <strong>de</strong> silicio SiO 2 , cuya disposición espacial respon<strong>de</strong> a<br />

un tetraedro regular con el Oxigeno en los vértices y el Silicio en el centro. La elevada pureza <strong>de</strong>l material contribuye a<br />

formar un retículo cristalino que se aleja un tanto <strong>de</strong> la <strong>de</strong>finición <strong>de</strong>l vidrio (producto inorgánico <strong>de</strong> fusión que se ha<br />

enfriado sin cristalizar).<br />

Así como el ancho <strong>de</strong> banda se <strong>de</strong>fine como el valor <strong>de</strong> frecuencia <strong>de</strong> la modulación para la cual se tiene una atenuación <strong>de</strong> 3<br />

dB respecto <strong>de</strong> la frecuencia cero, se <strong>de</strong>fine la atenuación <strong>de</strong> la fibra óptica como el valor <strong>de</strong> atenuación para una frecuencia<br />

modulante nula. La atenuación <strong>de</strong> la fibra óptica difiere <strong>de</strong> la producida por un par conductor. Mientras en el par la<br />

atenuación se incrementa con la función √f (f es la frecuencia <strong>de</strong> la señal transmitida) en la fibra óptica la atenuación<br />

permanece constante hasta una frecuencia <strong>de</strong> corte (ancho <strong>de</strong> banda).<br />

Existen diversos mecanismos que contribuyen a la atenuación <strong>de</strong> <strong>las</strong> <strong>fibras</strong> ópticas, entre ellos tenemos: <strong>las</strong> reflexiones, <strong>las</strong><br />

dispersiones y <strong>las</strong> absorciones.<br />

REFLEXIÓN DE FRESNEL. Se produce en los extremos <strong>de</strong> <strong>las</strong> <strong>fibras</strong> ópticas <strong>de</strong>bido al salto <strong>de</strong> índice <strong>de</strong> refracción entre<br />

el exterior y el núcleo. El valor se escribe como:<br />

Rf % = [(n1-n0)/(n1+n0)] 2 . 100<br />

con n1 el índice <strong>de</strong>l núcleo y n0 el <strong>de</strong>l medio exterior. Con n0=1 y n1=1,48 se tiene un valor <strong>de</strong> Rf= 3,7%, es <strong>de</strong>cir que la<br />

potencia reflejada está 14 dB por <strong>de</strong>bajo <strong>de</strong> la potencia inci<strong>de</strong>nte. La expresión anterior es válida cuando el corte <strong>de</strong>l extremo<br />

<strong>de</strong> la fibra óptica es perfectamente perpendicular. De lo contrario, la reflexión disminuye casi a 0% cuando el ángulo llega a<br />

6°. Para disminuir esta reflexión se suele colocar un medio adaptador <strong>de</strong> índice <strong>de</strong> refracción. Muchas veces se usan<br />

materiales epoxi <strong>de</strong> idénticas características para unir sólidamente los elementos.<br />

4.1- DISPERSIÓN DE RAYLEIGH<br />

El esparcimiento o dispersión <strong>de</strong> Rayleigh se <strong>de</strong>be a fluctuaciones <strong>de</strong> concentración y <strong>de</strong>nsidad, burbujas en el material,<br />

inhomogeneida<strong>de</strong>s y fisuras o imperfecciones <strong>de</strong> la guía <strong>de</strong> ondas por irregularida<strong>de</strong>s interfaciales <strong>de</strong>l núcleo y<br />

revestimiento.<br />

En este caso se produce una dispersión <strong>de</strong> la onda electromagnética (como en el caso <strong>de</strong> <strong>las</strong> ondas <strong>de</strong> agua chocando con un<br />

obstáculo) que se traduce en una atenuación <strong>de</strong> la onda inci<strong>de</strong>nte. El valor <strong>de</strong> la atenuación respon<strong>de</strong> a la ley:<br />

Ar = K/λ 4<br />

El valor <strong>de</strong> K <strong>de</strong>pen<strong>de</strong> <strong>de</strong> la diferencia relativa <strong>de</strong>l índice <strong>de</strong><br />

refracción. El valor <strong>de</strong> Ar en dB/Km se indica en la Tabla<br />

anexa. Estos valores se pue<strong>de</strong>n extraer <strong>de</strong> la Fig 03 y son los<br />

límites teóricos <strong>de</strong> atenuación ya que <strong>las</strong> absorciones son<br />

<strong>de</strong>spreciables <strong>de</strong>bajo <strong>de</strong> 1,55 µm.<br />

Des<strong>de</strong> principios <strong>de</strong> la década <strong>de</strong> los años 80' se han logrado alcanzar estos límites teóricos con <strong>fibras</strong> ópticas <strong>de</strong> laboratorio<br />

<strong>de</strong> muy alta calidad y <strong>de</strong>s<strong>de</strong> 1985 <strong>las</strong> <strong>fibras</strong> ópticas comerciales están muy cerca <strong>de</strong> dichos valores. No <strong>de</strong>ben esperarse<br />

mejoras <strong>de</strong> atenuación en el futuro con FO <strong>de</strong> SiO 2 . Existen otras dispersiones cuyo valor resulta ser muy inferior a la <strong>de</strong><br />

Rayleigh, como ser los esparcimientos <strong>de</strong> Mie, Raman y Brillouin.<br />

4.2- ABSORCIÓN DEL MATERIAL<br />

En lo que respecta a <strong>las</strong> absorciones el SiO 2 produce una absorción natural con un mínimo en 1,55 µm. Se diferencian por<br />

ello dos zonas: una hacia el infrarrojo IR y otra ultravioleta UV. Las respectivas atenuaciones se pue<strong>de</strong>n escribir como:<br />

-Infrarrojo Air = 7,8.10 11 .exp(-48,5/λ)<br />

-Ultravioleta Auv = [(154.x)/(44,6.x+60)].10 -2 .exp(4,63/λ)<br />

La concentración <strong>de</strong> GeO 2 (componente que se coloca para variar en índice <strong>de</strong> refracción) se expresa como x.<br />

También se <strong>de</strong>tectan absorciones <strong>de</strong> los radicales oxidrilo OH (producto <strong>de</strong>l proceso <strong>de</strong> fabricación), que se muestra en la Fig<br />

04 en unida<strong>de</strong>s <strong>de</strong> concentración en ppm (partes por millón). Por razones históricas (hasta 1980, cuando el efecto <strong>de</strong>l OH se<br />

reduce a valores <strong>de</strong>spreciables) quedan <strong>de</strong>terminadas <strong>las</strong> <strong>de</strong>nominadas ventanas <strong>de</strong> baja atenuación en longitu<strong>de</strong>s <strong>de</strong> onda <strong>de</strong><br />

0,85 µm; 1,3 µm; 1,55 µm. El pico <strong>de</strong> absorción en 1,39 µm correspon<strong>de</strong> a la segunda armónica <strong>de</strong> 2,76 µm <strong>de</strong>bido al Si-OH,<br />

mientras que el pico en 1,41 µm correspon<strong>de</strong> a la segunda armónica <strong>de</strong> 2,83 µm <strong>de</strong>l Ge-OH.<br />

1401-(10)<br />

Δ% 0,2 0,5 1<br />

K 0,86 1,02 1,27<br />

λ=0,85µm 1,65 1,95 2,43<br />

λ=1,30µm 0,3 0,36 0,44<br />

λ=1,55µm 0,15 0,18 0,22

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!