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Deutsche Tagung f ¨ur Forschung mit ... - SNI-Portal

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Plenarvortrag Fr., 09:00–09:30 F-PV7<br />

In-situ-Röntgenbeugungsuntersuchungen epitaktischer Kristallwachstumsprozesse<br />

Wolfgang Braun 1 , Klaus H. Ploog 1<br />

1 Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik, Berlin<br />

Die Röntgenbeugung ist ein nahezu ideales Werkzeug, um Mechanismen des Kristallwachstums<br />

zu studieren. Dabei spielt die geringe Wechselwirkung des Röntgenstrahls<br />

<strong>mit</strong> Materie eine entscheidende Rolle, erlaubt sie doch einerseits eine zerstörungsfreie<br />

Messung, andererseits oft die Vernachlässigung von Mehrfachstreuung in der<br />

mathematischen Analyse. Zur Untersuchung dünner Schichten und Oberflächen sind<br />

wir jedoch auf Synchrotronstrahlung angewiesen, um trotz der geringen Wechselwirkung<br />

ausreichende Signalstärken zu erreichen. Die Kombination einer Molekularstrahl-<br />

Epitaxie(MBE-)anlage <strong>mit</strong> einem Diffraktometer ist besonders viel versprechend, da<br />

in der MBE Schichten auf einkristallinen Substraten direkt aus den konstituierenden<br />

Elementen aufgebaut werden. Dadurch wird die Physik des Kristallwachstumsprozesses<br />

so einfach wie möglich gehalten.<br />

Durch die Variation des Einfallswinkels der Röntgenstrahlung kann die Wechselwirkungstiefe<br />

von einigen ˚Angström bis zu vielen Mikrometern verändert werden, was einerseits<br />

extrem oberflächenempfindliche Messungen erlaubt, andererseits eine Analyse<br />

dicker Schichtstapel ermöglicht. Die Röntgenbeugung arbeitet dabei als Frequenzfilter<br />

im Realraum, wodurch Strukturen <strong>mit</strong> unterschiedlichen Korrelationslängen separiert<br />

werden können.<br />

Das Paul-Drude-Institut betreibt ein eigenes Strahlrohr bei BESSY, an dem wechselweise<br />

eine von drei MBE-Anlagen in einem Sechskreis-Diffraktometer betrieben werden<br />

kann. Die Energie des monochromatischen Primärstrahls kann zwischen 6 und 12 keV<br />

variiert werden. Dadurch ergibt sich eine breit angelegte Palette sowohl in der möglichen<br />

Wahl der untersuchten Materialsysteme als auch der anwendbaren Beugungsmethoden.<br />

Wir stellen verschiedene Beispiele vor, so unter anderem die Wachstumskinetik verschiedener<br />

III-V-Halbleiteroberflächen, das Wachstum ferromagnetischen Manganarsenids<br />

auf Galliumarsenid und die Untersuchung des Ordnungszustandes von epitaktischem<br />

Eisensilizid auf GaAs.

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