Dr. Escherich katalog 2017 - Elektron Knez

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Anhang annex Umgang mit Partikeln < 50 µm Für Partikel < 50 µm sind die in der VDA 19.1 beschriebenen Prüfverfahren nur bedingt geeignet, da es schwierig ist, einen entsprechend niedrigen Blindwert zu gewährleisten. Um diesen niedrigen Blindwertforderungen gerecht zu werden, müssen größere Anforderungen an das verwendete Equipment und vor allem an die Prüfumgebung (Reinraumbedingungen) gestellt werden. Hierfür kann es erforderlich sein, Reinstarbeitsplätze zu schaffen (Flow-Boxen) und die Oberflächen im Labor, die mit Extraktionsflüssigkeiten in Berührung kommen, auf ein Minimum zu reduzieren. Umgang mit komplexen Bauteilen Bei geometrisch komplexen Bauteilen, komplexen Baugruppen, oder bei Bauteilen, die bei der Prüfung aktiv betätigt werden müssen, gilt es zu beachten, dass die Sauberkeitsanalysen sich sehr aufwändig gestalten können. Zum einen kann es erforderlich sein, zusätzliche Hilfsmittel wie bspw. Aufnahmen, Halterungen, Manipulatoren und Adaptionen zu verwenden. Diese Komponenten müssen häufig speziell für das Prüfbauteil angepasst/gefertigt werden. Ebenfalls kann der Zeit- und Medienbedarf für große Bauteile mit mehreren oder großvolumigen Innenbereichen ansteigen. Bei all diesen Aufwendungen muss aber sichergestellt werden, dass die geforderten Blindwertkriterien eingehalten werden. Auch muss beachtet werden, dass bei der Extraktionsprozedur Partikelverunreinigungen in Hinterschnitten schwer erfasst werden können. Unterschiede in der Partikelvermessung Aufgrund unterschiedlicher Messprinzipien können die Analyseergebnisse unterschiedlicher Messverfahren nicht direkt miteinander verglichen werden. Bei den mikroskopischen Verfahren (lichtmikroskopisch und rasterelektronenmikroskopisch) erfolgt die Größenmessung des Partikels mittels Feretmax Kriterium um die tatsächliche Länge des Partikels zu bestimmen. Messsysteme die nach dem Abschattungsprinzip arbeiten, erfassen die Größe des Partikels mittels dem äquivalenten Kreisdurchmesser. Die Abschattungsfläche wird in eine Kreisfläche umgerechnet und dann der Durchmesser des Kreises als Partikelgröße angegeben. Bei Kleinstpartikeln ist dies nicht kritisch, da mit sinkender Größe Partikel immer kompakter (runder) werden. Dealing with particles < 50 µm For particles < 50 µm the testing procedure described in VDA 19.1 is only suitable to a limited extent, as it is difficult to assure a blank value. In order to achieve this low blank value requirement, greater demands must be made on the equipment used and, above all on the testing environment (clean room conditions). For this it can be necessary to provide ultra-clean workplaces (flow boxes) and to reduce to a minimum the surfaces in the laboratory which come into contact with extraction liquids. Dealing with complex components In the case of geometrically complex components, complex assemblies or components which must be activated during the test, it must be taken into account that the cleanliness analyses can be very complicated. Firstly it can be necessary to employ additional aids such as photographs (fixtures?), mountings, manipulators and adaptions. These components often need to be specially adapted/manufactured for the test component. Similarly the time and medium requirements increase for large components with several or large-volume interiors. For all these complications it must, however, be assured that the required blank value criteria are fulfilled. It must furthermore be taken into account that in the extraction procedure, particle contamination in indentations can be difficult to identify. Differences in particle measurement Due to differing measurement principles, analysis results of different measuring procedures can not be directly compared. In the case of microscopic procedures (by optical microscope or scanning electron microscope), size measurement of particles is made using feretmax criteria to determine the actual length of the particle. Measuring systems which operate according to the shadowing principle determine the size of the particle by means of the equivalent diameter. The shadowed surface is converted to a circular area and then the diameter of the circle is given as particle size. If the particles are minute this is not critical, since with reduction of size, particles become ever more compact (rounder). 346 www.dr-escherich.com
Bühne frei! Clear the stage! Für Dr. Escherich Reinigungssysteme. For Dr. Escherich cleaning systems.
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Systeme für Elektrostatik & Oberfl
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Elektrostatische Entladung - AC Ele
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CROSSJET Allgemein Introduction Ber
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Zur Oberflächenreinigung von flach
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