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Deliverables and Services - IHP Microelectronics

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Einkristallines Ge auf Si mittels<br />

Oxid-Heterostrukturen<br />

A U S G E w ä H L T E P R O J E K T E – S E L E C T E d P R O J E C T S<br />

Ziel des Projektes ist die globale bzw. lokale Integration<br />

neuer Materialien in die Silizium-Technologieplattform,<br />

um durch die Verfügbarkeit alternativer Halbleiterschichten<br />

geeigneter Qualität die Funktionalität<br />

und Leistung der siliziumbasierten Schaltkreistechnologie<br />

weiter auszubauen.<br />

Halbleiterbasierte integrierte Schaltkreise werden<br />

hauptsächlich in monolithischen Materialien angefertigt.<br />

Da die Materialeigenschaften für die Leistungsfähigkeit<br />

der Schaltkreise wichtig sind, wurden in der<br />

Vergangenheit je nach Anwendung verschiedene Halbleitermaterialien<br />

als Plattform für verschiedene Technologien<br />

entwickelt. Die Silizium-Technologie dominiert<br />

den Halbleitermarkt und entwickelt sich auf Grund<br />

des wachsenden Bedarfes an digitaler Prozessierung<br />

rasant weiter. In optoelektronischen Anwendungen<br />

nahe der 870 nm Wellenlänge wiederum ist z. B. das<br />

ternäre Halbleitersystem AlGaAs auf GaAs-Substraten<br />

führend. Heutzutage ist nur sehr selten auf Grund dieser<br />

Trennung der Substratplattformen eine Interaktion<br />

zwischen der Silizium- und der III-V-Halbleiterwelt zu<br />

beobachten.<br />

Die Vision auf dem Forschungsgebiet der „Engineered<br />

Wafer Systems“ ist die Überwindung dieser Trennung der<br />

elektronischen Systeme, die historisch durch die Verfügbarkeit<br />

der verschiedenen Substrate bedingt ist. Die<br />

Hauptforschungsrichtung ist am <strong>IHP</strong> die monolithische<br />

Integration gitteran- bzw. gitterfehlangepasster alternativer<br />

Halbleiter in die Silizium-Plattform, da letztere<br />

die kommerziell dominierende Technologie darstellt.<br />

Methodisch konzentriert sich der Forschungsansatz auf<br />

die Abscheidung einkristalliner Puffer-Dielektrika und<br />

alternativer Halbleiterschichten mittels der Heteroepitaxie,<br />

da diese Technik neben der Flexibilität eine vor<br />

allem kosteneffektive Integration eröffnet.<br />

Single Crystalline Ge on Si via<br />

Oxide-Heterostructures<br />

the project goal is the global <strong>and</strong> / or local integration<br />

of new valuable semiconductor materials in the silicon<br />

technology platform to extend the performance<br />

<strong>and</strong> functionality of silicon-based integrated circuits<br />

(ICs) by the availability of high quality alternative semiconductor<br />

layers with appropriate properties.<br />

Semiconductor-based integrated circuits (ICs) are<br />

built on monolithic materials. As the properties of the<br />

materials are important for the performance of the<br />

electronic circuitry, different semiconductor materials<br />

became the technology platform of choice for the<br />

various, targeted applications. Si technology dominates<br />

the semiconductor market driven by the thirst<br />

for digital processing capability. In applications involving<br />

optoelectronics near the 870 nm wavelength,<br />

the AlGaAs alloy system on GaAs is widely employed.<br />

today, an interaction between the mature Si <strong>and</strong> the<br />

rapidly evolving III-V semiconductor worlds is rarely<br />

observed, mainly due to the separation by different<br />

semiconductor platforms.<br />

the vision of engineered wafer systems is to overcome<br />

these limitations of electronic systems, brought<br />

about by the historical separation of the different semiconductor<br />

platforms. the main research objective<br />

at IHp is the monolithic integration of lattice matched<br />

or mismatched alternative semiconductor thin<br />

film materials on the main-stream silicon platform, as<br />

the latter is the commercially most dominant semiconductor<br />

technology worldwide. thereby, the film<br />

deposition method of choice in this research project<br />

is focussed on the integration via heteroepitaxy by<br />

the subsequent deposition of single crystalline buffer<br />

dielectrics <strong>and</strong> alternative semiconductor layers on<br />

the silicon wafer. this method offers besides the high<br />

flexibility to address in principle global as well as local<br />

integration approaches the important advantage<br />

to be appropriate for achieving the cost-effective integration<br />

of alternative semiconductor materials in<br />

the silicon technology platform under conventional<br />

clean room conditions.<br />

A n n u A l R e p o R t 2 0 0 7<br />

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