PDF - JuSER - Forschungszentrum Jülich
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Literaturübersicht<br />
Linsensystems lässt sich eine Abbildung allein mit dem selektierten Elektronenenergiebereich<br />
erzeugen (Energiefilter), womit sich insbesondere Elementverteilungsbilder erzeugen lassen.<br />
[2.6.8].<br />
2.6.3 Energiedispersive Röntgenanalytik- Energy Dispersive X-Ray (EDX)<br />
EDX ist ein Verfahren, das zur Analyse der oberflächennahen Bereiche von Festkörpern oder<br />
zur Charakterisierung von dünnen Schichten eingesetzt wird. Bei dem EDX-Verfahren<br />
emittiert die zu untersuchende Probe, welche mit energiereichen Primärelektronen bestrahlt<br />
wird, charakteristische Röntgenstrahlung. Die Primärelektronen stoßen Elektronen aus<br />
kernnahen Schalen der Probenatome heraus. In die entstandenen Lücken fallen Elektronen aus<br />
weiter vom Atomkern entfernt liegenden Elektronenschalen. Die Energiedifferenz zwischen<br />
den beiden hierbei beteiligten Elektronenschalen (∆E=E 2 -E 1 =h.ν) kann als Konkurrenzprozess<br />
zur Auger-Ionisation auch als Röntgenstrahlungen emittiert werden, die für jedes Element<br />
charakteristische Energien aufweisen. Die Auswertung der im Röntgenspektrum enthaltenen<br />
Spektrallinien erlaubt es, die Elementzusammensetzung der Probe zu identifizieren und über<br />
die Intensität auch zu quantifizieren. Hierzu wird die Röntgenstrahlung hinsichtlich ihrer<br />
Energie analysiert und die<br />
jeweilige Intensität der<br />
Spektrallinien gemessen [2.6.9].<br />
Abbildung 2.20: Kombination der Falschfarbdarstellung<br />
der Elemente: rot: Fe,<br />
grün: S, blau: Ca, gelb: Pyrit mit<br />
den Strukturbild von [2.6.10]<br />
Die Informationstiefe des<br />
Verfahrens (µm-abhängig von der<br />
Energie der Primärstrahlung) liegt<br />
dabei wesentlich höher als bei<br />
elektronen- und massenspektrometrischen<br />
Verfahren (nm).<br />
EDX ist zu einer sehr häufig<br />
genutzten Analysenmethode<br />
geworden und wird heutzutage als<br />
eine Standartausstattung mit einem<br />
REM bzw. TEM kombiniert.<br />
Durch die Rasterung eines fein<br />
fokussierten Primärelektronenstrahls<br />
kann so eine<br />
Elementverteilung (Mapping) in<br />
der Probe mit hoher Ortsauflösung erstellt werden. Die EDX-Mappings der Elemente können<br />
zusammen (Abbildung 2.20) oder als Einzelbilder dargestellt werden. Bei der EDX-Methode<br />
ist der Nachweis aller chemischen Elemente mit Ordnungszahlen<br />
Z >= 5 (Bor) möglich [2.6.10].<br />
2.6.4 Neutronenkleinwinkelstreuung<br />
NKWS- Neutronenkleinwinkelstreuung (engl. SANS, Small Angle Neutron Scattering) ist zur<br />
Charakterisierung von Matrixinhomogenitäten in metallischen und keramischen Werkstoffen<br />
geeignet und liefert eine spezielle Möglichkeit zur Beschreibung von Phasen- und<br />
Clusterverteilung, Strukturbildungs- und –umwandlungsprozessen, Defektstrukturen,<br />
Grenzlächen, z.B. zwischen Poren und fester Matrix usw. [2.6.11, 2.6.12].<br />
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