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PDF - JuSER - Forschungszentrum Jülich

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Literaturübersicht<br />

Linsensystems lässt sich eine Abbildung allein mit dem selektierten Elektronenenergiebereich<br />

erzeugen (Energiefilter), womit sich insbesondere Elementverteilungsbilder erzeugen lassen.<br />

[2.6.8].<br />

2.6.3 Energiedispersive Röntgenanalytik- Energy Dispersive X-Ray (EDX)<br />

EDX ist ein Verfahren, das zur Analyse der oberflächennahen Bereiche von Festkörpern oder<br />

zur Charakterisierung von dünnen Schichten eingesetzt wird. Bei dem EDX-Verfahren<br />

emittiert die zu untersuchende Probe, welche mit energiereichen Primärelektronen bestrahlt<br />

wird, charakteristische Röntgenstrahlung. Die Primärelektronen stoßen Elektronen aus<br />

kernnahen Schalen der Probenatome heraus. In die entstandenen Lücken fallen Elektronen aus<br />

weiter vom Atomkern entfernt liegenden Elektronenschalen. Die Energiedifferenz zwischen<br />

den beiden hierbei beteiligten Elektronenschalen (∆E=E 2 -E 1 =h.ν) kann als Konkurrenzprozess<br />

zur Auger-Ionisation auch als Röntgenstrahlungen emittiert werden, die für jedes Element<br />

charakteristische Energien aufweisen. Die Auswertung der im Röntgenspektrum enthaltenen<br />

Spektrallinien erlaubt es, die Elementzusammensetzung der Probe zu identifizieren und über<br />

die Intensität auch zu quantifizieren. Hierzu wird die Röntgenstrahlung hinsichtlich ihrer<br />

Energie analysiert und die<br />

jeweilige Intensität der<br />

Spektrallinien gemessen [2.6.9].<br />

Abbildung 2.20: Kombination der Falschfarbdarstellung<br />

der Elemente: rot: Fe,<br />

grün: S, blau: Ca, gelb: Pyrit mit<br />

den Strukturbild von [2.6.10]<br />

Die Informationstiefe des<br />

Verfahrens (µm-abhängig von der<br />

Energie der Primärstrahlung) liegt<br />

dabei wesentlich höher als bei<br />

elektronen- und massenspektrometrischen<br />

Verfahren (nm).<br />

EDX ist zu einer sehr häufig<br />

genutzten Analysenmethode<br />

geworden und wird heutzutage als<br />

eine Standartausstattung mit einem<br />

REM bzw. TEM kombiniert.<br />

Durch die Rasterung eines fein<br />

fokussierten Primärelektronenstrahls<br />

kann so eine<br />

Elementverteilung (Mapping) in<br />

der Probe mit hoher Ortsauflösung erstellt werden. Die EDX-Mappings der Elemente können<br />

zusammen (Abbildung 2.20) oder als Einzelbilder dargestellt werden. Bei der EDX-Methode<br />

ist der Nachweis aller chemischen Elemente mit Ordnungszahlen<br />

Z >= 5 (Bor) möglich [2.6.10].<br />

2.6.4 Neutronenkleinwinkelstreuung<br />

NKWS- Neutronenkleinwinkelstreuung (engl. SANS, Small Angle Neutron Scattering) ist zur<br />

Charakterisierung von Matrixinhomogenitäten in metallischen und keramischen Werkstoffen<br />

geeignet und liefert eine spezielle Möglichkeit zur Beschreibung von Phasen- und<br />

Clusterverteilung, Strukturbildungs- und –umwandlungsprozessen, Defektstrukturen,<br />

Grenzlächen, z.B. zwischen Poren und fester Matrix usw. [2.6.11, 2.6.12].<br />

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