PDF - JuSER - Forschungszentrum Jülich
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Literaturübersicht<br />
- Dickenunterschiede der TEM-Probe<br />
- elastische und inelastische Streuung<br />
der Elektronen an Defekten<br />
(Fehlstellen, Versetzungen,<br />
Stapelfehler usw.) Korngrenzen,<br />
Domänenwänden [2.6.3].<br />
- Elementunterschiede<br />
Abbildung 2.17: Signalerzeugung bei Bestrahlung<br />
einer dünnen Probe mit<br />
hochenergetischen Elektronen<br />
[2.6.1, 2.6.2, 2.6.3, 2.6.4]<br />
Bei der konventionellen<br />
Hellfeldabbildungstechnik (HF; Bright<br />
Field, BF) wird eine zentrierte<br />
Objektivaperturblende verwendet, deren<br />
Durchmesser so klein ist, dass nur der<br />
Primärstrahl durchgelassen wird und die<br />
gebeugten Elektronen ausgefiltert<br />
werden.<br />
Die Intensitäten des Primärstrahls und der gebeugten Strahlen hängen von der lokalen Dicke<br />
der Probe und der Orientierung des Kristallgitters relativ zur Elektronen-Einfallsrichtung ab.<br />
Die Orientierung bestimmt dabei den Anregungsfehler. Bei einer leicht gewölbten<br />
Kristallfolie ändert sich die Orientierung kontinuierlich. Ist das Kristallgitter an einer Stelle so<br />
ausgerichtet, dass die Bragg-Bedingung für die (hkl)-Netzebenenschar erfüllt ist, so erscheint<br />
diese Stelle im HF-Bild dunkler als die Umgebung. Die Elektronen werden dort gebeugt und<br />
von der Objektivblende ausgefiltert. Wenn die Objektivblende um einen Beugungsreflex<br />
zentriert wird und damit der Primärstrahl herausgefiltert wird, ersteht eine<br />
Dunkelfeldabbildung (DF).<br />
Moderne TEMs ermöglichen neben der Abbildung kleinster Details im nm-Bereich auch die<br />
Aufnahme von Beugungsdiagrammen. Durch die Kombination dieser Geräte mit<br />
Energiedispersive Spektrometern und Elektronen-Energieverlust-Spektrometern wird eine<br />
Erweiterung der verfügbaren Probeninformation erreicht [2.6.4, 2.6.5].<br />
2.6.2 Elektronenenergieverlustspektroskopie<br />
Bewegen sich schnelle Strahlelektronen der Primärenergie E 0 durch ein Objekt, so können sie<br />
einen Teil ∆E ihrer Energie und ihres Impulses aufgrund der Coulombwechselwirkung mit<br />
den geladenen Teilchen des Objektes abgeben. Die Elektronenenergieverlustspektroskopie<br />
(engl. EELS von Electron Energy Loss Spectroscopy) basiert auf dem Effekt.<br />
Alle Wechselwirkungen der Elektronen mit der Probe, die zu einem Energieverlust führen,<br />
finden sich als Intensitätsverteilung im Spektrum wieder. Ein Spektrum besteht aus<br />
(Abbildung 2.18):<br />
- Nullverlustbereich: (engl. zero-loss region). Da die Proben sehr dünn sind, gelangt eine<br />
Vielzahl von Elektronen ohne jegliche inelastische Wechselwirkung durch die Probe.<br />
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