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PDF - JuSER - Forschungszentrum Jülich

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Literaturübersicht<br />

- Dickenunterschiede der TEM-Probe<br />

- elastische und inelastische Streuung<br />

der Elektronen an Defekten<br />

(Fehlstellen, Versetzungen,<br />

Stapelfehler usw.) Korngrenzen,<br />

Domänenwänden [2.6.3].<br />

- Elementunterschiede<br />

Abbildung 2.17: Signalerzeugung bei Bestrahlung<br />

einer dünnen Probe mit<br />

hochenergetischen Elektronen<br />

[2.6.1, 2.6.2, 2.6.3, 2.6.4]<br />

Bei der konventionellen<br />

Hellfeldabbildungstechnik (HF; Bright<br />

Field, BF) wird eine zentrierte<br />

Objektivaperturblende verwendet, deren<br />

Durchmesser so klein ist, dass nur der<br />

Primärstrahl durchgelassen wird und die<br />

gebeugten Elektronen ausgefiltert<br />

werden.<br />

Die Intensitäten des Primärstrahls und der gebeugten Strahlen hängen von der lokalen Dicke<br />

der Probe und der Orientierung des Kristallgitters relativ zur Elektronen-Einfallsrichtung ab.<br />

Die Orientierung bestimmt dabei den Anregungsfehler. Bei einer leicht gewölbten<br />

Kristallfolie ändert sich die Orientierung kontinuierlich. Ist das Kristallgitter an einer Stelle so<br />

ausgerichtet, dass die Bragg-Bedingung für die (hkl)-Netzebenenschar erfüllt ist, so erscheint<br />

diese Stelle im HF-Bild dunkler als die Umgebung. Die Elektronen werden dort gebeugt und<br />

von der Objektivblende ausgefiltert. Wenn die Objektivblende um einen Beugungsreflex<br />

zentriert wird und damit der Primärstrahl herausgefiltert wird, ersteht eine<br />

Dunkelfeldabbildung (DF).<br />

Moderne TEMs ermöglichen neben der Abbildung kleinster Details im nm-Bereich auch die<br />

Aufnahme von Beugungsdiagrammen. Durch die Kombination dieser Geräte mit<br />

Energiedispersive Spektrometern und Elektronen-Energieverlust-Spektrometern wird eine<br />

Erweiterung der verfügbaren Probeninformation erreicht [2.6.4, 2.6.5].<br />

2.6.2 Elektronenenergieverlustspektroskopie<br />

Bewegen sich schnelle Strahlelektronen der Primärenergie E 0 durch ein Objekt, so können sie<br />

einen Teil ∆E ihrer Energie und ihres Impulses aufgrund der Coulombwechselwirkung mit<br />

den geladenen Teilchen des Objektes abgeben. Die Elektronenenergieverlustspektroskopie<br />

(engl. EELS von Electron Energy Loss Spectroscopy) basiert auf dem Effekt.<br />

Alle Wechselwirkungen der Elektronen mit der Probe, die zu einem Energieverlust führen,<br />

finden sich als Intensitätsverteilung im Spektrum wieder. Ein Spektrum besteht aus<br />

(Abbildung 2.18):<br />

- Nullverlustbereich: (engl. zero-loss region). Da die Proben sehr dünn sind, gelangt eine<br />

Vielzahl von Elektronen ohne jegliche inelastische Wechselwirkung durch die Probe.<br />

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