Study of radiation damage in silicon detectors for high ... - F9

9. Povzetek doktorskega dela 1199.2.2 Merilni sistemHP 4284ALCR meterKEITHLEY 237napetostni izvorin merilnik tokaR=4.7kΩC=100nFcca. 3mZSPADZOSlika 9.2: Povezava laboratorijskega merilnega sistema z merjenim vzorcem. Oznake merilnihzic pomenijo: ZS - zadnja (n + ) stran, ZO - zascitni obroc, PAD - p + stran diode.Merilni sistem v laboratoriju Glavni komponenti laboratorijskega merilnega sistemasta HP4284A LCR meter in KEITHLEY 237 visoko-napetostni izvor in merilnik toka.Njuna povezava z merjenim vzorcem je prikazana na sliki 9.2. Kondenzatorji in uporiscitijo LCR meter pred visoko napetostjo in spremembami impedance napetostnega izvora.Tako HP4284A kot KEITHLEY 237 sta povezana z osebnim racunalnikom, ki vodimeritev ter bere in hrani rezultate. Program vzporedno spremlja tudi temperaturo vzorca.To merimo s toplotnim senzorjem Pt100, povezanim s temperaturnim kontrolerjem YokogawaUT15. Med meritvami so vzorci v hladilni skrinji, stabilizirani na 5 C. Temperaturnostabilizirane omare uporabljamo tudi za shranjevanje vzorcev. Za pospesevanje casovnegarazvoja poskodb smo vzorce segrevali v pecici pri 60 C, s temperaturo stabilizirano na2 C.Merilni sistem na reaktorju Merilni sistem na reaktorju je v osnovi enak sistemu, kismo ga uporabljali v laboratoriju. Glavna razlika je v tem, da je KEITHLEY 237, ki jehkrati izvor napetosti in merilnik toka, nadomescen z dvema enotama in sicer KEITHLEY617 kot merilnikom toka in visoko-napetostnim izvorom Wentzel. Poleg tega je HP4284Anadomescen s preprostejso izvedbo HP4263B, ki omogoca meritve le pri stirih vnaprejdolocenih frekvencah merilne napetosti (100 Hz, 1 kHz, 10 kHz in 100 kHz). Vendar terazlike nimajo opaznega vpliva napotek meritev in analizo podatkov.