Программа Конференции (формат PDF, 452Кб)

10 ОПТИКА – 2005
Среда (19.10.05).
Секция 2. Оптическое приборостроение. Часть 1
Председатели секции: Зверев В.А., Якушенков Ю.Г.
Зал А
9.00 МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПЕРСПЕКТИВНОГО ИНТЕРФЕРОМЕТРА
ДЛЯ СРЕДСТВ ДИАГНОСТИКИ ТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ; Алехин В.Е.; Ростовский военный
институт ракетных войск им. Главного маршала артиллерии М.И. Неделина, Ростов-на-Дону,
Россия.
9.30 ВЛИЯНИЕ ФАЗОВОЙ НЕОДНОРОДНОСТИ ЛАЗЕРНОГО ДИОДА НА ТОЧНОСТЬ
ИЗМЕРЕНИЯ ФАЗОВОГО ДАЛЬНОМЕРА; Белявский В.С.; Белорусский государственный
университет, Минск, Беларусь.
9.50 РАСПРЕДЕЛЕННЫЕ ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЕ СЕНСОРЫ ГАММА-ИЗЛУЧЕНИЯ НА
ОСНОВЕ КВАРЦЕВЫХ СТЕКОЛ; Волков С.В., Янукович Т.П.; Белорусский государственный
университет, Минск, Беларусь.
10.10 РЕГИСТРАЦИИ МИКРОИЗГИБОВ ОПТИЧЕСКОГО ВОЛОКНА МЕТОДОМ АНАЛИЗА
БРИЛЛЮЭНОВСКОГО ОПТИЧЕСКОГО ЧАСТОТНОГО ДОМЕНА; Янукович Т.П.; Белорусский
государственный университет, Минск, Беларусь.
10.30 О ВЫБОРЕ ЛИНЕЙНОГО УВЕЛИЧЕНИЯ АДАПТЕРА ТЕЛЕКАНАЛА МИКРОСКОПА;
Волкова М.А.; Открытое Акционерное Общество "ЛОМО", Санкт-Петербург, Россия.
10.50-11.10 Перерыв
Секция 2. Оптическое приборостроение. Часть 2
Председатели секции: Забелина И.А., Латыев С.М.
11.10 ДВУХЗЕРКАЛЬНЫЕ СВЕТОСИЛЬНЫЕ, РЕВЕРСИВНЫЕ ТЕЛЕОБЪЕКТИВЫ;
Милорадов А.Б, Андреев Л.Н.; Санкт-Петербургский государственный университет
информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия.
11.40 ВАРИАНТ КОМПОЗИЦИИ ЗЕРКАЛЬНО-ЛИНЗОВОГО ОБЪЕКТИВА; Романова Г.Э.,
Зверев В.А., Шепелевич А.Н.; Санкт-Петербургский государственный университет
информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия.
12.00 ОЦЕНКА КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ В ЗЕРКАЛЬНО-ЛИНЗОВОМ ТЕЛЕСКОПЕ НА
БАЗЕ ЗАФОКАЛЬНОЙ ДВУХЗЕРКАЛЬНОЙ СИСТЕМЫ; Ермаков И.В.; Московский
государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва, Россия.
12.20 АЛГОРИТМЫ ПРОСТРАНСТВЕННО-НЕИНВАРИАНТНОЙ ФИЛЬТРАЦИИ
ИМПУЛЬСНОГО ШУМА НА ЦИФРОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЯХ В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ
СИСТЕМАХ; Самойлин Е.А.; Ростовский военный институт ракетных войск им. Главного
маршала артиллерии М.И. Неделина, Ростов-на-Дону, Россия.
12.40 ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ПОГРЕШНОСТИ ПРИ ФОКУСИРОВКЕ НА ТОЧНОСТЬ
ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ СООСНОСТИ; Анисимов А.Г.;
Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и
оптики, Санкт-Петербург, Россия.
13.00-14.00 Обед