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X f(X) - JMP

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丰 富 的 统 计 质 量 管 理 工 具 集<br />

统 计 过 程 控 制<br />

测 量 系 统 分 析<br />

试 验 设 计<br />

生 存 / 可 靠 性 分 析<br />

运 行 图<br />

变 异 源 分 析<br />

完 全 因 子 设 计<br />

分 布 拟 合<br />

变 量 控 制 图<br />

量 具 的 重 复 性 和 再 现 性<br />

筛 选 设 计<br />

WeiBayes 分 析<br />

属 性 控 制 图<br />

量 具 的 偏 倚 和 线 性<br />

响 应 面 设 计<br />

竞 争 原 因 估 计<br />

特 殊 原 因 检 验<br />

嵌 套 型 量 具 分 析<br />

混 料 设 计<br />

参 数 生 存 模 型<br />

操 作 特 性 曲 线<br />

交 叉 嵌 套 混 合 的 量 具 分 析<br />

田 口 设 计<br />

非 线 性 参 数 生 存 模 型<br />

时 间 加 权 控 制 图<br />

属 性 一 致 性 分 析<br />

扩 充 设 计<br />

比 例 危 险 模 型<br />

多 变 量 控 制 图<br />

Kappa<br />

空 间 填 充 设 计<br />

加 速 失 效 模 型<br />

Levey Jennings 控 制 图<br />

判 别 比 率<br />

非 线 性 设 计<br />

可 修 复 系 统 的 再 现 分 析<br />

实 时 控 制 图<br />

可 区 分 类 别 数<br />

定 制 设 计<br />

过 程 能 力 分 析<br />

数 据 挖 掘 : 决 策 树 , 神 经 网 络<br />

注 : 蓝 色 为 其 他 统 计 软 件 所 不 具 备 的 功 能<br />

Copyright © 2008, SAS Institute Inc. All rights reserved.

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