Ca1-xSrx(Mg1/3Nb2/3)O3系統之結構與微波介電性質
Ca1-xSrx(Mg1/3Nb2/3)O3系統之結構與微波介電性質
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3dB 頻寬及 insertion loss 等數值靹,輸入電腦<br />
程式以求得其微波介電性質。<br />
將燒結體粉碎、研細後,過325目篩,然<br />
後經退火處理後,以0.02° 2θ/ 8 sec進行10到<br />
90° 2θ之X光繞射韗實驗,以做為Rietveld精算<br />
法計算時頗所需之繞射韗數據。<br />
最後藉由拉曼光譜儀 (NRS-1000, Jasco)<br />
進行17-1200 cm -1 範圍之訊號搜集,再將試片<br />
研磨後,以離子薄化機(precision ion polishing<br />
system, model: 691, Gatan)製成TEM試片,以<br />
高解析穿透式顯微鏡 (HRTEM, FEI Tecnai G 2<br />
F20, FEI Philips),對燒結體進行微結構觀<br />
察。<br />
三、結果與討論<br />
結果與討論<br />
圖一為<strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3系統中,各<br />
組成點之燒結體的X光繞射韗圖,圖中分別標<br />
示出B-site有序化之超晶格頴(superlattice)繞射韗<br />
峰韠與氧頿八面體傾斜(tilting)所造成之繞射韗峰韠位<br />
置,由圖一可看出在此成分系統中,皆出現<br />
B-site 1:2有序結構。<br />
圖一 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3燒結體之相鑑定結<br />
果。<br />
圖二為燒結體密度量測結果與理論密度<br />
之對照,其中燒結體密度由阿基米得法求<br />
得,而理論密度則藉由X光繞射韗結果進而計<br />
算出個鞄別的晶格頴常數後計算而得,由圖二<br />
中,隨著Sr 2+ 的添加量增加,理論密度隨之<br />
增加;而燒結體的相對密度顯示燒結體的燒<br />
結情況,因Sr 2+ 的添加量增加,而較不易燒<br />
結緻密。<br />
圖三為 CSMN 系統隨著不同 Sr 2+ 添加量<br />
之微波介電性質,我們靽可以發現隨著 Sr 2+ 添<br />
加量增加,溫度頻率係數 (τf) 由-48趨向-34<br />
(穩定性增加),介電常數也增加了,但 Q×f<br />
由於燒結體的緻密度降低,部份受到來自於<br />
孔洞與其他外在因素(extrinsic factor) 的影<br />
響,所以顯現出下降的情況。<br />
圖二 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3系統中,各組成點<br />
燒結體之理論密度(T.D.)、量測密度(Dbulk)與<br />
相對密度(R.D.)。<br />
圖三 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3系統之微波介電性<br />
質。
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