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Ca1-xSrx(Mg1/3Nb2/3)O3系統之結構與微波介電性質

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<strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(Mg Nb )O 系統之結構與微波介電性質<br />

系統之結構與微波介電性質<br />

1/3 2/3 3<br />

Structure and Microwave Dielectric Properties of<br />

<strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(Mg 1/3 Nb 2/3 )O 3 system<br />

林逸昌 黃啟原鞝<br />

Yi-Chang Lin, Chi-Yuen Huang<br />

成功大學資源工程系<br />

Department of Resources Engineering, National Cheng Kung University<br />

摘 要<br />

針對 針對 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(Mg Nb )O (CSMN)複合鈣鈦礦系統<br />

複合鈣鈦礦系統<br />

複合鈣鈦礦系統,本研究利用<br />

複合鈣鈦礦系統 本研究利用 X 光粉末<br />

光粉末<br />

1/3 2/3 3<br />

繞射韗之結果進行<br />

繞射韗之結果進行 繞射韗之結果進行 Rietveld 晶體結構精算<br />

晶體結構精算、同時頗進行拉曼光譜量測與穿透式電<br />

晶體結構精算 同時頗進行拉曼光譜量測與穿透式電<br />

子顯微鏡觀察<br />

子顯微鏡觀察,配合微波介電性質量測之結果<br />

子顯微鏡觀察 配合微波介電性質量測之結果<br />

配合微波介電性質量測之結果,發現隨著<br />

配合微波介電性質量測之結果 發現隨著 Sr 2+ 的添加 的添加,εr 的添加 有<br />

增加的趨勢<br />

增加的趨勢,而 增加的趨勢<br />

增加的趨勢 Q×f 則出現了下降的現象<br />

則出現了下降的現象;綜合各項<br />

則出現了下降的現象<br />

則出現了下降的現象 綜合各項 綜合各項結果顯示<br />

綜合各項 結果顯示 結果顯示,隨著<br />

結果顯示 隨著 隨著 Sr 2+ 的<br />

添加 添加,CSMN 添加 添加 系統的 系統的 系統的 B-site 有序程度 有序程度出現變化<br />

有序程度 有序程度 出現變化 出現變化,推測對此系統<br />

出現變化 推測對此系統<br />

推測對此系統 Q×f 的影響 的影響<br />

的影響<br />

主要在於 主要在於 Sr 2+ 的添加造成<br />

的添加造成 的添加造成 B-site 陽離子有序排列程度與有序化區域大小的改<br />

陽離子有序排列程度與有序化區域大小的改<br />

陽離子有序排列程度與有序化區域大小的改<br />

變。<br />

關鍵詞 關鍵詞:複合鈣鈦礦結構<br />

關鍵詞 複合鈣鈦礦結構<br />

複合鈣鈦礦結構,微波介電材料頔<br />

複合鈣鈦礦結構 微波介電材料頔<br />

微波介電材料頔,拉曼光譜<br />

微波介電材料頔 拉曼光譜 拉曼光譜,1:2有序結構<br />

拉曼光譜 有序結構<br />

一、 前言<br />

前言<br />

由於衛星通訊與個鞄人行動通訊系統需求量<br />

快 速 地 成 長 , 微 波 陶 瓷 元 件 如 介 電 共 振頄 器<br />

(Dielectric resonator, DR)的需求也與日俱鞂增,<br />

典型微波介電共振頄器的應用包括:微波振頄盪器<br />

(Oscillator) 、 介 電 共 振頄 濾 波 器 (Dielectric<br />

Resonator Filter, DRF)、行動電話及全球定位系<br />

統(Global Positioning System, GPS)之天線等。<br />

一般對於陶瓷介電共振頄器材料頔要求的基<br />

本條件為高介電常數 (εr),低損失(高Q值靹) 及<br />

溫度穩定性高 (τf 幾近於零),所以可以結合<br />

製作體積小、重量輕、溫度穩定之低成本微<br />

波濾波器。而其中,高Q值靹為元件低損耗的<br />

必要要求,尤其是應用在更高頻時頗,材料頔的<br />

Q值靹更為重要,因此高Q值靹材料頔的開發更為需<br />

要。<br />

過去在複合鈣鈦礦結構中,已有不少探<br />

討Ca(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3之有序化結構的觀察[1]與<br />

微波介電性質之關聯[2],而本研究主要針對<br />

<strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3 (CSMN)系統,探討 Bsite<br />

離子有序化程度與 A-site 離子取代時頗,<br />

晶體結構變化與其微波介電性質之關係。<br />

二、實驗方法 實驗方法<br />

本 實 驗 採 傳 統 固 態 反 應 法 將 CaCO3<br />

(Showa, 99.5%)、SrCO3 (Aldrich, 99.9+%)、<br />

MgO (Iwantani, 99.5%)與 Nb2O5 (Alfa Aesar,<br />

99.5%) 依不同化學劑量比 (x=0, 0.05, 0.1, 0.2,<br />

0.3, 0.4, 0.5) 秤重,以純度 99.5%之酒精為媒<br />

介進行濕式球磨混合 6 小時頗,接著以微波乾<br />

燥後,分別研細並過 200 目篩後,再取部份<br />

樣品粉末利用熱差韤 / 熱重分析 (Differential<br />

Thermal Analysis / Thermo-gravimetric Analysis,<br />

DTA/TGA ) (Netzsch STA 409PC),藉由吸放<br />

熱及失重變化,決定其煆燒條件。<br />

將 各 組 成 粉 末 以 每 分 鐘 5℃ 升 溫 至<br />

1250℃,並持溫 3 小時頗進行煆燒,採自然爐<br />

冷方式降溫,隨後將煆燒粉末以濕式球磨、<br />

微波乾燥後,研細並過 200 目篩,以 X 光粉<br />

末 繞 射韗 儀 (X-ray Powder Diffractometer,<br />

Siemens D5000, Bruker-AXS)進行粉末相鑑<br />

定,再將潤滑劑(甘油)與黏結劑(PVA, 6 wt%)<br />

分別加入 2 wt%及 6 wt%與粉末均勻混合,<br />

然後過 50 目篩並乾燥後,以完成造粒程序。<br />

秤取各組成之造粒粉末,以450 MPa進<br />

行單軸壓力成形,製得直徑韬:厚度為2:1之<br />

生坯,進行1500℃持溫8小時頗燒結,最後將燒<br />

結體依序以600、800、1000、1200、1500、<br />

2000 與 4000 號 砂 紙 進 行 表 面 拋 光 , 以<br />

Courtney法 [3] , 藉 由 網 路 分 析 儀 (network<br />

analyzer, HP8757D, Agilent) 配 合 恆 溫 控 制<br />

器,量得TE011 mode、TE012 mode之頻率、


3dB 頻寬及 insertion loss 等數值靹,輸入電腦<br />

程式以求得其微波介電性質。<br />

將燒結體粉碎、研細後,過325目篩,然<br />

後經退火處理後,以0.02° 2θ/ 8 sec進行10到<br />

90° 2θ之X光繞射韗實驗,以做為Rietveld精算<br />

法計算時頗所需之繞射韗數據。<br />

最後藉由拉曼光譜儀 (NRS-1000, Jasco)<br />

進行17-1200 cm -1 範圍之訊號搜集,再將試片<br />

研磨後,以離子薄化機(precision ion polishing<br />

system, model: 691, Gatan)製成TEM試片,以<br />

高解析穿透式顯微鏡 (HRTEM, FEI Tecnai G 2<br />

F20, FEI Philips),對燒結體進行微結構觀<br />

察。<br />

三、結果與討論<br />

結果與討論<br />

圖一為<strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3系統中,各<br />

組成點之燒結體的X光繞射韗圖,圖中分別標<br />

示出B-site有序化之超晶格頴(superlattice)繞射韗<br />

峰韠與氧頿八面體傾斜(tilting)所造成之繞射韗峰韠位<br />

置,由圖一可看出在此成分系統中,皆出現<br />

B-site 1:2有序結構。<br />

圖一 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3燒結體之相鑑定結<br />

果。<br />

圖二為燒結體密度量測結果與理論密度<br />

之對照,其中燒結體密度由阿基米得法求<br />

得,而理論密度則藉由X光繞射韗結果進而計<br />

算出個鞄別的晶格頴常數後計算而得,由圖二<br />

中,隨著Sr 2+ 的添加量增加,理論密度隨之<br />

增加;而燒結體的相對密度顯示燒結體的燒<br />

結情況,因Sr 2+ 的添加量增加,而較不易燒<br />

結緻密。<br />

圖三為 CSMN 系統隨著不同 Sr 2+ 添加量<br />

之微波介電性質,我們靽可以發現隨著 Sr 2+ 添<br />

加量增加,溫度頻率係數 (τf) 由-48趨向-34<br />

(穩定性增加),介電常數也增加了,但 Q×f<br />

由於燒結體的緻密度降低,部份受到來自於<br />

孔洞與其他外在因素(extrinsic factor) 的影<br />

響,所以顯現出下降的情況。<br />

圖二 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3系統中,各組成點<br />

燒結體之理論密度(T.D.)、量測密度(Dbulk)與<br />

相對密度(R.D.)。<br />

圖三 <strong>Ca1</strong>-<strong>xSrx</strong>(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3系統之微波介電性<br />

質。


圖 四 僅 顯 示 Ca(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3 之 Rietveld<br />

精算結果,而實際將此系列的精算結果比對<br />

後,顯示隨著Sr 2+ 添加量的增加,氧頿八面體<br />

的傾斜程度有減小的現象,而我們靽亦可於圖<br />

一的X光繞射韗圖中發現,隨著Sr 2+ 添加量的增<br />

加,由B-site陽離子之氧頿八面體傾斜所產生的<br />

額外繞射韗峰韠也減少了。<br />

圖四 Ca(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3之Rietveld精算結果。<br />

圖五為CSMN系統之拉曼光譜圖像,其<br />

中在 180-400 cm -1 之間的峰韠數,隨著Sr 2+ 的添<br />

加量增加,有明顯減少的現象,這個鞄頻段的<br />

訊號被認為與氧頿八面體的傾斜有關[4],這個鞄<br />

結果與 Rietveld 精算的結果有一致性,顯示<br />

了氧頿八面體的傾斜量隨Sr 2+ 的添加量增加而<br />

趨緩。<br />

圖五 CSMN系統之拉曼光譜圖。<br />

圖六中,參考前人研究中所提[5,6],特顠<br />

別針對800 cm -1 附近之 A1g(O) mode 的偏移<br />

(Raman shift) 與半高寬 (FWHM) 的變化,說<br />

明了B-site有序程度的變化,半高寬越寬,表<br />

示短程有序 (short-range ordered, SRO)所佔的<br />

比例較多,反之,半高寬越窄,則表示長程<br />

有序 (long-range ordered, LRO) 所佔的比例較<br />

多,或是稱有序區域 (ordered domain) 較大;<br />

圖中也發現隨著Sr 2+ 添加量的增加,A1g(O)<br />

mode 往更高的頻率偏移,而介電常數也隨之<br />

增加 。燒結體中的SRO增加,則表示有序區<br />

域(ordered domain)較小,則具相同體積的晶<br />

粒裡的區界(domain boundary)相對上較多,<br />

則 品 質 因 數 (Q×f) 下 降 , 這 點 與 前 人 對<br />

Ba(Zn1/3Ta2/3)O3–BaZrO3系統之微波介電性質<br />

的觀察相同[7]。<br />

圖六 CSMN系統之A1g(O) mode的偏移、半高<br />

寬(FWHM)與介電常數及品質因數的關係。


圖七則顯示了 Ca0.9Sr0.1(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3之<br />

TEM明視野影像 (bright-field image) 及選區電<br />

子 繞 射韗 圖 (selected-area electron diffraction,<br />

SAED),從明視野影像中,我們靽可以清楚看<br />

到有序區域成長時頗,有序區域與母相(matrix)<br />

之間所形成的反相邊界(antiphase boundary,<br />

APB);圖中亦可看到因釋放氧頿八面體傾斜所<br />

造成之應力而形成的ferroelastic boundary;而<br />

SAED主要顯示出B-site陽離子以1:2有序排<br />

列之繞射韗點,且在基本繞射韗點之間亦發現因<br />

不同陽離子大小之離子取代所造成的微弱韪繞<br />

射韗點。<br />

圖七 Ca0.9Sr0.1(<strong>Mg1</strong>/<strong>3Nb2</strong>/3)O3之穿透式電子顯<br />

微鏡明視野影像、SAED與繞射韗點說明。<br />

四、結論<br />

在B-site以1:2劑量比合成的複合鈣鈦礦<br />

系統中,我們靽可以藉由拉曼光譜儀與穿透式<br />

電子顯微鏡作為輔助工具,讓我們靽更能清楚<br />

瞭解,當A-site陽離子位置以不同大小之陽離<br />

子進行取代時頗,B-site有序程度與有序區域成<br />

長的影響,以及對B-site陽離子為中心的氧頿八<br />

面體變化與微結構之間的關係,進而與其微<br />

波介電性質建立起關聯性。<br />

誌謝 誌謝 感謝中山大學貴儀中心王良珠小姐於<br />

TEM分析上的幫助。<br />

參考文獻<br />

參考文獻<br />

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