31.07.2013 Views

cache

cache

cache

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

วิธีการวิเคราะห<br />

1. การศึกษาลักษณะแกรนูลแปงดวยเครื่อง<br />

Scanning Electron Microscope<br />

( Sahai และคณะ, 1996)<br />

เครื่องมือ<br />

กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน (Jeol JSM 5310, England)<br />

แทง Aluminium Stub<br />

เทปกาวสองหนา ชนิดบาง<br />

วิธีวิเคราะห<br />

(1) นํ าแปงตัวอยางปริมาณเล็กนอยมากระจายตัวบนเทปกาวสองหนา ที่ติดอยูบนแทง<br />

Aluminium Stub<br />

(2) นํ าแทง Aluminium Stub ที่ติดแปงตัวอยางแลวเขาเครื่องเคลือบทอง<br />

(Coating<br />

gold) ที่ผิวของแปงตัวอยาง<br />

เพื่อชวยในการนํ<br />

าประจุอิเล็กตรอน<br />

(3) นํ าแทง Aluminium Stub ที่ผานการเคลือบทองแลว<br />

เขาสูชองใสแทง<br />

Aluminium Stub ภายในตัวกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน โดยควบคุมสภาวะการทดลองที่คาอัตรา<br />

เรงของความตางศักยไฟฟาที่<br />

10 หรือ 15 kV และใชกํ าลังขยายที่<br />

1,000 หรือ 4,000 เทา<br />

(4) เลือก Field ของแกรนูลแปงที่ตองการ<br />

และบันทึกภาพแกรนูลแปงดังกลาวลงบน<br />

ฟลม AGAFAPAN-APX 100 film<br />

2. การวิเคราะหเปอรเช็นต Size Distribution ของขนาดแกรนูลแปง<br />

(Sahai และคณะ, 1996)<br />

เครื่องมือ<br />

แผนสไลดกระจก (Glass slide)<br />

กระจกปดแผนสไลด (Cover slide)<br />

293

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!