以電化學沉積法製備氧化鐵奈米棒/奈米管之研究 - 陶瓷暨電子材料 ...
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以電化學沉積法製備氧頿化鐵奈米棒<br />
以電化學沉積法製備氧頿化鐵奈米棒/<strong>奈米管之研究</strong><br />
以電化學沉積法製備氧頿化鐵奈米棒 <strong>奈米管之研究</strong><br />
Fabrication and Characterization of Fe2O3 Nanorods and Nonotubes by<br />
Electrodeposition<br />
*張家韑銘 呂英治 李信義<br />
C. M. Chang*, I. C. Leu, and S. Y. Lee<br />
國立聯合大學材料頔科學工程學系<br />
Department of Materials Science and Engineering, National United University<br />
本研究 本研究以電化學製程成功地在陽極化之氧頿化鋁薄膜<br />
本研究 本研究 以電化學製程成功地在陽極化之氧頿化鋁薄膜<br />
以電化學製程成功地在陽極化之氧頿化鋁薄膜(Anodic 以電化學製程成功地在陽極化之氧頿化鋁薄膜 Aluminum Oxide membrane,<br />
AAO membrane)的奈米孔洞中成長一維的氧頿化鐵奈米結構<br />
的奈米孔洞中成長一維的氧頿化鐵奈米結構<br />
的奈米孔洞中成長一維的氧頿化鐵奈米結構。藉由製程參數調整<br />
的奈米孔洞中成長一維的氧頿化鐵奈米結構 藉由製程參數調整<br />
藉由製程參數調整,本研究可獲得實<br />
藉由製程參數調整 本研究可獲得實<br />
心之奈米棒及空心奈米管結構<br />
心之奈米棒及空心奈米管結構。並藉由反應溶液濃度及反應時頗間的變化<br />
心之奈米棒及空心奈米管結構 並藉由反應溶液濃度及反應時頗間的變化<br />
並藉由反應溶液濃度及反應時頗間的變化,可改變其奈米結構及外<br />
並藉由反應溶液濃度及反應時頗間的變化 可改變其奈米結構及外<br />
形之長短軸比<br />
形之長短軸比(aspect 形之長短軸比 ratio)。研究中亦發現<br />
研究中亦發現<br />
研究中亦發現,除電化學反應外<br />
研究中亦發現 除電化學反應外<br />
除電化學反應外,溶液中化學析出的現象<br />
除電化學反應外 溶液中化學析出的現象<br />
溶液中化學析出的現象,也能同時頗<br />
溶液中化學析出的現象 也能同時頗<br />
成長其他形態之奈米結構<br />
成長其他形態之奈米結構。本文除探討奈米棒的成長行為<br />
成長其他形態之奈米結構 本文除探討奈米棒的成長行為<br />
本文除探討奈米棒的成長行為,也將對特顠定條件下出現的奈米管及其<br />
本文除探討奈米棒的成長行為 也將對特顠定條件下出現的奈米管及其<br />
形態轉變機制提出解釋<br />
形態轉變機制提出解釋。<br />
形態轉變機制提出解釋<br />
關鍵字 關鍵字:電化學<br />
關鍵字 電化學 電化學、奈米結構<br />
電化學 米結構 米結構、形態<br />
米結構 形態 形態、化學析出<br />
形態 化學析出<br />
一、 前言<br />
前言<br />
由於一維奈米結構不同於塊材的新穎物理<br />
特顠性,以及具有應用在製備奈米元件裝置上的<br />
潛力,所以近年來一維奈米材料頔,例如奈米棒<br />
(nanorods) 、 奈 米 線 (nanowires) 、 奈 米 帶<br />
(nanobelts)、奈米管(nanotubes) etc.的合成技術<br />
與特顠性檢測的進展韙一直受到關注。而在製備大<br />
範圍奈米結構的方法中,模板輔助成長是最普<br />
遍的方式之一。透過將材料頔沉積在多孔質膜材<br />
(porous membrane)的奈米孔洞之中,可以得到<br />
順向排列、結構與形態均勻且尺寸可調的奈米<br />
結構。在輔助成長的模板中,由於陽極氧頿化氧頿<br />
化鋁(anodic aluminum oxide, AAO)膜材有規則<br />
排列的結構特顠徵,以及優異的熱和化學穩定<br />
性,使得它可應用在許多不同的製程條件下。<br />
而且可利用不同的陽極化參數製得各種尺寸的<br />
奈米孔徑韬,進而沉積各種直徑韬、長度及長短軸<br />
比(aspect ratio)的奈米材料頔。<br />
有很多的方式可以搭配模板輔助來成長一<br />
維奈米材料頔,譬如以氣頾相沉積、溶液中析出、<br />
或者是電化學沉積。對於電化學沉積而言,特顠<br />
別是電鍍製程,奈米結構的成長是經由電場輔<br />
助,所以反應通常選擇性的發生在基材中導電<br />
的區域。因此不會有溶液析出時頗低填充效頒率的<br />
問題,也通常不會發生氣頾相沉積中因為沉積速<br />
度過快而把AAO孔洞遮蔽的問題。另外,設備<br />
的費用與所需的能源及原鞝料頔所花費的成本也相<br />
當的低,因此模板輔助電化學沉積是成長一維<br />
奈米結構相當具競爭優勢的方法之一。<br />
關於金屬氧頿化物的電鍍,一般來說,欲在<br />
電極表面生成氧頿化物薄膜,需施加適當電壓使<br />
電極表面形成O -<br />
離子或氫氧頿根頨離子,並與來自<br />
於溶液的金屬離子反應,或使金屬離子與電極<br />
附近的氧頿氣頾或水分子反應,在電極表面生成氫<br />
氧頿化物或氧頿化物 [1-7]。<br />
二、 實驗方法<br />
實驗方法<br />
本實驗的原鞝料頔是利用Switzer、Carlier、M.<br />
Poduskaa等團隊研究氧頿化鐵電鍍的鍍液成分為<br />
基礎[3-6],搭配AAO模板的方式沉積氧頿化鐵奈<br />
米棒及奈米管陣列。溶液組成由亞鐵鹽類,即<br />
0.01 M 的 Fe(SO4)2(NH4)2 . 6H2O (Fluka) 和<br />
0.008M~0.04M KCH3COO (J.T.Baker),以及超<br />
純水(18.1 MΩ cm)所組成,溶液的pH值靹約為<br />
5-6.5。電鍍的時頗間120s-7200s之間。<br />
所有的實驗流程是以三電極式的電源供應<br />
器(Jiehan 5000Z AC Impedance Workstation)進<br />
行定電壓(potentiostat)或定電流(galvanostat)的<br />
實驗。對電極為白金薄片,工作電極則是由單<br />
邊鍍金(sputter 5 min)的AAO模板下方疊加著銅<br />
片鑲嵌在壓克力模板中,僅露出0.5cm 2 的面積
與 溶 液 接 觸 。 而 實 驗 中 所 設 定 的 電 壓 值靹 為<br />
0.1V-2.0V(相對於參考電極Ag/AgCl)。實驗完<br />
後,取出試片在室溫下陰乾。為清楚觀察奈米<br />
結構之形態,利用6M NaOH溶液蝕刻1-2小時頗以<br />
移除AAO模板,即可得到均勻沉積的nanorod或<br />
nanotube。沉積物的結構與型態分析是利用高溫<br />
X光繞射韗儀 HTXRD (Rikagu Multuflex with Cu<br />
Kα radiation),並以場發射韗掃描式電子顯微鏡<br />
(FE-SEM JEOL 6700/ SEM JEOL 5600)進行沉<br />
積物之表面形態觀察,並藉以量測沉積物之長<br />
度。<br />
三、結果與討論<br />
結果與討論<br />
本實驗所生成的氧頿化鐵奈米結構有實心之<br />
奈米棒和空心之奈米管兩種結構。經過XRD分<br />
析比對後,發現其晶體結構均為Fe2O3的結構<br />
(39-0238),如圖(一)所示。另外,由於在氧頿化鋁<br />
模板蝕刻完成後仍有少部分濺鍍的金膜殘留在<br />
這些一維奈米結構的陣列中,所以在XRD的結<br />
果裡也發現了金的峰韠值靹(04-0784)。<br />
intensity<br />
400<br />
350<br />
300<br />
250<br />
200<br />
150<br />
100<br />
50<br />
0<br />
(222)<br />
(400)<br />
#(200)<br />
30 40 50 60<br />
圖(一)、Fe2O3奈米結構之XRD圖。(#為金之峰韠<br />
值靹)<br />
本研究實驗條件,係在0.04M KCH3COO的<br />
系統下,發現當施加正偏壓時頗(v.s Ag/AgCl)會產<br />
生奈米棒的結構。由尚未浸顉蝕移除AAO模板的<br />
試片之截面圖可以看出奈米棒明顯成長於模板<br />
的通道中且長度隨著電鍍時頗間增加而提高,如<br />
圖(二)所示。圖中的奈米棒呈現相當均勻的高<br />
2θ<br />
度,只有少部分奈米孔道因為製備試片所造成<br />
的拉扯而未見氧頿化鐵奈米結構。但是由插圖中<br />
也可看出,在電鍍的過程中AAO模板表面會有<br />
一層特顠殊頻形態的板片狀薄膜沉積。初步的研究<br />
顯示這些沉積物,是由AAO表面隨著時頗間的進<br />
行,經成核頤、成長之後所形成的奈米薄片結構;<br />
而當時頗間持續地增加,這些薄片狀組織繼續成<br />
長、擴展韙,並相互的交聯、堆疊,最後形成網<br />
絡狀結構的型態。而這些網絡狀結構,也隨著<br />
時頗間增加而分佈的越密集。關於奈米薄片的結<br />
構,在進一步的研究中發現即使未加電場的情<br />
況下其仍能在AAO表面形成,形態也與電場下<br />
的板片狀結構相同,因此初步推論其可能是溶<br />
液中的化學析出和AAO模板表面相互作用所產<br />
生的片狀氧頿化鐵水合物,而這部分的研究非本<br />
文重點,所以關於奈米薄片的形成機制和成長<br />
動力學將於後續研究中繼續探討。<br />
而在電化學沉積的實驗中,發現到即使將<br />
電鍍沉積時頗間提高到三個鞄小時頗,也無法使奈米<br />
(b)<br />
棒的長度超過5µm。這可能是因為隨著電鍍的<br />
時頗間越長,則AAO表面所沉積的網狀結構變的<br />
更加緻密,也會對溶液進入孔洞中進行電化學<br />
反應造成一定程度的阻礙。直到奈米薄片的橫<br />
向成長擴展韙到將AAO上的孔洞被全數遮蔽時頗,<br />
電化學沉積所需之離子無法通過孔道頂部,以<br />
進入AAO孔道中,導致奈米棒無法繼續成長。<br />
因此限制了所生成Fe2O3 奈米棒的長短軸比<br />
(aspect ratio)。圖(三)中可觀察到雖然隨著時頗間<br />
增加,奈米棒的長度隨之提高,但是奈米棒的<br />
成長速率卻一值靹在降低。這就是因為當時頗間持<br />
續進行,成長的速率會隨著奈米薄片的遮蔽程<br />
度提高而降低。另外,由圖(二)的插圖中我們靽發<br />
現奈米網絡薄膜之厚度的變化並不明顯,即該<br />
薄膜層厚度未隨時頗間明顯增長。於是我們靽在圖<br />
(三)中,選擇以AAO上方可觀察到的開孔個鞄數<br />
來代表奈米薄片遮蔽奈米孔洞的程度。隨著開<br />
孔數的減少,則表示奈米薄片的遮蔽程度增<br />
加,於是奈米棒的成長速率也因此下降。由以<br />
上的推論可以預期,在更長的電化學沉積時頗間<br />
下,奈米棒的成長速率曲線將更趨於平緩,這<br />
也驗證了在三小時頗的電化學沉積時頗間下,奈米<br />
棒的長度仍未明顯增長的結果。
(a)<br />
(c) (d)<br />
圖(二)、不同電鍍時頗間沉積奈米棒的長度比較。<br />
0.04M KCH3COO 0.3V (a)600s 、 (b)1200s 、<br />
(c)1800s、(d)3600s。(插圖為AAO上方的傾斜俯靲<br />
視圖)<br />
length(μm)<br />
5<br />
4<br />
3<br />
2<br />
1<br />
0<br />
nanorods length<br />
nanosheets open hole<br />
10 20 30 40 50 60<br />
time(min)<br />
圖(三)、AAO中奈米棒的長度與AAO上單位面<br />
積的空孔個鞄數對時頗間變化之比較圖。<br />
當實驗將KCH3COO的濃度降至0.01M時頗,<br />
在相同電壓,沉積時頗間較短的情況下會得到奈<br />
米管的結構,但是隨著時頗間的增加,奈米棒的<br />
結構卻也隨之產生。觀察圖(四)(a)-(c)可以發<br />
現,所沉積的Fe2O3奈米結構是由微小的晶粒聚<br />
集而成,且隨著時頗間的增加,tubes的管璧逐漸<br />
增厚,最後由奈米管成長為結構轉變成實心的<br />
奈米棒。因此我們靽發現此系統下Fe2O3的成長特顠<br />
性是由AAO的侧璧向通道中心成長。實驗結果<br />
顯示在0.01M KCH3COO,施加電壓為0.3V的參<br />
2.0<br />
1.5<br />
1.0<br />
0.5<br />
0.0<br />
open holes density(? 10 8 numbers/cm 2 )<br />
數下,當時頗間從600s-1200s時頗,奈米管結構的百<br />
分比均在90%以上,而到了1500s時頗,幾乎所有<br />
的奈米管均已被填滿成奈米棒,奈米管的百分<br />
比則只剩下不到3%,當沉積時頗間超過1500s之後<br />
則看不見奈米管結構的沉積,即全為Fe2O3 奈米<br />
棒。關於奈米管的產生,我們靽認為這是和沉積<br />
於AAO模板下方用以輔助導電的金膜有關。首靫<br />
先,由於濺鍍過程中,鍍金的範圍通常會深入<br />
至AAO孔洞的側璧,所以AAO中鍍金的管璧在<br />
電 化 學 反 應 中 也 扮 演 著 相 當 於 電 極 的 角 色<br />
[8,9]。因此在反應的過程中,由管璧上成長<br />
Fe2O3和從孔洞基底開始沉積Fe2O3,兩者之間<br />
相互競爭[10]。但是另一方面,因為在鍍金的<br />
AAO 模板下方還疊加了一層導電銅片,其目的<br />
在於輔助實驗過程中電流的導通,而這種剛鞙性<br />
的導電介質會造成其與AAO模板間一定程度的<br />
間隙,因此導致Fe2O3不易從AAO的模板孔洞的<br />
底層開始成長。所以由管璧上開始發生沉積反<br />
應較佔優勢,奈米結構的成長即是由AAO的內<br />
孔管璧開始沉積,最後形成奈米管的結果。為<br />
進一步證明奈米管形成機制,本研究改以軟性<br />
的導電介質(如鋁箔),置換銅片,則發現在相同<br />
條件下,沉積的產物則是奈米棒的結構,如圖<br />
(四)(d)所示。這是因為鋁箔較佳的撓曲特顠性,<br />
會傾向於首靫先由AAO下方的孔洞充填,不易造<br />
成空隙,因此反應便由底層開始進行並沉積成<br />
奈米棒的形態。<br />
(a)<br />
(c)<br />
(b)<br />
(d)<br />
圖(四)、在低濃度下沉積Fe2O3的型態變化。<br />
0.01M KCH3COO 0.3V (a)1200s、(b)1500s、
(c)3600s、(d) 以鋁箔為導電介質,在600s所沉<br />
積的Fe2O3 奈米棒。<br />
但是,在0.04M KCH3COO的實驗中,即使<br />
此實驗參數也是利用銅片當作導電介質的情況<br />
下,卻沒發現奈米管的結構。這可能是因為不<br />
同濃度的KCH3COO,會造成溶液的pH值靹隨之<br />
改變,相對地也改變著反應進行的速率。在其<br />
它相關的研究中發現,當KCH3COO的濃度為<br />
0.008M ( 溶 液 pH≒5.05) 、 0.01M ( 溶 液<br />
pH≒5.23)、0.02M (溶液 pH≒5.68)、0.04M (溶<br />
液 pH≒6.2)時頗,其形成奈米棒所需的時頗間分別<br />
約為2000s、1500s、600s、120s不等。因此前述<br />
0.04M KCH3COO的實驗中未發現奈米管結構<br />
的原鞝因,係因為此參數下系統擁有高的反應速<br />
率。而此亦指出,隨著濃度(即溶液pH值靹)的提<br />
高,成長奈米棒所需要的時頗間便隨之降低。因<br />
此我們靽可以藉由控制pH值靹的大小和反應時頗間,<br />
來調整此系統下所成長之Fe2O3的形態。<br />
四、 結論 結論<br />
結論<br />
本實驗以電化學的方式搭配陽極化之氧頿化<br />
鋁 薄 膜 成 功 地 在 不 同 的 參 數 調 整 下 製 備 出<br />
Fe2O3 奈米管與奈米棒的陣列。研究中發現由於<br />
AAO模板下方用以輔助導電的金膜,導致不同<br />
的導電介質,會影響短時頗間下沉積的Fe2O3之型<br />
態,這同時頗也說明了奈米管的成長機制,與奈<br />
米管和奈米棒之間結構轉換的原鞝因。而利用系<br />
統中KCH3COO的濃度大小,在適當的導電介質<br />
與時頗間控制下,可以改變所生成Fe2O3的結構特顠<br />
徵。<br />
五、 參考文獻<br />
參考文獻<br />
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