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mMINING METALLURGY MATERIALS
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Selbstorganisierte Nanomagnete
Universitätslehrerverband der
Montanuniversität Leoben (ULV)
Mit dem Rasterkraftmikroskop werden selbstorganisierte Halbleiter-Nanostrukturen
untersucht. Deren regelmäßige Struktur wird als Templat für die Deposition von
magnetischen Materialien verwendet.
Auflösung
Rasterkraftmikroskop: bis 10 nm
Kooperationen
Univ. Autonoma, Madrid
RWTH Aachen
Universität Stuttgart
Universität Uppsala, Schweden
Synchrotron Elettra, Trieste
Christian Hofer
Institut für Physik
Scanning Probe Microscopy
Group Leoben
www.unileoben.ac.at/~spmgroup/
Zur Person:
Doktorand am Institut für Physik bei Prof. Teichert;
EMRS Posterpreis 2003; Heraeus Posterpreis 2005
Silizium Germanium (SiGe) Halbleiter
werden für Hochfrequenzanwendungen
(Mobiltelefone)
eingesetzt. Die exakte Charakterisierung
der Oberfläche ist dafür
unabdingbar. Wir setzen dafür das
Rasterkraftmikroskop ein.
Unter bestimmten Bedingungen
entstehen beim Wachstum von
Halbleiterstrukturen regelmäßige
selbstorgansierte Nanostrukturen
(Bild links). Diese werden zur
regelmäßigen Anordnung von
magnetischem Material genutzt.
Die magnetische Charakterisierung
der Nanostrukturen wird durch Röntgenuntersuchungen
am Synchrotron
Elettra mit einem XMCD-PEEM (Xray
magnetic circular dichroism-Photo
emission energy microscopy, Bild
oben) bzw. einem Magnetkraftmikroskop
(Bild links) durchgeführt.
Forschungsschwerpunkte:
Charakterisierung von Halbleiteroberflächen mittels
Rasterkraftmikroskopie
Magnetkraftmikroskopieuntersuchungen und XMCD-PEEM
Messungen von Nanomagneten im Rahmen des EU-Projektes
NAMASOS (6. Rahmenprogramm)
Selbstorganisation durch Ionenbeschuss von
Halbleiteroberflächen