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Nanotechnologie in der Schule - Prof. Dr. Thomas Wilhelm

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4 Allgeme<strong>in</strong>es zum Rastertunnelmikroskop<br />

|Ψν(r0)| 2 ∝ e −2α(R+a)<br />

Somit kann man letztlich aus Gleichung (4.55) auf <strong>der</strong> vorherigen Seite folgern:<br />

I ∝ U · e −2αa<br />

(4.57)<br />

(4.58)<br />

Schließlich ist erkennbar, dass Flächen konstanten Tunnelstroms nach Gleichung (4.55) auf<br />

<strong>der</strong> vorherigen Seite Flächen konstanter Zustandsdichte <strong>der</strong> Oberfläche am Ferm<strong>in</strong>iveau<br />

am Ort <strong>der</strong> Spitze s<strong>in</strong>d.<br />

Es folgt:<br />

I = const. → ρS(r0, EF ) = const. (4.59)<br />

unter Berücksichtigung <strong>der</strong> gesamten Näherungen und Annahmen, die im Zuge <strong>der</strong> Herlei-<br />

tung gemacht wurden:<br />

• ger<strong>in</strong>ge Wechselwirkung zwischen Probe und Spitze<br />

• s-artige Spitzenzustände (Quantenzahl l = 0)<br />

• kle<strong>in</strong>e angelegte Spannungen zwischen Spitze und Probe e · U ≪ EA<br />

• gleiche Austrittsarbeiten für das Spitzen- sowie Probenmaterial<br />

• Vernachlässigung des Elektronensp<strong>in</strong>s s<br />

Bemerkungen zur Zustandsdichte<br />

Wie man nun im vorangegangenen Abschnitt gesehen hat, hängt <strong>der</strong> Tunnelstrom im<br />

Allgeme<strong>in</strong>en von <strong>der</strong> lokalen Zustandsdichte und dem Abstand a <strong>der</strong> Spitze von <strong>der</strong> Probe<br />

ab. Folglich muss man bei <strong>der</strong> Interpretation des Tunnelstroms acht geben [Ric01]:<br />

62<br />

• Da bei Metallen e<strong>in</strong> freies Elektronengas vorliegt, <strong>in</strong> dem die Leitungselektronen frei<br />

verteilt s<strong>in</strong>d, s<strong>in</strong>d Metalle meist nur e<strong>in</strong>heitliche Flächen gleichen Stroms. Benach-<br />

barte Atome kann man <strong>in</strong> e<strong>in</strong>er Ebene kaum erkennen. Sehr gut kann man h<strong>in</strong>gegen<br />

Stufenkanten auflösen.<br />

• Im Vergleich hierzu kann man bei Halbleitern die an <strong>der</strong> Oberfläche ungesättigten<br />

B<strong>in</strong>dungen (dangl<strong>in</strong>g bonds), die stark lokalisiert s<strong>in</strong>d, mit hohem Kontrast abbilden.

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