View - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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3.4 Elektrochemische Methoden 25<br />
Dort ist zu erkennen, dass der Halbkreis für kleine Frequenzen ω nicht mehr die x-Achse<br />
schneidet sondern dass sich hier mit dem Phasenwinkel α =45 ◦ eine Gerade an den<br />
Halbkreis anschließt. Von der kinetischen Kontrolle bei hohen Frequenzen geht das System<br />
im niederfrequenten Bereich in ein diffusionskontrolliertes System über. Verlängert man<br />
die Warburggerade bis zur x-Achse, ergibt sich ein Schnittpunkt bei RM, der sich wie folgt<br />
berechnen lässt [61] : RM = RE + RD − 2σCD. σ enthält neben der Gas- und der Faraday-<br />
Konstante auch noch diffusions-, temperatur- und konzentrationsabhängige Faktoren, die<br />
zu RM beitragen [59, 61] .<br />
Eine Alternative zur Auswertung der Daten in der komplexenen Ebene stellt das Bode-<br />
Diagramm dar (s. Abb. 3.15), in dem lg |ℑ| und der Phasenwinkel α in Abhängigkeit von<br />
lg(ω) dargestellt werden. Aus dieser frequenzabhängigen Darstellung kann die Anzahl der<br />
einzelnen Elemente abgelesen werden, die zur Gesamtimpedanz beitragen [62] . Für die<br />
Frequenz α gilt:<br />
tan α = |ℑ|<br />
ℜ<br />
⇒ α = arctan<br />
� �<br />
|ℑ|<br />
ℜ<br />
Abbildung 3.15: Bode-Plot: frequenzabhängige Darstellung der Impedanz ohne Berücksichtigung<br />
der Warburg-Impedanz [57]<br />
(3.20)<br />
Im Bereich hoher Frequenzen kann man dem Bode-Plot entnehmen, dass sich das Verhalten<br />
des Ersatzschaltbildes aus Abb. 3.12 dem rein ohmschen Elektrolytwiderstand RE