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View - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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3.4 Elektrochemische Methoden 25<br />

Dort ist zu erkennen, dass der Halbkreis für kleine Frequenzen ω nicht mehr die x-Achse<br />

schneidet sondern dass sich hier mit dem Phasenwinkel α =45 ◦ eine Gerade an den<br />

Halbkreis anschließt. Von der kinetischen Kontrolle bei hohen Frequenzen geht das System<br />

im niederfrequenten Bereich in ein diffusionskontrolliertes System über. Verlängert man<br />

die Warburggerade bis zur x-Achse, ergibt sich ein Schnittpunkt bei RM, der sich wie folgt<br />

berechnen lässt [61] : RM = RE + RD − 2σCD. σ enthält neben der Gas- und der Faraday-<br />

Konstante auch noch diffusions-, temperatur- und konzentrationsabhängige Faktoren, die<br />

zu RM beitragen [59, 61] .<br />

Eine Alternative zur Auswertung der Daten in der komplexenen Ebene stellt das Bode-<br />

Diagramm dar (s. Abb. 3.15), in dem lg |ℑ| und der Phasenwinkel α in Abhängigkeit von<br />

lg(ω) dargestellt werden. Aus dieser frequenzabhängigen Darstellung kann die Anzahl der<br />

einzelnen Elemente abgelesen werden, die zur Gesamtimpedanz beitragen [62] . Für die<br />

Frequenz α gilt:<br />

tan α = |ℑ|<br />

ℜ<br />

⇒ α = arctan<br />

� �<br />

|ℑ|<br />

ℜ<br />

Abbildung 3.15: Bode-Plot: frequenzabhängige Darstellung der Impedanz ohne Berücksichtigung<br />

der Warburg-Impedanz [57]<br />

(3.20)<br />

Im Bereich hoher Frequenzen kann man dem Bode-Plot entnehmen, dass sich das Verhalten<br />

des Ersatzschaltbildes aus Abb. 3.12 dem rein ohmschen Elektrolytwiderstand RE

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