Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
Inhaltsverzeichnis<br />
1. Einleitung 1<br />
2. Physikalische Gr<strong>und</strong>lagen 3<br />
2.1. Die Kristallstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3<br />
2.1.1. Indizierung von Kristallebenen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3<br />
2.1.2. Struktur von Oberflächen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4<br />
2.2. Der <strong>Wachstum</strong>sprozess . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5<br />
2.2.1. Thermodynamik des <strong>Wachstum</strong>s . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5<br />
2.2.2. <strong>Wachstum</strong>skinetik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6<br />
2.3. Gr<strong>und</strong>lagen der Elektronenbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7<br />
2.3.1. Prinzip der Elektronenbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7<br />
2.3.2. Reziproker Raum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8<br />
2.3.3. Theorie der Elektronenbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8<br />
2.3.4. Laue-Bedingungen <strong>und</strong> Ewald-Konstruktion . . . . . . . . . . . . 10<br />
2.3.5. Das “SPA-LEED“-System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12<br />
2.4. Rastertunnelmikroskopie (STM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13<br />
2.4.1. Der Tunneleffekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13<br />
2.4.2. Theoretische Beschreibung des Tunnelstroms . . . . . . . . . . . . 14<br />
2.4.3. Funktionsprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15<br />
2.5. Infrarot (IR)-Spektroskopie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16<br />
2.6. Röntgenabsorptionsspektroskopie (NEXAFS) . . . . . . . . . . . . . . . . 18<br />
2.7. Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) . . . . . . . . . . . . . . . . 19<br />
2.7.1. Theoretische Beschreibung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20<br />
2.7.2. Analyse der XP-Spektren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23<br />
3. Materialsysteme 27<br />
3.1. Silizium . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27<br />
3.1.1. Passivierte Si(111)-Oberflächen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30<br />
3.2. Galliumnitrid . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34<br />
3.2.1. Kristallstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34<br />
3.2.2. Elektronische Struktur <strong>und</strong> Dotierung . . . . . . . . . . . . . . . . 37<br />
I