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Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...

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Inhaltsverzeichnis<br />

1. Einleitung 1<br />

2. Physikalische Gr<strong>und</strong>lagen 3<br />

2.1. Die Kristallstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3<br />

2.1.1. Indizierung von Kristallebenen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3<br />

2.1.2. Struktur von Oberflächen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4<br />

2.2. Der <strong>Wachstum</strong>sprozess . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5<br />

2.2.1. Thermodynamik des <strong>Wachstum</strong>s . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5<br />

2.2.2. <strong>Wachstum</strong>skinetik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6<br />

2.3. Gr<strong>und</strong>lagen der Elektronenbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7<br />

2.3.1. Prinzip der Elektronenbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7<br />

2.3.2. Reziproker Raum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8<br />

2.3.3. Theorie der Elektronenbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8<br />

2.3.4. Laue-Bedingungen <strong>und</strong> Ewald-Konstruktion . . . . . . . . . . . . 10<br />

2.3.5. Das “SPA-LEED“-System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12<br />

2.4. Rastertunnelmikroskopie (STM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13<br />

2.4.1. Der Tunneleffekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13<br />

2.4.2. Theoretische Beschreibung des Tunnelstroms . . . . . . . . . . . . 14<br />

2.4.3. Funktionsprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15<br />

2.5. Infrarot (IR)-Spektroskopie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16<br />

2.6. Röntgenabsorptionsspektroskopie (NEXAFS) . . . . . . . . . . . . . . . . 18<br />

2.7. Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) . . . . . . . . . . . . . . . . 19<br />

2.7.1. Theoretische Beschreibung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20<br />

2.7.2. Analyse der XP-Spektren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23<br />

3. Materialsysteme 27<br />

3.1. Silizium . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27<br />

3.1.1. Passivierte Si(111)-Oberflächen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30<br />

3.2. Galliumnitrid . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34<br />

3.2.1. Kristallstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34<br />

3.2.2. Elektronische Struktur <strong>und</strong> Dotierung . . . . . . . . . . . . . . . . 37<br />

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