Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...

5. Wachstum von PTCDA auf passivierten Siliziumoberflächen
(a) Eingezeichnet in das Beugungsbild ist das
zugrundeliegende Gitter einer quadratischen
Struktur mit reziproker Einheitszelle.
(b) Beugungsbild mit eingezeichneten rezipro-
ken Einheitszellen der Rotationsdomänen der
quadratischen Struktur.
Abb. 5.3.3: Beugungsbilder von PTCDA auf Si(111) √ 3× √ 3R-30 ◦ -Ag bei 30eV mit einer Bedeckung
von 1,2 Monolagen.
intensitätsstarken Reflexe in Abb. 5.3.2 können durch eine quadratische Struktur (S)
erklärt werden. Die zu dieser Struktur gehörenden Beugungsspots sind in Abb. 5.3.3 (a)
rot markiert. Die gekennzeichneten Punkte bilden ein Gitter, welches die eingezeichnete
reziproke Einheitszelle mit den beiden Gittervektoren � b ∗ 1 und � b ∗ 2 besitzt. Unter Berücksichtigung
der C3v-Symmetrie des Substrates ergeben sich noch zwei weitere Gitter, die
um 120 ◦ bzw. 240 ◦ gedreht sind. Die reziproken Einheitszellen der verschiedenen Rotationsdomänen
sind in Abb. 5.3.3 (b) farbig eingezeichnet. In Abb. 5.3.4 ist ein Linienprofil
über ausgewählte Reflexe gezeigt. Der anhand des Linienprofils bestimmte Abstand der
Reflexmaxima entspricht dem doppelten Abstand des reziproken Gittervektors der Einheitszelle.
Mit Hilfe von Gleichung 2.3.3 ist es möglich die Länge der Gittervektoren der
Einheitszelle des Realraums zu bestimmen. Für die Berechnung der Länge der Gittervektoren
wurde ein Fehler von ±0,005 Å −1 angenommen, der aus der Verzerrung des
SPA-LEED-Bildes und aus der grafischen Bestimmung der Abstände resultiert. Für die
Gittervektoren | � b1| und | � b2| der quadratischen Struktur konnten somit folgende Werte
ermittelt werden:
| � b1| = (16,5±0,2) Å, | � b2| = (16,5±0,2) Å. (5.3.1)
Die Vektoren zeigen eine gute Übereinstimmung mit der durch STM-Analysen ermittelten
quadratischen Einheitszelle von Swarbrick et al. [87]. Bezüglich der Strukturbestimmung
sollte hervorgehoben werden, dass das SPA-LEED die wesentlich genauere
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