Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
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5.3. Adsorption von <strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong><br />
Si(111) √ 3× √ 3 R-30 ◦ -Ag<br />
5.3. Adsorption von <strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong> Si(111) √ 3× √ 3 R-30 ◦ -Ag<br />
Gegenstand dieses Unterkapitels sind strukturelle Untersuchungen zur Adsorption von<br />
<strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong> der Si(111) √ 3 × √ 3 R-30 ◦ -Ag-Oberfläche, welche im Rahmen der Bachelorarbeit<br />
von Till Frieler durchgeführt wurden [96]. Hierbei werden die verschiedenen<br />
<strong>PTCDA</strong>-Strukturen <strong>auf</strong> der Oberfläche diskutiert sowie deren Abhängigkeit von der<br />
Schichtdicke.<br />
5.3.1. Strukturelle Untersuchungen<br />
Abb. 5.3.1: Beugungsbild der reinen<br />
Si(111) √ 3 × √ 3R-30 ◦ -Ag-Oberfläche bei<br />
30eV.<br />
Abb. 5.3.2: Beugungsbild von <strong>PTCDA</strong><br />
<strong>auf</strong> der Si(111) √ 3 × √ 3R-30 ◦ -Ag-Oberfläche<br />
(1,2ML, 30eV).<br />
Die Abb. 5.3.1 zeigt das Beugungsbild der reinen Si(111) √ 3× √ 3 R-30◦-Ag-Oberfläche bei 30 eV. Aufgr<strong>und</strong> der niedrigen Energie können nur die 1-Reflexe<br />
dieser Struktur be-<br />
3<br />
obachtet werden. Diese Energie wurde für alle SPA-LEED-Experimente verwendet, um<br />
mögliche Strahlenschäden in den <strong>PTCDA</strong>-<strong>Filme</strong>n zu minimieren [97]. Nach der Deposition<br />
von <strong>PTCDA</strong> können neben den √ 3-Reflexen des Substrates (rot markiert) eine<br />
Vielzahl von Reflexen, welche konzentrisch um den (00)-Reflex angeordnet sind, identifiziert<br />
werden (siehe Abb. 5.3.2). Das beobachtete Beugungsbild lässt sich mit verschiedenen<br />
Strukturen mit unterschiedlicher Orientierung zum Substrat verstehen. Die<br />
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