Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
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4.5. Das IR-Spektrometer<br />
Das Material wird nach diesem Verl<strong>auf</strong> drei mal gereinigt <strong>und</strong> nach der finalen Reinigung<br />
wird das sublimierte <strong>PTCDA</strong> bis zum Verdampfen im UHV in einem Exsikkator<br />
gelagert.<br />
4.5. Das IR-Spektrometer<br />
Die IR-spektroskopischen Untersuchungen in dieser Arbeit wurden mit einem Vertex<br />
80V FT-IR-Spektrometer der Firma Bruker [78] in der Arbeitsgruppe von Prof. Dr.<br />
Bäumer am Institut für Angewandte <strong>und</strong> Physikalische Chemie (IAPC) durchgeführt.<br />
Alle Messungen wurden in Transmission <strong>und</strong> einem Wellenzahlbereich von 4000-500 cm −1<br />
durchgeführt. Die Proben wurden in Form eines KBr-Presslings untersucht.<br />
4.6. Die NEXAFS-Beamline<br />
Die NEXAFS-Experimente wurden an der NIST U7A Beamline der National Synchrotron<br />
Light Source am Brookhaven National Laboratory durchgeführt. Die Proben für<br />
diese Untersuchungen wurden in Bremen hergestellt <strong>und</strong> per Post in die USA geschickt.<br />
Die NEXAFS-Spektren wurden unter verschiedenen Einfallswinkeln der Röntgenstrahlung<br />
<strong>auf</strong>genommen. Des Weiteren wurde bei allen Untersuchungen das partial electron<br />
yield Signal detektiert. Ein toroidal gekrümmter Gittermonochromator mit 600 Linien/mm<br />
erlaubt eine Detektion des Kohlenstoff-K-Kanten Spektrums mit einer Energie<strong>auf</strong>lösung<br />
von 0,1 eV. Zur Energiekalibrierung wurde ein Kohlenstoffgitter benutzt.<br />
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