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Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...

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mögliche Modifizierungsschritt, Perlyen oder Perylentetracarbonsäurediimid zu verwenden,<br />

um somit ein genaueres Verständnis der Wechselwirkungen an der Grenzfläche zu<br />

erlangen.<br />

Reinigung von GaN(0001)- <strong>und</strong> GaN(2110)-Oberflächen<br />

Bevor das <strong>Wachstum</strong> von <strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong> der GaN(0001)-Oberfläche untersucht werden<br />

konnte, mussten vorher geeignete Reinigungsmethoden entwickelt werden. Im Rahmen<br />

dieser Arbeit wurden zwei verschiedene Reinigungsmethoden entworfen <strong>und</strong> deren Einfluss<br />

<strong>auf</strong> die Kontaminate Kohlenstoff <strong>und</strong> Sauerstoff untersucht. Die entwickelten Reinigungsprozesse<br />

setzten sich aus einem Heizschritt, gefolgt von Ga-Deposition/Desorption-<br />

Schritten bzw. einem N2-Plasma-unterstütztem Reinigungsschritt zusammen. Die Effektivität<br />

dieser Reinigungsprozesse wurde sowohl für die GaN(0001)- als auch für die<br />

GaN(2110)-Oberfläche untersucht. Der quantitativen Reinigungsanalyse lag eine ausgiebige<br />

Photoemissionslinien-Formanalyse zugr<strong>und</strong>e. Diese zeigte, dass die Sauerstoffkontaminationen<br />

überwiegend in Form von stöchiometrischen <strong>und</strong> teilweise auch unstöchiometrischen<br />

Galliumoxid <strong>auf</strong> der Probenoberfläche vorlagen. Die Kohlenstoffverunreinigungen<br />

lagen größtenteils in Form von adsorbierten Kohlenwasserstoffen <strong>auf</strong> der Oberfläche<br />

vor. Für beide Oberflächen zeigte die XPS-gestützte Reinigungsuntersuchung,<br />

dass der erste Heizschritt der dominierende Effekt zur Entfernung von Kohlenstoff <strong>und</strong><br />

Sauerstoff ist. Von den anschließenden Ga-Deposition/Desorption-Schritten führte nur<br />

der erste Schritt zu einer nennenswerten Reduzierung beider Kontaminate. Auch der<br />

N2-Plasma-unterstützte Reinigungsschritt konnte sowohl Kohlenstoff als auch Sauerstoff<br />

von der Probenoberfläche entfernen. Es zeigte sich, dass die N2-Plasma Reinigung deutlich<br />

effektiver Kohlenstoff entfernt, während hingegen die Ga-Reinigung effektiver in der<br />

Reduktion des Sauerstoffes ist.<br />

Eine Analyse der Stöchiometrie in Abhängigkeit des Reinigungsverl<strong>auf</strong>es zeigte, dass die<br />

obersten Kristalllagen durch beide Reinigungsprozesse nicht negativ beeinflusst werden.<br />

Zusätzlich konnten morphologische <strong>und</strong> strukturelle Untersuchungen nachweisen, dass<br />

die Reinigung zu einer drastischen Verbesserung der Oberflächenrauigkeit führte.<br />

Ein denkbarer nächster Schritt wäre die Kombination dieser beiden Methoden, um somit<br />

spektroskopisch reine Oberflächen zu erhalten.<br />

<strong>PTCDA</strong>-Adsorption <strong>auf</strong> der GaN(0001)-Oberfläche<br />

Umfassende Analysen zum <strong>Wachstum</strong> von <strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong> den gereinigten GaN(0001)-<br />

Oberflächen konnten ein Inselwachstum nachweisen. Es zeigte sich, dass die Defekte<br />

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