Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
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mögliche Modifizierungsschritt, Perlyen oder Perylentetracarbonsäurediimid zu verwenden,<br />
um somit ein genaueres Verständnis der Wechselwirkungen an der Grenzfläche zu<br />
erlangen.<br />
Reinigung von GaN(0001)- <strong>und</strong> GaN(2110)-Oberflächen<br />
Bevor das <strong>Wachstum</strong> von <strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong> der GaN(0001)-Oberfläche untersucht werden<br />
konnte, mussten vorher geeignete Reinigungsmethoden entwickelt werden. Im Rahmen<br />
dieser Arbeit wurden zwei verschiedene Reinigungsmethoden entworfen <strong>und</strong> deren Einfluss<br />
<strong>auf</strong> die Kontaminate Kohlenstoff <strong>und</strong> Sauerstoff untersucht. Die entwickelten Reinigungsprozesse<br />
setzten sich aus einem Heizschritt, gefolgt von Ga-Deposition/Desorption-<br />
Schritten bzw. einem N2-Plasma-unterstütztem Reinigungsschritt zusammen. Die Effektivität<br />
dieser Reinigungsprozesse wurde sowohl für die GaN(0001)- als auch für die<br />
GaN(2110)-Oberfläche untersucht. Der quantitativen Reinigungsanalyse lag eine ausgiebige<br />
Photoemissionslinien-Formanalyse zugr<strong>und</strong>e. Diese zeigte, dass die Sauerstoffkontaminationen<br />
überwiegend in Form von stöchiometrischen <strong>und</strong> teilweise auch unstöchiometrischen<br />
Galliumoxid <strong>auf</strong> der Probenoberfläche vorlagen. Die Kohlenstoffverunreinigungen<br />
lagen größtenteils in Form von adsorbierten Kohlenwasserstoffen <strong>auf</strong> der Oberfläche<br />
vor. Für beide Oberflächen zeigte die XPS-gestützte Reinigungsuntersuchung,<br />
dass der erste Heizschritt der dominierende Effekt zur Entfernung von Kohlenstoff <strong>und</strong><br />
Sauerstoff ist. Von den anschließenden Ga-Deposition/Desorption-Schritten führte nur<br />
der erste Schritt zu einer nennenswerten Reduzierung beider Kontaminate. Auch der<br />
N2-Plasma-unterstützte Reinigungsschritt konnte sowohl Kohlenstoff als auch Sauerstoff<br />
von der Probenoberfläche entfernen. Es zeigte sich, dass die N2-Plasma Reinigung deutlich<br />
effektiver Kohlenstoff entfernt, während hingegen die Ga-Reinigung effektiver in der<br />
Reduktion des Sauerstoffes ist.<br />
Eine Analyse der Stöchiometrie in Abhängigkeit des Reinigungsverl<strong>auf</strong>es zeigte, dass die<br />
obersten Kristalllagen durch beide Reinigungsprozesse nicht negativ beeinflusst werden.<br />
Zusätzlich konnten morphologische <strong>und</strong> strukturelle Untersuchungen nachweisen, dass<br />
die Reinigung zu einer drastischen Verbesserung der Oberflächenrauigkeit führte.<br />
Ein denkbarer nächster Schritt wäre die Kombination dieser beiden Methoden, um somit<br />
spektroskopisch reine Oberflächen zu erhalten.<br />
<strong>PTCDA</strong>-Adsorption <strong>auf</strong> der GaN(0001)-Oberfläche<br />
Umfassende Analysen zum <strong>Wachstum</strong> von <strong>PTCDA</strong> <strong>auf</strong> den gereinigten GaN(0001)-<br />
Oberflächen konnten ein Inselwachstum nachweisen. Es zeigte sich, dass die Defekte<br />
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