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Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...

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Intensität (arb. units)<br />

294<br />

CH x<br />

O-C=O<br />

C-O<br />

Ga-C<br />

C=O<br />

Untergr<strong>und</strong><br />

Daten<br />

Fit<br />

292<br />

290 288 286 284<br />

Bindungsenergie (eV)<br />

282<br />

C1s<br />

280<br />

Abb. 6.2.3: C1s-Emissionslinie (Al-Anode)<br />

einer GaN-Probe vor Reinigungsbeginn. Das<br />

experimentelle Spektrum wurde mit Voigt-<br />

Profilen angepasst.<br />

Intensität (arb. units)<br />

6.2. Emissionslinien-Formanalyse<br />

Ga2O3 (OH) x<br />

GaxOy Untergr<strong>und</strong><br />

Daten<br />

Fit<br />

538<br />

536<br />

534 532 530<br />

Bindungsenergie (eV)<br />

528<br />

O1s<br />

526<br />

Abb. 6.2.4: O1s-Emissionslinie (Al-Anode)<br />

einer GaN-Probe vor Reinigungsbeginn. Das<br />

experimentelle Spektrum wurde mit Voigt-<br />

Profilen angepasst.<br />

von Li et al. [126]. Die Autoren beobachteten ebenfalls drei Komponenten in der O1s-<br />

Emissionslinie, welche sie als Hydroxidspezies <strong>und</strong> chemisorbierten Sauerstoff in zwei<br />

unterschiedlich vorliegenden chemischen Zuständen interpretierten.<br />

Neben diesen Sauerstoffspezies sollten auch die in der C1s-Emissionslinie beobachteten<br />

Kohlenstoff-Sauerstoff-Verbindungen einen Beitrag zur O1s-Emissionslinie liefern. Diese<br />

Spezies liegen jedoch laut Literatur in einem Bindungsenergiebereich von 530,5 -532,0 eV<br />

<strong>und</strong> werden deshalb von den beschriebenen intensiven Spezies überlagert [36].<br />

Relative Häufigkeiten <strong>und</strong> Fehlerabschätzung<br />

Im Rahmen dieses Kapitels werden alle absolut gemessenen Intensitäten <strong>auf</strong> das GaN-<br />

Volumensignal in der Ga3d-Emissionslinie normiert. Durch diese Methode fallen Schwankungen<br />

in der absoluten Intensität, welche z. B. durch minimale Differenzen in der Messgeometrie<br />

verursacht werden, nicht ins Gewicht. Darüber hinaus müssen bei der Normierung<br />

die unterschiedlichen Photoionisationsquerschnitte berücksichtigt werden, was<br />

nach Gleichung 2.7.7 in Abschnitt 2.7 über die atomic sensitivity factors geschieht. Diese<br />

Werte können der Literatur entnommen werden <strong>und</strong> ergeben sich zu: SGa3d = 0,31,<br />

SN1s = 0,42, SC1s = 0,296 <strong>und</strong> SO1s = 0,66 [36,37]. Die so normierten relativen Häufigkeiten<br />

sind ein Maß für die Konzentration der mit XPS analysierten Elemente. Der Fehler<br />

im Fitprozess wurde zu 3 % abgeschätzt (siehe Abschnitt 5.4.1) <strong>und</strong> für die atomic sensitivity<br />

factors wurde ein prozentualer Fehler von 10 % angenommen.<br />

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