Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...
Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.
YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.
Intensität (arb. units)<br />
294<br />
CH x<br />
O-C=O<br />
C-O<br />
Ga-C<br />
C=O<br />
Untergr<strong>und</strong><br />
Daten<br />
Fit<br />
292<br />
290 288 286 284<br />
Bindungsenergie (eV)<br />
282<br />
C1s<br />
280<br />
Abb. 6.2.3: C1s-Emissionslinie (Al-Anode)<br />
einer GaN-Probe vor Reinigungsbeginn. Das<br />
experimentelle Spektrum wurde mit Voigt-<br />
Profilen angepasst.<br />
Intensität (arb. units)<br />
6.2. Emissionslinien-Formanalyse<br />
Ga2O3 (OH) x<br />
GaxOy Untergr<strong>und</strong><br />
Daten<br />
Fit<br />
538<br />
536<br />
534 532 530<br />
Bindungsenergie (eV)<br />
528<br />
O1s<br />
526<br />
Abb. 6.2.4: O1s-Emissionslinie (Al-Anode)<br />
einer GaN-Probe vor Reinigungsbeginn. Das<br />
experimentelle Spektrum wurde mit Voigt-<br />
Profilen angepasst.<br />
von Li et al. [126]. Die Autoren beobachteten ebenfalls drei Komponenten in der O1s-<br />
Emissionslinie, welche sie als Hydroxidspezies <strong>und</strong> chemisorbierten Sauerstoff in zwei<br />
unterschiedlich vorliegenden chemischen Zuständen interpretierten.<br />
Neben diesen Sauerstoffspezies sollten auch die in der C1s-Emissionslinie beobachteten<br />
Kohlenstoff-Sauerstoff-Verbindungen einen Beitrag zur O1s-Emissionslinie liefern. Diese<br />
Spezies liegen jedoch laut Literatur in einem Bindungsenergiebereich von 530,5 -532,0 eV<br />
<strong>und</strong> werden deshalb von den beschriebenen intensiven Spezies überlagert [36].<br />
Relative Häufigkeiten <strong>und</strong> Fehlerabschätzung<br />
Im Rahmen dieses Kapitels werden alle absolut gemessenen Intensitäten <strong>auf</strong> das GaN-<br />
Volumensignal in der Ga3d-Emissionslinie normiert. Durch diese Methode fallen Schwankungen<br />
in der absoluten Intensität, welche z. B. durch minimale Differenzen in der Messgeometrie<br />
verursacht werden, nicht ins Gewicht. Darüber hinaus müssen bei der Normierung<br />
die unterschiedlichen Photoionisationsquerschnitte berücksichtigt werden, was<br />
nach Gleichung 2.7.7 in Abschnitt 2.7 über die atomic sensitivity factors geschieht. Diese<br />
Werte können der Literatur entnommen werden <strong>und</strong> ergeben sich zu: SGa3d = 0,31,<br />
SN1s = 0,42, SC1s = 0,296 <strong>und</strong> SO1s = 0,66 [36,37]. Die so normierten relativen Häufigkeiten<br />
sind ein Maß für die Konzentration der mit XPS analysierten Elemente. Der Fehler<br />
im Fitprozess wurde zu 3 % abgeschätzt (siehe Abschnitt 5.4.1) <strong>und</strong> für die atomic sensitivity<br />
factors wurde ein prozentualer Fehler von 10 % angenommen.<br />
109