Wachstum und Charakterisierung dünner PTCDA-Filme auf ...

5. Wachstum von PTCDA auf passivierten Siliziumoberflächen
5 nm
Höhe (Å)
0.18
0.16
0.14
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0
0 1 2 3 4
Abstand (nm)
Abb. 5.4.24: Oben: STM-Aufnahme
einer nahezu quadratischen Struktur
(0,5ML, 16nm×16nm, Utip=+2V,
IT=0,3nA). Inset: Darstellung des
HOMO des PTCDA [107]. Unten:
Linienprofil entlang des in Abb. 5.4.24
(oben) schwarz markierten Bereiches.
Abb. 5.4.25: Vergleich des experimentellen
Beugungsbild mit der geometrische Simulation
der nahezu quadratischen Struktur.
5.4.24), was auf die veränderten Tunnelparameter zurückzuführen ist. Die Ovale können
durch das HOMO der Moleküle erklärt werden (siehe Abb. 5.4.24 (oben), Inset) [107]. Im
Linienprofil ist eindeutig zu erkennen, dass nur jedes zweite Molekül eine Doppelstruktur
in Richtung des Linienprofils aufweist (Abb. 5.4.24 (unten)). Aufgrund dieser Struktur
kann deshalb auf die Ausrichtung der Moleküle geschlossen werden. Die Moleküle liegen
somit nahezu senkrecht zueinander, wie man es von der quadratischen Struktur
kennt (siehe Abschnitt 5.3.1). In Abb. 5.4.24 (oben) ist eine nahezu quadratische (NS)
Einheitszelle in das STM Bild eingezeichnet. Die Abmessungen der Einheitszelle betragen
b1 = (14,6±1,4) Å und b2 = (14,3±1,4) Å mit einem eingeschlossenen Winkel von
β = (95±3) ◦ . Wird diese Struktur im Hinblick auf das Beugungsbild berücksichtigt, so
zeigt sich, dass durch diese Anordnung der Moleküle noch einige ungeklärte Beugungsreflexe
bestimmt werden können. In Abb. 5.4.25 ist das experimentelle Beugungsbild
mit der geometrischen Simulation für diese Struktur dargestellt. Es ist eine gute Übereinstimmung
bei den Reflexen erster Ordnung zwischen Simulation und Experiment
zu erkennen. Alle weiteren Beugungsreflexe können jedoch im Experiment nicht mehr
wahrgenommen werden, was vermutlich auf die geringe Intensität sowie einer teilweisen
Superposition mit Beugungsreflexen anderer Strukturen zurückzuführen ist. Werden die
Abmessungen dieser Struktur aus dem Beugungsbild bestimmt (siehe Tab. 5.4.4), so sind
sie im Rahmen des Fehlers konsistent mit den aus dem STM bestimmten Abmessungen.
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