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Modellierung gekoppelter Effekte in Mikrosystemen auf ...

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160 6 ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK<br />

dünne Filme. Mit Hilfe F<strong>in</strong>iter-Element-Simulationen <strong>auf</strong> der Basis der Navier-Stokes-<br />

Gleichung wurde die Anwendbarkeit dieser Gleichung <strong>auf</strong> mikromechanische Bauelemente<br />

überprüft und ihr E<strong>in</strong>satzbereich e<strong>in</strong>gegrenzt. Als wichtigste Bed<strong>in</strong>gung ergeben<br />

sich hier vor allem E<strong>in</strong>schränkungen <strong>in</strong> der Geometrie der Bauelemente. Die Reaktionskraft<br />

des Fluids <strong>auf</strong> die sich bewegende Struktur wird durch die Reynoldsgleichung unterschätzt,<br />

sobald die lateralen Dimensionen im Vergleich zur Dicke des Fluidfilms nicht<br />

groß genug s<strong>in</strong>d, und/oder die Struktur perforiert ist.<br />

Basierend <strong>auf</strong> der Reynoldsgleichung gelang es nun, e<strong>in</strong> Modell abzuleiten, das<br />

* die Komplexität des Problems drastisch reduziert,<br />

* <strong>auf</strong> allgeme<strong>in</strong>e Geometrien anwendbar ist,<br />

* dennoch akkurat und physikalisch basiert bleibt<br />

* und die e<strong>in</strong>fache Integration <strong>in</strong> e<strong>in</strong> Gesamtmodell von ganzen <strong>Mikrosystemen</strong> erlaubt.<br />

Um die Reynoldsgleichung <strong>auf</strong> dem Gebiet beliebig geformter Mikrostrukturen lösen zu<br />

können, wurde e<strong>in</strong> F<strong>in</strong>iter Netzwerkansatz (FN) verwendet. Ausgehend von e<strong>in</strong>em FEM-<br />

Modell des Bauelements wurde mit e<strong>in</strong>em dafür entwickelten Konvertierungsprogramm<br />

e<strong>in</strong>e F<strong>in</strong>ite Netzliste der Struktur erzeugt, die <strong>auf</strong> den Geometrie- und Vernetzungsdaten<br />

des FEM-Modells basiert. Die zugrundeliegenden Bilanzgleichungen wurden diskretisiert<br />

und <strong>in</strong> Spectre-HDL bzw. VHDL-AMS kodiert, so daß das Modell e<strong>in</strong>fach <strong>in</strong> e<strong>in</strong>en Standardsystemsimulator<br />

implementiert und damit auch <strong>in</strong> Makromodelle ganzer Systeme <strong>in</strong>tegriert<br />

werden kann. Wie durch Vergleich mit Navier-Stokes-Rechnungen gezeigt wurde,<br />

liefert das FN-Modell zur Lösung der Reynoldsgleichung exakte Ergebnisse sowohl für<br />

l<strong>in</strong>eare als auch für nichtl<strong>in</strong>eare Anregung der Struktur, solange die Voraussetzungen zur<br />

Ableitung der Reynoldsgleichung erfüllt s<strong>in</strong>d.<br />

Für Geometrien, bei denen dies nicht mehr der Fall ist, wurde das FN-Modell zum Mixed-<br />

Level-Modell erweitert, <strong>in</strong>dem für geometrische Nichtidealitäten wie Ränder der Struktur<br />

oder Perforationen physikalisch basierte, skalierbare Kompaktmodelle mit konzentrierten<br />

Variablen abgeleitet und an den entsprechenden Stellen zum FN-Modell h<strong>in</strong>zugefügt wurden.<br />

Der Vergleich mit FEM-Rechnungen zeigt, daß damit sowohl für e<strong>in</strong>fache wie auch<br />

komplexere mikromechanische Strukturen sehr gute Ergebnisse erreicht werden, wobei<br />

die Rechenzeit von e<strong>in</strong>igen Tagen <strong>auf</strong> e<strong>in</strong>ige M<strong>in</strong>uten verkürzt wird.<br />

Das Mixed-Level-Modell zur Behandlung von Squeeze-Film-Dämpfung <strong>in</strong> <strong>Mikrosystemen</strong><br />

ist äußerst flexibel, da es dem Entwickler gestattet, das Modell gemäß se<strong>in</strong>en Anforderungen<br />

an Genauigkeit, Skalierbarkeit, numerischem und modellbildnerischem Aufwand<br />

und Anwendbarkeit maßzuschneidern.<br />

Die Integration des Dämpfungsmodells <strong>in</strong> e<strong>in</strong> Gesamtmodell e<strong>in</strong>es Mikrosystems wurde<br />

ebenfalls erfolgreich an e<strong>in</strong>fachen Testsystemen demonstriert. Die Handhabbarkeit der<br />

Methode für komplexere Mikrosysteme, speziell im Falle oberflächenmikromechanisch<br />

hergestellter Strukturen, die typischerweise e<strong>in</strong>ige tausend Perforationen enthalten, muß<br />

allerd<strong>in</strong>gs noch getestet werden. Hier ist sicherlich noch e<strong>in</strong>e weitere Abstraktionsebene<br />

im Modell nötig, um e<strong>in</strong>en akzeptablen Rechen<strong>auf</strong>wand <strong>auf</strong> Systemebene zu erreichen.

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