7-2019

Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik Fachzeitschrift für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik

09.07.2019 Aufrufe

Messtechnik Optischer Spektrumanalysator halbiert Messzeiten Module (10G, 100G, 400G...) nötig sind. Ergebnisse auf einem gemeinsamen Bildschirm an. Anritsu gab den Verkaufsstart des neuen Spektrumanalysators MS9740B bekannt, der zur Evaluierung optischer Signalausgänge von aktiven optischen Komponenten für die Verwendung in optischen Kommunikationssystemen entwickelt wurde. Der MS9740B behält die Performance, z.B die Messempfindlichkeit seines Vorgängers MS9740A, mit identischen Funktionen und Abmessungen, aber bei Verkürzung von Messwert-Verarbeitungszeiten um 50%. Durch Optimierung der von Kunden am häufigsten verwendeten Einstellungen für die optische Empfängerbandbreite des Spektrumanalysators MS9740B wird so eine Steigerung der Fertigungseffizienz in der Massenproduktion erreicht. Hintergrund Durch die Verbreitung der 5G-Mobilfunkverbindungsund Cloud-Dienste der nächsten Generation wird eine massive Zunahme des Datenverkehrsaufkommens erwartet. Netze, die diese Infrastruktur unterstützen, erleben ein explosionsartiges Wachstum des Datenvolumens. Dieses erfordert einen höheren Produktionsausstoß von optischen Modulen sowie kürzere Prüfzeiten. Damit werden just-in-time Lieferungen ermöglicht, welche für die schnelle Ausbreitung und Adaptierung immer schnellerer optischer Eigenschaften Der MS9740B verfügt über einen breiten Dynamikbereich, eine hohe Auflösung und einen schnellen Sweep über einen Wellenlängenbereich von 600 bis 1750 nm. Das Gerät unterstützt auch Multimode-Fasern und eignet sich ideal für die Prüfung und Fertigung von VCSEL-Modulen im 850-nm-Band. Es weist nicht nur die dieselben Funktionen und Leistungen wie sein Vorgänger auf, sondern verkürzt auch die Messwert-Verarbeitungszeiten um bis zu 50% (Rx-Bandbreiten- Einstellung: 1 kHz oder 200 Hz) – und das ohne Einschränkungen bei der Messempfindlichkeit. Weiter bietet der MS9740B die speziellen Messanwendungen für aktive optische Komponenten (LD-Modul, DFB-LD, FP-LD, LED, WDM sowie Messungen zur einfachen Evaluierung von optischen Verstärkern). Das Gerät ermöglicht zeitgleiche Messungen wichtiger Parameter, wie beispielsweise optische Zentralwellenlänge, Pegel, OSNR, Spektralbreite usw. und zeigt die Hauptfunktionen: • hoher Dynamikbereich und schnelle Messungen bei den meist genutzten Empfängerbandbreiten für Messungen aktiver optische Komponenten im Produktionsumfeld (SMSR- Messung bei mindestens 45 dB, kürzeste Messwertverarbeitungszeit (Sweep im Schnellmodus; zeitlicher Gesamtaufwand für Wellenlängenabtastung, Analyse und Datenübertragung zum Remote Server) von 0,35 s (30 nm Sweep) • identische Funktionalität und Performance zum Vorgänger unterstützt zahlreiche Anwendungen in der Produktion (breiter Wellenlängenbereich von 600 bis 1750 nm für die Evaluierung sämtlicher aktiver optischer Komponenten, neun Anwendungsmenüs für Messungen an LD-Modulen, WDM usw.) ■ Anritsu Corporation www.anritsu.com Netz-Scanner deckt Großteil der 5G-NR-Anwendungen ab Rohde & Schwarz ergänzte seine kommerzielle Messlösung für 5G-NR-Mobilfunknetze. In Kombination mit dem neuen R&S TSME30DC Downconverter analysiert der R&S TSMx6 Netzscanner 5G NR-Signale bis 30 GHz und deckt damit den Großteil der hochfrequenten 5G-NR-Anwendungsfälle ab. Ergänzt wird die Lösung durch eine aktualisierte Version der R&S ROMES4 Drive Test Software sowie der webbasierten R&S SmartAnalytics Software Suite, die auf dem MWC 2019 eingeführt wurde. Es ist wichtig, die Abdeckung eines 5G-NR-Netzes unter realen Bedingungen zu messen und zu bewerten. Insbesondere die neuen Frequenzen im Millimeterwellenbereich wie 28 GHz stellen 5G-NR-Technologieanbieter vor Herausforderungen. Neben der Abdeckung von 5G-NR-Netzen muss auch anhand vorkommerzieller oder kommerzieller 5G-NR- Geräte das Verhalten von Geräten im Netz getestet und KPIs müssen verifiziert werden. Um die Herausforderungen der neuen 5G-NR-Technologie zu meistern, unterstützt Rohde & Schwarz die Industrie mit einer neuen Lösung für Millimeterwellen- und End-to-End-Messungen. Bisher konnten die R&S TSMx6 Netzscanner 5G-NR-Signale bis 6 GHz analysieren. In Kombination mit dem neuen R&S TSME30DC Downconverter analysieren sie nun Signale bis 30 GHz. Die Lösung verwendet eine aktualisierte Version der R&S ROMES4 Drive Test Software, die bereits heute Messungen an 5G-NR-Endgeräten wie z.B. Evaluation Boards, USB- Dongles und vorkommerziellen sowie kommerziellen Smartphones unterstützt, sobald diese verfügbar sind. So können Hersteller von 5G-NR-Geräten frühzeitig die Leistungsfähigkeit ihrer Produkte bewerten und deren Interaktion mit einem realen 5G-NR-Netz untersuchen. Die Lösung umfasst die kürzlich eingeführte web-basierte R&S Smart- Analytics Software Suite. Diese Software bietet leistungsfähige, intuitive Drill-Downund Analysefunktionen für die Bewertung der erfassten Messdaten über den gesamten Testzyklus des Mobilfunknetzes und unterstützt die Analyse und Visualisierung von 5G-NR-Scanner- und Endgeräte-Messungen. ■ Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG www.rohde-schwarz.com 50 hf-praxis 7/2019

Messtechnik Neuste Mobilkommunikation analysieren Der neue NRA 6000 RX von Telemeter Electronic ist ein ferngesteuerter Remote Spectrum Analyzer mit einem außergewöhnlichen Leistungsumfang. Er eignet sich besonders für Radio Monitoring und bietet eine umfassende Analyse aller Funkfrequenzbereiche einschließlich neuster Mobilkommunikation (von Tetra über GSM, UMTS, WiMAX bis LTE). Hintergrund: Aufgrund der steigenden Nutzung drahtloser Technologien und der begrenzten natürlichen Ressourcen des Frequenzspektrums ist es wichtig, technische Parameter und Standards einzuhalten. Der NRA 6000 RX ist speziell für Aufgaben wie z.B. Funkaufklärung, Funküberwachung, das Demodulieren und Decodieren von Signalen oder auch das Detektieren von illegalen Sendern konzipiert. Mit dem Spektrum Analyzer NRA 6000 RX ist die schnelle Übertragung großer Datenmengen im Binärformat möglich. Eine schnelle und kosteneffiziente Einbindung zur Signalüberwachung aufgrund Ethernet-Schnittstelle und Klartext-Fernsteuerkommando in ASCII ist mit dem NRA von Telemeter Electronic ebenso gut umsetzbar. ■ Telemeter Electronic GmbH info@telemeter.de www.telemeter.info Neuer dynamischer Leistungsanalysator für Wide-Bandgap- Halbleiterbauelemente Doppelpulstests ermöglichen konsistente, zuverlässige Charakterisierung von IGBT-, SiC und GaN-Bauelementen in einer sicheren Testumgebung. Der neue dynamische Leistungsanalysator mit Doppelpulstester PD1500A von Keysight Technologies ermöglicht zuverlässige und wiederholbare Messungen von Wide-Bandgap- Halbleitern (WBG) wie Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN). Gleichzeitig wird auch die Sicherheit der Messhardware und der Fachleute, die die Tests durchführen, gewährleistet. Der PD1500A ist modular aufgebaut, so dass viele Bauteiltypen getestet und verschiedene Charakterisierungstests bei verschiedenen Leistungen durchgeführt werden können. Das nun vorgestellte erste System ermöglicht eine vollständige Charakterisierung mit Doppelpulstests und Parameterextraktion für Si- und SiC-Leistungshalbleiter mit Nennwerten bis zu 1,2 kV und 200 A. Mit zukünftigen weitere Modulen des PD1500A können Tests an Bauteilen durchgeführt werden, die mehr Strom benötigen, wie beispielsweise GaN- und Leistungsmodule. Vorteile des PD1500A • Senkung der Kosten und Verkürzung der Time-to-Market durch Reduzierung der Entwicklungszeit und der Anzahl der benötigten Prototypen. • Gewährleistung einer sicheren Testumgebung • Dokumentation, Unterstützung und Wartung einer Standard-Testlösung sowie die Wartung mehrerer Testlösungen an einem oder mehreren Standorten. • schnelle Reaktion auf Zuverlässigkeitsprobleme mit Messungen, die sich auf die Robustheit konzentrieren (z.B. Messungen von Kurzschlüssen und Lawinen). • Vereinfachung und Automatisierung der Testprozesse. • Verbesserung der Produktmodelle, die in Design- und Simulationssoftware verwendet werden (PD1000A). Anwendungen in der Elektromobilität Das globale Wachstum des Marktes für Elektrofahrzeuge (Electric Vehicle, EV) führt zu einer starken Nachfrage nach kleinen, leistungsstarken und effizienten Stromversorgungssystemen. Während sich die Industrie für kritische Anwendungen wie erneuerbare Energien und EVs den Wide-Bandgab-Halbleitern zuwendet, zögern viele Entwickler von Spannungswandlern, die neue Technologie zu übernehmen. Dies ist auf potenzielle Zuverlässigkeits- und Wiederholbarkeitsrisiken bei der Charakterisierung einer neuen Generation von Halbleitern zurückzuführen, darunter IGBTs (Insulated-Gate Bipolar Transistor), SiC und GaN. Die vollständige Charakterisierung eines SiC- oder GaN-Bauelements erfordert statische und dynamische Messungen. Die Power Device Analyzer B1505A und B1506A von Keysight sind hervorragend für statische Messungen geeignet. Mit dem neuen PD1500A bietet Keysight nun auch die Flexibilität, eine Vielzahl von dynamischen Messungen durchzuführen. Diese Flexibilität benötigen Entwickler, um kontinuierlich an ihren Bauteilen zu arbeiten, während sich die Standards des Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC, eine Organisation verantwortlich für die Standardisierung in Halbleiterhandel und -technik) für WBG-Bauteile weiterentwickeln. „Um den Wechsel zu innovativen Leistungsbauteilen sicher und konsequent zu vollziehen, muss sich das Ökosystem der automobilen E-Mobilität über selbst entwickelte dynamische Testsysteme hinaus entwickeln, da diese aufgrund nicht garantierter Leistungen und Eigenschaften unzuverlässig sein können“, sagte Siegfried Gross, Vice President und General Manager der Automotive and Energy Solutions Group von Keysight. „Keysight arbeitete eng mit Halbleiterherstellern sowie Entwicklern in der Energie- und EV-Branche zusammen, um eine Plattform für die Analyse dynamischer Leistungsbauelemente zu entwickeln. Diese muss die wesentlichen Funktionen für Doppelpulstests enthalten, um eine wiederholbare, zuverlässige und sichere Charakterisierung dynamischer Leistungsbauelemente zu erreichen.“ ■ Keysight Technologies, Inc. www.keysight.com hf-praxis 7/2019 51

Messtechnik<br />

Neuste Mobilkommunikation analysieren<br />

Der neue NRA 6000 RX von Telemeter<br />

Electronic ist ein ferngesteuerter Remote<br />

Spectrum Analyzer mit einem außergewöhnlichen<br />

Leistungsumfang. Er eignet<br />

sich besonders für Radio Monitoring<br />

und bietet eine umfassende Analyse aller<br />

Funkfrequenzbereiche einschließlich neuster<br />

Mobilkommunikation (von Tetra über<br />

GSM, UMTS, WiMAX bis LTE).<br />

Hintergrund: Aufgrund der steigenden<br />

Nutzung drahtloser Technologien und der<br />

begrenzten natürlichen Ressourcen des<br />

Frequenzspektrums ist es wichtig, technische<br />

Parameter und Standards einzuhalten.<br />

Der NRA 6000 RX ist speziell<br />

für Aufgaben wie z.B. Funkaufklärung,<br />

Funküberwachung, das Demodulieren und<br />

Decodieren von Signalen oder auch das<br />

Detektieren von illegalen Sendern konzipiert.<br />

Mit dem Spektrum Analyzer NRA<br />

6000 RX ist die schnelle Übertragung<br />

großer Datenmengen im Binärformat<br />

möglich. Eine schnelle und kosteneffiziente<br />

Einbindung zur Signalüberwachung<br />

aufgrund Ethernet-Schnittstelle und Klartext-Fernsteuerkommando<br />

in ASCII ist<br />

mit dem NRA von Telemeter Electronic<br />

ebenso gut umsetzbar.<br />

■ Telemeter Electronic GmbH<br />

info@telemeter.de<br />

www.telemeter.info<br />

Neuer dynamischer Leistungsanalysator für Wide-Bandgap-<br />

Halbleiterbauelemente<br />

Doppelpulstests ermöglichen konsistente,<br />

zuverlässige Charakterisierung von<br />

IGBT-, SiC und GaN-Bauelementen in<br />

einer sicheren Testumgebung. Der neue<br />

dynamische Leistungsanalysator mit Doppelpulstester<br />

PD1500A von Keysight<br />

Technologies ermöglicht zuverlässige und<br />

wiederholbare Messungen von Wide-Bandgap-<br />

Halbleitern (WBG) wie Siliziumkarbid<br />

(SiC) und Galliumnitrid (GaN). Gleichzeitig<br />

wird auch die Sicherheit der Messhardware<br />

und der Fachleute, die die Tests durchführen,<br />

gewährleistet.<br />

Der PD1500A ist modular aufgebaut, so dass<br />

viele Bauteiltypen getestet und verschiedene<br />

Charakterisierungstests bei verschiedenen<br />

Leistungen durchgeführt werden können.<br />

Das nun vorgestellte erste System ermöglicht<br />

eine vollständige Charakterisierung<br />

mit Doppelpulstests und Parameterextraktion<br />

für Si- und SiC-Leistungshalbleiter mit<br />

Nennwerten bis zu 1,2 kV und 200 A. Mit<br />

zukünftigen weitere Modulen des PD1500A<br />

können Tests an Bauteilen durchgeführt<br />

werden, die mehr Strom benötigen, wie<br />

beispielsweise GaN- und Leistungsmodule.<br />

Vorteile des PD1500A<br />

• Senkung der Kosten und Verkürzung der<br />

Time-to-Market durch Reduzierung der<br />

Entwicklungszeit und der Anzahl der benötigten<br />

Prototypen.<br />

• Gewährleistung einer sicheren Testumgebung<br />

• Dokumentation, Unterstützung und Wartung<br />

einer Standard-Testlösung sowie die<br />

Wartung mehrerer Testlösungen an einem<br />

oder mehreren Standorten.<br />

• schnelle Reaktion auf Zuverlässigkeitsprobleme<br />

mit Messungen, die sich auf<br />

die Robustheit konzentrieren (z.B. Messungen<br />

von Kurzschlüssen und Lawinen).<br />

• Vereinfachung und Automatisierung der<br />

Testprozesse.<br />

• Verbesserung der Produktmodelle, die in<br />

Design- und Simulationssoftware verwendet<br />

werden (PD1000A).<br />

Anwendungen in der Elektromobilität<br />

Das globale Wachstum des Marktes für Elektrofahrzeuge<br />

(Electric Vehicle, EV) führt zu<br />

einer starken Nachfrage nach kleinen, leistungsstarken<br />

und effizienten Stromversorgungssystemen.<br />

Während sich die Industrie<br />

für kritische Anwendungen wie erneuerbare<br />

Energien und EVs den Wide-Bandgab-Halbleitern<br />

zuwendet, zögern viele Entwickler<br />

von Spannungswandlern, die neue Technologie<br />

zu übernehmen. Dies ist auf potenzielle<br />

Zuverlässigkeits- und Wiederholbarkeitsrisiken<br />

bei der Charakterisierung einer neuen<br />

Generation von Halbleitern zurückzuführen,<br />

darunter IGBTs (Insulated-Gate Bipolar<br />

Transistor), SiC und GaN.<br />

Die vollständige Charakterisierung eines<br />

SiC- oder GaN-Bauelements erfordert<br />

statische und dynamische Messungen.<br />

Die Power Device Analyzer B1505A und<br />

B1506A von Keysight sind hervorragend<br />

für statische Messungen geeignet. Mit dem<br />

neuen PD1500A bietet Keysight nun auch die<br />

Flexibilität, eine Vielzahl von dynamischen<br />

Messungen durchzuführen. Diese Flexibilität<br />

benötigen Entwickler, um kontinuierlich<br />

an ihren Bauteilen zu arbeiten, während<br />

sich die Standards des Joint Electron Device<br />

Engineering Council (JEDEC, eine Organisation<br />

verantwortlich für die Standardisierung<br />

in Halbleiterhandel und -technik) für<br />

WBG-Bauteile weiterentwickeln.<br />

„Um den Wechsel zu innovativen Leistungsbauteilen<br />

sicher und konsequent zu<br />

vollziehen, muss sich das Ökosystem der<br />

automobilen E-Mobilität über selbst entwickelte<br />

dynamische Testsysteme hinaus entwickeln,<br />

da diese aufgrund nicht garantierter<br />

Leistungen und Eigenschaften unzuverlässig<br />

sein können“, sagte Siegfried Gross,<br />

Vice President und General Manager der<br />

Automotive and Energy Solutions Group<br />

von Keysight. „Keysight arbeitete eng mit<br />

Halbleiterherstellern sowie Entwicklern in<br />

der Energie- und EV-Branche zusammen, um<br />

eine Plattform für die Analyse dynamischer<br />

Leistungsbauelemente zu entwickeln. Diese<br />

muss die wesentlichen Funktionen für Doppelpulstests<br />

enthalten, um eine wiederholbare,<br />

zuverlässige und sichere Charakterisierung<br />

dynamischer Leistungsbauelemente<br />

zu erreichen.“<br />

■ Keysight Technologies, Inc.<br />

www.keysight.com<br />

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