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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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5.4 Bestimmung e<strong>in</strong>er alternativen Blechlänge 89<br />

Abbildung 5.18 zeigt die Auftragung der Pore-Hügel Abstände für 34 verschiedene<br />

<strong>Gold</strong>leiterbahnen über der <strong>in</strong>versen Stromdichte. Die Leiterbahnen wurden e<strong>in</strong>zeln <strong>in</strong><br />

<strong>in</strong>-situ REM-Experimenten gemessen, so dass e<strong>in</strong>e direkte Beobachtung der gleichzeiti-<br />

gen Bildung von Poren <strong>und</strong> Hügeln möglich war. Untersucht wurden sechs verschiedene<br />

Konfigurationen, die sich h<strong>in</strong>sichtlich der Geometrie oder der Vorbehandlung unterschei-<br />

den:<br />

1. Leiterbahnen mit Engstelle. Die Stromdichte bezieht sich auf die Stromdichte <strong>in</strong><br />

der Engstelle, da es hier zu dem elektrischen Durchbruch kommt (Symbol: schwar-<br />

zes Quadrat).<br />

2. Leiterbahnen ohne Engstelle (Symbol: roter Kreis).<br />

3. Leiterbahnen mit ”Ecke”. Hierbei handelt es sich um 1 µm breite Leiterbahnen,<br />

die e<strong>in</strong>en 90 ◦ -Knick aufweisen. Die Länge der Teilstücke beträgt 5 µm (Symbol:<br />

grünes Dreieck, Spitze oben).<br />

4. Angelassene Leiterbahnen. Vor den <strong>Elektromigration</strong>sexperimenten wurde diese<br />

Leiterbahn bei Temperaturen größer oder gleich 300 ◦ C für m<strong>in</strong>destens 10 M<strong>in</strong>uten<br />

angelassen. Hierdurch ergibt sich e<strong>in</strong>e mehr als zehnfach erhöhte Korngröße <strong>und</strong><br />

e<strong>in</strong>e wesentlich erhöhte <strong>Elektromigration</strong>sresistenz (Symbol: dunkelblaues Dreieck,<br />

Spitze nach unten).<br />

5. Leiterbahnen auf oxidierten Substraten. Verwendet wurden gerade Leiterbahnen<br />

auf Siliziumsubstraten, welche e<strong>in</strong>e 50 nm dicke Oxidschicht besitzen. Hierdurch<br />

kommt es zu e<strong>in</strong>er verstärkten Joul’schen Erwärmung der Leiterbahnen (Symbol:<br />

hellblaue Raute).<br />

6. Reversible <strong>Elektromigration</strong>. Verwendet wurden gerade Leiterbahnen, bei denen<br />

während des <strong>in</strong>-situ Experimentes die Polarität <strong>in</strong> vorgegebenen Intervallen ge-<br />

wechselt wurde (Symbol: olivfarbenes Quadrat).<br />

In Abb. 5.18 e<strong>in</strong>getragen ist weiterh<strong>in</strong> der obere <strong>und</strong> untere Grenzwert sowie e<strong>in</strong><br />

Mittelwert über alle Messungen für das kritische Produkt aus der Stromdichte <strong>und</strong> dem<br />

Abstand der Pore-Hügel Paare. In E<strong>in</strong>zelfällen handelt es sich bei den Messwerten um<br />

Mittelwerte aus mehreren Pore-Hügel Paaren.<br />

Berücksichtigt man die Besonderheiten bei den verschiedenen Leiterbahnen, las-<br />

sen sich e<strong>in</strong>ige Trends erkennen. Bei den Leiterbahnen, die auf voroxidierten Substra-<br />

ten präpariert wurden, besitzt das kritische Produkt e<strong>in</strong>en Wert, der bei etwas über

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