12.12.2012 Aufrufe

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

86 5. Ergebnisse <strong>und</strong> Diskussion: <strong>Gold</strong>leiterbahnen<br />

Messdaten dabei mit e<strong>in</strong>zelnen Poren verknüpfen lassen, wird im folgenden Unterkapitel<br />

behandelt.<br />

Bei e<strong>in</strong>er weiteren Messung an e<strong>in</strong>er anderen, vergleichbaren Leiterbahn wurde<br />

zunächst wie im oben beschriebenen Beispiel verfahren. Bei Erreichen des Widerstand-<br />

m<strong>in</strong>imums wurde dann auf e<strong>in</strong>e Gleichstrommessung umgeschaltet. Auch hier fand der<br />

Ausfall der Leiterbahn nach der zweifachen Zeit des Widerstandsm<strong>in</strong>imums statt. Über-<br />

raschenderweise war also für die Lebensdauer der Leiterbahn ke<strong>in</strong>e Änderung gegenüber<br />

dem Fall mit wechselnder Polarität festzustellen.<br />

Der Gr<strong>und</strong> für die Form der Widerstandskurve ist bislang nicht zufriedenstellend<br />

geklärt. Die Abnahme zu Beg<strong>in</strong>n bis etwa zur Hälfte der Lebensdauer der Leiterbahn<br />

ist wahrsche<strong>in</strong>lich - wie bereits erwähnt - auf die gleichen Mechanismen zurückzuführen,<br />

die <strong>in</strong> Kap. 5.1 für den Gleichstromfall behandelt wurden. Durch die Umkehrung der<br />

Polarität wird das zuvor geschilderte Ausheilverhalten verstärkt, so dass der Widerstand<br />

um bis zu zehn Prozent gegenüber dem Ausgangswiderstand abnimmt. Das beobach-<br />

tete M<strong>in</strong>imum stellt sich e<strong>in</strong>, sobald ke<strong>in</strong> signifikantes Ausheilen der Leiterbahn mehr<br />

stattf<strong>in</strong>det; anschließend überwiegt das Porenwachsum <strong>und</strong> der Widerstand steigt bis<br />

zum Ausfall der Leiterbahn an. Im gesamten Verlauf des Experiments kommt es dabei<br />

zu lokalen Maxima <strong>und</strong> M<strong>in</strong>ima aufgr<strong>und</strong> der Umkehrung der Polarität.<br />

5.3.3 Verknüpfung der morphologischen <strong>und</strong> elektrischen Messdaten<br />

Wie bei den Gleichstrommessungen lassen sich die elektrischen Messdaten mit den REM-<br />

Aufnahmen verknüpfen. Abb. 5.16 zeigt Details sowohl der morphologischen Änderun-<br />

gen (l<strong>in</strong>ks im Bild; der dargestellte Bereich entspricht dem weißen Rechteck <strong>in</strong> Abb. 5.13)<br />

als auch der Widerstandsänderungen (rechts im Bild; der dargestellte Bereich entspricht<br />

dem roten Oval <strong>in</strong> Abb. 5.15) der zuvor betrachteten Leiterbahn.<br />

Bei den REM-Aufnahmen <strong>in</strong> Abb. 5.16 erkennt man e<strong>in</strong>e schlitzförmige Pore, welche<br />

sich periodisch öffnet <strong>und</strong> schließt, ohne dabei ihre Form wesentlich zu ändern. Der E<strong>in</strong>-<br />

fluss dieser Pore ist <strong>in</strong> den Widerstandsdaten deutlich zu erkennen. Während <strong>in</strong> Teilbild<br />

a) die Pore geschlossen ist, nimmt der Widerstand e<strong>in</strong> lokales M<strong>in</strong>imum e<strong>in</strong>. Durch den<br />

Wechsel der Polarität öffnet sich die Pore <strong>und</strong> der Widerstand steigt um ca. 0, 3 Ω an<br />

(Teilbild b), wovon 0, 3 Ω auf den morphologischen Beitrag der Pore zurückzuführen<br />

s<strong>in</strong>d. Bei dem erneuten Polaritätswechsel wird annähernd die Ausgangssituation mit<br />

der geschlossenen Pore wiederhergestellt <strong>und</strong> der Widerstand nimmt annähernd den<br />

Ausgangswert an (Teilbild c)).<br />

Wie e<strong>in</strong>e genaue Rechnung anhand der morphologischen Daten der Leiterbahn zeigt,<br />

ist die Widerstandsänderung nicht alle<strong>in</strong>e auf die <strong>in</strong> diesem Ausschnitt gezeigten Po-

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!