12.12.2012 Aufrufe

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

74 5. Ergebnisse <strong>und</strong> Diskussion: <strong>Gold</strong>leiterbahnen<br />

Abb. 5.8: Weiteres Beispiel für die Entwicklung der Stromdichte an der Durchbruchsposition<br />

e<strong>in</strong>er polykristall<strong>in</strong>en <strong>Gold</strong>leiterbahn. In diesem Fall entwickelt sich die kritische Pore erst nach<br />

ca. der Hälfte der Gesamtdauer des Experiments.<br />

makroskopische Poren bilden. Bei den polykristall<strong>in</strong>en <strong>Gold</strong>leiterbahnen wird nur e<strong>in</strong>e<br />

kurze Inkubationszeit (im Beispiel ca. fünf M<strong>in</strong>uten) gef<strong>und</strong>en. Der Gr<strong>und</strong> hierfür s<strong>in</strong>d<br />

die bereits vorhandenen Störungen des Atomgitters <strong>in</strong> Form von Korngrenzen, welche<br />

das Wachstum von makroskopischen Poren begünstigen.<br />

Abb. 5.8 zeigt die Stromdichte an der Durchbruchposition der Leiterbahn. Man er-<br />

kennt, dass sich zunächst ke<strong>in</strong>e kritische Pore gebildet hat. Erst nach ca. 14 M<strong>in</strong>uten<br />

kommt es an dieser Position zur Bildung von Poren <strong>und</strong> dementsprechend steigt die<br />

Stromdichte (ausgehend vom Anfangswert von 1, 3 ∗ 10 8 A/cm 2 ) kurz vor dem elek-<br />

trischen Durchbruch auf e<strong>in</strong>en Wert von ca. 3, 1 ∗ 10 8 A/cm 2 an. Vergleicht man die<br />

Entwicklung der Stromdichte mit den Widerstandsdaten aus Abb. 5.6, erkennt man für<br />

dieses Beispiel e<strong>in</strong>en direkten Zusammenhang: Nach 14 M<strong>in</strong>uten kam es im Widerstand<br />

zu e<strong>in</strong>em kurzzeitigen Anstieg. Solche abrupten Widerstandsanstiege s<strong>in</strong>d <strong>in</strong> der Litera-<br />

tur bereits beschrieben worden [30]. Es ist allerd<strong>in</strong>gs nicht möglich, über diesen abrupten<br />

Widerstandsanstieg auf die verbleibende Lebensdauer der Leiterbahn zu schließen. Der<br />

Zusammenhang zwischen den Widerstandsdaten <strong>und</strong> dem Wachstum der kritischen Pore<br />

kann erst nach dem Experiment gezogen werden. Es ist, selbst bei e<strong>in</strong>em <strong>in</strong>-situ Expe-<br />

riment, nicht möglich, nach e<strong>in</strong>em abrupten Widerstandsanstieg die kritische Pore zu<br />

bestimmen <strong>und</strong> anhand deren Wachstum die (verbleibende) Lebensdauer der Leiterbahn<br />

zu berechnen.

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!