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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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4.3 Unterschied zwischen e<strong>in</strong>geprägtem Strom <strong>und</strong> e<strong>in</strong>geprägter Spannung 61<br />

welcher sich die Stromstärke entsprechend dem Widerstand der Leiterbahn e<strong>in</strong>stellt. Bei-<br />

de Möglichkeiten bieten sowohl Vor- als auch Nachteile, wie im folgenden kurz erläutert<br />

werden soll.<br />

Bei Messungen mit e<strong>in</strong>geprägtem Strom besteht der Hauptvorteil dar<strong>in</strong>, e<strong>in</strong>e Strom-<br />

dichte (unter Kenntnis der geometrischen Abmessungen der Leiterbahn) fest vorgeben<br />

zu können. Hierdurch s<strong>in</strong>d Messungen an verschiedenen Leiterbahnen leichter mite<strong>in</strong>an-<br />

der zu vergleichen. Allerd<strong>in</strong>gs gibt es e<strong>in</strong>en gravierenden Nachteil bei dieser Methode:<br />

Da die Stromstärke festgelegt ist, kommt es durch die Bildung der Poren zu Engstellen,<br />

<strong>in</strong> denen die Stromdichte stark ansteigt. Dies führt - <strong>in</strong> der Endphase der Experimente<br />

- zu e<strong>in</strong>em (großflächigen) Aufschmelzen der Leiterbahnen. Dabei wird die Morpholo-<br />

gie der Durchbruchposition komplett verändert, so dass ke<strong>in</strong>e weiteren hochauflösenden<br />

REM-Aufnahmen mehr möglich s<strong>in</strong>d. Im Rahmen dieser Arbeit wurden daher (bis auf<br />

wenige Ausnahmen, zum Beispiel zur Bestimmung des Stromdichteexponenten m bzw.<br />

bei e<strong>in</strong>igen Experimenten zur reversiblen <strong>Elektromigration</strong>) nur spannungse<strong>in</strong>geprägte<br />

Messungen durchgeführt.<br />

Der Hauptvorteil bei spannungse<strong>in</strong>geprägten Messungen besteht dar<strong>in</strong>, dass die<br />

Stromdichte an der Durchbruchstelle über den sich ändernden Widerstand der Lei-<br />

terbahn begrenzt ist. E<strong>in</strong>e Erhöhung des Widerstandes aufgr<strong>und</strong> der morphologischen<br />

Änderungen <strong>in</strong>nerhalb der Leiterbahn führt, bei konstanter Spannung, zu e<strong>in</strong>er Ernied-<br />

rigung der Stromstärke. Die Stromdichte an der Durchbruchstelle ändert sich zwar, diese<br />

Änderung ist aber begrenzt (siehe Kap. 5.1.5) <strong>und</strong> führte <strong>in</strong> der Endphase der Elektro-<br />

migrationsexperimente nur <strong>in</strong> e<strong>in</strong>igen Fällen zu e<strong>in</strong>em lokalen Aufschmelzen der Leiter-<br />

bahn. Bei Experimenten mit e<strong>in</strong>geprägter Spannung besteht der Nachteil dar<strong>in</strong>, dass die<br />

sich e<strong>in</strong>stellende Stromstärke bzw. Stromdichte <strong>in</strong>nerhalb der Leiterbahn nicht exakt im<br />

Vorfeld berechnet werden kann. Die Unterschiede kommen aufgr<strong>und</strong> von ger<strong>in</strong>gfügigen<br />

Änderungen der spezifischen Leitfähigkeit ρ <strong>und</strong>/oder des l<strong>in</strong>earen Temperaturkoeffizi-<br />

enten α zustande. Zwar kann man anhand der geometrischen Abmessungen sowie dem<br />

Widerstand R(0) der Leiterbahn die sich ergebende Stromstärke abschätzen; dieser Wert<br />

ist jedoch nicht exakt, da die <strong>in</strong>dividuelle Temperatur- <strong>und</strong> damit Widerstandsänderung<br />

aufgr<strong>und</strong> Joul’scher Wärme von den eben erwähnten Faktoren abhängt (siehe auch Kap.<br />

4.1).

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