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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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4.2 E<strong>in</strong>fluss des Elektronenstrahls auf die <strong>Elektromigration</strong>smessungen im REM 57<br />

a<br />

I +<br />

b<br />

1 µm<br />

U +<br />

U -<br />

Abb. 4.4: Typische Messkonfiguration für die <strong>in</strong>-situ Widerstandsmessungen an den <strong>Gold</strong>leiterbahnen<br />

(siehe auch Abb. 3.3). Teilbild a) zeigt die Leiterbahn <strong>in</strong>klusive der Stromzuführungen<br />

<strong>und</strong> Spannungsabgriffe. Teilbild b) zeigt die Leiterbahn mit e<strong>in</strong>em Messrahmen, wie er<br />

üblicherweise für die Videoaufzeichnung verwendet wird (entnommen aus [171]).<br />

Strahl nach l<strong>in</strong>ks zurückgelenkt <strong>und</strong> beg<strong>in</strong>nt mit der nächsten Zeile. Dieses Vorgehen ist<br />

schematisch durch den schwarzen Pfeil angedeutet. In dieser Art erhält man <strong>in</strong>nerhalb<br />

von zum Beispiel fünf Sek<strong>und</strong>en e<strong>in</strong>e komplette Aufnahme <strong>in</strong>nerhalb des Messrahmens.<br />

Wie aus Abb. 4.4 b) ersichtlich, bef<strong>in</strong>det sich der Elektronenstrahl <strong>in</strong> diesem Beispiel<br />

ca. die Hälfte der Zeit auf dem Substrat <strong>und</strong> die andere Hälfte auf der Leiterbahn.<br />

Abb. 4.5 zeigt das Widerstandsverhalten e<strong>in</strong>er Leiterbahn, die (wie <strong>in</strong> Abb. 4.4 ge-<br />

zeigt) <strong>in</strong>-situ mit dem REM abgerastert wurde. Man erkennt e<strong>in</strong>e Widerstandsoszillation<br />

zu Beg<strong>in</strong>n des Experiments im Zeitraum von 220 s bis 400 s. Der Widerstand steigt -<br />

wie bereits <strong>in</strong> Kap. 4.1.2 erläutert wurde - im Verlauf dieser Zeitspanne an. Ab ca. 350 s<br />

ist die Leiterbahn mit dem Substrat thermalisiert <strong>und</strong> der Widerstand erreicht e<strong>in</strong>en<br />

konstanten Wert. Weiterh<strong>in</strong> erkennt man Widerstandsoszillationen mit e<strong>in</strong>er kle<strong>in</strong>en<br />

Amplitude bis 250 s <strong>und</strong> e<strong>in</strong>er größeren Amplitude ab 250 s. Die Ausschnittsvergröße-<br />

rung <strong>in</strong> Abb. 4.5 zeigt die Oszillationen nach der Thermalisierung mit dem Substrat. Sie<br />

besitzen e<strong>in</strong>e Periode von fünf Sek<strong>und</strong>en <strong>und</strong> e<strong>in</strong>e mittlere Amplitude δR = 4, 6 ·10 −4 Ω<br />

mit e<strong>in</strong>er Standardabweichung von 5 · 10 −5 Ω.<br />

Das Zeit<strong>in</strong>tervall der Oszillationen entspricht der Aufnahmezeit <strong>in</strong>nerhalb e<strong>in</strong>es Mess-<br />

rahmens; d. h. die periodische Widerstandsänderung ist mit dem Elektronenstrahl direkt<br />

korreliert. Der Pfeil <strong>in</strong> Abb. 4.5 kennzeichnet e<strong>in</strong>e Änderung <strong>in</strong> der Periodizität. Die Auf-<br />

nahmezeit pro Fenster wurde hier von 2,5 auf 5 Sek<strong>und</strong>en erhöht. Im Detail steigt der<br />

Widerstand der Leiterbahn an, sobald diese vom Elektronenstrahl getroffen wird. Der<br />

I -

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