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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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4.1 E<strong>in</strong>fluss <strong>und</strong> Bestimmung der Temperatur 49<br />

Probe Breite (nm) angelassen REM ΦKrist nm α<br />

1 806 ja ne<strong>in</strong> 189 0, 00305 K −1<br />

2 806 ja ja 189 0, 00321 K −1<br />

3 980 ne<strong>in</strong> ne<strong>in</strong> 19,4 0, 002 K −1<br />

4 980 ne<strong>in</strong> ja 19,4 0, 0021 K −1<br />

5 484 ne<strong>in</strong> ne<strong>in</strong> 17,7 0, 00191 K −1<br />

6 484 ne<strong>in</strong> ja 17,7 0, 00189 K −1<br />

Tab. 4.1: Übersicht der l<strong>in</strong>earen Temperaturkoeffizienten des Widerstandes, gemessen an sechs<br />

unterschiedlich präparierten <strong>Gold</strong>leiterbahnen.<br />

Bestrahlung wurde dabei für je e<strong>in</strong>e Probe mit gleicher Breite <strong>und</strong> Vorbehandlung durch-<br />

geführt. Die anhand von REM-Aufnahmen bestimmte Korngröße (siehe Kap. 3.3) ist <strong>in</strong><br />

der fünften Spalte angegeben. Die letzte Spalte der Tabelle zeigt die Werte für α, wie<br />

sie anhand der l<strong>in</strong>earen Anpassungen des Widerstandes als Funktion der Temperatur <strong>in</strong><br />

e<strong>in</strong>em Temperaturbereich von ca. 220 K bis 280 K bestimmt wurden.<br />

Das wesentliche Ergebnis der Untersuchungen ist, dass der l<strong>in</strong>eare Temperaturkoef-<br />

fizient von der Korngröße abhängt. Vergleicht man die Daten der Proben e<strong>in</strong>s <strong>und</strong> zwei<br />

mit denen der nicht angelassenen Proben, fällt auf, dass α bei den angelassenen Proben<br />

höher ist. So zeigen die angelassenen Proben mit Korngrößen von 190 nm e<strong>in</strong>en um 50 %<br />

höheren Wert als die nicht angelassenen Proben mit Korngrößen von ca. 17 − 19 nm.<br />

Dies ist zu erwarten, da der Temperaturkoeffizient vom Restwiderstand abhängt <strong>und</strong> bei<br />

e<strong>in</strong>em erhöhten Restwiderstand erniedrigt wird. So ist allgeme<strong>in</strong> bekannt, dass Gitterde-<br />

fekte (zu denen auch Korngrenzen gehören) <strong>und</strong> Verunre<strong>in</strong>igungen zu e<strong>in</strong>er Verr<strong>in</strong>gerung<br />

von α oder sogar zu e<strong>in</strong>em negativen Temperaturkoeffizienten führen können [103]. Für<br />

e<strong>in</strong>e genaue Berechnung der Temperaturerhöhung ist es daher wesentlich, die Korngröße<br />

der Probe zu beachten.<br />

In diesem Zusammenhang hängt α überraschenderweise nicht davon ab, ob die Pro-<br />

ben im REM bestrahlt wurden oder nicht. So zeigen die Proben drei <strong>und</strong> vier sowie die<br />

Proben fünf <strong>und</strong> sechs mit jeweils gleicher Korngröße fast ke<strong>in</strong>e Änderung von α. Auch<br />

hier würde man erwarten, dass sich der Temperaturkoeffizient für bestrahlte Proben<br />

verr<strong>in</strong>gert. Es gibt zwar m<strong>in</strong>imale Unterschiede (die relative Abweichung beträgt 5 %),<br />

doch weichen die Werte des Temperaturkoeffizienten sowohl nach oben als auch nach<br />

unten für bestrahlte <strong>und</strong> nicht bestrahlte Proben ab. Für die Bestimmung der Tempe-<br />

raturerhöhung genügt es daher, den der Korngröße entsprechenden Wert von α sowohl<br />

für ex-situ als auch für <strong>in</strong>-situ Messungen heranzuziehen.<br />

E<strong>in</strong> weiterer untersuchter Parameter war die Leiterbahnbreite; diese besitzt im Rah-<br />

men der hier durchgeführten Untersuchungen allerd<strong>in</strong>gs ke<strong>in</strong>en E<strong>in</strong>fluss auf die Werte

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