12.12.2012 Aufrufe

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

40 3. Experimentelles<br />

TEM<br />

a<br />

REM<br />

b<br />

Abb. 3.8: Zur Bestimmung der mittleren Korngröße mittels TEM (a) <strong>und</strong> REM (b). Die<br />

Auftragungen zeigen die Anzahl der Körner <strong>in</strong> Abhängigkeit des Durchmessers <strong>und</strong> die Anpassung<br />

mit e<strong>in</strong>er logarithmischen Normalverteilung (rote L<strong>in</strong>ie). Für Auftragung a) (TEM)<br />

wurden 295 Körner ausgewertet; für Auftragung b) (REM) wurden 325 Körner ausgewertet.<br />

werden können. Die maximale Dicke beträgt, je nach Material, ca. 30 − 50 nm. Für<br />

die vergleichende Bestimmung von Korngrößen wurden die Metallschichten im Gegen-<br />

satz zu den für die <strong>Elektromigration</strong>smessungen verwendeten Proben folgendermaßen<br />

präpariert: Auf e<strong>in</strong> Kochsalzsubstrat wurde zunächst e<strong>in</strong>e dünne Schicht (Schichtdicke<br />

tK ≃ 10 nm) amorphen Kohlenstoffs als Trägermaterial aufgedampft. Auf diese Koh-<br />

lenstoffschicht wurde dann die <strong>Gold</strong>schicht mit e<strong>in</strong>er Dicke von 36 nm aufgedampft. Das<br />

NaCl-Substrat wurde anschließend <strong>in</strong> destilliertem Wasser aufgelöst <strong>und</strong> der <strong>Gold</strong>film<br />

auf e<strong>in</strong> TEM-Grid aus Kupfer mit e<strong>in</strong>er Maschenbreite von 300 µm aufgebracht.<br />

Für die vergleichende Untersuchung der Korndurchmesser wurden für e<strong>in</strong>e unbehan-<br />

delte Probe jeweils mehrere TEM- <strong>und</strong> REM-Aufnahmen der Schicht auf dem TEM-Grid<br />

angefertigt. Abb. 3.7 zeigt <strong>in</strong> Teilbild a) e<strong>in</strong>e TEM-Aufnahme <strong>und</strong> <strong>in</strong> Teilbild b) e<strong>in</strong>e<br />

(kontrastverstärkte) REM-Aufnahme des <strong>Gold</strong>films. Man kann bei beiden Aufnahmen<br />

deutlich e<strong>in</strong>zelne Körner vone<strong>in</strong>ander unterscheiden. Anhand solcher Aufnahmen wird<br />

mittels e<strong>in</strong>es Bildbearbeitungsprogramms (Analysis � von Soft Imag<strong>in</strong>g Systems) der<br />

Korndurchmesser e<strong>in</strong>er großen Anzahl von Körnern bestimmt.<br />

Es hat sich zunächst herausgestellt, dass sich bei Verwendung unterschiedlicher Sub-<br />

strate (Silizium im Vergleich zu NaCl), welche beide im gleichen Aufdampfvorgang mit<br />

e<strong>in</strong>er Schicht von amorphem Kohlenstoff bedeckt wurden, unterschiedliche Korndurch-<br />

messer ergeben. Der Gr<strong>und</strong> hierfür liegt jedoch nicht <strong>in</strong> der verwendeten Messmethode,<br />

sondern <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em unterschiedlichen Aufwachsverhalten aufgr<strong>und</strong> des verwendeten Sub-<br />

strates. Daher wurden für die vergleichenden Messungen die Korndurchmesser an jeweils<br />

derselben Probe sowohl mit dem TEM als auch mit dem REM bestimmt. Hierbei gibt es<br />

e<strong>in</strong>e gute Übere<strong>in</strong>stimmung der mittleren Korndurchmesser, wie im folgenden anhand<br />

e<strong>in</strong>es Beispiels dargestellt wird.

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!