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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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28 2. Gr<strong>und</strong>lagen<br />

Es ist weiterh<strong>in</strong> bekannt, dass oberhalb e<strong>in</strong>er bestimmten Frequenz des angelegten<br />

Wechselstroms <strong>Elektromigration</strong>sschädigungen ausbleiben (siehe [17] <strong>und</strong> Referenzen<br />

dar<strong>in</strong>). Die Grenzfrequenz hängt dabei sowohl vom Material als auch von der Geome-<br />

trie der Leiterbahnen ab. Der Gr<strong>und</strong> ist, dass die schweren Atomrümpfe dem schnellen<br />

Wechsel der Stromrichtung nicht mehr folgen können. Somit kommt es nicht mehr zu<br />

e<strong>in</strong>er Vorzugsrichtung für die Diffusion der Atome.<br />

Neben den Untersuchungen der <strong>Elektromigration</strong> bei Wechselstrom (ab e<strong>in</strong>er Fre-<br />

quenz von z. B. 50 Hz) wurden von Hong et al. gezielte Experimente zur Reversibi-<br />

lität der <strong>Elektromigration</strong> an Alum<strong>in</strong>iumleiterbahnen im Jahre 1993 bei Umkehrung<br />

des Gleichstroms durchgeführt [143]. Wie <strong>in</strong> dieser Arbeit beschrieben, wurde für be-<br />

stimmte Poren e<strong>in</strong> reversibles Verhalten gef<strong>und</strong>en, wobei die Stromrichtung für jeweils<br />

100 M<strong>in</strong>uten beibehalten wurde. Das Ausheilen bestehender Poren war dabei nicht auf<br />

e<strong>in</strong>e erhöhte Temperatur der Leiterbahnen zurückzuführen.<br />

2.8 Anwendungen der <strong>Elektromigration</strong><br />

Neben den zerstörerischen <strong>und</strong> damit unerwünschten Effekten der <strong>Elektromigration</strong> <strong>in</strong><br />

Metallisierungen, wird die <strong>Elektromigration</strong> seit e<strong>in</strong>igen Jahren dazu verwendet, gezielt<br />

<strong>Nanostrukturen</strong> zu bee<strong>in</strong>flussen, um z. B. Leitwertquantisierungen zu bestimmen oder<br />

Leitfähigkeitsmessungen an Molekülen durchzuführen.<br />

Derart hergestellte Strukturen bieten gegenüber den oftmals e<strong>in</strong>gesetzten Punktkon-<br />

takten, welche mit Hilfe von mechanischen Bruchkontakten (mechanically controllable<br />

breakjunctions, MCB) [144] präpariert werden, e<strong>in</strong>ige Vorteile. So lassen sich viele Struk-<br />

turen gleichzeitig auf e<strong>in</strong>em Substrat präparieren. Diese besitzen weiterh<strong>in</strong> e<strong>in</strong>en guten<br />

thermischen Kontakt zur Oberfläche. Bei den e<strong>in</strong>gesetzten hohen Stromdichten ist dies<br />

wesentlich, da ansonsten die Gefahr e<strong>in</strong>es Aufschmelzprozesses an der Kontaktposition<br />

besteht. Die Herstellung von Punktkontakten mittels <strong>Elektromigration</strong> sche<strong>in</strong>t dabei<br />

nicht von der Umgebungstemperatur während der Präparation abzuhängen, wie von<br />

Trouwborst <strong>und</strong> Mitarbeitern gezeigt wurde [145]. Dabei wurde sowohl bei Tempera-<br />

turen von flüssigem Helium <strong>und</strong> Stickstoff, als auch bei Zimmertemperatur gearbeitet.<br />

Die Methode, gezielt Elektroden mit Nanometerabstand mittels <strong>Elektromigration</strong> her-<br />

zustellen ist dabei mittlerweile gut untersucht <strong>und</strong> ausgereift [146].<br />

Diese gezielt hergestellten Elektroden lassen sich e<strong>in</strong>setzen, um e<strong>in</strong>zelne Moleküle,<br />

oder aber auch Nanopartikel zwischen den Kontakten zu untersuchen [147]; e<strong>in</strong>e Möglich-<br />

keit die aufgr<strong>und</strong> der Präparation bei MCB so nicht besteht. Derartig hergestellte Struk-<br />

turen werden weiterh<strong>in</strong> für magnetische Messungen verwendet. Keane et al. [148] fabri-<br />

zierten erfolgreich Nickel-Nanokontakte für Untersuchungen des anisotropen Magneto-

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