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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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2.6 Black-Gleichung 25<br />

von z. B. Korngrenzendiffusion bezieht sich die Aktivierungsenergie auf die Wanderung<br />

von Fehlstellen <strong>in</strong>nerhalb von Korngrenzen [16].<br />

Die Diffusion der Fehlstellen sollte entsprechend dem Modell e<strong>in</strong>es Impulsübertrags<br />

der Leitungselektronen direkt von der Stromdichte abhängen. Dementsprechend müsste<br />

der Stromdichteexponent n e<strong>in</strong>en Wert von 1 besitzen. Dies ist <strong>in</strong> der Praxis jedoch nicht<br />

der Fall. In der Literatur gibt es ke<strong>in</strong>en e<strong>in</strong>heitlichen Wert für den Stromdichteexponen-<br />

ten. So variiert n zwischen Werten von 1 bis über 10. In e<strong>in</strong>em Übersichtsartikel von<br />

Scorzoni et al. [24] wird darauf h<strong>in</strong>gewiesen, dass n stark von der Temperatur <strong>und</strong> den<br />

Testbed<strong>in</strong>gungen abhängig ist. So s<strong>in</strong>d Werte n > 2 e<strong>in</strong> Indikator für das Vorhandense<strong>in</strong><br />

von Joul’scher Wärme. Typische Werte für n liegen zwischen 1 <strong>und</strong> 2, abhängig davon,<br />

ob die <strong>Elektromigration</strong> von dem Wachstum der Poren (n = 1) oder von der Nukleation<br />

der Poren (n = 2) bestimmt wird [16,130]. Die physikalische Bedeutung von n darf dabei<br />

nicht überbewertet werden; es handelt sich vielmehr um e<strong>in</strong>e Rechengröße, mit deren<br />

Hilfe Lebensdauervorhersagen möglich werden.<br />

Für beschleunigte Testbed<strong>in</strong>gungen erlaubt Gl. 5, die Ergebnisse für die mittlere<br />

Ausfallzeit auf Betriebsbed<strong>in</strong>gungen umzurechnen <strong>und</strong> so e<strong>in</strong>e Aussage über die Zu-<br />

verlässigkeit e<strong>in</strong>er Metallisierung zu machen. Wie von Arzt <strong>und</strong> Nix gezeigt wurde [2],<br />

kann dabei die Stromdichte auch durch e<strong>in</strong>e effektive Stromdichte jeff = j − jc ersetzt<br />

werden, welche das Auftreten mechanischer Spannungen berücksichtigt.<br />

Wesentlich für die Anwendung von Gl. 5 ist, dass sich der Materialparameter A nicht<br />

ändert (gleiche Prozessbed<strong>in</strong>gungen <strong>und</strong> Strukturgrößen wie z. B. Temperaturbehand-<br />

lungen, Materialzusammensetzungen, geometrische Abmessungen). Weiterh<strong>in</strong> muss der<br />

Ausfallmechanismus, also der vorherrschende Diffusionspfad, bei verschiedenen Tempe-<br />

raturen gleich bleiben. Ändert sich der Diffusionspfad bei unterschiedlichen Temperatu-<br />

ren, lassen sich die bei beschleunigten Testbed<strong>in</strong>gungen gewonnenen Werte nicht direkt<br />

über die Black-Gleichung auf Betriebsbed<strong>in</strong>gungen umrechnen.<br />

Die Bestimmung der Aktivierungsenergie Ea erfolgt üblicherweise über e<strong>in</strong>en<br />

Arrhenius-Plot, bei welchem die Daten der mittleren Ausfallzeit halblogarithmisch ge-<br />

gen die reziproke Temperatur aufgetragen werden. Früher wurden weiterh<strong>in</strong> Wider-<br />

standsänderungen bei verschiedenen Temperaturen zur Bestimmung der Aktivierungs-<br />

energie nach der Methode von Rosenberg <strong>und</strong> Berenbaum verwendet [12]. Die Aktivie-<br />

rungsenergie kann dabei anhand folgender Gleichung bestimmt werden:<br />

˙RT1<br />

˙RT2<br />

�<br />

= exp − Ea<br />

�<br />

1<br />

−<br />

kB T1<br />

1<br />

��<br />

T2<br />

wobei ˙ RT1 <strong>und</strong> ˙ RT2 die zeitlichen Ableitungen des Widerstandes bei den Temperatu-<br />

ren T1 <strong>und</strong> T2 s<strong>in</strong>d. Experimente hierzu wurden <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em Silikon-Ölbad durchgeführt, bei<br />

(6)

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