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Elektromigration in Gold und Silber Nanostrukturen

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90 5. Ergebnisse <strong>und</strong> Diskussion: <strong>Gold</strong>leiterbahnen<br />

Abb. 5.18: Auftragung von Pore-Hügel Abständen für 34 verschiedene <strong>Gold</strong>leiterbahnen<br />

über der <strong>in</strong>versen Stromdichte. Man erkennt, dass mit zunehmender Stromdichte der Abstand<br />

zwischen Poren <strong>und</strong> Hügeln abnimmt. Die <strong>in</strong> dieser Abbildung aufgetragenen Abstände wurden<br />

an sechs verschiedenen Leiterbahnkonfigurationen gemessen.<br />

600 A/cm liegt <strong>und</strong> damit recht ger<strong>in</strong>g ist 17 . Dies ist wahrsche<strong>in</strong>lich auf die - im Ver-<br />

gleich zu den Leiterbahnen auf nicht voroxidierten Substraten - erhöhte Temperatur<br />

zurückzuführen. Die Temperatur war bei gleicher Stromdichte <strong>und</strong> vergleichbaren Di-<br />

mensionen der Leiterbahnen um ca. 100 K erhöht. Bei den Leiterbahnen ohne Engstelle<br />

ist ke<strong>in</strong> e<strong>in</strong>deutiges Verhalten feststellbar; hier streuen die Werte beträchtlich, wobei<br />

als Obergrenze für das kritische Produkt e<strong>in</strong> Wert um 3000 A/cm als realistisch an-<br />

genommen werden kann. Bei den Leiterbahnen mit Engstelle fällt generell auf, dass<br />

die Abstände der Pore-Hügel Paare kle<strong>in</strong>er s<strong>in</strong>d <strong>und</strong> die Stromdichten höhere Werte<br />

annehmen. Dies ist zu erwarten, da <strong>in</strong> der Engstelle entsprechend höhere Werte für<br />

die Stromdichte herrschen. Im Vergleich zu den Leiterbahnen ohne Engstelle ist ke<strong>in</strong>e<br />

Veränderung im kritischen Produkt zu beobachten, da die Herstellung der Leiterbahnen<br />

<strong>und</strong> die Geometrie <strong>in</strong>nerhalb der Engstelle identisch ist mit der e<strong>in</strong>er Leiterbahn ohne<br />

Engstelle.<br />

Sowohl bei den angelassenen Leiterbahnen, als auch bei den Leiterbahnen welche<br />

e<strong>in</strong>en 90 ◦ -Knick bei gleicher Länge von 10 µm besitzen, ergibt sich e<strong>in</strong> hohes kriti-<br />

17 Besitzt das kritische Produkt e<strong>in</strong>en ger<strong>in</strong>gen Wert, bedeutet dies, das der Abstand der Pore-Hügel<br />

Paare nicht sehr stark von der anliegenden Stromstärke bzw. -dichte abhängt. Dabei erlaubt das kritische<br />

Produkt bei identischen Leiterbahnen <strong>und</strong> gleicher Messkonfiguration die Berechnung von Pore-<br />

Hügel Abständen für unterschiedliche Stromstärken.

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