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Einfluss von Signal-Rausch-Verhältnis und Binning auf die - NDT.net

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Referenzen<br />

[1] GUM: „Guide to the expression of uncertainty in measurement“ ISBN 92-67-10188-9, 1995<br />

[2] Supplement 1 to GUM: „Evaluation of measurement data – Propagation of distributions using a Monte<br />

Carlo method“, in Druck 2008<br />

[3] U. Hilpert, M. Bartscher, M. Neugebauer, J. Goebbels, G. Weidemann, C. Bellon:<br />

Simulation-aided computed tomography (CT) for dimensional measurements.<br />

Proceedings of the DIR 2007 – International Symposium on Digital Radiology and Computed Tomography,<br />

June 25-7, 2007, Lyon, France<br />

[4] M. Bartscher, U. Hilpert, D. Fiedler: Ermittlung der Messunsicherheit <strong>von</strong> Computertomographie-<br />

Messungen am Beispiel eines Zylinderkopfs. tm - Technisches Messen, Volume 75, Issue 3, S. 178 - 186<br />

[5] H. Schwenke, M. Franke: Bestimmung der Messunsicherheit mit KMG – Status <strong>und</strong> Ausblick PTB Mitteilungen<br />

4/2007, S. 363 - 371<br />

[6] VDI/VDE 2617 Blatt 7, Genauigkeit <strong>von</strong> Koordinationsmessgeräten - Kenngrößen <strong>und</strong> deren Prüfung -<br />

Ermittlung der Unsicherheit <strong>von</strong> Messungen <strong>auf</strong> Koordinatenmessgeräten durch Simulation. Technische<br />

Regel, 2006-04<br />

[7] C. Bellon, G.-R. Jaenisch: aRTist – Analytical RT Inspection Simulation Tool.<br />

Proceedings of the DIR 2007 – International Symposium on Digital industrial Radiology and Computed<br />

Tomography, June 25-27, 2007, Lyon, France<br />

[8] M. Neugebauer, U. Hilpert, M. Bartscher, N. Gerwien, S. Kunz, F. Neumann, J. Goebbels, G. Weidemann:<br />

Ein geometrisches Normal zur Prüfung <strong>von</strong> Röntgen-Mikro-Computertomografiemesssystemen. tm<br />

- Technisches Messen Volume 74, Issue 11, S. 565 - 571<br />

[9] M. Neugebauer, U. Hilpert, M. Bartscher, N. Gerwien, M. Krystek, C. Schwehn, M. Trenk, J. Goebbels,<br />

G. Weidemann: Untersuchungen zur Messung <strong>von</strong> Mikrogeometrien mit großen taktilen KMGs <strong>und</strong> Anwendung<br />

bei einem Prüfkörper für Mikro-CT-Messsysteme. tm - Technisches Messen, Volume 75, Issue<br />

3, S. 187 – 198<br />

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