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Von Mikro bis Nano –das breiteste Produktportfolio auf dem MarktWählen Sie das beste Mikroskop für Ihre Anwendung:Die Systeme von Carl Zeiss Microscopy sorgen fürErkenntnisse vom Mikro- bis zum Nano-Bereich.StereoZoomCompoundKonfokalFIBREMHelium-IonenTEM5 µm5 µm1 µm500 nm5 nm1 nm0,5 nm0,1 nm6 7

Visuelle Inspektions-SystemeBearbeiten Sie kleine Teilemit großer Präzision1011

Visuelle Inspektions-SystemeStemi DV4 und Stemi DV4 SPOTEin Mikroskop wie Ihre Bauteile: klein, präzise, stabil.Mit Stemi DV4 verarbeiten Sie winzige Rädchen, Federn, Kloben, Brücken,Triebe, Glocken- und Sperrradschrauben, Zifferblatt-, Federkern-, Riegel- undAnsatzschrauben in Ihrem UhrwerkDie Kombination von Stemi DV4 SPOT mit dem flexiblen Stativ U ist einunentbehrliches Arbeitsmittel für den Zahntechniker. Sie bearbeiten Ihre Objektedurch die verbesserte Feinmotorik in besserer Qualität und kürzerer ZeitKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Stemi DV4 ist ein besonders kompaktes Stereomikroskop. Diesolide, strapazierfähige Technik ist leicht zu bedienen. Sie erfassenhochaufgelöste Bilder dreidimensional und stufenlos von derÜbersicht bei 8-facher Ver größerung bis ins 32-fach vergrößerteDetail. Ihr Bild bleibt über den gesamten Zoombereich im Fokus –kontrastreich und scharf bis zum Objektfeldrand.In den Mikroskopkörper von Stemi DV4 SPOT ist eine faseroptischeKaltlichtquelle integriert. Sie leuchtet Ihr Objektfeld homogen undschattenfrei aus. In Kombination mit dem Neigarmstativ U eignetsich Stemi DV4 SPOT ganz besonders für Ihre Proben: Sie fokussierenpräzise und Ihre Probe bleibt immer zugänglich – dafür sorgtdas variabel einstellbare Vorsatzsystem.MikroskopStemi DV4Stemi DV4 SPOT mit integrierterfaseroptischer KaltlichtbeleuchtungBeleuchtungsverfahrenAuflicht: Spot-Beleuchtung, neigbar, Optional: PolarisationDurchlicht: homogenes Hellfeld, Optional: Polarisation,Dunkelfeld, Schräglicht mit ReliefkontrastZubehörOkulare, Okularmesseinrichtung, Kamera-Okularadapter,Vorsatzsysteme, faseroptische Kaltlichtquellen mitdiversen Lichtleitern• Profitieren Sie in der industriellen Qualitätskontrolle vonder hochwertigen Optik und der variabel einstellbarenLED-Beleuchtung in einer kompakten Einheit.• Am Okular mikrometer 8x/32x/18 lesen Sie die Werte direktan der Skala ab – entweder in der Übersicht bei 8-facherVergrößerung oder am Detail bei 32-facher Vergrößerung.• Sie dokumentieren Ihre mikroskopischen Bilder digital:Bringen Sie Ihre digitale Kompakt-, Spiegelreflex- oderC-Mount-Kamera über einen Okular-Adapter am Mikroskop an.• Mit dem am Stativ C LED nachrüstbaren Objektmagazinpositionieren Sie bis zu 16 unterschiedliche Objekte zielsicherunter dem Stereomikroskop. ClickStop sorgt für die exaktePosition unter dem Mikroskop, eine reflexarme Glasplatteschützt die Objekte.• Sie sind Zahntechniker und bearbeiten vollkeramische Kronenexakt und sicher – Gussperlen im Gerüst erkennen undentfernen Sie mit höchster Präzision.• Ein gutes Auge zählt zu Ihren wichtigsten Uhrmacher-Eigenschaften: Mit Stemi DV4 verarbeiten Sie winzige Rädchen,Federn, Kloben, Brücken, Triebe, Glocken- und Sperrradschrauben,Zifferblatt-, Federkern-, Riegel- und Ansatzschrauben.• Sie kontrollieren und bearbeiten Elektrodenfür Herzschrittmacher.• Sie erfassen wertvolle forensische Beweise indem SieMunitionsteile, Werkzeugspuren, Dokumente, Fasern,Lacke, Glas, Textilien und Haare analysieren.• Körnen, bohren und fräsen Sie filigranste Schmuckstücke.Stechen Sie feinste Konturen, ohne zu ermüden.• Sie sind Archäologe und dokumentieren Fundstellen undFundstücke wie Splitter oder Schmuckstücke.12 13

Visuelle Inspektions-SystemeStemi 2000Zoomen Sie sich stufenlos in wichtige DetailsStemi 2000 liefert Ihnen brillante Bilder Ihrer dreidimensionalen Objekte underlaubt die präzise Untersuchung von Lötverbindungen, Bohrungen, Rissen undGewindeformen an zum Beispiel Leiterplatten und PlatinenQualitätsanalyse von TrikotagenKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Stemi 2000 zeigt Ihnen Proben so wie sie sind: detailreich, scharfMikroskop• Kombinieren Sie Ihr Stemi 2000 mit Ausleger- und Neigarm-• Sie kontrollieren Leiterplatten auf Lötstellen, Partikelbis zum Objektfeldrand und absolut verzeichnungsfrei. ProfitierenStemi 2000stativen zur Untersuchung großflächiger Proben.und Artefakte.Sie von be ein druckendem Bildkontrast.Stemi 2000C (mit schaltbarem Anschluss• Ein Arbeitsabstand von maximal 286 mm bietet Ihnen viel Raum• Sie arbeiten in der Forensik, begutachten Munitionsteilefür Foto- oder Videokamera)zum Beleuchten, Positionieren und Bearbeiten Ihrer Probe.und ordnen Geschosshülsen ihren Waffen zu.Sie verschaffen sich Überblick in einem 35 mm großen ObjektfeldStemi 2000CS (mit fester Strahlenteilung• Eine Vielzahl an Wechseloptiken geben Ihnen zusätzlicheSie vergleichen Dokumente, Sie prüfen Werkzeugspuren,und bringen mit Ihrem großen Zoombereich von 7,7:1 Ihr Detailzum Anschluss für Foto- oder Videokamera)Auflösung, Vergrößerung, Arbeitsabstand oder Objektfeldgröße.Fasern, Lacke, Glas, Textilien und Haare.auf 50-fache Vergrößerung. Das leistet kaum ein anderesStereomikroskop dieser Klasse. Sie zoomen komfortabel stufenlosoder reproduzierbar mit Clickstops – das Objekt bleibt scharffokussiert.BeleuchtungsverfahrenAuflicht und Durchlicht:Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, PolarisationFlexibel zugeschnitten auf Ihre Bedürfnisse.• Mit dem Vorsatzsystem 0,3x erhalten Sie ein Objektfeld bis118 mm, mit dem Sie selbst eine CD als Ganzes betrachten.• An Stemi 2000C und -CS schließen Sie komfortabel Foto-• Sie analysieren, restaurieren, reinigen und konsvervierenKunstwerke wie Gemälde und Skulpturen. Schicht fürSchicht analysieren und identifizieren Sie das Material.Ihr Stemi 2000 ist robust und universell einsetzbar, und esarbeitet präzise.BeleuchtungFaseroptische Kaltlichtquellen mit Spot-, Ring-, Linien-, Vertikal-,Diffusor- und Flächen beleuchtungen, LED-Ringleuchten mitund Video-Kameras an.Segmentfunktion, faseroptische sowie LED-DurchlichteinrichtungenZubehörOkulare, Okularstrichplatten, Vorsatzsysteme, Kamaraadapter, TischundAuslegerstative, Gleit-, Kugel- und Drehtisch, faseroptische undLED-Beleuchtungen, Pol-Einrichtungen für Auflicht und Durchlicht14 15

Visuelle Inspektions-SystemeSteREO Discovery.V8Steigern Sie Ihre FlexibilitätSMD-Platine mit weißem Lötstopplack, Auflicht mit Spaltringleuchte mitPolfiltereinrichtung zur Minimierung spiegelnder Reflexe,Objektiv: Plan S 1,0x; Vergrößerung: 15xLeiterplatte, Ringlicht,Objektiv: PlanApo S 1,5x; Vergrößerung: 16xKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Mit SteREO Discovery.V8 erleben Sie deutlich mehr Flexibilität Mikroskop• VisiLED Ringleuchten mit Segmentfunktion: Per Knopfdruck • Sie analysieren Lötstellen, Partikel und Artefaktedurch den modularen Aufbau. Wählen Sie zwischen Ergotuben, SteREO Discovery.V8wechseln Sie von Ringbeleuchtung zu seitlichem Schräglicht. auf Leiterplatten.koaxialer Beleuchtung, Mitbeobachterbrücke und Zeichen-,Drehen Sie das Schräglicht um Ihr Objekt und rotieren die • Sie erfassen wertvolle forensische Beweise indem SieFoto- und Fluoreszenzzwischentuben.BeleuchtungsverfahrenBeleuchtung für einen räumlichen Objekteindruck in IhremMunitionsteile, Werkzeugspuren, Dokumente, Fasern,Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, Polarisation, FluoreszenzLive-Bild.Lacke, Glas, Textilien und Haare analysieren.Profitieren Sie von dem intensiven 3D-Eindruck Ihrer Objekte,Beleuchtung• Die faseroptischen Kaltlichtquellen CL6000 LED und CL9000 LED • Sie sichern die Qualität medizinischer Geräte mitparallaxefrei und brillant.Faseroptische Kaltlichtquellen mit Spot-, Ring-, Linien-,liefern intensives Kaltlicht bei homogener Ausleuchtung des kontrast reichen Bildern, die kleinste UnregelmäßigkeitenVertikal-, Diffusor-, Flächen- und Koaxialbeleuchtungen,Objektfeldes. Durch die lange Lebensdauer der LED sind Lampenwechselauf und unter der Oberfläche von Kathetern undDas Stativ 450 von SteREO Discovery.V8 ist groß, stabil undLED-Ringleuchten mit Segmentfunktion, faseroptischeunnötig. Mit ihrem breiten Spektrum an Lichtleitern Skalpell klingen zeigen.besonders schwingungsarm. Genießen Sie Platz im Probenraum,und LED-Durchlichteinrichtungenund Zubehör heben sie Ihre Objektstrukturen deutlich hervor.der auch die Adaption großer Tische erlaubt.• Sie nutzen verschiedene Fototuben mit der Schnittstelle 60NZubehörfür Ihre digitalen Foto- und Videokameras. Für Ihre hohen AnsprücheOkulare, Okularstrichplatten, Kameraadapter, Binokular undempfehlen wir die hochauflösenden MikroskopkamerasTrinokulartuben, Foto-, Zeichen-, Fluoreszenz- und Y-ZwischentubenAxioCam und die Imaging Software AxioVision von Carl Zeiss.sowie Mitbeobachtereinrichtung, diverse Objektive Achromat S,• Mit Objektivschlitten oder Objektivrevolver S/doc schieben Sie IhrPlan S und PlanApo S, Tisch- und Auslegerstative, manuelle undObjektiv senkrecht unter den rechten Stereokanal. Für senkrechtemotorische Fokussiersäulen, Gleit- und Kugeltisch, 360°-Pol-Drehtisch,Beobachtung und Z-Stapel erhalten Sie so Abbildungen ohneKreuz- und Messtische, faseroptische und LED BeleuchtungenParallaxenfehler.und Polarisationseinrichtungen für Auflicht und Durchlicht16 17

Visuelle Inspektions-SystemeAxio Vert.A1Alle Kontraste. Keine Kompromisse.Aluminiumlegierung, 100x, HellfeldAluminiumguss, 500x, C-DIC,Fotogenehmigung: Allied High Tech Products Inc.Konfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Axio Vert.A1 ist ein kompaktes, inverses Mikroskop, das Ihnenbrillante Einblicke verschafft: Sie untersuchen große, schwereBauteile mit allen üblichen Kontrastverfahren im Auflicht undim Durchlicht.Sie wählen ohne Kompromisse das beste Verfahren. Oder Siekombinieren mehrere Kontrasttypen und gewinnen zusätzlicheErkenntnisse. Der kodierte 5-fach Objektivrevolver erfasst einenObjektivwechsel automatisch. Mit Hilfe des Lichtmanagers passenSie die Beleuchtungsintensität an. Sie quantifizieren Ihr Gefügeeffizient, beurteilen Eigenschaften und Qualität Ihrer Werkstoffe.MikroskopAxio Vert.A1 (kodiert)KontrastverfahrenAuflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Polarisation, FluoreszenzDurchlicht: Hellfeld, Polarisation, PhasenkontrastBeleuchtung50 W HAL, 100 W HAL, VisLEDZubehörStrich- und Gefügevergleichsplatten,Ergotuben und Ergofototuben,Kreuz-, Gleit- und Scanningtische• Mit dem 5-fach Objektivrevolver von Axio Vert.A1 haben Sieimmer die passende Vergrößerung zur Hand. Der Revolver ist sokodiert, dass Axio Vert.A1 Ihr Objektiv automatisch erkennt.• Mit dem 4-fach Reflektorrevolver von Axio Vert.A1 bewegen Siesich einfach und schnell zwischen den Kon trastverfahren.• Strich- und Gefügevergleichsplatten statten Sie für Überblicksmessungenbestens aus. Die Imaging-Software AxioVisionvon Carl Zeiss hält zusätzlich ein leistungs fähiges Spektrum anModulen wie Korngrößen- und Phasen analysen, Schichtdickenund Interaktives Messen für Ihre Untersuchungen bereit.• Sie analysieren die Gefügestrukturen geätzter Oberflächen.Sie erkennen Korngrenzen und ziehen Rückschlüsse aufKorngrößen, Phasen und Gefügebestandteile. Sie sehen Farbenund Pigmente. Verunreinigungen und Gefügebestandteile,wie zum Beispiel Graphit im Gusseisen, erfassen Sie bereits vordem Ätzen.• Mechanische Störungen der Oberfläche, Bruchstellen, Porenund Einschlüsse kommen genauso gut zum Vorschein wie Risse,Kratzer und Lunker. Sie beurteilen die Oberflächengütebearbeiteter Werkstücke präzise und erkennen ebenso leichtKorngrenzen an geätzten Schliffen.• Sie untersuchen die Struktur anisotroper Materialien, wie zumBeispiel Magnesium, Aluminium, Bronze und Messing.Im polarisierten Licht zeigen Ihnen die einzelnen Körner desKristallgitters ihre charakteristische Farbe.• Höhenunterschiede in Form von natürlichen Differenzen oderdurch die Präparation erzeugte Artefakte erhalten als reliefartigeStruktur einen 3D-Effekt.18 19

Visuelle Inspektions-SystemeAxio Lab.A1Ihr Universalwerkzeug für MaterialanalysePlagioklas (Feldspat), Zwillingslamellierung im Polarisationskontrast.Dr. M. Magnus, Institut für Geologie und Paläontologie, TU Bergakademie FreibergStahlgefüge, EC Epiplan 20x/0,4 im DunkelfeldKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Axio Lab.A1 ist in Leistung und Optik unschlagbar:Sie nutzen hervorragende Ergonomie, leichte Bedienbarkeitund exzellente Bildqualität für Ihre Anwendungen.Das Mikroskop ist klein und flexibel. Sie setzen es überall ein –Axio Lab.A1 ist enorm strapazierfähig. Alle wichtigen Bedienelementesind ergonomisch angeordnet und ausge sprochenleicht zu bedienen.Mit dem Stativ für Polarisation machen Sie anisotropeStrukturen sichtbar, wie zum Beispiel Kristalle und Fasern.MikroskopeAxio Lab.A1 (integrierte Auflichtbeleuchtung)Axio Lab.A1 (integrierte Durchlichtbeleuchtung für Orthoskopie)Axio Lab.A1 (integrierte Durchlichtbeleuchtung für Konoskopie)KontrastverfahrenAuflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, C-DIC, PolarisationDurchlicht: Orthoskopie: lineare und zirkulare Polarisation,Konoskopie, Hellfeld, Dunkelfeld, PhasenkontrastBeleuchtungAuflicht: 12 V 50 W HAL, Optional: LEDDurchlicht: 12 V 35 W HAL, Optional: LEDZubehörKreuztisch, Polarisationsstativ für Orthoskopie und Konoskopieund 360°-Polarisations-Drehtische, Messkompensatoren,Fototuben, Ergofototuben• Mit 5 Objektivpositionen bietet Axio Lab.A1 ausreichend Platzfür Ihre wichtigen Objektive – für schnellen Probendurchsatz undhohen Bedienkomfort. Wählen Sie zwischen Hellfeld-, Hell- undDunkelfeld- sowie DIC- oder POL-Objektiven.• Wechseln Sie mit dem 4-fach Reflektorrevolver ganz einfachzwischen den verschiedenen Kontrastverfahren.• Das Kontrastverfahren C-DIC wandelt auch kleinste Änderungender Oberflächenmorphologie in Helligkeitsunterschiede um undsorgt so für einen sehr guten Kontrast bei sonst kontrastarmenProben.• Axio Lab.A1 für Konoskopie sorgt für besonders einfacheBedienung: Analysator und Bertrandlinse sind im Gerät integriertund logisch miteinander gekoppelt. Mit dem Einschwenkender Bertrandlinse in den Strahlengang sorgt diese mechanischlogische Koppelung dafür, dass auch der Analysator in dieBetriebsposition schwenkt.• Ihre Werkzeuge und Kabel bewahren Sie in einer Klappe• Axio Lab.A1 ist das kompakte Mikroskop für Ihre Gefügeuntersuchungen,für das Bestimmen von Korngrößen, Struktur,Verteilung, Phasen und für Ihre schnellen Analysen vor Ort.• Sie analysieren die Mikrostruktur von Metallen und erfassenInformationen über Mechanismen, die zu Materialfehlern wieErmüdung, Korrosion, Kriechverformung, Spannungsrissenund Brüchen fuhren.• Mit dem Polarisationskontrast charakterisieren Sie Haare,Erde und Fasern in der Forensik. Farbsplitter analysieren Siemit Hellfeld-, Fluoreszenz- und Polarisations-Mikroskopie.• Als Geologe analysieren Sie Gesteins- und Mineralproben,zum Beispiel für die Erdölproduktion.• Im Umweltschutz identifizieren Sie beispielsweise Typenvon Asbestfasern.an der Rückseite Ihres Axio Lab.A1 auf.20 21

Visuelle Inspektions-SystemeAxio Scope.A1Nutzen Sie genau das Mikroskop, das Sie gerade brauchenDünnschicht-Solarzelle, Auflicht, Polarisationskontrast,EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0,80Kupfersulfatkristalle, Auflicht, PlasDIC,A-Plan 10x/0,25 ∞/-Konfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Das Allround-Mikroskop Axio Scope.A1 ist modular konzipiert.Aus fünf Oberteilen, drei Unterteilen oder zwei Vario-Säulenkonfigurieren Sie Ihr System nach Maß. Für Durchlicht, Auflichtoder beides.Axio Scope.A1 ist besonders wirtschaftlich: Sie beschaffen immernur die Komponenten, die Sie gerade brauchen. Alle weiterenrüsten Sie nach, sobald Sie Ihr Einsatzgebiet ausweiten oderverändern.MikroskopAxio Scope.A1KontrastverfahrenAuflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC,Polarisation, FluoreszenzDurchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, PlasDIC,Polarisation, Phasenkontrast• Sie untersuchen große Proben zerstörungsfrei in einem Stück:Variieren Sie Ihren Probenraum durch Zwischenstücke.Mit Axio Scope.A1 erreichen Sie bis zu 110 mm Probenraumhöhe,mit der Vario Säule sogar bis zu 380 mm.• Durch 23 Stativvarianten und zahlreiche Schnittstellenpassen Sie Ihr Mikroskop Ihren Anforderungen an.So sind Sie auf alles vorbereitet, was Ihre Arbeit auch inZukunft mit sich bringen wird.• Konsequent schwingungsarm, basierend auf einer Grundplatte• Sie prüfen Gefüge großer Bauteile und analysieren Korngrößen,Struktur, Phasen und Kornverteilung.• Sie messen die Schichtdicken und den gleichmäßigenAuftrag von Lacken. Sie bewerten die Oberflächenqualitätund erkennen Einschlüsse und Schmutzpartikel.Mit umfangreichem Zubehör passen Sie das System individuellan Ihre Anwendungen an.BeleuchtungAuflicht: 12 V 50 W HAL, 12 V 100 W HAL,100 W HBO, 75 W XBO, LEDaus Metall, erfüllt die spezielle Konstruktion der Stativsäulenhöchste Anforderungen an die Standfestigkeit.Durchlicht: 12 V 50 W HAL, 12 V 100 W HAL, LEDZubehörReflektoreinsätze, Zwischenstücke, Kreuztische,Ergotuben, Infinity Space Camera Port22 23

Automatisierte Imaging-SystemeSchnelles und komfortables Imagingerleichtert die Analyse24 25

Automatisierte Imaging-SystemeSteREO Discovery.V12 und SteREO Discovery.V20Brillante Bilder in 3DHalbleiterelement, Auflicht-Dunkelfeld,Objektiv: PlanApo S 1,5x, Vergrößerung: 125xHalbleiter, Auflicht-Dunkelfeld,Objektiv: PlanApo S 1x, Vergrößerung: 7,5xKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Mit SteREO Discovery.V12 und SteREO Discovery.V20 profitieren Mikroskope• SteREO Discovery.V12 und SteREO Discovery.V20 arbeiten mit • Sie analysieren Lötstellen, Partikel und Artefakte aufSie von vielseitig verwendbaren, motorisierten Stereomikroskopen. SteREO Discovery.V12 (motorisierter Zoom)einer elektronisch erzeugten Zoomsteuerkurve. Sie profitieren Leiterplatten.Umfangreiches Zubehör stattet Sie für Ihre individuellen AnforderungenSteREO Discovery.V20 (motorisierter Zoom)von der präzisen Ansteuerung frei wählbarer Vergrößerungs-• Sie erfassen wertvolle forensische Beweise, indem Siebestens aus. Wählen Sie zwischen Ergotuben,posititonen mit einer Reproduziergenauigkeit des Abbildungs-Munitionsteile, Werkzeugspuren, Dokumente, Fasern,Mitbeobachterbrücke- und Foto- und Fluoreszenzzwischentuben.Beleuchtungsverfahrenmaßstabes von mehr als 99%.Lacke, Glas, Textilien und Haare analysieren.Sie arbeiten mit professionellen Komplettsystemen zur digitalenHellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, Polarisation, Fluoreszenz• Durch den großen Zoombereich des Mikroskopkörpers realisieren • In der Pharmaindustrie testen Sie therapeutische Produkte,Bildverarbeitung. Der große Arbeitsabstand lässt Ihnen SpielraumBeleuchtungenSie mit SteREO Discovery.V20 auch hohe Vergrößerungen mit analysieren deren Zusammensetzung und Qualität.für Ihre Proben.Faseroptische Kaltlichtquellen mit Spot-, Ring-, Linien-,kleineren Objektiven. Die damit verbundenen kleineren StereowinkelVertikal-, Diffusor-, Flächen- und Koaxialbeleuchtungen,verbessern den Raumeindruck des mikroskopischen Bildes.Mit dem 20-fach Zoom von SteREO Discovery.V20 gewinnenLED-Ringleuchten mit Segmentfunktion, faseroptischeSie nehmen selbst kleinste Details sehr viel schneller wahr.Sie an Flexibilität und wechseln von der Übersicht bis in kleinstesowie LED-Durchlichteinrichtungen.• SteREO Discovery bietet Ihnen ein breites Spektrum an ModulenDetails – brillant, kontrastreich, dreidimensional.und Zubehörkomponenten. Für welchen Gerätetyp Sie sichZubehörentscheiden, Sie haben jederzeit die Freiheit, Ihr System bedarfsgerechtOkulare, Okularstrichplatten, Kameraadapter, Binokular und Tri -auszubauen. Bis hin zu dem leistungsfähigsten Imaging-no kulartuben, Foto-, Zeichen-, Fluoreszenz- und Y-ZwischentubenSystem, das die Stereomikroskopie zu bieten hat.sowie Mitbeobachtereinrichtung, diverse Objektive Achromat S,• Mit dem Controlpanel SyCoP steuern Sie alle wesentlichenPlan S und PlanApo S, Tisch- und Auslegerstative, manuelle undFunktionen des Mikroskops. Schnell, präzise und reproduzierbar.motorische Fokussiersäulen, Gleit- und Kugeltisch, 360°-Pol-Drehtisch,Ohne dabei den Blick vom Okular zu nehmen:Kreuz- und Messtische, faseroptische und LED-BeleuchtungenIhre Aufmerksamkeit gilt dem Objekt.26 27

Automatisierte Imaging-SystemeAxio Zoom.V16Ihr eZoom-Mikroskop für große ObjektfelderZündkerze: Inspektion von Funktionskeramikbauteilen; Analyse unterschiedlicherWerkstoffgefügetypen wie zum Beispiel Porenausbildung in Isolatorkeramik,leitfähige Verbundmaterialien, Stahl- und KupferstifteKohlebürste: Großflächige Betrachtungen von Gefügeinhomogenitäten;Verteilung leitender Phasen wie zum Beispiel Cu-Partikel und harter Phasen;Visualisierung von FertigungseinflüssenKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Ihr Axio Zoom.V16 ist das hochauflösende, apochromatischeOn-Axis-Zoommikroskop von Carl Zeiss mit einem Vergrößerungsbereichvon 16:1. Mit großen Arbeitsabständen und einem einzigenObjektiv zoomen Sie von großen Objektfeldern bis zum kleinstenDetail. Die besondere Stärke Ihres Axio Zoom.V16 sind große Kachel-Bilder bei niedriger Vergrößerung zum automatischen Stitchen.Durch die große Objektivapertur im Vergleich zu Stereomikroskopenerzielen Sie gerade im unteren Vergrößerungsbereich eine deutlichbessere Auflösung. Durch deutlich geringere Aufnahmezeiten erfassenSie Ihre Bilder effizienter. Und Sie beschleunigen Ihre quantitativeAnalyse.MikroskopAxio Zoom.V16 (manueller Fokus)Axio Zoom.V16 (Fokusmotor)BeleuchtungsverfahrenDurchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, SchräglichtAuflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht, FluoreszenzBeleuchtungKaltlichtquellen CL 1500 Eco, CL 6000 LED, CL 9000 LED CANmit faseroptischen Spot-, Ring-, Linien-, Vertikal-, Diffusor-,Flächen- und Koaxial-Beleuchtungen.VisiLED Ringleuchten mit Segmentfunktion.• Ihr Axio Zoom.V16 kombiniert seinen 16-fachen Zoom mit hoherApertur und großem Arbeitsabstand: Schon im unteren bismittleren Vergrößerungs bereich erzielen Sie eine sehr hoheAuflösung. In großen Objektfeldern erhalten Sie deutlich mehrInformationen. Und das bis zu viermalschneller und effektiver als mit konventionellen Mikroskopen.• Ihr Axio Zoom.V16 nutzt eine motorische Irisblende.Per Knopfdruck wählen Sie den Ideal-Modus für Ihre Anwendung• Mit dem EpiRel-Kontrast Ihres Axio Zoom.V16 erfassen SieHöhen unterschiede im Hellfeld: Sie beleuchten Ihre Probe vonder Seite im koaxialen Auflicht. Helle und dunkle Flanken verleihenIhrem Objekt deutlich mehr Plastizität als im herkömmlichenHellfeld.• Sie analysieren den Gefügeaufbau (z.B. Phasen, Korngröße,Texturen, Ausscheidungen) und Gefügefehler (z.B. Einschlüsse,Poren, Lunker, Risse, Inhomogenitäten) Ihrer Bauteile.• Sie erstellen Übersichtsaufnahmen kompletter Bauteile undzoomen in kleinste Details ohne Objektivwechsel.• Sie erfassen die Morphologie und inneren Strukturen IhrerWafer.Faseroptische sowie LED- Durchlichteinrichtungen.ZubehörGleittisch, Kreuztisch, HIP, MaRC, SyCoP 328 29

Automatisierte Imaging-SystemeAxio Imager und Axio Imager VarioNavigieren Sie komfortabelMonokristalline Silizium-Solarzelle, C-DIC,EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0,95TFT-Bildschirm im Durchlicht, Hellfeld,EC Epiplan-APOCHROMAT, 10x/0,30Konfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Sie sichern die Qualität und untersuchen unterschiedlichste Mikroskop• Die stabile und verwindungssteife Säule von Axio Imager Vario • Sie untersuchen die Oberflächen von Solarzellen aufMaterialien. Axio Imager 2 und Axio Imager Vario passen sich Ihren Axio Imager.A2m (manuell, kodiert)verschafft Ihnen einen XXL-Probenraum für Werkstücke bisHomogenität und Regelmäßigkeit der Struktur, auf VerteilungAufgaben an. Die leistungsstarken Imaging-Systeme sind leicht Axio Imager.D2m (teilweise motorisiert)zu 254 mm Höhe und 300 mm seitlicher Ausdehnung.und auf Spannungen und Mikrorisse.zu bedienen und liefern verlässliche Ergebnisse. Alle wesentlichen Axio Imager.M2m (teilweise motorisiert)• Ihre Arbeitsabläufe lassen sich automatisieren, Sie messen • Sie bestimmen Partikel, Kratzer und Defekte bei Wafern.Komponenten sind kodiert und auf Wunsch motorisiert. Von der Axio Imager.Z2m (motorisiert)schnell und reproduzierbar.• Sie finden Pixeldefekte bei TFT-Displays.Bildaufnahme über automatisierte Workflows bis zum komplexen Axio Imager Vario.A2 (manuell, kodiert mit motorisiertem Fokus)• Die Kernelemente von Axio Imager wie Objektivrevolver,• Sie analysieren automatisiert metallische Gefüge.Scanning sind Ihre Aufgaben jederzeit präzise reproduzierbar. Axio Imager Vario.Z2 (motorisiert)Fokusführung und Tisch sind als Stabile Zelle vom Rest des • Sie führen Restschmutzanalysen automatisiert durch.KontrastverfahrenStativs entkoppelt. Die gesamte Einheit ist praktischAuflicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Polarisation, Fluoreszenzschwingungsfrei ausgelegt und unempfindlich gegenüberDurchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, PlasDIC, Polarisation, Phasenkontrastthermischen Einflüssen.• Die Objektivrevolver von Axio Imager bieten Platz für bis zusieben Objektive. Nutzen Sie die gesamte NormvergrößerungsreiheBeleuchtungvon 1-fach bis 100-fach.Auflicht: 12 V, 100 W HAL und 12 V 100 W HBO, 12 V LED, 75 W XBO• Mit Axio Imager Vario wird nicht die Probe, sondern der ObjektivrevolverDurchlicht: DL 12 V 100 W HAL und 12 V LEDfokussiert. Vor allem bei schweren Proben haben SieZubehörsomit eine hohe Fokussier- und Wiederholgenauigkeit.Manuelle und motorische Kreuztische, 360°-Polarisations-Drehtische,Scanningtische, Einlegeplatten und Objekthalter, Ergotuben,Ergofototuben, Docking Station, MARC30 31

Automatisierte Imaging-SystemeSolarzellen unter dem MikroskopPrüfen Sie die Mikrostruktur und verbessern Sie die EnergieausbeuteSilberfinger auf polykristallinerSolarzelle,Axio Imager,EC Epiplan-APOCHROMAT20x/0,60Oberfläche einer Dünnfilm-Solarzelle, Axio Imager,Auflicht, Polarisation,EC Epiplan-APOCHROMAT50x/0,95200 µmOberfläche einer monokristallinenSilizium-Solarzelle,Axio Imager,EC Epiplan-APOCHROMAT100x/0,95Oberfläche einer Dünnfilm-Solarzelle, Axio Imager,Durchlicht, Polarisationmit Lambda-Platte,EC Epiplan-APOCHROMAT50x/0,9520 µmIsolationsgraben einer monokristallinenSilizium-Solarzelle, Axio Imager,EC Epiplan-APOCHROMAT 20x/0,60Silizium-Oberflächen:Der Wirkungsgrad steigt mit der HomogenitätDünnschichtzellen:Präzision prüfen im Nanometer-BereichPhotonen übertragen Kräfte. Wenn sie beim Auftreffen auf eineDünnschichtzellen bestehen aus nur wenigen Mikrometer starkenOberfläche Elektronen aus ihrer Bindung lösen, entsteht elektrischerSiliziumschichten auf Glasträgern. Wird der Träger erhitzt, bildenStrom – man spricht vom Fotoeffekt. Hersteller fotoelektrischersich Kristalle. Mit dem Mikroskop erfassen Sie Verteilung undOberflächen betrachten Effizienz und Kosten-Nutzen-Verhältnis alsAusrichtung der Kristalle. Sie erhalten Rückschlüsse zu Spannungsdifferenzen,entscheidende Größen. Die Anforderungen an Reinheit und Güteund Sie untersuchen die kristallinen Siliziumschichtensind enorm. Mit Mikroskopie-Systemen von Carl Zeiss sichernauf Haarrisse. Im Hellfeld mit Auf- und Durchlicht prüfen Sie dieSolarspezialisten die Qualität ihrer Produkte.Homogenität der Schichten. Die Schichtstärke beträgt nur einigehundert Nanometer. An den Zellrändern misst ein konfokalesIn mono- oder polykristalline Silizium-Oberflächen wird eine StrukturMikroskop oder ein Lichtmikroskop mit Total Interference Contrastgeätzt, damit sie mehr Licht aufnehmen. Je gleichmäßiger diedie Schichtdicke einfach, präzise und berührungsfrei.Struktur, desto höher ist der Wirkungsgrad. Auf Vorder- und Rückseitewerden Metallkontakte aufgebracht. Die feinsten KontakteDas Zusammenspiel hunderter Zellen sorgt für die nötige Spannung.sind rund 120 Mikrometer breit und nur 20 bis 30 MikrometerDie Zellen werden mechanisch oder mit Laserlicht isoliert. Der Isolationsgrabenhoch. Mit Ihrem Mikroskop erkennen Sie Topografie und Güte dermuss durchgängig und gleichmäßig tief sein. MitVerbindung. Als einer der letzen Arbeitsschritte bei der HerstellungIhrem Lichtmikroskop von Carl Zeiss prüfen Sie, ob er zuverlässigwerden die Isolationsgräben gezogen – mechanisch oder mittrennt, die untere Schicht nicht verletzt und frei von Rückständen ist.Laserlicht. Ihr ZEISS-Mikroskop erfasst, wie gleichförmig Ihre Isolierunggearbeitet ist.32 33

Automatisierte Imaging-SystemeSystem Particle AnalyzerUntersuchen Sie kleinste Partikel im großen StilReflektierende, nicht-reflektierende Partikel, Polymere und Fasern auf FiltermembranMikroskop: Axio Imager.Z2mObjektiv: EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0,25Kamera: AxioCam MRc 3Klassifikation der Partikel anhand ihrer Elementzusammensetzungund MorphologieKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Ihre Anforderungen an die Sauberkeit von Materialien steigen.Sie tragen dieser Entwicklung Rechnung, beobachten immerkleinere Partikel und analysieren Ihr Material wiederholt.Particle Analyzer ist für die Praxis gemacht, für die Qualitätskontrollein der industriellen Routine. Sie identifizieren Partikellichtmikroskopisch anhand ihrer Morphologie. Ob ISO 16232,VDA Band 19, ISO 4406/4407.ParticleScan VP ist das Prozess-Analyse-Tool für Ihre Produktionsumgebung:Die Partikelanalyse-Software SmartPI macht IhrParticleScan-System zum Spezialisten für pharmazeutische Pulverbis zu Stahleinschlüssen. Sie erhalten Aufschlüsse über die Materialzusammensetzungder Partikel im nanoskopischen Bereich undziehen Rückschlüsse auf den Fertigungsprozess.MikroskopeAxio Imager.M2m und Axio Imager.Z2m:mit Scanningtisch Partikelgröße ab 2,5 µmSteREO Discovery.V8 und SteREO Discovery.V12:mit Scanningtisch Partikelgröße ab 25 µmRasterelektronenmikroskop: ParticleSCAN VPSoftwareParticle Analyzer (Bildanalyse)MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch)Optional: GxPSmartPIZubehörAxioCam MRc• Von den Kontrastverfahren, der Wahl der Objektive, derBelichtungszeit der Kamera bis hin zu Beleuchtungseinstellungen:Ihre motorischen Mikroskopsysteme stellen sicher, dass alleEinstellungen korrekt gewählt sind. In Kombination mit der vollautomatischenBildanalyse in AxioVision erhalten Sie jederzeitreproduzierbare Ergebnisse – sicher und zuverlässig.• Die Galerieansicht bietet einen schnellen Überblick über diereflektierenden, nicht-reflektierenden und faserförmigen Partikel.Interessante Partikel relokalisieren Sie so schnell.• In Kombination mit einem Röntgenstrahlen-Analyse-Systemmessen, klassifizieren und dokumentieren Sie Größe, Form undchemische Zusammensetzung Ihrer Partikel-Proben.• Überprüfung der Bauteilsauberkeit: Sie bestimmen denRestschmutzgehalt auf Bauteilen nach Reinigung normgerechtund automatisch bzgl. Anzahl, Größe, Morphologie, Typ(reflektierend, nicht-reflektierend, Fasern) nach ISO 16232, VDA 19.• Sie bestimmen den Restschmutzgehalt in Frisch- undGebrauchtölen sowie in Schmierstoffen normgerecht und automatischbzgl. Anzahl, Größe, Morphologie, Typ (reflektierend,nicht-reflektierend, Fasern) nach ISO 4406/4407.• Druckgussbauteile inspizieren Sie auf herstellungsbedingteFehler wie Poren, Lunker und Hohlräume vollautomatisch bzgl.Anzahl, Größe und Flächenanteile.• In der Pharmaindustrie, Medizintechnik sowie der ChemischenIndustrie detektieren und bestimmen Sie Objekte und Strukturenvollautomatisch bzgl. Anzahl, Größe und Morphologie.AxioCam MRmAxioCam ICc36 37

Automatisierte Imaging-SystemeEVO MA und EVO HDRasterelektronen-Mikroskopie für Ihre anspruchsvollen ProbenHartmetall Stellit abgebildet bei 1 kV mit dem SE Detektor im EVO ® HDSchaltkreis eines Halbleiters, aufgenommen bei 20 kV mit dem SE DetektorKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Mit den Rasterelektronen-Mikroskopen der EVO-Serie genießenSie ein Maximum an Freiheit: Sie nutzen genau die zu Ihren bildgebendenund analytischen Verfahren passenden Detektoren,Kammergrößen und Probentische – auch bei Ihren In-situ-Experimenten. Sie wählen aus drei Strahlquellen und einer umfassendenPalette an Zubehör.Sie betrachten und analysieren Ihre elektrisch leitenden und nichtleitendenProben. Druck und Restfeuchte stellen Sie variabel ein.Die High-Definition-Technologie brilliert mit stark verbesserter Bildgebungund Analytik. Bei niedriger Beschleunigungs-Spannungsorgt sie für oberflächensensitive Abbildung mit hohem Materialkontrast.Sie erfassen deutlich mehr Details und erhalten reproduzierbareDaten.Auflösung3 nm (2 nm) @ 30 kV SE und W (LaB6)4,5 nm @ 30 kV BSD (VP Modus)15 nm @ 30 kV 1 nA20 nm (15 nm / 8 nm) @ 1 kV SE und W (LaB6 / HD)10 nm (5 nm) @ 3 kV SE und W (HD)Beschleunigungsspannung0,2 – 30 kVVergrößerung< 7 – 1.000.000 x / < 5 – 1.000.000 xRöntgenstrahlenparameter8,5 mm WD / 35° TOA• Die analytische Plattform macht Ihr System besonders vielseitig:Sie wählen aus drei Kammergrößen.• Die langen Verfahrwege des Probentisches ermöglichenIhnen die Arbeit mit großen Proben.• Dank EasyVP wechseln Sie schnell zwischen Hochvakuumund variablem Druck.• Mit dem SmartSEM ® Interface bedienen Sie Ihr Systemleichter und Sie arbeiten produktiver.• Ihr System ist zukunftssicher und jederzeit erweiterbar:Sie ergänzen Ihr System mit Detektoren künftiger Generationen.• Sie analysieren Autolacke.• Sie prüfen die Sauberkeit im Produktionsprozess.• Sie betrachten Einschlüsse in Stählen.• Sie arbeiten forensisch und bewerten Schmauchspurenund Schlagbolzenabdrucke in Patronenhülsen.• Sie untersuchen Glühlampen und Farbschichtennach Autounfällen.• Sie erfassen Edelmetalle in Gesteinsproben und Aushub.• Bei der Suche nach fossilen Brennstoffen erhalten Siewertvolle Informationen aus Bohrkern-Untersuchungen.Druckbereich10 – 400 PaVerfügbare DetektorenBSD, ETSE, VPSE, SCD38 39

Automatisierte Imaging-SystemeSigmaBildanalyse mit Feldemissions-RasterelektronenmikroskopenSekundär-Elektronenbild der Oberfläche einer SolarzelleChrombeschichtete Polymerfolie, aufgenommen mit 5 kV.Mit freundlicher Genehmigung der Universität von BrightonKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Ihr Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SIGMA erzielt beijedem Material herausragende Abbildungen und Analyse-Ergebnisse.Das System setzt auf die bewährte GEMINI ® -Technologie, die aufIhre analytischen Anwendungen zugeschnitten ist: SIGMA isteinfach zu bedienen und einzigartig in der Bildgebung bei Niederspannung– das System erfasst Ihre Probe mit stabilen Sondenströmen.SIGMA ist mit variabler Drucktechnologie verfügbar. Sie erhaltenaußergewöhnliche präzise Bild- und Analyse-Ergebnisse selbst beiIhren nicht-leitenden Proben. Das Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopist mit einer Vielzahl von Zubehör kompatibel – zumBeispiel mit zahlreichen Detektoren für beeindruckenden Kontrast.Auflösung1,3 nm @ 20 kV1,5 nm @ 15 kV2,8 nm @ 1 kV2,5 nm @ 30 kV (im VP Modus)Beschleunigungsspannung0,1 – 30 kVSondenstrom4 pA – 20 nA (100 nA optional)Vergrößerung12x – 1.000.000xElektronenemitterThermische FeldemissionAnalytische Plattform• SIGMA erlaubt simultane EDS und EBSD Analysen.• Der Universal-WDS-Port gehört bei SIGMA zum Standard:Ihr System bleibt offen für Erweiterungen.• Mit dem erweiterten Verfahrweg analysieren Sie auch Ihregroßen Proben bis 250 mm Durchmesser und 145 mm Höhe.• Sie untersuchen Ihr Material hochauflösend mit präziserRöntgenstrahlen-Geometrie für EDS und WDS.Beste Abbildungsqualität durch GEMINI Technologie• Sie nutzen In-lens- und SE-Detektion für echte Oberflächenanalyse.• Strahlempfindliche und nicht-leitende Proben stellen Siebei niedrigen Spannungen exzellent dar.• Ihre magnetischen Proben untersuchen Sie mit GEMINI ® -Objektiven: Ihre Abbildungen sind frei von Verzerrungen.• Sie analysieren Ihre Materialien in-situ bei erhöhten Temperaturen,um die Prozesse beim Erwärmen und Abkühlen besser zuverstehen – beispielsweise beim Sintern, bei der Rekristallisation,bei der Korngrenzenmigration und der Phasentransformation.• Ihre mikroelektronischen Bauteile werden immer kleiner.Sie analysieren im Nanometerbereich.• Sie bewerten Lagerstätten von Bodenschätzen in der Öl- undGasindustrie: Mit Hilfe der chemischen Analyse treffen Siequantitative und qualitative Aussagen zu Dichte, Bestandteilenund Reinheit.• Sie betrachten als Forensiker eine große Materialpalette vonhoher bis niedriger Auflösung mit außergewöhnlicher Schärfentiefe.Ihre Element-Analysen liefern wertvolle Hinweise zurHerkunft von Materialien und damit stichhaltige Beweise –zum Beispiel bei Schussrückständen und Waffen, Edelsteinenund Schmuck, Lacken und Fasern, Papieren und Fälschungen.StandarddetektorenIn-lens SE Detektor, ETSE Detektor, VPSE Detektor (im VP Modus)40 41

Korrelative MikroskopieVerbinden Sie die Mikromitder Nano-Welt42 43

Korrelative MikroskopieShuttle & FindDas Beste aus Licht- und Elektronenmikroskopie auf den Punkt gebrachtLichtmikroskopische Aufnahme einer ADI Probe,Vergrößerung: 400:1BSE Aufnahme der selben Probenstelle;Die Mikrostruktur ist deutlich sichtbarKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Kombinieren Sie die optischen Kontrastverfahren Ihres Lichtmikroskopsmit den analytischen Methoden Ihres Elektronenmikroskops. GewinnenSie Informationen über Struktur und Funktion Ihrer Probe.Das Softwaremodul Shuttle & Find sorgt für einen einfach zubedienenden, produktiven Workflow zwischen Ihrem Licht- undIhrem Elektronenmikroskop.Mit Ihrem Lichtmikroskop erfassen und markieren Sie interessanteStellen Ihrer Probe. Über Shuttle & Find und den speziellen Probenhalterrelokalisieren Sie die Stelle anschließend im Elektronenmikroskop.Dort lösen Sie das Abbild Ihrer Probe mehr als doppeltso hoch auf und untersuchen Ihr Material umfassend weiter.Absolut reproduzierbar.MikroskopeLichtmikroskope: Axio Scope.A1, Axio Imager.M2m,Axio Imager.Z2m, Axio Observer.Z1, SteREO DiscoveryElektronenmikroskope: EVO ® , SIGMA, SUPRA, ULTRA,MERLIN ®SoftwareLichtmikroskope:AxioVision, Modul Shuttle & FindElektronenmikroskope:SmartSEM, AxioVision, Modul Shuttle & FindZubehörAdapterProbenhalter• Mehr Produktivität: Mit nur wenigen Klicks relokalisieren Sieinteressante Probenstellen innerhalb der beiden Mikroskopsysteme.Im Lichtmikroskop markierte Probenstellen speichert Shuttle &Find in Kombination mit deren Koordinaten. So finden Sie sie imElektronenmikroskop innerhalb weniger Sekunden.• Mehr Information: Aufgrund der zahlreichen optischen Kontrastverfahrengewinnen Sie mit Lichtmikroskopen Informationenüber Größe, Morphologie und Farbe Ihrer Probe. Mit Elektronenmikroskopenerweitern Sie Ihre Kenntnisse um Details zur Struktursowie der chemischen Materialzusammensetzung. Und dasmit bis in den Nanometerbereich gesteigerten Auflösung.• Mehr Sicherheit: Durch die vollautomatische Bildanalyseerhalten Sie zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse.• Bei Ihren Restschmutzanalysen in der Automobilindustrietypisieren Sie metallische und nichtmetallische Partikel im Lichtmikroskop.Interessante Partikel identifizieren Sie umfassendim Elektronenmikroskop• Sie prüfen die Reinheit von Stahl: Anhand von Farbe undForm identifizieren Sie Sulfide, Oxide und Silikate im Lichtmikroskop.Untypische Einschlüsse charakterisieren Sie überdie chemische Zusammensetzung mit Hilfe der Röntgen-Spektroskopie im Rasterelektronen-Mikroskop.• Der präzise, schnelle und zuverlässige Workflow steigertdie Produktivität Ihrer Nanofabrikation. Sie arbeiten mit beidenMikroskopsystemen hochgradig automatisiert und effektiv.So reduzieren Sie Ihre Zykluszeiten und steigern IhrenDurchsatz erheblich.44 45

Korrelative MikroskopieStruktur- und Komponentenanalyse von Li-Ionen-BatterienAnalysieren Sie Li-Ionen-Batterien mit Shuttle & FindCLEM einer interessierenden Probenstellea) mit verschiedenen lichtmikroskopischenKontrastverfahren wie b) Hellfeld undc) Polarisationskontrast sowie d) BSE Signalund e) EDS-Kartierung aus dem Elektronenmikroskop40 µmb)a)c)Merkmale charakterisieren und quantifizierenDie Weiterentwicklung von Stromspeichern hilft uns, erneuerbareEnergien wirkungsvoller einzusetzen. Lithium-Ionen-Akkumulatorenstehen mit ihrer hohen Energiedichte und einem Wirkungsgradvon 90 Prozent ganz oben auf der Liste. Ihre Materialien unterliegenDiffusionsprozessen – Mikrostrukturen geben uns wertvolleHinweise auf die Zusammenhänge von Batterie-Design und Leistung.Die korrelative Mikroskopie leistet einen entscheidenden Beitragzur Erforschung der Akku-Materialien: Die quantitative Gefügeanalysegibt Aufschluss über morphologische Eigenschaften derAktivmaterialien, den inneren Aufbau, die Geometrie sowie Zelldesignparameter.Sie macht Unregelmäßigkeiten innerhalb und anden Übergängen zwischen den verschiedenen Schichten sichtbar.Lichtmikroskope geben Auskunft über die Oberflächenstruktur, dasoptische Erscheinungsbild und Schadstellen. Im Anschluss erfasstdas Elektronenmikroskop Größe und Form von Teilchen und derenchemische Zusammensetzung.Schneller und intelligenter – Workflow mit Shuttle & FindShuttle & Find beschleunigt die Analyse mit Licht- und Elektronenmikroskopiean ausgewählten Regionen Ihrer Probe signifikant.Sie untersuchen deutlich mehr Proben und verkürzen Ihre Entwicklungszyklen.Sie profitieren von der systematischen AuswertungIhrer Bilddaten aus beiden Mikroskopie-Welten.Shuttle & Find ist kompatibel mit Ihrer CrossBeam ® -Workstation:Sie übernehmen Ihre Probe komfortabel und erhalten zusätzlicheDetails zur Analyse. Mit Focused Ion Beam (FIB) erfassen sie Strukturenin 3D. Feine Lamellen untersuchen Sie in hoher Auflösungmit Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) und Elektronen-Energieverlustspektroskopie (EELS), bei der Sie Erkenntnisse übedie lokale Verteilung des Lithiums erhalten.d)e)46 47

Topografie und 3D-MesstechnikBringen Sie Oberflächen-Strukturendreidimensional ans Licht48 49

Topografie und 3D-MesstechnikAxio CSM 700Betrachten Sie 3D-Topografien in EchtfarbenBohrkopf, 3D-Topografie in Echtfarben,EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0,80Polymerfolie mit rauer Kante auf Metallsubstrat, Multilayer 3D-Ansicht,EC Epiplan-NEOFLUAR 20x/0,50Konfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Mit dem Echtfarben-Konfokalmikroskop Axio CSM 700 erstellenSie Ihre 3D-Topografien in hoher Auflösung. Sie arbeiten zerstörungsfreiund sparen sich zeitraubende Probenvorbereitung.Berührungslos vermessen Sie Oberflächen mit über 100 Aufnahmenpro Sekunde. Sie messen Rauheit, bestimmen Schichtdicken,untersuchen Partikel und protokollieren Ihre Ergebnisse digital.Aus Ihren Messwerten schließen Sie auf Oberflächenbeschaffenheit,Farbe und Glanz.In Ihren Multilayer-Proben und semi-transparenten Materialienerfassen Sie mit Axio CSM 700 auch die Strukturen unterhalbder Oberfläche – zum Beispiel Inhomogenitäten, Hohlräume,Einschlüsse und Schnittstellen.MikroskopAxio CSM 700Echtfarben-KonfokalmikroskopBeleuchtungXenon-Leuchte (400 bis 700 nm)ZubehörScanning-Tisch mit 6-Zoll-XY-Verfahrweg, flacher Auflageoder Wafer-Halterung, optionaler Vakuum-Fixierungund optionaler 12-Zoll Wafer-Halterung mit Vakuum-Fixierung• Sie erfassen Topografien präzise und schnell: in der Regelnehmen Sie einen vollständigen Z-Stapel in Echtfarbenin weniger als 30 Sekunden auf. Das erleichtert Ihre täglicheArbeit und erhöht Ihre Produktivität.• Sie erhalten bis zu 100 Aufnahmen pro Sekunde unduntersuchen berührungslos.• So analysieren Sie auch Polymere, die zu weich sind,um berührend gemessen zu werden.• Sie verfügen über zahlreiche Analyseoptionen: Rauheitsmessungen,Schichtdickenbestimmung, Partikelanalyse,laterale Messungen, Höhenmessungen und Messungenvon Volumen, Winkel und Traganteilen.• Nutzen Sie Spacer-Systeme für zusätzlichen Probenraumin Z-Richtung – beim manuellen Tisch insgesamt 123 mm.• Sie messen Rauheiten und detektieren Höheninformationenvon ca. 20 nm Stufenhöhe bis in den Millimeterbereich in einervibrationsfreien Umgebung nach DIN EN ISO 4287 in wenigerals 1 Minute.• Messen Sie Radien und Winkel von metallischen Bauteilen imMikrometerbereich ganz einfach. Um die Lebensdauer zu verbessernund die Menge an Schmiermitteln zu reduzieren kanndie Rauheit von kleinen Flächen und Profilen analysiert werden.Ra Werte von 0,1 µm und höher messen Sie reproduzierbar unddreidimensional.• Messen Sie die Dicke transparenter Schichten schnell undberührungslos. Ziehen Sie aus den Messwerten Rückschlüsseauf die Oberflächenbeschaffenheit, Farbe, Glanz und andereEigenschaften.• Erfassen Sie Strukturen unterhalb der Oberfläche in Schichten:Inhomogenitäten, Hohlräume, Einschlüsse.50 51

Topografie und 3D-MesstechnikMetrotom 800Analysieren Sie Ihr Werkstück umfassend: dreidimensional und zerstörungsfrei.Defektanalyse: Lunker werden automatisch gefundenund qualitativ und quantitativ ausgewertetGeometrievergleich: Die farbgrafische Darstellung zeigt die Bereiche,die innerhalb und außerhalb der Toleranz sindKonfigurieren Sie Ihr System.Einfacher, intelligenter, integrierter.Für Ihre Anwendungen geschaffen.Mit der Metrotomografie verschmelzen Sie die Tomografie mit derMetrologie. Röntgenstrahlen durchleuchten Ihr Werkstück. Je nachWerkstückgeometrie und Materialdichte wird die Strahlungsenergieim Bauteil absorbiert. Berechnen Sie die Projektionen des kontinuierlichum 360 Grad gedrehten Bauteils zu einem 3D-Volumenmodell.Nutzen Sie dieses Model als Basis für unterschiedlichezerstörungsfreie Analysen. Die Analysen und Auswertungen lassenSie direkt in Ihren Qualitätsprozess einfließen.MessbereichØ x h 125 x 150 (420) mmDetektor1536 x 1920 PixelRöhre130 kV / 39 W• Erzeugen Sie extrem scharfe 2D- und 3D-Bilder mit derRöntgenquelle zusammen mit dem hochauflösenden,empfindlichen Detektor.• Je nach Anforderung benötigen Sie für die Tomografie unddie Auswertung nur wenige Minuten. AutomatisierenSie diesen Prozess, gewinnen Sie weitere wertvolle Zeit.• Mit einer Tomografie führen Sie mehrere unterschiedlicheAuswertungen durch.• Sie zoomen in Werkstücke hinein, um dieGlasfaserverteilungen zu sehen.• Sie finden Porositäten und Lunker in Ihren Bauteilen.• Sie überprüfen den korrekten Zusammenbau Ihrer Teile.• Sie analysieren komplexe Bauteile zerstörungsfrei.Auflösung4 μmMessunsicherheit(VDI/VDE 2630): 8 μm +L/10052 53

Mikroskop-KamerasAxioCamColorAxioCamMonochromAxioCam ICc 1CCD1,4 MegapixelAxioCam ICc 5CCD5 MegapixelAxioCam ERc 5sCMOS5 MegapixelAxioCam ICm 1CCD1,4 MegapixelAxioCam MRc1,4 MegapixelAxioCam MRc 55 MegapixelAxioCam HRc13 MegapixelAxioCam MRmCCD1,4 MegapixelModus für zusätzlich ge steigerteEmpfindlichkeit im nahen IRDie detailgetreue Dokumentation Ihrer Analyseergebnisse istwichtiger Bestandteil Ihrer täglichen Arbeit. Kontrastreiche Bildergeben Ihnen Aufschluss über die Güte Ihrer Bauteile.Schnelle Aufnahmezeiten garantieren effiziente Prozesse.AxioCam Mikroskopkameras von Carl Zeiss bieten Ihnen aufIhre Anwendungen zugeschnittene Lösungen.54 55

Dienst und Leistungfür Ihr Mikroskopsystem von Carl ZeissZEISS Moments haben mit Leidenschaft zu tun. Es istdiese Leidenschaft, mit der wir Ihr ZEISS-Mikroskopwarten, optimieren und auf dem neuesten Stand halten –damit Ihre Arbeit systematisch zum Erfolg führt.Sie arbeiten hart – wir sorgen dafür, dass Ihr Mikroskop mit Ihnen Schritt hältQualität, Zeit, Kosteneffizienz – Kenngrößen, die Ihren Alltag bestimmen. Ihr ZEISSMikroskop fügt sich nahtlos selbst in Ihren anspruchsvollsten Workflow. Es liefert IhnenErkenntnisse auf dem Weg zu noch mehr verlässlicher Sicherheit: Tiefgehend. Umfassend.Reproduzierbar. Und das über seinen gesamten Lebenszyklus hinweg. Dafür sorgen wirmit dem Life Cycle Management von Carl Zeiss.Das Life Cycle Management von Carl Zeiss begleitet Ihr MikroskopDas Life Cycle Management von Carl Zeiss steht hinter unseren Lösungen über denkompletten Lebenszyklus Ihres ZEISS Mikroskopsystems. Schon in der Anschaffungsphaseunterstützen wir Sie mit Site Surveys, damit die Raumumgebung optimal auf Ihr Mikroskopsystemsabgestimmt ist. Während der Betriebsphase kommen Support für Relocationsund Life Time Extensions dazu. In der Phase von Neuinvestitionen kümmern wir uns umRückkauf, Abbau und Entsorgung nicht mehr benötigter Systeme. Verlassen Sie sich jederzeitauf unsere klassischen Serviceleistungen: Unsere Mitarbeiter analysieren Ihren System-Status und beheben jede Störung per Fernwartung oder direkt bei Ihnen vor Ort.Qualifizieren Sie Ihr Team für QualitätFordern Sie die Unterstützung unserer Anwendungsspezialisten für genau Ihre Aufgaben.Nutzen Sie unsere Trainings für Ihre Kollegen und Mitarbeiter, die an Ihrem ZEISS Mikroskoparbeiten.Kontrollieren Sie Kosten und KonditionenIhr Servicevertrag ist auf Sie zugeschnitten: Sie nutzen Ihr Mikroskopsystem von Carl Zeissmit allen seinen Möglichkeiten, optimieren Ihre Investitionen und planen die Folgekosten.Sie wählen aus verschiedenen Service-Stufen von Preventive Maintenance Plus über denAdvanced Vertrag, der selbst Arbeitszeiten und Ersatzteile beinhaltet, bis hin zum PremiumVertrag, der Ihnen Dienstleistungen wie höchste Priorität bei der Bearbeitung von Systemausfällenzusichert. Auf Wunsch passen wir sogar die Oberfläche der System-Software vonCarl Zeiss speziell für Ihre wiederkehrenden Messungen an, um Ihre Prozesse zu verkürzen,Fehler zu minimieren und Ihre Qualität noch weiter zu verbessern.57

Der Moment, in dem Sie etwas sehen,dass Ihnen bisher verborgen war.Für diesen Moment arbeiten wir.Wie werden Ärzte ihre Patienten künftig behandeln? Welche Rolle spielen Fotos undVideos in der Kommunikation von morgen? Wie weit kann man die Miniaturisierung vonHalbleiterstrukturen vorantreiben? Diese und viele weitere Fragen sind es, die Carl Zeisstäglich antreiben.Als Pionier und eine der global führenden Unternehmensgruppen der Optik und Optoelektronikfordert Carl Zeiss seit jeher die Grenzen der Vorstellungskraft heraus.Medizintechnik von Carl Zeiss setzt mit seinen Produkten und Lösungen weltweit Maßstäbe:So profitieren Ärzte als auch Patienten von den innovativen Technologien wie etwadem Bestrahlungsgerät INTRABEAM. Brustkrebspatientinnen erfahren dadurch einedeutlich schonendere und kürzere Behandlung.Gestochen scharfe Bilder auf der Kinoleinwand bei der „Herr der Ringe“, der erfolgreichstenFilmtrilogie aller Zeiten, oder das präzise Bild, das ein Naturbeobachter durchsein Fernglas oder Spektiv erhält, Carl Zeiss macht faszinierende Details sichtbar.Wo Präzision gefragt ist, sichern Lösungen der industriellen Messtechnik von Carl Zeisshöchste Qualitätsstandards: So werden Flugzeuge sicherer, Autos besser und Windkraftanlagen– die Zukunft der Energieversorgung – effizienter.Pro Sekunde entscheiden sich zwei Menschen auf der Welt für Brillengläser von Carl Zeiss.Mit Dynamik und Weitsicht entwickelt Vision Care neuartige Gläser, wie MyoVision,das die Verschlechterung von Kurzsichtigkeit bei Kindern reduziert.// ERKENNTNISmade by Carl ZeissDiese besondere Leidenschaft für Spitzenleistungen verbindet alle Unternehmensbereiche.So schafft Carl Zeiss Kundennutzen und inspiriert die Welt, Dinge zu sehen, die ihr bisherverborgen waren.59

ANERKENNUNGmade by Carl ZeissDer Moment, in dem Ihr Ergebnisder Fachwelt die Augen öffnet.Für diesen Moment arbeiten wir.