Katalog - OEK - OVE

Ausgabe: 2013-05-01KatalogÖsterreichische Bestimmungen für die ElektrotechnikNorm Titel Preis in €*ÖVE/ÖNORM EN 62047-10:2012-05-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-12:2012-08-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-13:2012-11-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-14:2012-11-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-2:2007-03-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-3:2007-03-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-4:2011-05-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-5:2012-05-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-6:2010-08-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-7:2012-04-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-8:2012-02-01ÖVE/ÖNORM EN 62047-9:2012-05-01ÖVE/ÖNORM EN 62052-11:2004-01-01ÖVE/ÖNORM EN 62052-21:2005-08-01ÖVE/ÖNORM EN 62053-11:2004-01-01Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 10:Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe derMikrosystemtechnikHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 12:Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit vonDünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen beiMEMS-StrukturenHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 13:Biege- und Scherprüfverfahren zur Messung der Haftfestigkeit bei MEMS-StrukturenHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 14:Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischerDünnschichtwerkstoffeHalbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik -- Teil 2:Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-WerkstoffenHalbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik -- Teil 3:Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der ZugbeanspruchungHalbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik -- Teil 4:Fachgrundspezifikation für MikrosystemtechnikHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 5:Hochfrequenz-MEMS-SchalterHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 6:Prüfverfahren zur uniaxialen Dauerschwingfestigkeit von Dünnschicht-WerkstoffenHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 7:BAW-MEMS-Filter und -Duplexer zur Hochfrequenz-Regelung und -AuswahlHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 8:Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung vonZugbeanspruchungsmerkmalen dünner SchichtenHalbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 9:Prüfverfahren zur Festigkeit von Full-Wafer-Bondverbindungen in derMikrosystemtechnik (MEMS)Wechselstrom-Elektrizitätszähler -- Allgemeine Anforderungen, Prüfungenund Prüfbedingungen -- Teil 11: MesseinrichtungenWechselstrom-Elektrizitätszähler - Allgemeine Anforderungen, Prüfungenund Prüfbedingungen -- Teil 21: Einrichtungen für Tarif- und LaststeuerungErsatz für: ÖVE EN 61038:1992Ersatz für: ÖVE EN 61038:1992/A1:1996Ersatz für: ÖVE EN 61038:1992/A2:1998Ersatz für: ÖVE EN 61037:1992Ersatz für: ÖVE EN 61037:1992/A1:1996Wechselstrom-Elektrizitätszähler -- Besondere Anforderungen -- Teil 11:Elektromechanische Wirkverbrauchszähler der Genauigkeitsklassen 0,5, 1und 2921341131136860103150103134103126799247ÖVE/ÖNORM EN 62053-21:2004-01-01Ersatz für: ÖVE EN 60521:1995-06-01Wechselstrom-Elektrizitätszähler -- Besondere Anforderungen -- Teil 21:Elektronische Wirkverbrauchszähler der Genauigkeitsklassen 1 und 2*Nettoverkaufspreis für Papierversion (elektronische Version –20%). Preisänderungen vorbehalten.PAF = Preis auf Anfrage60Seite 301