DG8SAQ VECTOR NETWORK ANALYZER VNWA HILFE - SDR-Kits

Jetzt ist die parallele Antiresonanz der Transmissions- (S21) Messung perfekt modelliert, während dieses, für dieReflektionsmessung, fehlt (was Sie im obengenannten Smith-Chart aber nicht wirklich sehen können, weil wirvergessen haben, einen Marker auf die parallele Antiresonanz zu legen).Dann vergleichen wir die extracted model parameter von den zwei, obengenannten, Optimierungen:Oben zeigt Zeile #1 die Modellparameter für den Transmission- Fit (S21), während Zeile #2 den Reflektion Fit(S11) Parameter zeigt. Der größte offenbare Unterschied, ist bei der Parallelkapazität C0 zu finden. Während inder Transmission C0=3.04pF beträgt, ist in der Reflektion C0=3.36pF und somit um 0.32pF höher. Dievergrößerte Parallelkapazität verschiebt die parallele Antiresonanz zu niedrigeren Frequenzen. Aber was ist derGrund für diese C0-Zunahme? Es liegt in der Tatsache, dass das Modell für einen echten Kristall ein bisschenkomplizierter ist, als oben angenommen wurde:Wie oben gezeigt, besteht ein echter Kristall aus der Kristallscheibe und einem Halter. Jeder der Halter-pins hateine Kapazität nach ground (C_H). Während in der Transmission, der Serienkreis der Halter-Kapazität, sichaddiert zur Kristallparallelkapazität, (C0_Xtal), C_H2 ist effektiv kurzgeschlossen, in einer Reflektion-Messung,und C_H1 allein addiert sich zum C0_XTal , um zu einem wirksamen C0 beizutragen. Annehmend, dass C_H1und C_H2 ungefähr identisch sind, sollte C0 für eine Reflektion-Messung 0.5*C_H grösser sein, als der, für eineTransmissionsmessung. Wir können unser oberes Experiment so interpretieren, dass die Halter-KapazitätC_H=2*0.32pF=0.64pF und C0_Xtal=3.04pF-0.32pF=2.72pF ist.- 351 -