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WS 2012 - Institut für Elektronik

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<strong>Institut</strong> <strong>für</strong> <strong>Elektronik</strong><br />

EST 1<br />

Einführung<br />

Historisches<br />

Bipolartransistor<br />

Betriebsarten<br />

Kennlinien<br />

Ebers Moll Modell<br />

Großsignal-ESB<br />

Kleinsignal-ESB<br />

J-FET<br />

Arbeitsbereiche<br />

Kennlinien<br />

MOS-FET<br />

Arbeitsbereiche<br />

Kennlinien<br />

J-FET<br />

Temperaturverhalten<br />

Beweglichkeit der Ladungsträger:<br />

Mit steigender Temperatur nimmt die Beweglichkeit der<br />

Ladungsträger im Kanal ab. Dadurch sinkt der Drainstrom.<br />

ID > IDSS/4<br />

Temperaturabhängigkeit der Sperrschichtbreite:<br />

Mit steigender Temperatur nimmt die Breite der<br />

Sperrschicht ab, dadurch wird der Kanal breiter und der<br />

Drainstrom nimmt zu.<br />

ID < IDSS/4<br />

⇒ Simulation Temperaturverhalten<br />

<strong>WS</strong> <strong>2012</strong> Seite 218/381

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