WS 2012 - Institut für Elektronik
WS 2012 - Institut für Elektronik WS 2012 - Institut für Elektronik
Institut für Elektronik EST 1 Einführung Definitionen Aufbau Periodensystem Halbleiterarten Modelle Eigenleitung Störstellenleitung pn-Übergang ohne Spannung Sperrrichtung Flussrichtung Durchbruch WL WF W n-Dotierung Majoritätsträger: Elektronen Minoritätsträger: Löcher Leitungsband WD nicht ionisierte ionisierte Störstellen Valenzband n-Dotierung Aufbau WF WV W p-Dotierung Majoritätsträger: Löcher Minoritätsträger: Elektronen Leitungsband Störstellen WA nicht ionisierte ionisierte Valenzband p-Dotierung WS 2012 Seite 124/381
Institut für Elektronik EST 1 Einführung Definitionen Aufbau Periodensystem Halbleiterarten Modelle Eigenleitung Störstellenleitung pn-Übergang ohne Spannung Sperrrichtung Flussrichtung Durchbruch Aufbau Ladungsträgerdichte als Funktion der Temperatur Störstellenleitung n, ni in cm −3 3 × 10 16 2 × 10 16 10 16 0 0 200 400 600 800 T in K Da die Ladungsträger der Störstellen im Vergleich zu den Ladungsträgern des undotierten Siliziums überwiegen, spricht man beim dotierten Halbleiter von Störstellenleitung. n ni WS 2012 Seite 125/381
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<strong>Institut</strong> <strong>für</strong> <strong>Elektronik</strong><br />
EST 1<br />
Einführung<br />
Definitionen<br />
Aufbau<br />
Periodensystem<br />
Halbleiterarten<br />
Modelle<br />
Eigenleitung<br />
Störstellenleitung<br />
pn-Übergang<br />
ohne Spannung<br />
Sperrrichtung<br />
Flussrichtung<br />
Durchbruch<br />
WL<br />
WF<br />
W<br />
n-Dotierung<br />
Majoritätsträger:<br />
Elektronen<br />
Minoritätsträger:<br />
Löcher<br />
Leitungsband<br />
WD nicht ionisierte ionisierte<br />
Störstellen<br />
Valenzband<br />
n-Dotierung<br />
Aufbau<br />
WF<br />
WV<br />
W<br />
p-Dotierung<br />
Majoritätsträger:<br />
Löcher<br />
Minoritätsträger:<br />
Elektronen<br />
Leitungsband<br />
Störstellen<br />
WA nicht ionisierte ionisierte<br />
Valenzband<br />
p-Dotierung<br />
<strong>WS</strong> <strong>2012</strong> Seite 124/381