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Leitfaden zum "Fähigkeitsnachweis von Messsystemen - Q-DAS

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<strong>Leitfaden</strong> <strong>zum</strong> "<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>"<br />

"Measurement System Capability" Reference Manual<br />

Stand/Status: 17. September 2002<br />

Version 2.1 D/E


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 1 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 1 of 107<br />

Dieser <strong>Leitfaden</strong> wurde im Rahmen eines Arbeitskreises<br />

erstellt. Folgende Personen haben<br />

daran mitgearbeitet:<br />

Audi AG<br />

Peter Friedrich<br />

Siegfried Hübner<br />

Christian Neukirch<br />

BMW AG<br />

Helmut Simon<br />

Robert Bosch GmbH<br />

Rolf Ofen<br />

DaimlerChrysler AG<br />

Werk Untertürkheim<br />

Hartmut Nowack<br />

Roland Steiniger<br />

Fiat Auto S.p.A.<br />

Dr. Roberto Bargelli<br />

Diego di Dato<br />

Leiter des Arbeitskreises:<br />

Head of the work group:<br />

Dr. Edgar Dietrich<br />

Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH, Birkenau<br />

This reference manual was developed by a<br />

work group comprising the following people:<br />

Ford-Werke AG<br />

Rainer Koch<br />

Martin Künster<br />

Herbert Löschner<br />

Franz-Georg Reitinger<br />

Adam Opel AG<br />

Hans Stritzl<br />

Bruno Winkler<br />

Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH<br />

Dr. Edgar Dietrich<br />

Alfred Schulze<br />

T.Q.M. Itaca s.r.l.<br />

Vincenzo Guerrini<br />

Volkswagen AG<br />

Dr. Michael Sandau<br />

Dietrich Sawallisch<br />

Reinhard Stief<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 2 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 2 of 107<br />

Allgemeine Vorbemerkungen<br />

General Remarks<br />

Der Titel des <strong>Leitfaden</strong>s lautet: "Fähigkeits- This paragraph does not apply to the English<br />

nachweis <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>". Die Begriffe "Fä- version, as it is only an explanation regarding<br />

higkeit" und "Messsystem" sind nicht genormt. certain definitions in German.<br />

Da beide Begriffe umgangssprachlich einen hohen<br />

Bekanntheitsgrad haben, haben die Ersteller<br />

des <strong>Leitfaden</strong>s bewusst die Begriffe beibehalten.<br />

Die Begriffe "Fähigkeit" bzw. "fähig" sind gleichbedeutend<br />

mit "Eignung" bzw. "geeignet" (s. DIN<br />

55350 bzw. DGQ 13-61). Daher sind beide Begriffe<br />

als gleichwertig anzusehen.<br />

Der Definition des Begriffes "Messsystem" ist<br />

ein eigener Abschnitt gewidmet.<br />

Haftungsausschluss<br />

Der vorliegende <strong>Leitfaden</strong> enthält Empfehlungen,<br />

die jedermann frei zur Anwendung stehen.<br />

Wer sie anwendet, hat für die richtige Anwendung<br />

im konkreten Fall Sorge zu tragen.<br />

Der <strong>Leitfaden</strong> berücksichtigt den <strong>zum</strong> Zeitpunkt<br />

der jeweiligen Ausgabe herrschenden Stand der<br />

Technik. Durch das Anwenden der Empfehlungen<br />

entzieht sich niemand der Verantwortung für<br />

sein eigenes Handeln. Jeder handelt insoweit<br />

auf eigene Gefahr. Eine Haftung der Autoren ist<br />

ausgeschlossen.<br />

Sollten Sie bei der Anwendung der Empfehlungen<br />

auf Unrichtigkeiten oder die Möglichkeit einer<br />

unrichtigen Auslegung stoßen, setzen Sie<br />

sich bitte mit der Fa. Q-<strong>DAS</strong> ® Disclaimer<br />

The reference manual on hand contains recommendations<br />

to be used freely by anybody. Whoever<br />

makes use of them must make provisions<br />

for correct application in the actual case.<br />

The reference manual considers the level of<br />

technology valid at the actual time of each issue.<br />

Nobody escape the responsibility for his own action<br />

through application of the recommendations.<br />

Insofar, everybody acts on his own risk.<br />

Liability of the authors is excluded.<br />

If you should come across inaccuracies or the<br />

possibility of an incorrect interpretation during<br />

application of the recommendations, please con-<br />

in Verbindung.<br />

tact Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH.<br />

Urheberrechtsschutz<br />

Der <strong>Leitfaden</strong> einschließlich aller seiner Teile ist<br />

urheberrechtlich nicht geschützt. Damit kann<br />

das Dokument in seiner Originalfassung jederzeit<br />

vervielfältigt werden.<br />

Die Originalfassung kann über Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH,<br />

Eisleber Str. 2, D-69469 Weinheim,<br />

Fax: 06201/3941-24, E-mail: q-das@q-das.de,<br />

unter Angabe des Titels bezogen werden.<br />

Wird das Dokument oder Textpassagen daraus<br />

eigenständig verändert, sind zur Vermeidung<br />

<strong>von</strong> Verwechslungen die Abweichungen<br />

deutlich zu kennzeichnen!<br />

Copyright<br />

The reference manual including all of its parts is<br />

not protected by copyright. This means that the<br />

document may be reproduced anytime in its<br />

original version.<br />

The original version may be purchased through<br />

Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH, Eisleber Str. 2,<br />

D-69469 Weinheim, Fax: 06201/3941-24,<br />

E-mail: q-das@q-das.de.<br />

If the document or text passages are<br />

changed independently, the changes must<br />

be marked explicitly in order to avoid confusion!<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 3 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 3 of 107<br />

Änderungsblatt / Changes<br />

Nr. Seite<br />

Änderung<br />

Datum Name<br />

No. Page<br />

Change<br />

Date<br />

1 28 Voraussetzung: Verfahren 2 wurde durch Verfahren 3 ersetzt 26.08.99 HM<br />

1 28 Precondition: Type-2 study replaced by Type-3 study 26.08.99 HM<br />

2 58 – 81 Alle Formulare ausgetauscht 06.09.99 HM<br />

2 58 – 81 All form sheets replaced 06.09.99 HM<br />

3 82 - 104 Neue Formulare aus qs-STAT ME eingefügt 17.09.02 HM<br />

3 82 - 104 New form sheets added from qs-STAT ME 17.09.02 HM<br />

4 alle An neue deutsche Rechtschreibung angepasst 17.09.02 HM<br />

4 all German text adapted to new orthography rules 17.09.02 HM<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 4 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 4 of 107<br />

Vorwort<br />

Die Beurteilung <strong>von</strong> Maschinen, Fertigungseinrichtungen<br />

und einer laufenden Fertigung<br />

basiert auf der statistischen Auswertung <strong>von</strong><br />

Merkmalswerten. Die Merkmalswerte stammen<br />

<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>, mit deren Hilfe vordefinierte<br />

Merkmale gemessen werden. Um Fehlinterpretationen<br />

zu vermeiden, müssen die erfassten<br />

Messwerte den tatsächlichen Sachverhalt<br />

ausreichend sicher widerspiegeln.<br />

Diese Forderungen sind in verschiedenen Normen<br />

und Verbandsrichtlinien festgehalten. Insbesondere<br />

beim Aufbau und bei der Zertifizierung<br />

eines Qualitätsmanagementsystems nach<br />

DIN EN ISO 9000ff, QS-9000 oder VDA 6.1<br />

wird ein Unternehmen mit dieser Fragestellung<br />

konfrontiert. Einerseits gibt es diese Forderung<br />

schon sehr lange, andererseits aber keine konkreten<br />

Hinweise, wie diese Forderungen umgesetzt<br />

werden sollen. Daher haben sich insbesondere<br />

die Großkonzerne der Automobilindustrie<br />

und deren Zulieferer in den vergangenen<br />

Jahren eigene Richtlinien zur Beurteilung<br />

<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> geschaffen. Die Konsequenz<br />

war, dass die entstandenen Richtlinien<br />

vom Prinzip her alle ähnlich waren, sich allerdings<br />

teilweise in der Vorgehensweise, der Berechnungsmethodik<br />

und den geforderten<br />

Grenzwerten unterschieden haben. Dies stellt<br />

für die Hersteller <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> und für die<br />

Kunden-/ Lieferantenbeziehung ein nicht unerhebliches<br />

Problem dar. Die Zulieferer sehen<br />

sich unterschiedlichen Forderungen ausgesetzt,<br />

die je nach Auftraggeber eingehalten werden<br />

müssen. Der Abnehmer hat das Problem, dass<br />

er seine Annahmebedingungen jedes Mal ändern<br />

muss.<br />

Um hier mehr Transparenz zu schaffen, ist auf<br />

Anregung der Automobilindustrie dieser Arbeitskreis<br />

zusammengetreten mit der Zielsetzung:<br />

„Einen für die Automobil- und Zulieferindustrie<br />

einheitlichen <strong>Leitfaden</strong> <strong>zum</strong> Eignungsnachweis<br />

<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> zu erarbeiten.“ Die Richtlinie<br />

soll geltende Normen sowie Verbandsrichtlinien<br />

berücksichtigen. Im Rahmen dieses<br />

Arbeitskreises ist es gelungen, in den wesentlichen<br />

Sachfragen Konsens in den Berechnungsmethoden<br />

zu finden und eine Empfehlung für<br />

Grenzwerte zu geben. Hierauf basierend können<br />

die Firmen bezüglich allgemeiner Annahmemodalitäten<br />

und praxisbezogener Abwicklungen<br />

individuelle Ergänzungen bzw. Festlegungen<br />

vornehmen.<br />

Preface<br />

The evaluation of machines, production facilities,<br />

and of ongoing production is based on the<br />

statistical evaluation of measurement values.<br />

These measurement values are supplied by<br />

measurement systems used to measure predefined<br />

characteristics. In order to avoid erroneous<br />

conclusions, the recorded measurement<br />

values must reflect the true situation with an<br />

appropriate degree of accuracy.<br />

These requirements are defined in various<br />

standards and association guidelines. This issue<br />

is of particular importance to companies involved<br />

in the creation and certification of a quality<br />

management system according to DIN EN<br />

ISO 9000ff, QS-9000 or VDA 6.1. On the one<br />

hand, these requirements have been in existence<br />

for a very long time, but on the other hand<br />

there are no specific instructions as to the practical<br />

implementation of these requirements. For<br />

this reason, major automotive manufacturers,<br />

and their supplier base, have been among the<br />

first to develop their own guidelines for the<br />

evaluation of measurement systems during the<br />

past few years. The consequence was that the<br />

created guidelines were all based on very similar<br />

concepts, but exhibited differences concerning<br />

individual aspects of procedure, calculation<br />

methods and minimum requirements. This<br />

poses a significant problem for the manufacturers<br />

of measurement systems and the customer/<br />

supplier relationship. The suppliers are faced<br />

with different requirements, which must be met<br />

depending on the demands made by the individual<br />

customer. The inspector is faced with the<br />

problem that his acceptance terms must be<br />

changed every time.<br />

In order to create a higher degree of transparency,<br />

this work group was set up on the suggestion<br />

of the automotive industry with the objective “to<br />

create a uniform reference manual for the determination<br />

of measurement systems capability in<br />

the automotive industry and its supplier base.”<br />

The guideline must take into account existing<br />

standards and association guidelines. Within the<br />

framework of the work group it was possible to<br />

reach consensus on the important issues regarding<br />

calculation methods and to give a recommendation<br />

for minimum requirements. From this<br />

baseline, companies are able to supplement individual<br />

requirements regarding general acceptance<br />

terms and practical implementation.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 5 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 5 of 107<br />

Inhaltsverzeichnis<br />

Vorwort............................................................4<br />

Inhaltsverzeichnis ..........................................5<br />

1 Einleitung .................................................7<br />

1.1 DIN EN ISO 9001..................................... 7<br />

1.2 DIN EN ISO 10012 Forderungen an die<br />

Qualitätssicherung <strong>von</strong> Messmitteln ... 7<br />

1.3 Forderung aus QS-9000......................... 8<br />

1.4 Forderung aus VDA 6.1 ......................... 8<br />

1.5 GUM und DIN EN ISO 14253-1 .............. 9<br />

2 Begriffe ...................................................10<br />

2.1 Messabweichung ................................. 10<br />

2.1.1 Systematische Messabweichung ... 10<br />

2.1.2 Zufällige Messabweichung............. 11<br />

2.2 Messgerät ............................................. 11<br />

2.3 Messmittel............................................. 11<br />

2.4 Linearität ............................................... 12<br />

2.5 Normal / Einstellmeister ...................... 12<br />

2.6 Messkette.............................................. 12<br />

2.7 Messprozeß / -system.......................... 13<br />

2.8 Wiederholpräzision .............................. 13<br />

2.9 Vergleichpräzision ............................... 14<br />

2.10 Messbeständigkeit / Stabilität............. 14<br />

3 Geltungsbereich ....................................15<br />

4 Verfahren für den <strong>Fähigkeitsnachweis</strong>16<br />

4.10.1 Auflösung des Messgerätes........... 16<br />

4.10.2 Verfahren 1..................................... 16<br />

4.10.3 Verfahren 2..................................... 16<br />

4.10.4 Verfahren 3..................................... 17<br />

4.10.5 Linearität......................................... 17<br />

4.10.6 Messbeständigkeit / Stabilität......... 18<br />

4.10.7 Vorgehensweise............................. 18<br />

5 Verfahren 1.............................................19<br />

6 Verfahren 2.............................................24<br />

7 Verfahren 3.............................................28<br />

Table of Contents<br />

Preface ........................................................... 4<br />

Table of Contents .......................................... 5<br />

1 Introduction............................................. 7<br />

1.1 DIN EN ISO 9001 .....................................7<br />

1.2 DIN EN ISO 10012 Quality assurance<br />

requirements for measuring equipment7<br />

1.3 QS-9000 Requirements ..........................8<br />

1.4 VDA 6.1 Requirements ...........................8<br />

1.5 GUM and ISO 14253-1 ............................9<br />

2 Definitions ............................................. 10<br />

2.1 Measurement Error...............................10<br />

2.1.1 Systematic Error of Measurement....10<br />

2.1.2 Random Error of Measurement........11<br />

2.2 Measuring Instrument ..........................11<br />

2.3 Gage.......................................................11<br />

2.4 Linearity.................................................12<br />

2.5 Master / Standard .................................12<br />

2.6 Measuring Chain...................................12<br />

2.7 Measurement Process / System..........13<br />

2.8 Repeatability .........................................13<br />

2.9 Reproducibility......................................14<br />

2.10 Stability..................................................14<br />

3 Scope ..................................................... 15<br />

4 Procedures for a Capability Study ...... 16<br />

4.1.1 Measurement System Resolution ....16<br />

4.1.2 Type-1 Study ....................................16<br />

4.1.3 Type-2 Study ....................................16<br />

4.1.4 Type-3 Study ....................................17<br />

4.1.5 Linearity............................................17<br />

4.1.6 Stability.............................................18<br />

4.1.7 Procedure.........................................18<br />

5 Type-1 Study ......................................... 19<br />

6 Type-2 Study ......................................... 24<br />

7 Type-3 Study ......................................... 28<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 6 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 6 of 107<br />

8 Linearität / Untersuchung an den<br />

Spezifikationsgrenzen...........................31<br />

8.1 Vorbemerkung...................................... 31<br />

8.2 Untersuchung an den<br />

Spezifikationsgrenzen ......................... 32<br />

8.3 Beurteilung der Linearität anhand <strong>von</strong><br />

drei Normalen ....................................... 33<br />

8.4 Beurteilung der Linearität bei mehr als<br />

drei Normalen ....................................... 34<br />

9 Messbeständigkeit / Stabilität ..............35<br />

10 Vorgehensweise „Nicht fähige<br />

Messsysteme“........................................37<br />

11 Sonderfälle .............................................40<br />

12 Literatur ..................................................41<br />

13 Anhang ...................................................43<br />

13.1 Abkürzungen ........................................ 43<br />

13.2 Formeln ................................................. 45<br />

13.3 Formeln zur Berechnung der Linearität<br />

46<br />

13.4 ANOVA .................................................. 48<br />

13.4.1 ANOVA für Verfahren 2.................. 48<br />

13.4.2 ANOVA für Verfahren 3.................. 53<br />

13.5 Faktoren ................................................ 56<br />

13.6 Formblätter / Fallbeispiele................... 57<br />

13.7 Formblätter / Fallbeispiele ME ............ 82<br />

14 Index .....................................................105<br />

8 Linearity / Study near the Specification<br />

Limits ..................................................... 31<br />

8.1 Introduction...........................................31<br />

8.2 Study Near the Specification Limits . 32<br />

8.3 Linearity study using three masters. 33<br />

8.4 Linearity evaluation using more than<br />

three masters ........................................34<br />

9 Stability.................................................. 35<br />

10 “Non-capable Measurement Systems”<br />

Procedure .............................................. 37<br />

11 Special Cases........................................ 40<br />

12 Literature ............................................... 41<br />

13 Appendix ............................................... 43<br />

13.1 Abbreviations........................................43<br />

13.2 Formulae................................................45<br />

13.3 Formulae for Linearity Calculation ... 46<br />

13.4 ANOVA...................................................48<br />

13.4.1 ANOVA for Type-2 study ................48<br />

13.4.2 ANOVA for Type-3 Study................53<br />

13.5 Table of Constants ...............................56<br />

13.6 Work sheets / Samples ........................57<br />

14 Index .................................................... 105<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 7 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 7 of 107<br />

1 Einleitung<br />

Die Forderungen bezüglich des Eignungsnachweises<br />

<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> sind exemplarisch<br />

an folgenden Stellen aufgeführt:<br />

1.1 DIN EN ISO 9001<br />

Auszug aus Abschnitt 4.11.1 ISO 9001:<br />

... Prüfmittel müssen in einer Weise benutzt<br />

werden, die sicherstellt, dass die Messunsicherheit<br />

bekannt und mit der betreffenden<br />

Forderung vereinbar ist. ...<br />

1.2 DIN EN ISO 10012<br />

Forderungen an die Qualitätssicherung<br />

<strong>von</strong> Messmitteln<br />

Folgende Forderungen sind an das Messmittel<br />

gestellt (siehe Abschnitt 4.2 ISO 10012):<br />

Die Messmittel müssen die für den beabsichtigten<br />

Einsatz und Zweck geforderten metrologischen<br />

Merkmale aufweisen (<strong>zum</strong> Beispiel Genauigkeit,<br />

Messbeständigkeit, Messbereich und<br />

Auflösung).<br />

Die Einrichtungen und die Dokumentation sind<br />

so zu unterhalten, dass Korrektionen, Einsatzbedingungen<br />

(einschließlich Umgebungsbedingungen)<br />

usw. die zur Erreichung der geforderten<br />

Leistung notwendig sind, Rechnung getragen<br />

wird.<br />

Die geforderte Leistung ist zu dokumentieren.<br />

An die Messunsicherheit sind folgende Forderungen<br />

gestellt (siehe Abschnitt 4.6 ISO<br />

10012):<br />

Bei der Durchführung <strong>von</strong> Messungen und der<br />

Angabe und Anwendung der Ergebnisse hat<br />

der Lieferant alle wichtigen bekannten Unsicherheiten<br />

des Messvorgangs einschließlich<br />

derer, die auf das Messmittel (einschließlich<br />

der Messnormale) und auf Personal, Verfahren<br />

und Umgebung zurückzuführen sind, zu berücksichtigen.<br />

Beim Schätzen der Unsicherheiten muss der<br />

Lieferant alle relevanten Daten berücksichtigen<br />

einschließlich derjenigen, die aus statistischen<br />

Prozesslenkungssystemen erhältlich sind, die<br />

vom oder für den Lieferanten betrieben werden.<br />

1 Introduction<br />

Requirements for the demonstration of measurement<br />

system capability can e.g. be found in<br />

the following guidelines:<br />

1.1 DIN EN ISO 9001<br />

Excerpt from paragraph 4.11.1 ISO 9001:<br />

... Inspection, measuring and test equipment<br />

shall be used in a manner which ensures that<br />

the measurement uncertainty is known and is<br />

consistent with the required measurement capability.<br />

...<br />

1.2 DIN EN ISO 10012<br />

Quality assurance requirements<br />

for measuring equipment<br />

The measuring equipment should meet the<br />

following requirements (see paragraph 4.2 ISO<br />

10012):<br />

Measuring equipment shall have metrological<br />

characteristics as required for the intended use<br />

(for example accuracy, stability, range and<br />

resolution).<br />

Equipment and documentation shall be maintained<br />

so as to take account of any corrections,<br />

conditions of use (including environmental conditions),<br />

etc. that are necessary to achieve the<br />

required performance.<br />

The required performance shall be documented.<br />

The uncertainty of measurement should meet<br />

the following requirements (see paragraph 4.6<br />

ISO 10012):<br />

In performing measurements and in stating and<br />

making use of the results, the supplier shall<br />

take into account all significant identified uncertainties<br />

in the measurement process including<br />

those that are attributable to measuring equipment<br />

(including measurement standards) and<br />

those contributed by personnel, procedures<br />

and environment.<br />

In estimating the uncertainties, the supplier<br />

shall take account of all relevant data including<br />

that available from any statistical process control<br />

system operated by or for the supplier.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 8 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 8 of 107<br />

1.3 Forderung aus QS-9000<br />

„Prüfmittelüberwachung“ Element 4.11 „Untersuchung<br />

<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>“:<br />

Es sind angemessene statistische Untersuchungen<br />

zur Beurteilung <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong><br />

und Prüfeinrichtungen durchzuführen. Die dabei<br />

angewandten analytischen Methoden und<br />

Annahmekriterien sollten mit denen in dem Referenz-Manual<br />

„Measurement Systems Analysis“<br />

übereinstimmen. Andere analytische Methoden<br />

und Annahmekriterien können ebenfalls<br />

angewandt werden, sofern der Kunde damit<br />

einverstanden ist.<br />

1.4 Forderung aus VDA 6.1<br />

Auszug aus Abschnitt 16 "Prüfmittelüberwachung"<br />

Voraussetzung <strong>zum</strong> Einsatz <strong>von</strong> Prüfmitteln<br />

(Prüfeinrichtungen einschließlich Prüfsoftware<br />

und Lehren) ist die Sicherstellung, dass das<br />

Prüfmittel für den vorgesehenen Zweck geeignet<br />

ist, z.B. durch Prüfmittelfähigkeitsnachweis<br />

bzw. Vergleichsmessung.<br />

Prüfmittel sind so auszuwählen, dass die zu<br />

prüfenden Merkmale mit einer vertretbaren Unsicherheit,<br />

die bekannt sein muss, gemessen<br />

werden können.<br />

Abhängig <strong>von</strong> Prozess-/Produktspezifikation<br />

und der Prüfanweisung ergibt sich die höchstzulässige<br />

Messunsicherheit.<br />

Die „Fähigkeit <strong>von</strong> Prüfmitteln“ wird <strong>von</strong> der<br />

Messunsicherheit des Prüfmittels im Verhältnis<br />

zur Toleranz des Prüfmerkmals bestimmt.<br />

Die Fähigkeitsuntersuchung <strong>von</strong> Prüfmitteln ist<br />

über statistische Auswertung <strong>von</strong> Messreihen<br />

nachzuweisen. Dies kann rechnerisch oder<br />

grafisch erfolgen (Korrelationsdiagramm). Hierbei<br />

sind spezielle Kundenforderungen soweit<br />

möglich zu berücksichtigen, andere Verfahren<br />

sind ggf. zu vereinbaren.<br />

Die Prüfmittelfähigkeit wird über die Wiederholbarkeit<br />

oder Vergleichbarkeit mit Hilfe der<br />

Spannweiten-Methode oder der Mittelwert- und<br />

Spannweiten-Methode unter Beachtung des<br />

Zufallsstreubereiches (95%, 99%, 99,73%) ermittelt.<br />

1.3 QS-9000 Requirements<br />

Paragraph 4.11 “Control of Inspection, Measuring<br />

and Test Equipment”:<br />

Evidence is required that appropriate statistical<br />

studies have been conducted to analyze the<br />

variation present in the results of each type of<br />

measuring and test equipment system. The<br />

analytical methods and acceptance criteria<br />

used should conform to those in the Measurement<br />

Systems Analysis reference manual.<br />

Other analytical methods and acceptance criteria<br />

may be used if approved by the customer.<br />

1.4 VDA 6.1 Requirements<br />

Excerpt from chapter 16 "Gage control"<br />

Before any inspection, measuring or test<br />

equipment (including software and gages) can<br />

be used, it must be ensured that the equipment<br />

used is suitable for its purpose, e.g. by demonstrating<br />

measurement system capability or by<br />

carrying out comparative measurements.<br />

Inspection, measuring or test equipment must<br />

be selected such that the characteristics to be<br />

checked can be measured with a known and<br />

acceptable degree of uncertainty.<br />

The maximum permissible uncertainty of<br />

measurement depends on the product or process<br />

specification.<br />

“Measurement system capability” is a function<br />

of the system’s uncertainty of measurement<br />

relative to the characteristic’s tolerance.<br />

Measurement system capability studies must<br />

be based on statistical analyses of sets of<br />

measurement values. Both calculation and<br />

graphical methods (scatter plot) can be used<br />

for this. In the analysis, special customer requirements<br />

should be taken into account as far<br />

as possible, and the use of other methods<br />

should be agreed as appropriate.<br />

Measurement system capability is determined<br />

based on repeatability or reproducibility using<br />

the range method or the average and range<br />

method, based on a 95%, 99% or 99.73%<br />

spread.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 9 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 9 of 107<br />

Das Ergebnis der Untersuchung wird nicht nur<br />

durch das Prüfmittel selbst, sondern durch<br />

Einflüsse bestimmt, wie z.B.<br />

• Beschaffenheit der geprüften Produkte<br />

• Bedienungsperson<br />

• Messaufnahmen<br />

• Spannmittel<br />

• Umgebungsbedingungen.<br />

Die Notwendigkeit eines <strong>Fähigkeitsnachweis</strong>es<br />

für Prüfmittel ist u.a. abhängig <strong>von</strong>:<br />

• der Messunsicherheit des Prüfmittels<br />

• der Komplexität des Prüfmittels<br />

• dem Einsatz ineinandergreifender<br />

Prüfmittel/Prüfmethoden.<br />

Das gilt vorwiegend für komplexe Prüfmittel wie<br />

z.B.:<br />

• Messmaschinen<br />

• MehrstellenMessvorrichtungen<br />

• Messmittel zur statistischen<br />

Messwertaufnahme<br />

• Prüfmittel für elektrische Größen.<br />

1.5 GUM und DIN EN ISO 14253-1<br />

Hierbei handelt es sich um den „<strong>Leitfaden</strong> zur<br />

Angabe der Unsicherheit beim Messen“ (GUM)<br />

und „Entscheidungsregeln für die Feststellung<br />

<strong>von</strong> Übereinstimmung oder Nicht-Übereinstimmung<br />

mit Spezifikationen“.<br />

The results of the study do not just reflect the<br />

measuring equipment itself, but also other influences<br />

such as<br />

• properties of the measured items<br />

• appraiser<br />

• measurement receptacles<br />

• clamping devices<br />

• environmental conditions<br />

The need for a proof of measurement system<br />

capability depends, amongst others, on:<br />

• the system’s uncertainty of measurement<br />

• the system’s complexity<br />

• the use of interlocking measurement systems/methods<br />

This is particularly true for complex measurement<br />

equipment such as:<br />

• gaging machines<br />

• multiposition measuring devices<br />

• measurement systems for statistical recording<br />

of measurements<br />

• measurement systems for electrical measurands<br />

1.5 GUM and ISO 14253-1<br />

These guidelines are the “Guide to the Expression<br />

of Uncertainty in Measurement” (GUM)<br />

and “Decision rules for proving conformance or<br />

non-conformance with specifications”.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 10 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 10 of 107<br />

2 Begriffe<br />

Die im folgenden verwendeten Begriffe sind in<br />

DIN EN ISO 10012 beschrieben:<br />

• Messmittel<br />

• Messung<br />

• Messgröße<br />

• Einflußgröße<br />

• Messgenauigkeit<br />

• Messunsicherheit<br />

• Korrektion<br />

• Justierung<br />

• Messbereich<br />

• Referenzbedingungen<br />

• Auflösung (einer Anzeigeeinrichtung)<br />

• Messgerätedrift<br />

• Grenzwerte für Messabweichungen<br />

• Referenzmaterial<br />

• Internationales Normal<br />

• Nationales Normal<br />

• Rückführbarkeit/Rückverfolgbarkeit<br />

• Kalibrierung<br />

• Qualitätsaudit<br />

In dem vorliegenden <strong>Leitfaden</strong> sind weitere<br />

Begriffe verwendet, die zur besseren Übersicht<br />

im folgenden kurz erläutert werden. Diese sind<br />

den Literaturstellen [10] bzw. [3] entnommen<br />

und <strong>zum</strong> Teil umgangssprachlich ergänzt.<br />

2.1 Messabweichung<br />

2.1.1 Systematische Messabweichung<br />

Unter systematischer Messabweichung wird die<br />

Abweichung zwischen dem Mittelwert der<br />

Anzeige des Messsystems bei wiederholtem<br />

Messen des gleichen Merkmals und dem Referenzwert<br />

des Merkmals verstanden. Das zu<br />

messende Teil ist ein Normal (Referenzwert),<br />

dessen Wert mit Präzisions<strong>Messsystemen</strong>, z.B.<br />

KoordinatenMessgeräten ermittelt wird und das<br />

auf ein nationales oder internationales Normal<br />

zurückführbar sein muß. Ein Referenzwert<br />

kann bestimmt werden, indem mehrere Messungen<br />

mit einem höherwertigen Messgerät<br />

durchgeführt werden (z.B. Messraum oder Kalibrierlabor).<br />

2 Definitions<br />

The following concepts are defined in DIN EN<br />

ISO 10012:<br />

• measuring equipment<br />

• measurement<br />

• measurand<br />

• influence quantity<br />

• accuracy of measurement<br />

• uncertainty of measurement<br />

• correction<br />

• adjustment<br />

• specified measuring range<br />

• reference conditions<br />

• resolution (of an indicating device)<br />

• drift<br />

• limits of permissible error<br />

• reference material<br />

• international (measurement) standard<br />

• national (measurement) standard<br />

• traceability<br />

• calibration<br />

• (quality) audit<br />

Further definitions are used also in the present<br />

reference manual, a short description is found<br />

below for better overview. These may be found<br />

in literature [10] and [3] and are partially supplemented<br />

to colloquial speech.<br />

2.1 Measurement Error<br />

2.1.1 Systematic Error of Measurement<br />

Also called bias, this is the difference between<br />

the observed average of measurements and<br />

the reference value. The part to be measured<br />

is a measurement standard or master, whose<br />

value (reference value) has been determined<br />

with precision measurement systems, e.g. coordinate<br />

measurement devices, and which can<br />

be traced back to a national or international<br />

measurement standard. A reference value can<br />

be established by carrying out several measurements<br />

with a higher-level measurement device<br />

(e.g. metrology lab or calibration lab).<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 11 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 11 of 107<br />

Referenzwert<br />

xm<br />

Systematische<br />

Meßabweichung<br />

Mittelwert<br />

xg<br />

Systematische Messabweichung<br />

2.1.2 Zufällige Messabweichung<br />

Messergebnis minus dem Mittelwert, der sich<br />

aus einer unbegrenzten Anzahl <strong>von</strong> Messungen<br />

derselben Messgröße ergeben würde, die<br />

unter Wiederholbedingungen ausgeführt<br />

wurden.<br />

2.2 Messgerät<br />

Gerät, das allein oder in Verbindung mit zusätzlichen<br />

Einrichtungen für Messungen gebraucht<br />

werden soll.<br />

2.3 Messmittel<br />

Alle Messgeräte, Normale, Referenzmaterialien,<br />

Hilfsmittel und Anweisungen, die für die<br />

Durchführung einer Messung notwendig sind.<br />

Dieser Begriff umfaßt Messmittel, die für Prüfzwecke<br />

und solche, die für die Kalibrierung<br />

verwendet werden.<br />

Reference Value<br />

xm<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

Bias<br />

Average<br />

xg<br />

Systematic error (Bias)<br />

2.1.2 Random Error of Measurement<br />

Measurement result minus the mean that would<br />

result from an infinite number of measurements<br />

of the same measurand carried out under repeatability<br />

conditions.<br />

2.2 Measuring Instrument<br />

Device intended to be used to make measurements,<br />

alone or in conjunction with supplementary<br />

devices.<br />

2.3 Gage<br />

All of the measuring instruments, measurement<br />

standards, reference materials, auxiliary apparatus<br />

and instructions that are necessary to<br />

carry out a measurement. This term includes<br />

measuring equipment used in the course of<br />

testing and inspection, as well as those used in<br />

calibration.


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 12 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 12 of 107<br />

2.4 Linearität<br />

Konstant bleibender Zusammenhang zwischen<br />

der Ausgangsgröße und der Eingangs- (Mess-)<br />

größe eines Messmittels bei deren Änderung.<br />

Linearität<br />

Referenzwert<br />

xg<br />

Meßbereich<br />

Beobachteter<br />

Mittelwert<br />

Systematische<br />

Meßabweichung<br />

Referenzwert<br />

Referenzwert<br />

xg<br />

xm xg xm xm keine systematische<br />

Meßabweichung<br />

Bezugsgröße<br />

Linearität (Variabler Streubereich)<br />

2.5 Normal / Einstellmeister<br />

Ein Referenzteil zur Einstellung des Messmittels<br />

auf einen Bezugswert. Der Bezugswert<br />

des Normals muß zertifiziert und auf das<br />

entsprechende nationale bzw. internationale<br />

Normal rückführbar sein. Das Normal wird für<br />

die Fähigkeitsuntersuchung verwendet.<br />

2.6 Messkette<br />

Folge <strong>von</strong> Elementen eines Messgerätes oder<br />

einer Messeinrichtung, die den Weg des Messsignals<br />

<strong>von</strong> der Eingabe zur Ausgabe bildet.<br />

2.4 Linearity<br />

Constant relationship between the output variable<br />

and the input variable (measurand) as this<br />

changes.<br />

Linearity<br />

Observed<br />

Average<br />

Bias no Bias<br />

Linearity (Varying Linear Bias)<br />

Reference Figure<br />

2.5 Master / Standard<br />

A device used to set a gage to a reference<br />

value. The reference value of the master must<br />

be certified, with traceability to the appropriate<br />

national or international standard. The master<br />

is used for the capability study.<br />

2.6 Measuring Chain<br />

Series of elements of a measuring instrument<br />

or system that constitutes the path of the measurement<br />

signal from the input to the output.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 13 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 13 of 107<br />

2.7 Messprozeß / -system<br />

Die Gesamtheit aller Einflusskomponenten zur<br />

Ermittlung eines Messwerts für ein Merkmal:<br />

Verfahren, Vorgehensweise, Messgerät, Hilfsmittel,<br />

Normal, Software, Personal etc., das dazu<br />

benutzt wird, um dem zu messenden Merkmal<br />

einen Wert zuzuweisen. Mit anderen Worten:<br />

der Gesamtprozess zur Erfassung <strong>von</strong><br />

Messwerten. Der Gesamt-/Messprozess wird<br />

als Messsystem bezeichnet.<br />

Bediener<br />

Normal,<br />

Einstellmeister<br />

Umgebung<br />

Prüfling,<br />

Prüfobjekt<br />

Meß-, Prüfgerät,<br />

Meßmittel,<br />

Meßeinrichtung<br />

Meßergebnis<br />

2.8 Wiederholpräzision<br />

Meßverfahren<br />

Wiederholpräzision (eines Messgerätes) ist die<br />

Fähigkeit eines Messgerätes, bei wiederholtem<br />

Anlegen derselben Messgröße unter denselben<br />

Messbedingungen nahe beieinander liegende<br />

Anzeigen zu liefern.<br />

-4sg -3sg -2s g<br />

Wiederholpräzision<br />

gemessener<br />

Mittelwert<br />

x<br />

g<br />

+2s +3s +4s<br />

g g g<br />

2.7 Measurement Process / System<br />

The sum total of all the factors that affect the<br />

determination of a measurement value for a<br />

characteristic: operation, procedure, measuring<br />

instrument, auxiliary equipment, standard, software,<br />

personnel, etc. used to assign a number<br />

to the characteristic to be measured; the<br />

complete process used to obtain measurements.<br />

The complete/measuring process is<br />

called a measurement system.<br />

Master<br />

Operator Environment<br />

Test piece<br />

2.8 Repeatability<br />

Measuring instrument,<br />

Gage,<br />

Measurement system<br />

Measurement Result<br />

Measurement<br />

procedure<br />

Repeatability (of a measuring instrument) is the<br />

ability of a measuring instrument to provide<br />

closely similar indications for repeated applications<br />

of the same measurand under the same<br />

conditions of measurement.<br />

-4sg -3sg -2s g<br />

Repeatability<br />

measured<br />

average<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

x<br />

g<br />

+2s +3s +4s<br />

g g g


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 14 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 14 of 107<br />

2.9 Vergleichpräzision<br />

Vergleichpräzision (<strong>von</strong> Messergebnissen) ist<br />

ein Ausmaß der gegenseitigen Annäherung<br />

zwischen Messergebnissen derselben Messgröße,<br />

gewonnen unter veränderten Messbedingungen.<br />

Vergleichpräzision<br />

Bediener 1 Bediener 2 Bediener 3<br />

x<br />

1<br />

x<br />

2<br />

x<br />

3<br />

Vergleichpräzision<br />

x<br />

Diff<br />

Gesamt-Mittelwert<br />

2.10 Messbeständigkeit / Stabilität<br />

x<br />

6 s<br />

Fähigkeit eines Messsystems, seine metrologischen<br />

Merkmale zeitlich unverändert beizubehalten.<br />

max.<br />

Abweichung<br />

Zeit 1<br />

Messbeständigkeit / Stabilität<br />

Zeit n<br />

2.9 Reproducibility<br />

Reproducibility (of results of measurement) is<br />

the closeness of the agreement between the<br />

results of measurements of the same measurand<br />

carried out under changed conditions of<br />

measurement.<br />

Reproducibility<br />

2.10 Stability<br />

Operator 1 Operator 2 Operator 3<br />

x<br />

1<br />

x<br />

2<br />

x<br />

3<br />

Reproducibility<br />

x<br />

Diff<br />

Total Average<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

x<br />

6 s<br />

Ability of a measuring instrument to maintain<br />

constant metrological characteristics over time.<br />

Stability<br />

max.<br />

deviation<br />

time 1<br />

time n


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 15 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 15 of 107<br />

3 Geltungsbereich<br />

Die im <strong>Leitfaden</strong> enthaltenen Verfahren eignen<br />

sich nur für messende Einrichtungen. Diese<br />

werden in Standardmessverfahren bzw. in Sonderfälle<br />

eingeteilt. Der vorliegende <strong>Leitfaden</strong><br />

beschreibt nur die Beurteilungen für die Standardverfahren.<br />

In einem separaten Dokuments<br />

sind für verschiedene Sonderfälle Beispiele<br />

enthalten.<br />

Dieser <strong>Leitfaden</strong> ist gültig beim Neukauf und<br />

Einsatz sowie der Bewertung vorhandener<br />

Messsysteme. Eventuell bestehende Gesetze<br />

und Verordnungen in den jeweiligen Ländern<br />

haben uneingeschränkt Vorrang.<br />

Der <strong>Leitfaden</strong> erstreckt sich auf die Annahmeprüfung<br />

und laufende Überwachung aller Messsysteme<br />

in den Werken, sowie die Annahmeprüfung<br />

bei den Herstellern der Messsysteme.<br />

Eine Annahmeprüfung muß vor Inbetriebnahme<br />

der Messsysteme durchgeführt werden, nach<br />

Neuaufstellungen, Generalüberholungen,<br />

wesentlichen konstruktiven Änderungen und<br />

Umstellungen. Diese Annahmeprüfungen<br />

sollten vor der Beurteilung <strong>von</strong> Maschinen- und<br />

Prozeßfähigkeit durchgeführt werden.<br />

3 Scope<br />

The procedures presented in this reference<br />

manual are applicable only to measuring systems.<br />

These may be separated into standard<br />

measurement procedures or special cases. The<br />

present reference manual begins by describing<br />

only the evaluations for standard measurement<br />

procedures. Examples of various special cases<br />

are available in a separate document.<br />

This reference manual applies to the procurement<br />

and use of new, as well as the evaluation<br />

of existing measurement systems. Any existing<br />

laws and regulations of the home country of the<br />

concerned plant take unrestricted precedence.<br />

The reference manual covers the acceptance<br />

and ongoing control of all variable-type part<br />

measurement systems in production plants, as<br />

well as the acceptance at the manufacturer. An<br />

acceptance test must be carried out prior to putting<br />

measurement systems into operation, and<br />

again after relocation, a general overhaul or any<br />

major design changes or conversions. These<br />

acceptance tests should be carried out before<br />

the machine and process capability study.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 16 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 16 of 107<br />

4 Verfahren für den<br />

<strong>Fähigkeitsnachweis</strong><br />

Für den <strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong><br />

haben sich verschiedene Methoden als sinnvoll<br />

herausgestellt. Je nach Verfahren können die<br />

verschiedenen Unsicherheitskomponenten ermittelt<br />

werden.<br />

4.10.1 Auflösung des Messgerätes<br />

Bevor eine der genannten Untersuchungen<br />

durchgeführt wird, ist zu überprüfen, ob die Auflösung<br />

des Messgerätes gegeben ist.<br />

Das Messgerät muss eine Auflösung <strong>von</strong> %RE<br />

≤ 5% der Toleranz des Merkmals haben, um<br />

Messwerte sicher ermitteln und ablesen zu können.<br />

Fallbeispiel:<br />

Längenmaß 125 ± 0.25 mm<br />

Bei einer Toleranz <strong>von</strong> 0,5 mm entsprechen 5%<br />

der Toleranz 0,025 mm. D.h., das Messsystem<br />

darf eine Auflösung <strong>von</strong> maximal 0,025 mm über<br />

den gesamten Messbereich haben. Gewählt<br />

wird z.B. eine Messuhr mit 0,01 mm Skalenteilung.<br />

4.10.2 Verfahren 1<br />

Dieses Verfahren wird in der Regel beim Lieferanten<br />

zur Beurteilung <strong>von</strong> neuen und geänderten<br />

<strong>Messsystemen</strong> durchgeführt, bevor diese<br />

eingesetzt werden. Anhand des Fähigkeitskennwertes<br />

kann die Eignung festgestellt werden.<br />

4.10.3 Verfahren 2<br />

Verfahren 2 findet zur Beurteilung <strong>von</strong> neuen<br />

und vorhandenen <strong>Messsystemen</strong> vor der<br />

Annahmeprüfung beim Kunden am endgültigen<br />

Aufstellungsort statt. Dieses Verfahren kann<br />

auch beim Lieferanten eingesetzt werden. Dies<br />

setzt voraus, dass sowohl Teile als auch Prüfer<br />

beim Lieferanten vorhanden sind. Dieses Verfahren<br />

wird auch im Rahmen <strong>von</strong> routinemäßigen<br />

Audits oder zu Zwischenprüfungen eingesetzt.<br />

Die Beurteilung erfolgt dabei unter möglichst<br />

realen Bedingungen, d.h. die Untersuchung<br />

wird am Einsatzort, mit original Messobjekten<br />

und den Prüfern vor Ort durchgeführt.<br />

4 Procedures for a Capability<br />

Study<br />

Various methods have been found to be suitable<br />

for establishing the capability of measurement<br />

systems. Depending on the procedure,<br />

different uncertainty factors may be determined.<br />

4.1.1 Measurement System Resolution<br />

Before one of the studies mentioned can be<br />

carried out, the resolution of the measurement<br />

system should be checked.<br />

The measurement system must have a resolution<br />

of %RE ≤ 5% of the characteristic’s<br />

specified tolerance, in order to be able to reliably<br />

determine and observe measurement values.<br />

Example:<br />

Specified dimension = 125.00 ± 0.25 mm<br />

In this case of a specified tolerance of 0.5 mm,<br />

5% is equivalent to 0.025 mm. This means that<br />

the measurement system should have a resolution<br />

of 0.025 mm or better over the total measuring<br />

range. A precision gage with a scale<br />

graduation of 0.01 mm is selected.<br />

4.1.2 Type-1 Study<br />

This type of study is usually carried out at the<br />

supplier’s plant to evaluate new or modified<br />

measurement systems prior to their first use. A<br />

capability index is calculated to determine the<br />

suitability of the system.<br />

4.1.3 Type-2 Study<br />

The Type-2 study is carried out at the customer’s<br />

plant at the system’s intended point of<br />

use, in order to evaluate new and existing<br />

measurement systems prior to final acceptance.<br />

The method can also be used at the supplier’s<br />

plant. This requires the presence of both parts<br />

and operators at the supplier’s site. This<br />

method is also used for routine audits or<br />

intermediate test purposes. The assessment is<br />

carried out under conditions which mirror the<br />

actual conditions of use as far as possible, i.e.<br />

at the point of use, with real measuring objects<br />

and the actual operators who will perform the<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 17 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 17 of 107<br />

Die Beurteilung wird anhand des sogenannten<br />

%R&R Kennwertes festgestellt.<br />

4.10.4 Verfahren 3<br />

Bei Verfahren 3 handelt es sich um einen Sonderfall<br />

<strong>von</strong> Verfahren 2. Diese Vorgehensweise<br />

wird bei <strong>Messsystemen</strong> ohne Bedienereinfluss,<br />

d.h. automatischen oder mechanisierten <strong>Messsystemen</strong><br />

(z.B. bei Post-Prozess-, In-Prozess-<br />

Messeinrichtungen und vollautomatischen Messeinrichtungen)<br />

in Transferstraßen bzw. halbautomatischen<br />

<strong>Messsystemen</strong> (z.B. Drei-Koordinaten-Messgeräten,<br />

Nockenformprüfgeräten<br />

und Mehrstellenmessgeräten) eingesetzt.<br />

Die Beurteilung dieses Messverfahrens erfolgt<br />

ebenfalls anhand des %R&R Kennwertes. Es<br />

wird in Analogie zu Verfahren 2 die gleiche Abkürzung<br />

verwendet, obwohl eigentlich die Vergleichspräzision<br />

(Reproducibility) null ist.<br />

Hinweis zu Verfahren 2 und 3<br />

Die Beurteilung <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> mit Hilfe<br />

<strong>von</strong> Verfahren 2 und 3 erfolgt über die sogenannte<br />

Mittelwert-Spannweiten-Methode (ARM<br />

Average-Range-Methode) oder über die<br />

ANOVA-Methode (Analysis of Variance). Aufgrund<br />

der genaueren statistischen Betrachtung<br />

wird die Berechnungsmethode nach ANOVA<br />

empfohlen. Allerdings ist dabei der Einsatz eines<br />

Rechnerprogramms erforderlich.<br />

Die Vorgehensweise zur Ermittlung der Merkmalswerte<br />

und die Interpretation der Ergebnisse<br />

ist bei beiden Verfahren gleich. Aufgrund der<br />

unterschiedlichen Berechnungsmethoden (ARM<br />

bzw. ANOVA) können die Ergebnisse verschieden<br />

sein. Dadurch ist eine Vergleichbarkeit nur<br />

innerhalb eines Verfahrens möglich.<br />

Bei der Beschreibung der Verfahren wurde der<br />

Einfachheit halber die ARM-Methode verwendet.<br />

Die ANOVA-Methode ist im Anhang erläutert.<br />

4.10.5 Linearität<br />

Anhand dieser Studie ist zu untersuchen, ob die<br />

Messgenauigkeit über den gesamten Messbereich<br />

als geeignet angesehen werden kann. Die<br />

Untersuchung der Linearität kann sowohl beim<br />

Lieferant als auch beim Kunden am endgültigen<br />

Aufstellungsort stattfinden.<br />

Ist Linearität gefordert, ist diese vor oder in Verbindung<br />

mit Verfahren 1 durchzuführen.<br />

measurements. The evaluation is based on a<br />

statistic called %R&R.<br />

4.1.4 Type-3 Study<br />

The Type-3 study is a special case of the Type-<br />

2 study. It is used for measurement systems<br />

without appraiser influence, i.e. automated<br />

measurement systems (e.g. post-process or inprocess<br />

measuring equipment and automated<br />

or mechanized gaging machines) in transfer<br />

lines, or semi-automated measuring systems<br />

(three-coordinate measuring equipment, cam<br />

profile gaging equipment, and multiposition<br />

measuring devices).<br />

The evaluation of this measurement procedure<br />

is likewise based on the %R&R statistic. By<br />

analogy to the type-2 study the same abbreviation<br />

is used, even though reproducibility equals<br />

zero.<br />

Note on Type-2 and Type-3 studies<br />

The evaluation of measurement systems using<br />

the type-2 and type-3 studies is carried out<br />

through the so-called ARM (Average-Range-<br />

Method) or through the ANOVA method (Analysis<br />

of Variance). The ANOVA method is recommended,<br />

as it is statistically more precise.<br />

However, it does require the use of statistics<br />

software.<br />

The procedure for the taking of measurement<br />

values and the interpretation of results remain<br />

as described here for both studies. Based on<br />

the different calculation methods (ANOVA or<br />

ARM) the results may be different. Comparability<br />

is thus possible only within the same procedure.<br />

For simplicity's sake, the ARM method was<br />

used for description of the procedures. The<br />

ANOVA method is detailed in the appendix.<br />

4.1.5 Linearity<br />

This study is used to examine whether the<br />

measurement accuracy can be considered suitable<br />

over the entire measurement range. The<br />

assessment of linearity can take place either at<br />

the supplier’s site or at the final point of use<br />

within the customer’s site. If a linearity study is<br />

required, it should be carried out prior to or in<br />

conjunction with the Type-1 study.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 18 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 18 of 107<br />

4.10.6 Messbeständigkeit / Stabilität<br />

Bei den Fähigkeitsuntersuchungen (insbesondere<br />

den Verfahren 1, 2 und 3) sowie der Beurteilung<br />

der Linearität handelt es sich immer nur<br />

um eine Momentaufnahme. Anhand <strong>von</strong> Stabilitätsuntersuchungen<br />

ist nachzuweisen, dass die<br />

eingesetzten Messeinrichtungen ihre Eignung<br />

über die Dauer des Einsatzes halten.<br />

4.10.7 Vorgehensweise<br />

Der Ablauf der Eignungsuntersuchung kann<br />

nach folgendem Flussdiagramm erfolgen:<br />

ja<br />

Verfahren 2<br />

i.O.<br />

ja<br />

Neues / geändertes<br />

Meßsystem<br />

ja<br />

ja<br />

Verfahren 1<br />

i.O.<br />

ja<br />

nein<br />

Beurteilung der Linearität<br />

Meßmittel abgenommen<br />

Meßbeständigkeit während<br />

des Einsatzes überprüfen<br />

nein<br />

nein<br />

nein<br />

nein<br />

Verfahren 3<br />

i.O.<br />

ja<br />

Meßsystem<br />

mit höherer Auflösung<br />

Nachbesserung<br />

ja<br />

Nachbesserung<br />

möglich?<br />

nein<br />

s. Abschnitt Vorgehensweise<br />

“Nicht fähige Meßsysteme”<br />

➀ Messsystem muß eindeutig durch eine Identnummer<br />

gekennzeichnet sein.<br />

nein<br />

4.1.6 Stability<br />

Capability studies (especially type-1, 2, and 3<br />

studies) as well as linearity assessment only<br />

ever represent a “snapshot” assessment. Stability<br />

studies should be carried out to demonstrate<br />

that the measurement systems used retain their<br />

suitability over their entire period of use.<br />

4.1.7 Procedure<br />

The capability assessment procedure may follow<br />

the flow chart shown below:<br />

Type-2 Study<br />

O.K.<br />

Type-1 Study<br />

O.K.<br />

Linearity Study<br />

Measurement System Accepted<br />

Control Measurement Stability<br />

during use<br />

Type-3 Study<br />

O.K.<br />

System with<br />

higher resolution<br />

Improve System<br />

see paragraph Procedure<br />

“Not capable measurement systems”<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

yes<br />

yes<br />

New / modified<br />

Type Gage<br />

yes<br />

yes<br />

yes<br />

no<br />

no<br />

no<br />

no<br />

no<br />

yes<br />

yes<br />

Possible<br />

Operator<br />

Influence?<br />

➀ Measurement system must be clearly identified by<br />

means of an ID number.<br />

no<br />

no


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 19 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 19 of 107<br />

5 Verfahren 1<br />

Ziel der Untersuchung<br />

Anhand der Fähigkeitskennwerte Cg und Cgk<br />

wird entschieden, ob eine Messeinrichtung unter<br />

Verwendung eines Normals für den vorgesehenen<br />

Einsatz unter Betriebsbedingungen<br />

geeignet ist.<br />

Voraussetzung<br />

1. Die Messeinrichtung ist entsprechend den<br />

Vorschriften des Herstellers einzurichten und<br />

gebrauchsfertig zu machen.<br />

2. Es muss ein Normal/Einstellmeister vorhanden<br />

sein, dessen richtiger Wert durch Kalibrierung<br />

auf nationale oder internationale Normale<br />

rückführbar ist und sich im Laufe der<br />

Zeit nicht verändert.<br />

Die Messunsicherheit der übergeordneten<br />

Messverfahren, mit denen der richtige Wert<br />

des Normals bestimmt wird, ist anzugeben.<br />

3. Steht aus Messtechnischen Gründen kein<br />

Normal zur Verfügung, entfällt die Berechnung<br />

<strong>von</strong> Cgk. In diesem Fall kann mit Hilfe eines<br />

geeigneten Messobjektes nur die<br />

Wiederholpräzision Cg bestimmt werden.<br />

Hinweis:<br />

Bei der Verwendung eines Messobjektes<br />

kann eine größere Streuung auftreten.<br />

5 Type-1 Study<br />

Objective<br />

The capability indices Cg and Cgk is used to decide<br />

if the measurement device is capable for<br />

its intended use under actual operating conditions,<br />

based on measurements of a standard or<br />

master.<br />

Requirements<br />

1. The measurement device must be set up<br />

and prepared for use in accordance with the<br />

manufacturer’s instructions.<br />

2. A measurement standard/master must be<br />

available whose true value is traceable to a<br />

national or international measurement standard<br />

through calibration and is not subject to<br />

changes over time.<br />

The uncertainty of measurement of the<br />

higher-level measuring procedure used to<br />

determine the true value of the measurement<br />

standard must be indicated.<br />

3. If for technical reasons related to the<br />

measuring application no measurement<br />

standard is available, the calculation of Cgk is<br />

omitted. In this case only the repeatability Cg<br />

using a suitable measuring object.<br />

Note:<br />

A larger variation may be caused through the<br />

use of the measuring object.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 20 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 20 of 107<br />

Bezug:<br />

Toleranz<br />

Dokumentation<br />

Normal n mal<br />

messen und<br />

dokumentieren<br />

Berechnung <strong>von</strong><br />

Mittelwert und<br />

Standardabweichung<br />

Berechnung der<br />

Fähigkeitsindizes<br />

C und C<br />

g gk<br />

C und C 1,33<br />

g gk<br />

Ja<br />

Verfahren 2<br />

- Teile-Nr., Bezeichnung<br />

- Merkmal, Toleranz<br />

- Prüfmittel, Prüfm.-Nr.<br />

- Auflösung<br />

- Normal, Ist-Maß<br />

- usw.<br />

Nein<br />

Vorgehensweise<br />

“Nicht fähige<br />

Meßsysteme”<br />

Messung und Auswertung<br />

1. Schritt<br />

Merkmalswert und Toleranz T in das Auswerteblatt<br />

eintragen.<br />

2. Schritt<br />

Beurteilung der Auflösung (RE) der Messeinrichtung<br />

(Messwertaufnehmer mit Anzeige).<br />

RF Bezugsgröße (Reference Figure) meist<br />

Toleranz T<br />

RE<br />

% RE = ⋅100%<br />

RF<br />

%RE ≤ 5% geeignete Auflösung<br />

%RE > 5% Das Messgerät ist aufgrund der<br />

unzureichenden Auflösung ungeeignet für diese<br />

Messaufgabe.<br />

Hinweis:<br />

Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />

müssen im Einzelfall getroffen werden (s. Vorgehensweise<br />

"Nicht fähige Messsysteme").<br />

1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />

Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />

kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />

<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />

Reference:<br />

Tolerance<br />

Documentation<br />

Standard n times<br />

measuring and<br />

documentation<br />

Calculation of<br />

Average and<br />

Standard Deviation<br />

Calculation of<br />

Capability Indices<br />

C and C<br />

g gk<br />

C and C 1,33<br />

g gk<br />

- Part No., Description<br />

- Characteristic,<br />

Tolerance<br />

- Gage, Gage No.<br />

- Resolution<br />

- Master, act. dimension<br />

- etc.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

Yes<br />

Type-2 Study<br />

Measurement and Analysis<br />

No<br />

Procedure<br />

“Not capable<br />

measurement<br />

systems<br />

Step 1<br />

Enter the characteristic’s nominal value and tolerance,<br />

T, into the worksheet.<br />

Step 2<br />

Evaluate the resolution, RE, of the measuring<br />

instrument (sensor and display).<br />

The RF (reference figure) is usually the<br />

specified tolerance, T.<br />

RE<br />

% RE = ⋅100%<br />

RF<br />

%RE ≤ 5% Appropriate resolution.<br />

%RE > 5% The measurement device is not<br />

suitable for the measuring task due<br />

to insufficient resolution.<br />

Note:<br />

For very small tolerances 2 exceptions may be<br />

made on a case-by-case basis (see procedure<br />

"Not capable measurement systems").<br />

2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />

differently depending on the measuring task. This<br />

may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />

range of 10µ in the production.


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 21 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 21 of 107<br />

3. Schritt<br />

Festlegung und Auswahl eines Normals, dessen<br />

richtiger Wert xm im Toleranzfeld des Prüfmerkmals<br />

liegt. Die Messposition ist am Normal<br />

zu kennzeichnen, zwangsweise zu positionieren<br />

oder zu beschreiben.<br />

4. Schritt<br />

Einstellung und Abgleich, eventuell Justierung<br />

der Messeinrichtung nach der gültigen Vorschrift.<br />

Während der Durchführung der Messung<br />

sind Veränderungen an der Messeinrichtung<br />

nicht zulässig.<br />

5. Schritt<br />

Am Standort sind 50 (min. 20) Wiederholmessungen<br />

in kurzen Zeitabständen am Normal<br />

nach der gültigen Vorschrift (Wiederholbedingungen)<br />

durch denselben Prüfer durchzuführen.<br />

Das Normal ist vor jeder Messung erneut bei<br />

gleicher Messposition in die Messvorrichtung<br />

einzulegen. Die Werte sind in das Auswerteblatt<br />

(Verfahren 1) einzutragen.<br />

Hinweis:<br />

Die Anzahl der Wiederholungsmessungen sollte<br />

in Abhängigkeit der Messaufgabe festgelegt<br />

und zwischen Kunde und Lieferant abgestimmt<br />

werden.<br />

So kann ein Messvorgang sehr lange dauern,<br />

so dass die Messzeit bei 50 Wiederholungen<br />

mehrere Stunden in Anspruch nehmen würde.<br />

Weiter zeigen Untersuchungen, dass sich die<br />

Standardabweichungen nach 10 Wiederholungsmessungen<br />

nicht mehr signifikant ändern.<br />

Damit reichen in der Regel 20 Wiederholungsmessungen<br />

aus.<br />

6. Schritt<br />

Berechnung des angezeigten Mittelwerts x g<br />

und der Wiederholstandardabweichung sg der<br />

angezeigten Werte.<br />

7. Schritt<br />

Berechnung des Abweichungsbetrags Bi des<br />

Mittelwerts x g vom richtigen Wert xm des Nor-<br />

mals:<br />

Bi = x − x<br />

g<br />

m<br />

8. Schritt<br />

Bestimmung des Fähigkeitskennwerts Cgk, der<br />

eine systematische und eine zufällige Komponente<br />

berücksichtigt:<br />

C<br />

gk<br />

0,<br />

1⋅<br />

T − Bi<br />

=<br />

2 ⋅ s<br />

g<br />

Step 3<br />

Determine and select a measurement standard<br />

whose true value xm is within the tolerance<br />

range of the test characteristic. Mark the measuring<br />

position on the standard or set or describe<br />

a fixed position.<br />

Step 4<br />

Set up and balance, possibly adjust the measurement<br />

device in accordance with the appropriate<br />

instructions. During the study, no further<br />

adjustments of the measurement device are<br />

permitted.<br />

Step 5<br />

On site, have the same appraiser carry out, at<br />

short intervals, 50 (min. 20) repeat measurements<br />

on the measurement standard, following<br />

the appropriate instructions (repeatability conditions).<br />

The measurement standard must be removed<br />

from the device and re-inserted in the<br />

same measuring position before each measurement.<br />

Enter the measurement values into<br />

the worksheet (Type-1 Study).<br />

Note:<br />

The number of repeat measurements should be<br />

set depending on the measuring task and<br />

agreed on between customer and supplier.<br />

A measuring procedure may last a very long<br />

time, so that the total measuring time in case of<br />

50 repetitions would last several hours. Tests<br />

have shown that the standard deviations do not<br />

show significant changes after 10 repeat measurements.<br />

For this purpose, 20 repeat measurements<br />

are sufficient as a rule.<br />

Step 6<br />

Calculate the average measurement value x g<br />

and the repeatability standard deviation sg of<br />

the measurement values.<br />

Step 7<br />

Calculate Bi, the difference between the average<br />

measurement value x g and the standard’s<br />

true value xm:<br />

Bi = x − x<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

g<br />

m<br />

Step 8<br />

Determine the capability index Cgk, which reflects<br />

both a systematic and a random error<br />

component:<br />

C<br />

gk<br />

0.<br />

1⋅<br />

T − Bi<br />

=<br />

2 ⋅ s<br />

g


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 22 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 22 of 107<br />

Anmerkung:<br />

Bei Cgk = 1,33 => 3 ⋅ sg<br />

+ xg<br />

− xm<br />

= ˆ 10%<br />

Toleranz<br />

9. Schritt<br />

Bestimmung des Fähigkeitskennwerts Cg, der<br />

nur eine zufällige Komponente (Wiederholpräzision)<br />

berücksichtigt. Bei zweiseitig begrenzten<br />

Merkmalen zeigt die Differenz zwischen Cgk und<br />

Cg die Verbesserungsmöglichkeit durch genaues<br />

Einstellen der Messeinrichtung an, was einer<br />

systematischen Messabweichung Bi = 0 entspricht.<br />

C<br />

g<br />

0,<br />

2 ⋅ T<br />

=<br />

4 ⋅ s<br />

g<br />

Hinweise:<br />

Messbeständigkeit<br />

Bei Verfahren 1 handelt es sich um eine Kurzzeitbeurteilung<br />

des Messsystems, die keine<br />

Aussage über die Messbeständigkeit beim Einsatz<br />

zuläßt. Daher wird empfohlen, die Messbeständigkeit<br />

separat zu betrachten (siehe Abschnitt<br />

9 Messbeständigkeit / Stabilität).<br />

Warum 4⋅sg als Streuungsbereich?<br />

In den bisher vorliegenden Richtlinien zur Berechnung<br />

der Fähigkeitsindizes Cg bzw. Cgk<br />

wurde in der Regel als Streubereich des Messsystems<br />

6⋅sg herangezogen. In dem vorliegenden<br />

<strong>Leitfaden</strong> wurde der Streubereich des<br />

Messsystems auf 4⋅sg verringert.<br />

Begründung:<br />

1. Insbesondere wenn die Auflösung des<br />

Messsystems nicht wesentlich unter 5% der<br />

Toleranz liegt, klassiert das Messverfahren<br />

quasi die Messwerte. In diesem Fall ist als<br />

Verteilungsmodell der Messwerte die Normalverteilung<br />

nicht zutreffend.<br />

2. Umfangreiche praktische Versuche haben<br />

bestätigt, dass bei Messprozessen, sowohl<br />

in der industriellen Fertigungsüberwachung<br />

als auch bei Kalibrierungen in Laboratorien,<br />

die Messwertstreuung bei Wiederholmessungen<br />

mit einem Streubereich <strong>von</strong> ±2sg,<br />

vollständig abgedeckt ist. Das gilt bei Annahme<br />

einer Normalverteilung. Treten Werte<br />

außerhalb dieses Bereichs auf, sind diese<br />

auf eine defekte Messeinrichtung oder<br />

auf unzulässig in die Messung mit einbezogene<br />

Trends zurückzuführen.<br />

Remark:<br />

for Cgk = 1.33 => 3 ⋅ sg<br />

+ xg<br />

− xm<br />

= 10%<br />

Toleranz<br />

Step 9<br />

Determine the capability index Cg, which reflects<br />

only a random error component (repeatability).<br />

In case of bilaterally limited characteristics<br />

the difference between Cgk and Cg therefore<br />

indicates the scope for improvement achievable<br />

by exact setup of the measurement device, i.e.<br />

with a systematic error (bias) of Bi = 0.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

C<br />

g<br />

0,<br />

2 ⋅ T<br />

=<br />

4 ⋅ s<br />

Notes:<br />

g<br />

Stability<br />

The Type-1 study is a short-term assessment of<br />

the measurement system which does not provide<br />

any information on measurement stability<br />

during use. Hence it is recommended to assess<br />

stability in a separate study (see paragraph 9<br />

Stability).<br />

Why use a 4sg spread?<br />

Earlier guidelines for calculating the capability<br />

indices Cg or Cgk usually based this calculation<br />

on a measurement spread of 6sg. In the present<br />

reference manual, this measurement spread<br />

has been reduced to 4sg.<br />

Reasons:<br />

1. Especially where the resolution lies trivially<br />

below 5% of the tolerance, the measurement<br />

values are assigned to classes by the<br />

measurment procedure. In this case, the<br />

normal distribution is not a suitable model<br />

for the distribution of measurement values.<br />

2. Large-scale studies of real-life processes<br />

have shown that in measuring processes, in<br />

industrial process control as well as in calibrations<br />

in laboratories ±2sg is the true<br />

spread of the measurement device for repeat<br />

measurements. This is valid if a normal<br />

distribution is assumed. If values occur outside<br />

this region, they must be attributed to a<br />

defect measuring device or trends improperly<br />

included in the measurement.


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 23 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 23 of 107<br />

Beurteilung des Ergebnisses: Evaluation of results:<br />

I. Fall: Cgk ≥ 1,33 1 st case: Cgk ≥ 1.33<br />

Das Messgerät ist fähig.<br />

The measurement device is capable.<br />

Der Fall sg = 0 ist zu begründen. Dieser Fall The case sg = 0 must be justified. This case can<br />

kann z.B. unter folgenden Bedingungen auftre- only occur for example under the following conten:ditions:<br />

a: Das Normal ist sehr gleichmäßig in seiner a: The measurement standard’s characteristic<br />

Merkmalsausprägung.<br />

is very consistent.<br />

b: Die Auflösung der Messeinrichtung reicht b: The resolution of the measurement device is<br />

nicht aus, um die Einflüsse zu erkennen. not high enough to recognize the existing in-<br />

c: Fehler in der Messeinrichtung (z.B. Messfluences.taster klemmt).<br />

c: Measuring device error (i.e. measuring finger<br />

jammed).<br />

II. Fall: Cgk < 1,33 2 nd case: Cgk < 1.33<br />

Das Messgerät ist nicht fähig.<br />

The measurement device is not capable.<br />

Die Messabweichung und/oder Messwertstreu- The accuracy and/or measurement value deviaung<br />

sind/ist durch geeignete Maßnahmen zu tion must be improved by suitable measures un-<br />

reduzieren, bis Cgk ≥ 1,33 erfüllt ist.<br />

til Cgk ≥ 1.33 has been achieved.<br />

Ist der Cg-Wert größer 1,33 und wurde ein Ge- If Cg is greater than 1.33 and a working stanbrauchsnormal<br />

verwendet, so kann es sein, dard has been used, then it may be possible that<br />

dass der richtige Wert xm des Normals nicht the true value xm of the standard was not deter-<br />

korrekt ermittelt wurde (z.B. unterschiedliche mined correctly (e.g. different measuring posi-<br />

Messpunkte). Der richtige Wert xm ist zu übertions). The true value xm should be checked and<br />

prüfen und gegebenenfalls anzupassen. adjusted if necessary.<br />

Ist der Cg-Wert ebenfalls < 1,33, ist durch Ein- If the Cg-value is also < 1.33, then it won’t be<br />

stellung keine ausreichende Verbesserung zu possible to achieve a sufficient improvement by<br />

erzielen, da die Wiederholstandardabweichung means of setup, since the repeatability-based<br />

der Messprozesses zu groß ist. Eventuell ist ein standard deviation of the measurement process<br />

anderes Messverfahren notwendig.<br />

is too large. It may be necessary to consider a<br />

different measuring procedure.<br />

Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />

müssen im Einzelfall getroffen werden (siehe<br />

hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige<br />

Messsysteme“).<br />

Anmerkung:<br />

Durch Umstellen der Formel für Cgk mit<br />

Cgk ≥ 1,33 kann der kleinste Betrag der Toleranz<br />

errechnet werden, ab dem die Messeinrichtung<br />

nach Verfahren 1 geeignet ist.<br />

4 ⋅ sg<br />

+ Bi<br />

≥ = 40s<br />

+ 10Bi<br />

0,<br />

1<br />

Tmin g<br />

1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />

Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />

kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />

<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />

For very small tolerances 2 exceptions may be<br />

made on a case-by-case basis (see also “Noncapable<br />

measurement systems” procedure).<br />

Remark:<br />

By setting Cgk ≥ 1.33 and solving the Cgk formula<br />

for T, it is possible to calculate the smallest<br />

permissible tolerance for which the measurement<br />

device will still be capable according to<br />

the criteria of the Type-1 Study.<br />

4 ⋅ sg<br />

+ Bi<br />

T ≥ = 40 ⋅ sg<br />

+ 10Bi<br />

0.<br />

1<br />

2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />

differently depending on the measuring task. This<br />

may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />

range of 10µ in the production.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 24 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 24 of 107<br />

6 Verfahren 2<br />

Vorbemerkung<br />

Beim Verfahren 2 wird der Bedienereinfluss ermittelt.<br />

Der Bedienereinfluss ist durch die Konstruktion<br />

der Messeinrichtung möglichst auszuschließen.<br />

Ist ein Bedienereinfluss bei einer<br />

Messeinrichtung gegeben, so muss dieser Einfluss<br />

untersucht werden. Ansonsten kann Verfahren<br />

3 (keine Berücksichtigung des Bedienereinflusses)<br />

angewendet werden. Ein Bedienereinfluss<br />

ist nur dann ganz auszuschließen,<br />

wenn einschließlich der Beschickung der Messeinrichtung<br />

mit dem Messobjekt der Messprozess<br />

automatisiert abläuft.<br />

Ziel des Verfahrens<br />

Anhand des Kennwertes %R&R wird beurteilt,<br />

ob eine Messeinrichtung unter Berücksichtigung<br />

aller Einflussgrößen für die vorgesehene Messaufgabe<br />

geeignet ist. Zu den Einflussgrößen<br />

gehören z.B. Verschmutzung, Erschütterung,<br />

zeitlicher und örtlicher Temperaturgradient, Bediener,<br />

Messmethode, Messverfahren, Beschaffenheit<br />

des Messobjektes usw..<br />

Voraussetzung<br />

Das Verfahren 2 darf nur nach erfolgreichem<br />

Nachweis der Eignung aus Verfahren 1 durchgeführt<br />

werden.<br />

Bei der Beurteilung<br />

ist zwischen neuem<br />

Meßsystem und<br />

System im Einsatz zu<br />

unterscheiden<br />

neues Meßsystem<br />

Dokumentation<br />

Datenerfassung:<br />

An 10 Meßobjekten IST-<br />

Maße mit 2 Prüfern und<br />

je 2 Meßreihen ermitteln<br />

Berechnung <strong>von</strong><br />

Wiederholpräzision,<br />

Vergleichspräzision<br />

und Gesamtstreuung<br />

- Teile-Nr., Bezeichnung<br />

- Merkmal, Toleranz<br />

- Prüfmittel, Prüfm.-Nr.<br />

- Auflösung<br />

- Normal, Ist-Maß<br />

- usw.<br />

Meßsystem im Einsatz<br />

nein<br />

%R&R ≤ 20%<br />

%R&R ≤ 30%<br />

ja<br />

Vorgehensweise "Nicht<br />

fähige Meßsysteme"<br />

ja<br />

Meßsystem fähig<br />

6 Type-2 Study<br />

Preliminary Note<br />

The Type-2 Study determines the appraiser influence.<br />

Wherever possible, the measurement<br />

device should be designed in such a way that<br />

all appraiser influence is eliminated. However, if<br />

a measurement device is subject to appraiser<br />

influence, then this influence must be investigated.<br />

In all other cases, a Type-3 Study (which<br />

does not consider appraiser influence) may be<br />

applied. It is only possible to exclude user influence<br />

entirely, if the measuring process is automated<br />

completely including loading the measuring<br />

object into the measuring device.<br />

Objective<br />

The index %R&R is used to assess whether a<br />

measurement device is suitable for the measuring<br />

task at hand, taking into account all the influences.<br />

As an example, among the influences<br />

are soiling, vibration, temperature gradients<br />

caused by time and location, operator, measuring<br />

method, measuring procedure, nature of the<br />

measuring object, etc..<br />

Precondition<br />

It is only allowed to carry out the type-2 study<br />

after successful capability proof using the type-<br />

1 Study.<br />

For evaluation<br />

differentiate between<br />

new measurement<br />

system and<br />

system in use<br />

new Measurement<br />

System<br />

Documentation<br />

Recording data:<br />

measure actual value<br />

on 10 measuring<br />

objects with 2 operators<br />

and 2 trials each<br />

Calculate repeatability,<br />

reproducibility, and total<br />

variation<br />

- Part No., Description<br />

- Characteristic, Tolerance<br />

- Gauge, Gauge No.<br />

- Resolution<br />

- Master, actual dimension<br />

- etc.<br />

Measurement System<br />

in use<br />

no<br />

%R&R ≤ 20%<br />

%R&R ≤ 30%<br />

Procedure "Not capable<br />

measurement system"<br />

Measurement system capable<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

yes<br />

yes


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 25 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 25 of 107<br />

Messung und Auswertung<br />

1. Schritt<br />

Festlegung der Anzahl <strong>von</strong> Prüfern (k ≥ 2), die<br />

Auswahl <strong>von</strong> 10 Messobjekten (n ≥ 5), die möglichst<br />

über den Toleranzbereich verteilt sind und<br />

die Anzahl der Messungen pro Prüfer (r ≥ 2).<br />

Dabei muss das Produkt k ⋅ r ⋅ n größer gleich<br />

30 sein: k ⋅ r ⋅n<br />

≥ 30.<br />

Standardfall: 2 Prüfer, 10 Teile mit 2 Messreihen<br />

pro Prüfer.<br />

2. Schritt<br />

Die Teile werden nummeriert. Um den Einfluss<br />

des Messobjekts, z.B. die Teilegeometrie, auszuschließen,<br />

wird die Messposition gekennzeichnet<br />

oder dokumentiert. Die Umgebungsbedingungen<br />

(z.B. Temperatur, Bediener,<br />

Schwingungen usw.) sind zu dokumentieren.<br />

3. Schritt<br />

Der erste Gerätebediener stellt die Messeinrichtung<br />

ein und ermittelt die Merkmalswerte der<br />

Messobjekte in der durch die Nummerierung vorgegebenen<br />

Reihenfolge und nach der gültigen<br />

Vorschrift unter Beachtung der Messposition. Die<br />

Messwerte werden dokumentiert. In derselben<br />

Reihenfolge und nach derselben Verfahrensweise<br />

ermittelt der erste Gerätebediener die<br />

Merkmalswerte der Messobjekte ein zweites Mal.<br />

Die Messergebnisse der zweiten Messung dürfen<br />

<strong>von</strong> den Ergebnissen der ersten Messung<br />

nicht beeinflusst werden. Während der Durchführung<br />

der Untersuchung sind Veränderungen an<br />

der Messeinrichtung nicht zulässig.<br />

Hinweis:<br />

Die hier empfohlene Reihenfolge für den Messablauf<br />

kann oftmals aus praktischen Gegebenheiten<br />

nicht eingehalten werden. Um bestimmte<br />

Eigenschaften einer Messeinrichtung bzw. den<br />

Drift durch Temperatureinfluss erkennen zu<br />

können, ist es ebenfalls sinnvoll, eine andere<br />

Reihenfolge zu wählen.<br />

Daher empfiehlt sich, die Reihenfolge des<br />

Messablaufs je nach Messaufgabe in Absprache<br />

zwischen Kunde und Lieferant individuell<br />

festzulegen und entsprechend zu dokumentieren.<br />

Measurement and Analysis<br />

Step 1<br />

Determine the number of appraisers (k ≥ 2), select<br />

10 measuring objects (n ≥ 5), which to the<br />

extent possible should be spread across the entire<br />

tolerance range, and determine the number<br />

of measurements per appraiser (r ≥ 2). Note<br />

that the product k ⋅ r ⋅ n must be greater than 30,<br />

i.e. k ⋅ r ⋅n<br />

≥ 30.<br />

Standard case: 2 appraisers, 10 parts with 2<br />

measurement series per appraiser.<br />

Step 2<br />

The parts are numbered. In order to eliminate<br />

the influence of the measuring object, i.e. part<br />

geometry, the measuring position is marked or<br />

documented. Record the environmental conditions<br />

(e.g. temperature, appraiser, vibrations,<br />

etc.).<br />

Step 3<br />

The first appraiser sets up the measurement<br />

device and measures the characteristics of the<br />

measuring objects in the sequence given by the<br />

numbering, following the appropriate instructions<br />

and adhering to the measuring position.<br />

The measured values are recorded. The first<br />

appraiser measures the measuring objects a<br />

second time in the same sequence, following<br />

the same procedure. The results of the second<br />

measurement run must not be affected by the<br />

results of the first run. During the study, adjustments<br />

of the measurement device are not permitted.<br />

Note:<br />

For practical reasons, it is often not possible to<br />

observe strictly the sequence for the measuring<br />

procedure recommended here. In order to be<br />

able to recognize certain characteristics of a<br />

measuring device or the drift caused by temperature<br />

influences, it may also be sensible to<br />

choose another sequence.<br />

For this reason it is recommended to stipulate<br />

and document individually the sequence of the<br />

measuring procedure depending on the measuring<br />

task in an agreement between customer<br />

and supplier.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 26 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 26 of 107<br />

4. Schritt<br />

Schritt 3 ist mit jedem weiteren Prüfer zu wiederholen.<br />

Die jeweiligen Messergebnisse<br />

sollten während der Durchführung der Messung<br />

den anderen Prüfern nicht bekannt sein.<br />

5. Schritt<br />

Ermittlung der Spannweiten aus den Ergebnissen<br />

des ersten Prüfers pro Messobjekt.<br />

6. Schritt<br />

Berechnung des Mittelwertes der Einzelwerte<br />

des ersten Prüfers x 1 und der mittleren Spann-<br />

R aus den Messreihen des ersten Prüfers.<br />

weite 1<br />

7. Schritt<br />

Schritt 5 und 6 sind für jeden weiteren Prüfer zu<br />

wiederholen.<br />

8. Schritt<br />

Berechnung der Wiederholbarkeit des Messsystems<br />

(EV)<br />

EV = K1<br />

⋅ R mit R Mittelwert der mittleren<br />

Spannweiten<br />

Hinweis:<br />

Die K1-Faktoren sind dem Anhang zu entnehmen.<br />

9. Schritt<br />

Berechnung der Vergleichbarkeit des Messsystems<br />

(AV)<br />

x = x − x<br />

Diff<br />

max<br />

AV = K ⋅<br />

2 xDiff<br />

min<br />

Hinweis:<br />

Die K2-Faktoren sind dem Anhang zu entnehmen.<br />

10. Schritt<br />

Berechnung der Wiederhol- und Vergleichpräzision<br />

R&R<br />

R & R = EV +<br />

2 2<br />

AV<br />

R & R<br />

% R & R = ⋅100%<br />

RF<br />

Step 4<br />

Step 3 should be repeated with the other appraisers.<br />

The respective measuring results<br />

should not be available to the other appraisers<br />

during measuring.<br />

Step 5<br />

Determine the ranges from the first appraiser’s<br />

results for each measuring object.<br />

Step 6<br />

Calculate the average x1 of the individual results<br />

of the first appraiser and the average<br />

range R 1 from the measurement series of the<br />

first appraiser.<br />

Step 7<br />

Repeat steps 5 and 6 for the other appraisers.<br />

Step 8<br />

Calculate the repeatability of the measurement<br />

system (EV)<br />

EV = K1<br />

⋅ R with R = average of the average<br />

ranges<br />

Note:<br />

The K1 values are given in the Appendix.<br />

Step 9<br />

Calculate the reproducibility of the measurement<br />

system (AV)<br />

x = x − x<br />

max<br />

2 xDiff<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

Diff<br />

AV = K ⋅<br />

min<br />

Note:<br />

The K2 values are given in the Appendix.<br />

Step 10<br />

Calculate Repeatability and Reproducibility,<br />

R & R<br />

R & R = EV +<br />

2 2<br />

AV<br />

R & R<br />

% R & R =<br />

⋅100%<br />

RF


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 27 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 27 of 107<br />

Beurteilung des Ergebnisses: Evaluation of results:<br />

I. Fall: %R&R ≤ 20% für neue Messsysteme 1 st case: %R&R ≤ 20% for new systems<br />

II. Fall: %R&R ≤ 30% für Messsysteme<br />

im Einsatz<br />

2 nd case: %R&R ≤ 30% for systems in use<br />

Das Messsystem ist geeignet.<br />

The measurement device is capable.<br />

Tritt bei einem oder mehreren Prüfern der Fall If for one or several appraisers the case R = 0<br />

R = 0 auf, so ist dies zu begründen. Dieser Fall occurs, then this has to be justified. This case<br />

kann z.B. nur unter folgenden Bedingungen auf- can occur for example under the following contreten:ditions:<br />

a: Das Messgerät ist sehr gleichmäßig in sei- a: The measurement device is very consistent<br />

ner Merkmalsausprägung.<br />

in its characteristics.<br />

b: Die Auflösung der Messeinrichtung reicht b: The resolution of the measurement device is<br />

nicht aus, um die Einflüsse zu erkennen. not high enough to recognize the existing in-<br />

c: Fehler in der Messeinrichtung (z.B. Messfluences.taster klemmt).<br />

c: Measuring device error (i.e. measuring finger<br />

jammed).<br />

III. Fall: %R&R > 20% bzw. 30% 3 rd case: %R&R > 20% or 30% respectively<br />

Das Messsystem ist nicht geeignet.<br />

The measurement system is not capable.<br />

Der Einfluss der Prüfer und/oder die Mess- The influence of the appraiser and/or the measstreuung<br />

sind durch geeignete Maßnahmen zu urement variability must be reduced through<br />

reduzieren, bis die Forderung erfüllt ist. Eventu- suitable measures until the requirement is met.<br />

ell ist ein anderes Messverfahren oder eine It may be necessary to choose a different<br />

bessere Schulung der Prüfer notwendig (siehe measuring procedure or to improve training of<br />

hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige the operators (see also “Non-capable meas-<br />

Messsysteme“).<br />

urement systems” procedure).<br />

Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />

müssen im Einzelfall getroffen werden (siehe<br />

hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige<br />

Messsysteme“).<br />

Anmerkung:<br />

Durch Umstellung der Ungleichung %R&R ≤<br />

20% bzw. 30% kann die kleinste zulässige Betrag<br />

der Toleranzvorgabe errechnet werden, für<br />

die die Messeinrichtung nach Verfahren 2<br />

eingesetzt werden kann.<br />

T min<br />

T min<br />

≥ 5 ⋅R<br />

& R bei neuen <strong>Messsystemen</strong><br />

10<br />

≥ ⋅R<br />

& R bei <strong>Messsystemen</strong> im Einsatz<br />

3<br />

1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />

Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />

kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />

<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />

For very small tolerances 2 exceptions may be<br />

made on a case-by-case basis (see also “Noncapable<br />

measurement systems” procedure).<br />

Remark:<br />

By rearranging the inequation % R & R ≤ 20%<br />

, it<br />

is possible to calculate the smallest permissible<br />

tolerance amount for which the measuring device<br />

can still be used according to the type-2<br />

study.<br />

≥ 5 ⋅R<br />

& R for new measurement systems<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

T min<br />

T min<br />

10<br />

≥ ⋅R<br />

& R for measurement systems in use<br />

3<br />

2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />

differently depending on the measuring task. This<br />

may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />

range of 10µ in the production.


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 28 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 28 of 107<br />

7 Verfahren 3<br />

Vorbemerkung<br />

Das Verfahren 3 ist ein Sonderfall des Verfahrens<br />

2 und wird bei <strong>Messsystemen</strong> angewendet,<br />

bei denen kein Bedienereinfluss vorliegt.<br />

(z.B. mechanisierte Messeinrichtung, Prüfautomaten,<br />

automatisches Handling usw.) bzw. der<br />

Bedienereinfluss vernachlässigbar klein ist.<br />

Ziel des Verfahrens<br />

Anhand des Kennwerts %EV wird beurteilt, ob<br />

eine Messeinrichtung unter Verwendung <strong>von</strong><br />

Messobjekten (z.B. Produktionsteilen) unter Betriebsbedingungen<br />

und Berücksichtigung des<br />

möglichen Einflusses der zu messenden Produktionsteile<br />

(Oberflächeneinfluss, Verschmutzung,<br />

Temperatureinfluss etc.) für die vorgesehene<br />

Messaufgabe geeignet ist.<br />

Voraussetzung<br />

Das Verfahren 3 darf nur nach erfolgreichem<br />

Nachweis der Eignung aus Verfahren 1 durchgeführt<br />

werden.<br />

Messung und Auswertung<br />

1. Schritt<br />

Auswahl <strong>von</strong> Messobjekten (n ≥ 5), die möglichst<br />

über die Toleranz verteilt sind und Festlegung<br />

der Anzahl Messungen pro Messobjekt (r<br />

≥ 2). Dabei muss das Produkt n ⋅ r größer<br />

gleich 20 sein: n ⋅ r ≥ 20 .<br />

Standardfall:<br />

25 Teile mit 2 Messungen pro Messobjekt.<br />

2. Schritt<br />

Die Teile werden nummeriert. Um den Einfluss<br />

des Messobjekts (z.B. der Teilegeometrie) auszuschließen,<br />

wird die Messposition gekennzeichnet<br />

oder zu dokumentieren. Die Einflussgrößen<br />

(z.B. Temperatur, Schwingung usw.)<br />

sind festzuhalten.<br />

3. Schritt<br />

Der Gerätebediener stellt die Messeinrichtung<br />

ein und ermittelt die Messwerte der Messobjekte<br />

in der durch die Nummerierung vorgegebenen<br />

Reihenfolge und nach der gültigen<br />

Vorschrift unter Beachtung der Messposition.<br />

Die Messwerte werden dokumentiert. In derselben<br />

Reihenfolge und nach derselben Verfahrensweise<br />

ermittelt der Gerätebediener die<br />

7 Type-3 Study<br />

Preliminary Note<br />

The Type-3 Study constitutes a special case of<br />

the Type-2 Study and is used for measurement<br />

systems which are not subject to appraiser influence<br />

(e.g. mechanized measuring device<br />

automatic gages, automatic handling etc.) or<br />

where the appraiser influence is negligible.<br />

Objective<br />

The index %EV is used to assess whether a<br />

measurement device is suitable for the measuring<br />

task at hand, taking into account the operating<br />

conditions and any influences originating<br />

from the objects (i.e. production parts) to be<br />

measured (surface condition, soiling, effect of<br />

temperature etc.). This assessment is based on<br />

the measurement of production parts.<br />

Precondition<br />

It is only allowed to carry out the type-3 study<br />

after successful capability proof using the type-<br />

1 Study.<br />

Measurement and Analysis<br />

Step 1<br />

Select measuring objects (n ≥ 5), which to the<br />

extent possible should be spread across the entire<br />

tolerance range, and determine the number<br />

of measurements per object (r ≥ 2). Note that<br />

the product n ⋅ r must be greater than 20, i.e.<br />

n ⋅ r ≥ 20 .<br />

Standard case:<br />

25 parts with 2 measurements per object.<br />

Step 2<br />

The parts are numbered. In order to eliminate<br />

the influence of the measuring object (i.e. part<br />

geometry), the measuring position is marked or<br />

documented. Record the sources of variation<br />

(e.g. temperature, vibration, etc.).<br />

Step 3<br />

The operator sets up the measurement device<br />

and measures the measuring objects in the sequence<br />

given by the numbering, following the<br />

appropriate instructions and adhering to the<br />

measuring position. The measured values are<br />

recorded. The operator then measures the parts<br />

a second time in the same sequence, following<br />

the same procedure The results of the second<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 29 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 29 of 107<br />

Merkmalswerte der Teile ein zweites Mal. Die<br />

Messergebnisse der zweiten Messung dürfen<br />

<strong>von</strong> den Ergebnissen der ersten Messung nicht<br />

beeinflusst werden. Während der Durchführung<br />

der Untersuchung sind Veränderungen an der<br />

Messeinrichtung nicht zulässig.<br />

Hinweis:<br />

Die hier empfohlene Reihenfolge für den Messablauf<br />

kann oftmals aus praktischen Gegebenheiten<br />

nicht eingehalten werden. Um bestimmte<br />

Eigenschaften einer Messeinrichtung bzw. den<br />

Drift durch Temperatureinfluss erkennen zu<br />

können, ist es ebenfalls sinnvoll, eine andere<br />

Reihenfolge zu wählen.<br />

Daher empfiehlt sich, die Reihenfolge des<br />

Messablaufs je nach Messaufgabe in Absprache<br />

zwischen Kunde und Lieferant individuell<br />

festzulegen und entsprechend zu dokumentieren.<br />

4. Schritt<br />

Ermittlung der Spannweite pro Messobjekt.<br />

5. Schritt<br />

Berechnung der mittleren Spannweite R aus<br />

den Ergebnissen der Messungen.<br />

6. Schritt<br />

Berechnung der Wiederholbarkeit Messsystem<br />

(EV)<br />

R & R EV K1<br />

R ⋅ = =<br />

mit R Mittelwert der Spannweiten<br />

Hinweis:<br />

Die K1-Faktoren sind dem Anhang zu entnehmen.<br />

EV<br />

% R & R = % EV = ⋅100%<br />

RF<br />

the same procedure. The results of the second<br />

measurement run must not be affected by the<br />

results of the first run. During the study, adjustments<br />

of the measurement device are not permitted.<br />

Note:<br />

For practical reasons, it is often not possible to<br />

observe strictly the sequence for the measuring<br />

procedure recommended here. In order to be<br />

able to recognize certain characteristics of a<br />

measuring device or the drift caused by temperature<br />

influences, it may also be sensible to<br />

choose another sequence.<br />

For this reason it is recommended to stipulate<br />

and document individually the sequence of the<br />

measuring procedure depending on the measuring<br />

task in an agreement between customer<br />

and supplier.<br />

Step 4<br />

Determine the range for each measuring object.<br />

Step 5<br />

Calculate the average range R from the measurement<br />

results.<br />

Step 6<br />

Calculate the repeatability of the measurement<br />

system (EV)<br />

R & R EV K1<br />

R ⋅ = =<br />

with R average range<br />

Note:<br />

The K1 values are given in the Appendix.<br />

EV<br />

% R & R =<br />

% EV = ⋅100%<br />

RF<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 30 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 30 of 107<br />

Beurteilung der Ergebnisse Evaluation of Results<br />

I. Fall: %R&R=%EV ≤ 20% für neue Messsysteme<br />

II. Fall: %R&R=%EV ≤ 30% für Messsysteme<br />

im Einsatz<br />

Das Messgerät ist geeignet.<br />

Der Fall R = 0 ist zu begründen. Dieser Fall<br />

kann z.B. unter folgenden Bedingungen auftreten:<br />

a: Das Messgerät ist sehr gleichmäßig in seiner<br />

Merkmalsausprägung.<br />

b: Die Auflösung der Messeinrichtung reicht<br />

nicht aus, um die Einflüsse zu erkennen.<br />

c: Fehler in der Messeinrichtung (z.B. Messtaster<br />

klemmt).<br />

1 st case: %R&R=%EV ≤ 20% for new systems<br />

2 nd case: %R&R=%EV ≤ 30% for system in<br />

use<br />

The measurement device is capable.<br />

The case R = 0 has to be justified. This case<br />

can occur only under the following conditions:<br />

a: The measurement device is very consistent<br />

in its characteristics.<br />

b: The resolution of the measuring device is<br />

not sufficient to recognize the existing influences.<br />

c: Measuring device error (i.e. measuring finger<br />

jammed).<br />

III. Fall: %R&R=%EV > 20% bzw. 30% 3 rd case: %R&R=%EV > 20% or 30%<br />

Das Messgerät ist nicht geeignet.<br />

The measurement device is not capable.<br />

Die Messstreuung ist zu reduzieren, bis die The measurement variability must be reduced<br />

Forderung erfüllt ist (siehe hierzu auch Vorge- until the requirement is met (see also “Nonhensweise<br />

„Nicht fähige Messsysteme“). capable measurement systems” procedure).<br />

Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />

müssen im Einzelfall getroffen werden (siehe<br />

hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige<br />

Messsysteme“).<br />

Anmerkung:<br />

Durch Umstellung der Ungleichung %EV ≤ 20%<br />

bzw. 30% kann die kleinste zulässige Betrag<br />

der Toleranzvorgabe errechnet werden, für die<br />

die Messeinrichtung zur Messung nach Verfahren<br />

3 eingesetzt werden kann:<br />

T ≥ 5 ⋅ EV bei neuem Messsystem<br />

10<br />

T ≥ ⋅ EV bei Messsystem im Einsatz<br />

3<br />

1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />

Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />

kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />

<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />

For very small tolerances 2 exceptions may be<br />

made on a case-by-case basis (see also “Noncapable<br />

measurement systems” procedure).<br />

Remark:<br />

By rearranging the inequation %EV ≤ 20% or<br />

30%, it is possible to calculate the smallest<br />

permissible tolerance amount for which the<br />

measuring device can still be used to measure<br />

production parts according to the type-3 study:<br />

T ≥ 5 ⋅ EV for new measurement system<br />

10<br />

T ≥ ⋅ EV for measurement system in use<br />

3<br />

2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />

differently depending on the measuring task. This<br />

may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />

range of 10µ in the production.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 31 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 31 of 107<br />

8 Linearität / Untersuchung an<br />

den Spezifikationsgrenzen<br />

8.1 Vorbemerkung<br />

Es sind folgende Situationen zu unterscheiden:<br />

• das Messsystem enthält eine lineare Maßverkörperung.<br />

Dies ist in Form eines Zertifikates<br />

bzw. Überprüfung nachzuweisen.<br />

In diesem Fall ist keine separate Linearitätsstudie<br />

erforderlich. Die Beurteilung des<br />

Messverfahrens nach Verfahren 1 ist ausreichend.<br />

• Das Messsystem enthält keine lineare Maßverkörperung.<br />

Aufgrund des vorhandenen Messverfahrens<br />

ist bekannt, dass die Maßverkörperung<br />

als nicht linear angesehen werden kann.<br />

Typische Beispiele sind induktive Taster,<br />

pneumatische Messungen etc. In diesem<br />

Fall wird zwischen zwei Vorgehensweisen<br />

unterschieden:<br />

- Untersuchung an den Grenzwerten des<br />

Toleranzbereiches (8.2)<br />

- Linearitätsuntersuchungen (8.3 und 8.4)<br />

Bei einer reinen Absicherung der Spezifikationsgrenzen<br />

wird mit Hilfe eines min- und max-<br />

Normals in der Nähe der Spezifikationsgrenzen<br />

Verfahren 1 durchgeführt. Bei Tasterverknüpfungen<br />

werden mindestens drei Normale empfohlen.<br />

Bei einer Fähigkeits-/Linearitätsuntersuchung<br />

werden folgende Situationen unterschieden:<br />

• Ohne Normal: die Linearität wird gesondert<br />

nachgewiesen<br />

• Ein Normal plus weiterer Linearitäts-<br />

nachweis<br />

• Drei Meister min / mittel / max<br />

• Mehr als 3 Meister: Regressions-<br />

betrachtung<br />

Hinweis:<br />

Im konkreten Fall ist zwischen Kunde und Lieferant<br />

das jeweils zu verwendende Verfahren<br />

festzulegen.<br />

8 Linearity / Study near the<br />

Specification Limits<br />

8.1 Introduction<br />

The following situations must be distinguished:<br />

• The measurement system includes a linear<br />

reference standard. This should be proved<br />

by means of a certificate or testing.<br />

In this case, no separate linearity study is<br />

required. The Type-1 study alone is enough.<br />

• The measurement system does not include<br />

a linear reference standard.<br />

Based on the measuring procedure used it<br />

is known that the reference standard cannot<br />

be considered to be linear. Typical examples<br />

are induction probes, pneumatic measurements<br />

etc. In this case, two procedures<br />

are distinguished:<br />

- study near the limits of the tolerance<br />

range (8.2)<br />

- linearity studies (8.3 and 8.4)<br />

For mere safeguarding of the specification limits,<br />

a Type-1 study is carried out close to the<br />

specification limits using min. and max. standards.<br />

For linked probes, at least three masters<br />

are recommended.<br />

In capability/linearity studies, three situations<br />

are distinguished:<br />

• without standard: linearity is demonstrated<br />

separately<br />

• one standard plus additional proof of<br />

linearity<br />

• three masters, min., mid., max.<br />

• more than three masters: regression<br />

analysis<br />

Note:<br />

The procedure to be used should be determined<br />

between customer and supplier for the<br />

actual case.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 32 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 32 of 107<br />

8.2 Untersuchung an den<br />

Spezifikationsgrenzen<br />

Vorbemerkung<br />

Verfügt die Messeinrichtung nicht über eine<br />

eingebaute lineare Maßverkörperung (Glasmaßstab<br />

o. ä.), ist nachfolgende Untersuchung<br />

zu empfehlen.<br />

Ziel der Untersuchung<br />

Durch die mehrmalige Anwendung <strong>von</strong> Verfahren<br />

1 wird festgestellt, ob eine Messeinrichtung<br />

über den gesamten Messbereich bzw. Anwendungsbereich<br />

den Anforderungen entspricht.<br />

Als Minimalforderung gilt die Anwendung des<br />

Verfahrens 1. Hierzu sind zwei Normale nahe<br />

den Spezifikationsgrenzen (Grenzwerte des Toleranzbereichs)<br />

notwendig.<br />

Hinweis:<br />

Die Messung und Auswertung, sowie die Beurteilung<br />

der Ergebnisse ist mit der in Verfahren 1<br />

beschriebenen Vorgehensweise identisch.<br />

8.2 Study Near the Specification<br />

Limits<br />

Preliminary Note<br />

If the measurement device does not include an<br />

in-built linear reference standard (glass scale or<br />

similar), the following study is recommended.<br />

Objective<br />

To determine, by applying several Type-1 Studies<br />

in succession, if a measurement device<br />

meets the requirement over the whole measuring/application<br />

range.<br />

The minimum requirement is the application of<br />

a Type-1. For this purpose two measurement<br />

standards close to the specification limits<br />

(tolerance range limits) are required.<br />

Note:<br />

Measurement and analysis, as well as the<br />

evaluation of results, is identical to the procedure<br />

described for the Type-1 study.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 33 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 33 of 107<br />

8.3 Beurteilung der Linearität<br />

anhand <strong>von</strong> drei Normalen<br />

Die Linearitätsabweichung ist wie folgt zu ermitteln:<br />

Es werden n Messungen im unteren, im oberen<br />

und im mittleren Toleranzbereich des Merkmals<br />

mit Hilfe <strong>von</strong> Prüfnormalen durchgeführt<br />

(Standardfall ist n=10). Dabei ist x gu der Mittelwert<br />

über alle 10 Messungen im unteren, x go<br />

der Mittelwert über alle 10 Messungen im oberen<br />

Toleranzbereich und x g der Mittelwert über<br />

alle 10 Messungen im mittleren Toleranzbereich.<br />

Für x g können u.U. auch die Werte aus<br />

der Prüfmittelfähigkeitsuntersuchung Verfahren<br />

1 verwendet werden.<br />

xm, xmu und xmo sind die richtigen Werte des<br />

Prüfnormals im mittleren, unteren und oberen<br />

Toleranzbereich.<br />

Die untere Linearitätsabweichung berechnet<br />

sich nach<br />

Li<br />

u<br />

x<br />

= 1−<br />

x<br />

m<br />

g<br />

− x<br />

− x<br />

mu<br />

gu<br />

⋅100%<br />

und die obere Linearitätsabweichung<br />

Li<br />

o<br />

x<br />

= 1−<br />

x<br />

mo<br />

go<br />

− x<br />

− x<br />

m<br />

g<br />

⋅100%<br />

Beide Werte müssen folgende Bedingungen erfüllen:<br />

% Liu<br />

, Lio<br />

≤<br />

[ 3%<br />

+ ( % U)<br />

]<br />

U1<br />

mit % U = ⋅100%<br />

T<br />

und<br />

U1 = Kalibrierunsicherheit des Normals<br />

T = Toleranz<br />

%U = Kalibrierunsicherheit im Verhältnis zur<br />

Toleranz. Der Grenzwert für %U ist:<br />

%U ≤ 5% der Toleranz.<br />

8.3 Linearity study using three masters<br />

The deviation from linearity should be determined<br />

as follows:<br />

n measurements each are taken in the lower,<br />

center and upper part of the tolerance range (as<br />

a rule, n = 10), by measuring appropriate standards.<br />

Then x gl is the average of the 10 measurements<br />

taken at the lower end of the tolerance<br />

range, x gu is the average of the 10 measurements<br />

taken at the upper end of the tolerance<br />

range, and x g is the average of the 10<br />

measurements taken in the center of the tolerance<br />

range. For x g it may be possible to use<br />

the values recorded in the course of the Type-1<br />

study.<br />

xm, xml and xmu are the true values of the standards<br />

in the lower, middle and upper part of the<br />

tolerance range.<br />

The lower linearity deviation is calculated as follows:<br />

x<br />

= 1−<br />

x<br />

⋅100%<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

Li<br />

u<br />

m<br />

g<br />

− x<br />

− x<br />

ml<br />

gl<br />

The upper linearity deviation is calculated as<br />

follows:<br />

Li<br />

o<br />

x<br />

= 1−<br />

x<br />

mu<br />

gu<br />

− x<br />

− x<br />

m<br />

g<br />

⋅100%<br />

Both values must fulfill the following requirements:<br />

% Lil<br />

, Liu<br />

≤<br />

[ 3%<br />

+ ( % U)<br />

]<br />

U1<br />

with % U = ⋅100%<br />

T<br />

and<br />

U1 = calibration uncertainty of the standard<br />

T = tolerance<br />

%U = calibration uncertainty relative to the<br />

tolerance. The limit for %U is:<br />

%U ≤ 5% of the tolerance.


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 34 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 34 of 107<br />

8.4 Beurteilung der Linearität bei<br />

mehr als drei Normalen<br />

Zur Berechnung der Linearität, z.B. Klassierungen,<br />

werden die gleichen Werte herangezogen,<br />

wie beim R&R-Verfahren. Die richtigen Werte<br />

der N Teile, die für das R&R-Verfahren verwendet<br />

werden, müssen bekannt sein.<br />

Die Streuung dieser Referenzwerte sollte so<br />

weit wie möglich im Bereich der Bezugsgröße<br />

liegen (RF). Die Formeln zur Berechnung der<br />

Linearität gemäß [1] sind im Anhang zusammengefasst.<br />

Das Ergebnis ist die Kenngröße %Li, die zur<br />

Beurteilung der Linearität herangezogen wird.<br />

Es gelten folgende Bedingungen:<br />

%Li ≤ 5% RF<br />

Messsystem ist geeignet.<br />

5% RF < %Li ≤ 10% RF<br />

Messsystem kann unter Berücksichtigung der<br />

Bedeutung der Messaufgabe, der Kosten des<br />

Messmittels, der Reparaturkosten usw. akzeptiert<br />

werden.<br />

%Li > 10% RF<br />

Messsystem muss verbessert werden. Probleme<br />

sind festzustellen und zu korrigieren.<br />

Falls eine Linearitätsbeurteilung nicht gültig ist,<br />

ist die größte systematische Messabweichung<br />

(Bii) mit den oben aufgeführten Annahmebedingungen<br />

zu vergleichen und zu beurteilen.<br />

8.4 Linearity evaluation using more<br />

than three masters<br />

The Linearity analysis, i.e. classification, is conducted<br />

on the same data acquired during the<br />

R&R study. The true values of the five pieces<br />

used in the R&R study must be known.<br />

These reference values should have a spread<br />

which approximates the tolerance spread (RF).<br />

The formulae used for calculation of the linearity<br />

according to [1] are grouped in the appendix.<br />

The result is the calculated value %Li which is<br />

used for linearity evaluation.<br />

The following requirements apply:<br />

%Li ≤ 5% RF<br />

Measurement system is acceptable.<br />

5% RF < %Li ≤ 10% RF<br />

May be acceptable depending upon importance<br />

of application, cost of gage, cost of repairs, etc.<br />

%Li > 10% RF<br />

Measurement system needs improvement.<br />

Make every effort to identify the problems and<br />

have them corrected.<br />

In the case where a linearity assessment is not<br />

valid, the largest bias (Bii) must be compared to<br />

the above acceptance criteria and reported.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 35 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 35 of 107<br />

9 Messbeständigkeit / Stabilität<br />

Bei den vorher genannten Verfahren wird immer<br />

nur eine Kurzzeitbetrachtung vorgenommen.<br />

Daher ist die kontinuierliche Untersuchung<br />

der Messbeständigkeit zu empfehlen.<br />

Für den Stabilitätsnachweis sind zunächst in<br />

kurzen Zeitabständen Überprüfungen vorzunehmen.<br />

Zur Ermittlung der Urwerte sind stabilisierte<br />

Erzeugnisteile und Normale/Einstellmeister<br />

zu verwenden. Basierend auf den Ergebnissen<br />

ist ein Intervall festzulegen, zu dem<br />

regelmäßig neue Überprüfungen stattfinden sollen.<br />

Die Beurteilung der Messbeständigkeit kann auf<br />

2 Arten vorgenommen werden:<br />

• Es sind die Urwerte aufzuzeichnen und die<br />

Grenzwerte situationsbezogen festzulegen.<br />

Diese dürfen maximal ±10% der Toleranz<br />

bezogen auf den Ist-Wert des Normals/<br />

Werkstücks betragen.<br />

• Die gemessenen Werte sind in Form einer<br />

Shewhart-Qualitätsregelkarte aufzuzeichnen.<br />

Hierbei gelten firmenspezifische Festlegungen.<br />

Beispiel zur Messung und Auswertung<br />

1. Schritt<br />

Dokumentieren der Daten zu Messeinrichtung,<br />

Normal, Merkmal, Toleranz etc.<br />

2. Schritt<br />

Eintragen der Grenzen der Messbeständigkeit<br />

in die Regelkarte für Urwerte (n = 1).<br />

Fallbeispiel:<br />

OEG = xm 2,<br />

576 ⋅ sg<br />

UEG = xm − 2,<br />

576 ⋅ sg<br />

9 Stability<br />

All the procedures described above represent a<br />

short-term assessment of the measurement<br />

system. Hence an ongoing assessment of<br />

measurement stability is recommended.<br />

Initially, studies to demonstrate stability should<br />

be performed at short intervals. Production<br />

parts and standard/setting masters must be<br />

used for establishing the raw values. Based on<br />

the results, an appropriate interval for routine<br />

checks should be established.<br />

There are two possible methods for assessing<br />

stability:<br />

• Individual measurements values are plotted<br />

and limits are established based on the<br />

specific situation at hand. These must not<br />

exceed ±10% of the tolerance relative to the<br />

actual value of the standard or work piece.<br />

• The measurement values are plotted on a<br />

Shewhart control chart, following companyspecific<br />

control charting guidelines.<br />

Example: Measurement and Evaluation<br />

Step 1<br />

Record data on the measurement device, standard,<br />

characteristic, tolerance etc.<br />

Step 2<br />

Plot stability limits on the control chart for individual<br />

values (n = 1).<br />

mit sg aus<br />

Example:<br />

x + 2,<br />

576 ⋅ s<br />

Verfahren 1 für 99% LCL = xm − 2,<br />

576 ⋅ sg<br />

+ UCL = m<br />

g<br />

Hinweis:<br />

Falls der Abstand der natürlichen Eingriffsgrenzen<br />

einer Urwertkarte < 10% der Toleranz ist,<br />

können die Eingriffsgrenzen auf 10% der<br />

Toleranz festgelegt werden, um zu verhindern,<br />

dass die Auflösung des Messmittels der Grund<br />

für eine Verletzung der Eingriffsgrenze ist.<br />

with sg from Type-1<br />

Study for 99%<br />

Note:<br />

If the distance between the natural control limits<br />

of an individuals chart < 10% of the tolerance,<br />

one can set the control limits to 10% of the tolerance<br />

in order to avoid spurious out-of-control<br />

indications due merely to the resolution of the<br />

measurement device.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 36 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 36 of 107<br />

alternativ: alternatively:<br />

OEG = xm + 0,<br />

1⋅<br />

T<br />

UCL = xm + 0.<br />

1⋅<br />

T<br />

UEG = − 0,<br />

1⋅<br />

T<br />

LCL = − 0.<br />

1⋅<br />

T<br />

x m<br />

3. Schritt<br />

Prüfintervall festlegen. Bei der Untersuchung<br />

sollte mindestens eine ganze Schicht erfasst<br />

und beurteilt werden.<br />

4. Schritt<br />

Einstellen der Messeinrichtung mit Hilfe des<br />

Normals nach der gültigen Vorschrift.<br />

5. Schritt<br />

Ausführung <strong>von</strong> Einzelmessungen am Normal<br />

und/oder Werkstück in festgelegten Prüfintervallen<br />

nach der gültigen Vorschrift. Während<br />

der Messbeständigkeitsprüfung darf nicht nachgestellt<br />

werden.<br />

6. Schritt<br />

Die Messergebnisse werden in die Urwertekarte<br />

eingetragen.<br />

Beurteilung und Maßnahmen bei der Messbeständigkeitsprüfung<br />

I. Fall:<br />

Die Messwerte liegen innerhalb der vorgegebenen<br />

Eingriffsgrenzen: Es reicht aus, die Messeinrichtung<br />

in festgelegten Intervallen, <strong>zum</strong> Beispiel,<br />

jeweils am Arbeitsbeginn einzustellen.<br />

II. Fall:<br />

Es treten Über- oder Unterschreitungen der<br />

vorgegebenen Eingriffsgrenzen aufgrund eines<br />

Trends auf: Das Intervall ist so zu verkürzen,<br />

dass die Messwerte innerhalb der Grenzen verbleiben.<br />

III. Fall:<br />

Es finden Über- und Unterschreitungen der vorgegebenen<br />

Grenzen ohne Trend statt, so dass<br />

bei der Messeinrichtung keine stabile Phase erkennbar<br />

ist. Das bedeutet, dass die Messeinrichtung<br />

ungeeignet ist. Es sind Verbesserungen<br />

einzuleiten (siehe hierzu auch Vorgehensweise<br />

„Nicht fähige Messsysteme").<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

x m<br />

Step 3<br />

Determine test interval. When carrying out the<br />

test one should at least cover and evaluate one<br />

whole shift.<br />

Step 4<br />

Set up the measurement device using the standard,<br />

in accordance with the relevant instructions.<br />

Step 5<br />

At regular intervals corresponding to the test interval<br />

determined, take individual measurements<br />

of the measurement standard and/or<br />

work piece, following the appropriate instructions.<br />

No adjustments may be made in the<br />

course of the stability test.<br />

Step 6<br />

Plot the measurement results on an individuals<br />

control chart.<br />

Interpretation and Actions Based on Stability<br />

Testing<br />

Case I:<br />

The measured values lie within the predefined<br />

control limits: All that need be done is to set up<br />

the measurement device at regular intervals,<br />

such as at the beginning of each shift.<br />

Case II:<br />

There are values above and/or below the predefined<br />

control limits, due to a trend in the data:<br />

The interval must be shortened such that the<br />

measured values remain within the defined limits.<br />

Case III:<br />

There are values above and/or below the predefined<br />

control limits, but there is no trend, only<br />

a general and persistent lack of stability: This<br />

means that the measurement device is not suitable.<br />

Appropriate improvements must be initiated<br />

(see also “Non-capable measurement systems”<br />

procedure).


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 37 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 37 of 107<br />

10 Vorgehensweise „Nicht fähige<br />

Messsysteme“<br />

Ist ein Messsystem gemäß den vorausgegangenen<br />

Verfahren nicht fähig, empfiehlt sich folgende<br />

Vorgehensweise:<br />

MeßsystemMeßsystemfreigabe<br />

ja<br />

ja<br />

ja<br />

Meßsystem nicht fähig<br />

Meßsystem<br />

verbessern<br />

Beschaffung<br />

genaueres<br />

Meßsystem<br />

Toleranz-,<br />

ProzeßbetrachProzeßbetrachtung<br />

Sonderregelung (befristet)<br />

1. Schritt:<br />

Messsystem überprüfen, verbessern<br />

1. Schritt<br />

2. Schritt<br />

3. Schritt<br />

4. Schritt<br />

• Messeinrichtung, Einstellnormale<br />

- Mess-, Spann-, Niederhaltekräfte<br />

- Messorte, Definition Messstellen<br />

- Aufnahmen, Fluchtung Prüfling, Messtaster<br />

- Antastelemente; Güte Einstellnormal(e)<br />

- Führungen, Reibung, Verschleiß,<br />

- Positionierung, Verkippung Prüfling<br />

- Messablauf; Warmlaufphase, ...<br />

• Messverfahren, -strategie<br />

- Bezugselement, Basis für Aufnahme<br />

- Messgeschwindigkeit, Einschwingzeiten<br />

- Mehrpunktmessungen bzw. Scannen<br />

anstatt Einzelmesswert, ...<br />

- Mittelwert aus Wiederholungsmessungen<br />

- Messtechnik-, Statistik-Software<br />

- Kalibrierkette, Einstellverfahren, ...<br />

(z.B. vor jeder Messung neu einstellen)<br />

• Umgebungsbedingungen<br />

- Erschütterungen, Schwingungen<br />

- Staub, Ölnebel, Zugluft, Feuchtigkeit<br />

- Temperaturschwankungen<br />

- Elektrische Störungen, Spannungsspitzen<br />

- Energieschwankungen (Luft, Strom,..)<br />

• Prüfling<br />

- Sauberkeit, Waschrückstände<br />

- Oberflächenbeschaffenheit, Grate<br />

- Formfehler, Bezugsbasis<br />

- Materialeigenschaften<br />

- Temperaturkoeffizient, ...<br />

10 “Non-capable Measurement<br />

Systems” Procedure<br />

If one of the preceding capability studies shows<br />

that a measurement system is not capable, the<br />

following procedure is recommended:<br />

Approve<br />

system<br />

Measurement system not capable<br />

Improve<br />

system<br />

Procure<br />

more accurate<br />

system<br />

Tolerance<br />

or process<br />

study<br />

Special permit (limited time)<br />

1st Step<br />

2nd Step<br />

3rd Step<br />

4th Step<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

yes<br />

yes<br />

yes<br />

1 st Step:<br />

Check, improve measurement system<br />

• Measuring equipment, standards<br />

- Measuring, clamping, holding forces<br />

- Measuring locations, definition of positions<br />

- Receptacles, subject alignment, probes<br />

- Styluses; quality of standard(s)<br />

- Guides, friction, wear<br />

- Positioning, subject tilting<br />

- Measuring steps, warm-up stage, ...<br />

• Measuring procedure, strategy<br />

- Reference element, measurement baseline<br />

- Measurement speed, settling times<br />

- Multi-point measurements or scanning<br />

instead of individual measurements, ...<br />

- Average of repeat measurements<br />

- Metrology/statistics software<br />

- Calibration chain, set-up procedure, ...<br />

(e.g. set-up prior to each measurement)<br />

• Environmental conditions<br />

- Impacts, vibration<br />

- Dust, oil mist, draft, humidity<br />

- Temperature fluctuations<br />

- Electrical interference, voltage spikes<br />

- Energy fluctuations (air, current,..)<br />

• Subject<br />

- Cleanness, wash residues<br />

- Surface finish, burrs<br />

- Non-conforming shape, reference point<br />

- Material properties<br />

- Temperature coefficient, ...


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 38 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 38 of 107<br />

• Bediener<br />

- Eingewiesen, geschult<br />

- Sorgfalt, Handhabung<br />

- Sauberkeit, (Hautreste, Handfett,...)<br />

- Wärmeübertragung, ...<br />

2. Schritt:<br />

Genaueres Messsystem beschaffen<br />

Mögliche Maßnahmen :<br />

• Auflösung < 5%<br />

• Lineare Systeme einsetzen<br />

• Absolut messende Systeme bevorzugen<br />

(digital inkremental anstatt analog induktiv)<br />

• Robuste Messeinrichtung (Lagerungen,<br />

Führungen, Messhebel,<br />

Übertragungselemente,...)<br />

• Bedienerunabhängige Messeinrichtung<br />

• Neue (berührungslose) Messverfahren, ...<br />

3. Schritt:<br />

Merkmals-, Toleranz-, Prozessbetrachtung<br />

Mögliche Maßnahmen :<br />

• Merkmal auf Funktionsabhängigkeit überprüfen<br />

(ggf. neues Merkmal definieren z.B.<br />

Dichtheit anstelle Rundheit)<br />

• 100% verlesen mit reduzierten Toleranzen<br />

• Messsystemstreuung <strong>von</strong> Toleranz abziehen<br />

• Auswirkungen auf Prozessregelung und<br />

Prozessfähigkeit berücksichtigen<br />

• Toleranz anpassen (statistische Tolerierung;<br />

Toleranz und Prozessstreuung gegenüberstellen;<br />

Toleranzehrlichkeit!) – Abstimmung<br />

mit Fertigungsplanung, Produktion,<br />

Qualitätssicherung, Entwicklung, Kunde<br />

4. Schritt: Sonderregelung<br />

• Zusätzliche Absicherung (z.B. Stabilitätsüberwachung,<br />

zusätzlicher Regelkreis, genaueres<br />

Messmittel im Feinmessraum,<br />

Funktionsabsicherung, -überprüfung)<br />

• Operator<br />

- Training<br />

- Care, handling<br />

- Cleanliness (skin flakes, hand cream,...)<br />

- Heat transmission, ...<br />

2 nd Step:<br />

Procure more accurate measurement system<br />

Possible actions :<br />

• Resolution < 5%<br />

• Use linear systems<br />

• Absolute measuring systems to be preferred<br />

(digital/incremental rather than analog/inductive)<br />

• Robust measuring equipment (bearings,<br />

guide rails, measuring levers,<br />

transmission elements,...)<br />

• Operator-independent equipment<br />

• New (no-contact) measuring procedures, ...<br />

3 rd Step:<br />

Characteristic, tolerance or process study<br />

Possible Actions :<br />

• Check characteristic’s relationship to function<br />

(re-define where appropriate, e.g. tightness<br />

instead of roundness)<br />

• 100% inspection with reduced tolerances<br />

• Deduct gage variation from tolerance<br />

• Consider effects on process control and<br />

process capability<br />

• Adjust tolerance (statistical tolerancing;<br />

compare tolerance and process spread;<br />

honesty about tolerances!) – agreements<br />

between manufacturing engineering, production,<br />

quality assurance, product engineering,<br />

customer<br />

4 th Step: Special Operating Permit<br />

• Additional safeguards (e.g. stability checks,<br />

additional control loop, more accurate gage<br />

in precision gage room, assurance or<br />

checking of function)<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 39 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 39 of 107<br />

• Zeitlich befristete Sonderregelung treffen<br />

– Abstimmung mit Messtechnikexperten,<br />

Fertigungsplanung, Produktion, Qualitätssicherung,<br />

Entwicklung, Kunde<br />

• Regelung z.B. jährlich neu bewerten gemäß<br />

Schritt 1 bis 4 und ggf. Regelung überarbeiten<br />

bzw. für weitere Zeitspanne bestätigen<br />

Anmerkung:<br />

Es ist zu beachten, dass nicht immer die Messeinrichtung<br />

der Verursacher eines nicht geeigneten<br />

Messprozesses ist. Oftmals sind die Urheber<br />

die Umgebung und die Messstrategie.<br />

• Issue special, time-limited operating permit<br />

– agreement with metrology experts, manufacturing<br />

engineering, production, quality<br />

assurance, product engineering, customer<br />

• Re-assess decision e.g. on an annual basis,<br />

according to steps 1 to 4, revise decision or<br />

re-confirm for another term as appropriate<br />

Remark:<br />

It must be taken into regard that the measuring<br />

system is not always the cause for a non capable<br />

measuring process. Frequently, environment<br />

and measuring strategy are responsible.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 40 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 40 of 107<br />

11 Sonderfälle<br />

Nicht alle Messsysteme bzw. Problemstellungen<br />

können mit der hier beschriebenen Vorgehensweise<br />

beurteilt werden. Diese können sein:<br />

• attributive Prüfung<br />

• kleine Toleranz 1<br />

• automatische Beladung<br />

• einseitig begrenzte Merkmale<br />

• Vergleich <strong>von</strong> Messgeräten<br />

• ohne Einstellmeister<br />

• unterschiedliche Form des Masters<br />

• kein stabiles Normal<br />

• Härteprüfung<br />

• Oberflächenmessung<br />

• optische Kompensatoren<br />

• Drei-Koordinaten-Messgeräte<br />

• Lecktester<br />

• Fließmessungen<br />

• chemische Analysen<br />

• Wuchtmaschinen<br />

• dynamische Messung<br />

• Formtest<br />

• Kältetest<br />

• Hitzetest<br />

• Drehmoment, Winkel<br />

• Klassier-, Zupaarungsvorgänge<br />

• Partikelzählung, Kontaminationszahl<br />

• Vollständigkeitskontrolle mit BV-Systemen<br />

• Zerstörende Prüfungen<br />

• Farbmesssysteme<br />

• Durchflußmesssysteme<br />

• Kraftmesssysteme, Federprüfgeräte<br />

(Hystereseprobleme)<br />

• Drehmomenteinstell- und Messsysteme<br />

• Schichtdicke, Wirbelstromprüfgeräte<br />

• Formprüfgeräte bei kleinen Geometrien<br />

• Lasermesssysteme (naturkonstante stabilisierte<br />

Wellenlänge)<br />

• Überwachung, Kontrolle Wandlerkarten<br />

(z.B.: A/D,....)<br />

In einem separaten Dokument soll für diese<br />

Sonderfälle Hilfestellung in Form <strong>von</strong> Empfehlungen<br />

und einem Fallbeispiel für die Beurteilung<br />

gegeben werden.<br />

1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />

Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />

kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />

<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />

11 Special Cases<br />

Not all measurement systems or situations may<br />

be evaluated using the procedure described<br />

here. Here are some examples:<br />

• attribute test<br />

• small tolerances 2<br />

• Automatic loading<br />

• Unilateral tolerances<br />

• Comparison of several gages<br />

• Without standard<br />

• Different shape of master<br />

• No stable standard<br />

• Hardness testers<br />

• Surface texture gauges<br />

• Optical gaging<br />

• Coordinate measuring machines<br />

• Leak testers<br />

• Flow testers<br />

• Chemical analyses<br />

• Balancing machines<br />

• Dynamic measurement<br />

• Precision Form Measurement Machines<br />

• Cold Test<br />

• Hot Test<br />

• Torque, angles<br />

• Classification, allocation processes<br />

• Particle counts, contamination number<br />

• Completeness check using imaging systems<br />

• Destructive testing<br />

• Color measurement systems<br />

• Flow meters<br />

• Force measurements, spring testing (hysteresis<br />

problems)<br />

• Torque setting and measuring systems<br />

• Coating thickness, eddy current testing<br />

• Shape testers for small-scale geometries<br />

• Laser measurement systems (naturally constant<br />

stabilized wavelength)<br />

• Monitoring, control of converter cards (e.g.<br />

A/D, ...)<br />

A separate document will provide help on how<br />

to deal with these special cases, including recommendations<br />

and a case study illustrating the<br />

evaluation process.<br />

2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />

differently depending on the measuring task. This<br />

may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />

range of 10µ in the production.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 41 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 41 of 107<br />

12 Literatur<br />

[1] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />

Motor Company, General Motors Corp.<br />

Measurement Systems Analysis.<br />

Michigan, 1995.<br />

[2] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />

Motor Company, General Motors Corp.<br />

Forderungen an Qualitätsmanagement-<br />

Systeme – QS-9000.<br />

3. Auflage, 1998.<br />

[3] DGQ Deutsche Gesellschaft<br />

für Qualität e.V.<br />

DGQ Band 13-61: Prüfmittelmanagement.<br />

Beuth Verlag, Frankfurt, 1998.<br />

[4] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />

Statistische Verfahren zur Maschinen-<br />

und Prozessqualifikation<br />

3., überarbeitete Auflage.<br />

Carl Hanser Verlag, München, 1998.<br />

[5] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />

Richtlinien zur Beurteilung <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong><br />

und Prozessen, Abnahme <strong>von</strong> Fertigungseinrichtungen.<br />

Carl Hanser Verlag, München, 1998.<br />

[6] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />

DIN EN ISO 10012 – Forderungen an die<br />

Qualitätssicherung <strong>von</strong> Messmitteln.<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1992.<br />

[7] DIN EN ISO 14253-1<br />

Geometrische Produktspezifikation (GPS)<br />

– Prüfung <strong>von</strong> Werkstücken und Messgeräten<br />

durch Messungen – Teil 1: Entscheidungsregeln<br />

für die Feststellung <strong>von</strong><br />

Übereinstimmung oder Nicht-<br />

Übereinstimmung mit Spezifikationen.<br />

März 1999.<br />

[8] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />

<strong>Leitfaden</strong> zur Angabe der Unsicherheit bei<br />

Messen (GUM) – DIN V ENV 13005.<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1999.<br />

[9] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />

DIN ISO 9000ff: Qualitätsmanagement-<br />

und Qualitätssicherungsnormen.<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />

12 Literature<br />

[1] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />

Motor Company, General Motors Corp.<br />

Measurement Systems Analysis.<br />

Michigan, 1995.<br />

[2] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />

Motor Company, General Motors Corp.<br />

Quality System Requirements – QS-9000.<br />

3rd edition, 1998.<br />

[3] DGQ Deutsche Gesellschaft<br />

für Qualität e.V.<br />

DGQ Band 13-61: Prümittelmanagement.<br />

Beuth Verlag, Frankfurt, 1998<br />

[4] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />

Statistical Procedures for Machine and<br />

Process Qualification<br />

ASQC Quality Press,<br />

Milwaukee, 1999.<br />

[5] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />

Guidelines for the Evaluation of Measurement<br />

Systems and Processes, Acceptance<br />

of Production Facilities.<br />

Carl Hanser Verlag, München, 1998.<br />

[6] ISO – International Organization for<br />

Standardization<br />

DIN ISO 10012 – Quality Assurance Requirements<br />

for Measuring Equipment.<br />

[7] DIN ISO 14253-1<br />

Geometrical Product Specifications (GPS)<br />

- Inspection by measurement of workpieces<br />

and measuring equipment - Part 1:<br />

Decision rules for proving conformance or<br />

non-conformance with specifications.<br />

1998.<br />

[8] ISO – International Organization for<br />

Standardization<br />

Guide to the Expression of Uncertainty in<br />

Measurement (GUM).<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1999.<br />

[9] ISO – International Organization for<br />

Standardization<br />

DIN EN ISO 9000ff: Quality Management<br />

and Quality Assurance Standards.<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 42 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 42 of 107<br />

[10] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />

Internationales Wörterbuch der Metrologie.<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />

[11] Ford Motor Co.: EU 1880<br />

Richtlinie für die Fähigkeit <strong>von</strong><br />

<strong>Messsystemen</strong> und Messmitteln.<br />

Köln, Oktober 1997.<br />

[12] General Motors Corp.<br />

GMPT Specification MS 1<br />

Abnahme <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>.<br />

Adam Opel AG<br />

Rüsselsheim, Oktober 1998.<br />

[13] Robert Bosch GmbH<br />

Schriftenreihe Qualitätssicherung in der<br />

Bosch-Gruppe Nr. 10.<br />

Technische Statistik, Fähigkeit <strong>von</strong> Messeinrichtungen.<br />

Stuttgart, 1990.<br />

[14] VDA – Verband der Automobilindustrie<br />

VDA Schrift 6 Teil 1, QM-Systemaudit.<br />

4., vollständig überarbeitete Auflage<br />

VDA, Frankfurt 1998.<br />

[15] Volkswagen AG – Audi AG<br />

VW 101 18-2 – Prüfmittelfähigkeit.<br />

Oktober 1998.<br />

[10] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />

International Vocabulary of basic and general<br />

terms in metrology.<br />

Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />

[11] Ford Motor Co.: PTG02-188MT<br />

Guideline for Measurement System and<br />

Equipment Capability.<br />

Köln, October 1997.<br />

[12] General Motors Corp.<br />

GMPT Specification MS 1<br />

Evaluation of Measurement Systems.<br />

GMPT Headquarters<br />

Pontiac, Michigan, October 1998.<br />

[13] Robert Bosch GmbH<br />

Schriftenreihe Qualitätssicherung in der<br />

Bosch-Gruppe Nr. 10.<br />

Technische Statistik, Fähigkeit <strong>von</strong> Messeinrichtungen.<br />

Stuttgart, 1990.<br />

[14] VDA – Verband der Automobilindustrie<br />

VDA Schrift 6 Teil 1, QM-Systemaudit.<br />

3., vollständig überarbeitete Auflage<br />

VDA, Frankfurt 1996.<br />

[15] Volkswagen AG – Audi AG<br />

VW 101 18-2 – Prüfmittelfähigkeit.<br />

October, 1998.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 43 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 43 of 107<br />

13 Anhang<br />

13.1 Abkürzungen<br />

13 Appendix<br />

13.1 Abbreviations<br />

ANOVA (Varianzanalyse) Analysis of Variance ANOVA Analysis of Variance<br />

ARM Mittelwert-Spannweiten-Methode<br />

(Average Range Method)<br />

AV Vergleichpräzision (Reproducibility /<br />

Appraiser Variation)<br />

%AV Vergleichpräzision (Reproducibility /<br />

Appraiser Variation) in % bezogen auf die<br />

Bezugsgröße (RF)<br />

Bi Systematische Messabweichung<br />

= x − x<br />

g<br />

m<br />

%Bi Systematische Messabweichung (Bias) in<br />

% bezogen auf die Bezugsgröße (RF)<br />

Cg<br />

Cgk<br />

Die systematische Messabweichung wird<br />

häufig als Genauigkeit bezeichnet. In der<br />

ISO 10012 ist aber der Begriff “Genauigkeit”<br />

als qualitativer Begriff definiert. Daher<br />

wird in dieser Richtlinie die Differenz zwischen<br />

dem beobachteten Mittelwert x g<br />

und dem “wahren Wert” xm mit systematischer<br />

Messabweichung bezeichnet.<br />

Potential Messsystem (gage potential<br />

index)<br />

Fähigkeitsindex Messsystem (gage<br />

capability index) Verfahren 1<br />

EV Wiederholpräzision (Repeatability – Equipment<br />

Variation) Messsystem<br />

%EV Wiederholpräzision (Repeatability –<br />

Equipment Variation) Messsystem in %<br />

bezogen auf die Bezugsgröße (RF)<br />

ARM Average Range Method<br />

AV Reproducibility / Appraiser Variation<br />

%AV Reproducibility / Appraiser Variation in %<br />

relative to the reference figure RF<br />

Bi Bias = xg − xm<br />

%Bi Bias in % relative to the reference figure<br />

RF<br />

The bias is often termed accuracy. However,<br />

in ISO 10012 the term “Accuracy” is<br />

defined as a qualitative term. For this reason,<br />

the difference between the observed<br />

average x g and the “real value” xm is<br />

termed bias in this guideline.<br />

Cg gage potential index<br />

Cgk gage capability index – Type-1 study<br />

EV Repeatability – Equipment Variation measurement<br />

system<br />

%EV Repeatability – Equipment Variation measurement<br />

system in % relative to the reference<br />

figure RF<br />

k Anzahl der Prüfer (operators) k number of operators<br />

K1, K2<br />

Faktoren, die <strong>von</strong> der Anzahl der Prüfer,<br />

Wiederholungen und Teile abhängt<br />

Li Linearität (Linearity) Li Linearity<br />

K1, K2 Factors depending on the number of operators,<br />

repetitions, and parts<br />

Liun, Liob Linearität für min. bzw. max. Meister Lilo, Liup Linearity for min. or max. master<br />

%Li Linearität (Linearity) in % bezogen auf die<br />

Bezugsgröße (RF)<br />

%Li Linearity in % relative to the reference<br />

figure RF<br />

n Anzahl der Teile (number of parts) n number of parts<br />

OEG Obere Eingriffsgrenze UCL Upper Control Limit<br />

OSG Obere Spezifikationsgrenze USL Upper Specification Limit<br />

r Anzahl der Messwertreihen pro Prüfer r Number of trials per operator<br />

R<br />

R<br />

Mittelwert der mittleren Spannweiten R<br />

mittlere Spannweite<br />

average of the average ranges<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

R<br />

average range


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 44 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 44 of 107<br />

R&R Wiederhol- und Vergleichpräzision,<br />

Repeatability & Reproducibility<br />

%R&R Wiederhol- und Vergleichpräzision<br />

(Repeatability & Reproducibility) in %<br />

bezogen auf die Bezugsgröße (RF)<br />

R&R Repeatability & Reproducibility<br />

%R&R Repeatability & Reproducibility in % relative<br />

to the reference figure (RF)<br />

RE Auflösung (Resolution) des Messsystems RE Resolution of the measurement system<br />

%RE Auflösung (Resolution) des Messsystems<br />

in %<br />

RF Bezugsgröße (Reference Figure), z.B.<br />

Prozeßtoleranz, Prozeßstreuung,<br />

Toleranz, Klassentoleranz<br />

sg<br />

Standardabweichung einer, mit einem<br />

Messsystem am Normal erfaßten,<br />

Messreihe<br />

T Toleranz T tolerance<br />

U Unsicherheit U Uncertainty<br />

%U Unsicherheit in % bezogen auf die<br />

Bezugsgröße (RF)<br />

%RE Resolution of the measurement system<br />

in %<br />

RF Reference Figure, i.e. process tolerance,<br />

process variation, tolerance, class tolerance<br />

sg Standard deviation of a measurement series<br />

collected from the master using a<br />

gage<br />

%U Uncertainty in % relative to the reference<br />

figure RF<br />

UEG Untere Eingriffsgrenze LCL Lower Control Limit<br />

USG Untere Spezifikations Grenze LSL Lower Specification Limit<br />

x Diff<br />

x g<br />

max. Differenz zwischen den Mittelwerten<br />

mehrerer Messwertreihen (<strong>von</strong> x )<br />

Mittelwert einer, mit einem Messsystem<br />

am Normal erfaßten, Messwertreihe<br />

x unterer Mittelwert einer, mit einem Mess-<br />

gu<br />

system am Normal erfaßten,<br />

Messwertreihe<br />

x oberer Mittelwert einer, mit einem Mess-<br />

go<br />

system am Normal erfaßten,<br />

Messwertreihe<br />

x Diff max. difference between the averages of<br />

several measurement series (of x )<br />

x g average value of a measurement series<br />

collected from the master using a gage<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

x gl<br />

lower average value of a measurement series<br />

collected from the master using a<br />

gage<br />

x upper average value of a measurement<br />

gu<br />

series collected from the master using a<br />

gage<br />

xi Einzelwerte einer Messwertreihe xi individual values of a measurement series<br />

xm<br />

Referenzwert (master) (<strong>von</strong> Normal)<br />

entspricht “richtiger” bzw. “wahrer” Wert<br />

xm Reference value (master) equals “true” or<br />

“real” value<br />

xmu, xmo Referenzwert des min. bzw. max. Normals xml, xmu Reference value of the min. or max. master<br />

x-Karte Einzelwertkarte x chart individuals chart


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 45 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 45 of 107<br />

13.2 Formeln<br />

x<br />

s<br />

g<br />

g<br />

1<br />

=<br />

n<br />

=<br />

n<br />

�<br />

i=<br />

1<br />

x<br />

i<br />

1<br />

n − 1<br />

R = x − x<br />

max<br />

Bi = x − x<br />

g<br />

n<br />

�<br />

i=<br />

1<br />

m<br />

min<br />

Bi<br />

% Bi = ⋅100%<br />

T<br />

C<br />

C<br />

g<br />

gk<br />

0,<br />

2 ⋅ T<br />

=<br />

4 ⋅ s<br />

g<br />

0,<br />

1⋅<br />

T − Bi<br />

=<br />

2 ⋅ s<br />

EV = K1<br />

⋅R<br />

EV<br />

% EV = ⋅100%<br />

T<br />

AV = K ⋅<br />

2 xDiff<br />

g<br />

( x − x )<br />

AV<br />

% AV = ⋅100%<br />

T<br />

R & R = EV +<br />

2 2<br />

AV<br />

R & R<br />

% R & R = ⋅100%<br />

RF<br />

i<br />

g<br />

2<br />

13.2 Formulae<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

x<br />

s<br />

g<br />

g<br />

1<br />

=<br />

n<br />

=<br />

n<br />

�<br />

i=<br />

1<br />

x<br />

i<br />

1<br />

n − 1<br />

R = x − x<br />

max<br />

Bi = x − x<br />

g<br />

n<br />

�<br />

i=<br />

1<br />

m<br />

min<br />

Bi<br />

% Bi = ⋅100%<br />

T<br />

C<br />

C<br />

g<br />

gk<br />

0,<br />

2 ⋅ T<br />

=<br />

4 ⋅ s<br />

g<br />

0,<br />

1⋅<br />

T − Bi<br />

=<br />

2 ⋅ s<br />

EV = K1<br />

⋅R<br />

EV<br />

% EV = ⋅100%<br />

T<br />

AV = K ⋅<br />

2 xDiff<br />

g<br />

( x − x )<br />

AV<br />

% AV = ⋅100%<br />

T<br />

R & R = EV +<br />

2 2<br />

AV<br />

R & R<br />

% R & R =<br />

⋅100%<br />

RF<br />

i<br />

g<br />

2


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 46 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 46 of 107<br />

13.3 Formeln zur Berechnung der<br />

Linearität<br />

13.3 Formulae for Linearity<br />

Calculation<br />

k ⋅ No. of measurements per part k ⋅ r<br />

k r 1<br />

i =<br />

k ⋅r<br />

yij<br />

1<br />

y i =<br />

k ⋅r<br />

Anzahl Messungen pro Teil r<br />

Mittelwert der Messwerte Teil i � ⋅<br />

y Average of measurements part i � ⋅ k r<br />

j<br />

Referenzwert Teil i ( x m ) i<br />

Reference value part i ( x m ) i<br />

Abweichung in Teil i Bii = yi<br />

− ( xm<br />

) Deviation part i<br />

i<br />

Bii = yi<br />

− ( xm<br />

) i<br />

1<br />

N<br />

N<br />

Mittelwert der Abweichungen Bi = �Bi<br />

j<br />

Average of deviations Bi = �<br />

N j<br />

N j<br />

1<br />

N<br />

N<br />

Mittelwert der Referenzwerte x m = �(<br />

xm<br />

) j<br />

Average of reference values x m = �(<br />

xm<br />

)<br />

j<br />

N<br />

Summe der Quadrate Refe-<br />

2<br />

Q = ( )<br />

renzwerte x2<br />

� x m j<br />

Quadrat der Summe<br />

Summe der Quadrate Abweichungen<br />

Quadrat der Summe Abweichungen<br />

Vorgehensweise:<br />

Q<br />

Bi<br />

�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

N<br />

j<br />

j<br />

N<br />

�<br />

Bi � j �<br />

�<br />

2<br />

= � Square sum<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

1<br />

1<br />

N<br />

N<br />

j<br />

N<br />

j<br />

Bi<br />

Sum of Reference values<br />

2<br />

Q = ( )<br />

squares x2<br />

� x m j<br />

Q<br />

Bi<br />

j<br />

y<br />

j<br />

ij<br />

� N �<br />

= � Bi �<br />

��<br />

j �<br />

� j �<br />

2<br />

Q Bi2<br />

= �Bij<br />

Sum of squares deviations Q Bi2<br />

= �<br />

Q<br />

�<br />

j<br />

�<br />

N<br />

2<br />

Bi = � Bi �<br />

��<br />

j<br />

Square sum deviations<br />

�<br />

j<br />

Man berechnet die Regressionsgerade aus<br />

Messfehler gegen die bekannten Werte y=ax+b<br />

für die Punkte<br />

( ( ) , Bi ) , i = 1�N<br />

xm i i<br />

Die Parameter a und b ergeben sich aus<br />

a<br />

N<br />

�(<br />

( xm<br />

) i−<br />

xm<br />

)( Bi i−<br />

Bi)<br />

i = N<br />

b = Bi − a ⋅ x<br />

�(<br />

( xm<br />

) i−<br />

xm<br />

)<br />

i<br />

m<br />

2<br />

Der Korrelationskoeffizient R 2 berechnet sich<br />

aus<br />

R<br />

2<br />

�<br />

�<br />

=<br />

�<br />

N<br />

� ( ( xm<br />

) i Bi i )<br />

i<br />

1<br />

1<br />

( Q − Q ) ( Q − Q )<br />

x2<br />

N<br />

xm<br />

− N ⋅ x<br />

Bi2<br />

m<br />

N<br />

.<br />

�<br />

⋅Bi�<br />

�<br />

Zwei Bedingungen müssen für eine sinnvolle<br />

Linearitätsuntersuchung eingehalten werden:<br />

Bi<br />

2<br />

�<br />

�<br />

Procedure:<br />

Q<br />

Bi<br />

N<br />

j<br />

Bi<br />

2<br />

2<br />

j<br />

� N �<br />

= � Bi �<br />

��<br />

j �<br />

� j �<br />

The regression plot of measurement error versus<br />

the known values y=ax+b is calculated for<br />

the points<br />

( ( ) , Bi ) , i = 1�N<br />

xm i i<br />

Parameters a and b result from<br />

a<br />

N<br />

�(<br />

( xm<br />

) i−<br />

xm<br />

)( Bi i−<br />

Bi)<br />

i = N<br />

b = Bi − a ⋅ x<br />

�(<br />

( xm<br />

) i−<br />

xm<br />

)<br />

i<br />

m<br />

2<br />

The correlation coefficient R 2 results from<br />

R<br />

2<br />

�<br />

�<br />

=<br />

�<br />

N<br />

� ( ( x m ) i Bi i )<br />

i<br />

1<br />

1<br />

( Q − Q ) ( Q − Q )<br />

x2<br />

N<br />

xm<br />

− N ⋅ x<br />

Bi2<br />

m<br />

N<br />

.<br />

�<br />

⋅Bi�<br />

�<br />

In order for a sensible linearity study to be<br />

made, two conditions must be met:<br />

Bi<br />

2<br />

j<br />

2


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 47 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 47 of 107<br />

1. Die Streuung <strong>von</strong> N Stichproben muss ≥<br />

50% RF sein.<br />

2. Der Korrelationskoeffizient R 2 muss ≥ 0.95<br />

sein.<br />

Falls diese beiden Bedingungen erfüllt werden,<br />

kann anhand der Steigung der Regressionsgeraden<br />

(a) auf die Linearität geschlossen werden.<br />

Die dazu herangezogenen Kenngrößen berechnen<br />

sich aus:<br />

Li = a ⋅ RF<br />

%Li = 100 ⋅ a%<br />

Das Ergebnis ist die Kenngröße %Li, die zur<br />

Beurteilung der Linearität herangezogen wird.<br />

1. Variation of N samples must be ≥ 50% RF.<br />

2. Correlation coefficient R 2 must be ≥ 0.95.<br />

If both these conditions are met, conclusions<br />

may be drawn on the linearity using the slope of<br />

the regression plot (a).<br />

The values used for this purpose are:<br />

Li = a ⋅ RF<br />

%Li = 100 ⋅ a%<br />

The result is the calculated value %Li which is<br />

used for linearity evaluation.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 48 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 48 of 107<br />

13.4 ANOVA<br />

13.4.1 ANOVA für Verfahren 2<br />

P Prüfer messen mit einem Messmittel T Teile<br />

jeweils mit W Wiederholungen.<br />

Es wird da<strong>von</strong> ausgegangen, dass sich jeder<br />

Messwert additiv zusammensetzt aus dem Gesamtmittelwert<br />

der Messwerte, dem Einfluss<br />

<strong>von</strong> Prüfer, dem Einfluss des Teils, dem Einfluss<br />

des Zusammentreffens <strong>von</strong> Prüfer und Teil<br />

(Wechselwirkungseinfluss) sowie der Restabweichung<br />

(Einfluss des Messmittels), also<br />

Messwert <strong>von</strong> Prüfer an Teil in Wiederholung =<br />

Gesamtmittelwert + Einfluss vom Prüfer<br />

+ Einfluss vom Teil<br />

+ Einfluss <strong>von</strong> (Prüfer misst Teil)<br />

+ Restabweichung.<br />

Um die Einflüsse getrennt beurteilen zu können,<br />

zerlegt man zunächst die Summe der quadratischen<br />

Abweichungen über alle Messwerte in<br />

Teilsummen und berechnet daraus dann die<br />

Varianzen.<br />

Zur Berechnung:<br />

Der Mittelwert <strong>von</strong> „Prüfer p misst Teil t“ über die Wiederholungen<br />

: Xpt•<br />

Der Mittelwert über die Messwerte <strong>von</strong> Prüfer p : Xp••<br />

Der Mittelwert über die Messwerte <strong>von</strong> Teil t : X•t•<br />

Der Gesamtmittelwert : X•••<br />

Summe der quadratischen Abweichungen zwischen<br />

den p Prüfern:<br />

ΣP := tw [( X1•• - X••• ) 2 + ( X2•• - X••• ) 2 + ( X3•• -<br />

X••• ) 2 . . . ( Xp•• - X••• ) 2 ]<br />

mit Freiheitsgrad f IV := p - 1;<br />

Summe der quadratischen Abweichungen zwischen<br />

den t Teilen:<br />

ΣT := pw [( X•1• - X••• ) 2 + ( X•2• - X••• ) 2 + ( X•3•<br />

- X••• ) 2 . . . ( X•t• - X••• ) 2 ]<br />

mit Freiheitsgrad f III := t - 1;<br />

Summe der quadratischen Abweichungen durch die<br />

Wechselwirkung (p misst t):<br />

� i=<br />

1..<br />

p j=<br />

1..<br />

t<br />

ΣPT :=w �<br />

mit Freiheitsgrad f II := (p - 1)( t - 1);<br />

( X i j• - X i•• - X• j• - X••• ) 2<br />

13.4 ANOVA<br />

13.4.1 ANOVA for Type-2 study<br />

P operators use a gage to measure T parts with<br />

W repetitions each.<br />

It is assumed that every measurement value is<br />

composed from the total average of the measurement<br />

values, operator influence, part influence,<br />

the influence of interactions between operator<br />

and part, as well as residual deviation<br />

(gage influence), i.e.<br />

measurement value by operator on part in repetition =<br />

Total average + Operator influence<br />

+ Part influence<br />

+ Influence of (operator measures part)<br />

+ Residual deviation.<br />

In order to be able to evaluate the influences<br />

separately, first of all the sum of the square deviations<br />

over all measurement values is divided<br />

into partial sums and from these the variances<br />

are calculated.<br />

For calculation:<br />

The average of „Operator p measures part t“ over the<br />

repetitions : Xpt•<br />

Average over the measurements of operator p : Xp••<br />

Average over the measurements of part t : X•t•<br />

The total average : X•••<br />

Sum of square deviations between the p operators:<br />

ΣP := tw [( X1•• - X••• ) 2 + ( X2•• - X••• ) 2 + ( X3•• -<br />

X••• ) 2 . . . ( Xp•• - X••• ) 2 ]<br />

with degree of freedom f IV := p - 1;<br />

Sum of square deviations between the t parts:<br />

ΣT := pw [( X•1• - X••• ) 2 + ( X•2• - X••• ) 2 + ( X•3•<br />

- X••• ) 2 . . . ( X•t• - X••• ) 2 ]<br />

with degree of freedom f III := t - 1;<br />

Sum of square deviations through interaction (p<br />

measures t):<br />

� i=<br />

1..<br />

p j=<br />

1..<br />

t<br />

ΣPT :=w �<br />

( X i j• - X i•• - X• j• - X••• ) 2<br />

with degree of freedom f II := (p - 1)( t - 1);<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 49 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 49 of 107<br />

Summe der quadratischen Abweichungen innerhalb<br />

der Wiederholungen <strong>von</strong> Prüfer p misst Teil t:<br />

ΣE := � � ( X i j k - X i j• ) 2<br />

� i=<br />

1..<br />

p j=<br />

1..<br />

t k=<br />

1..<br />

w<br />

mit Freiheitsgrad f I := pt (w - 1);<br />

Die Summe der quadratischen Abweichungen über<br />

alle Messwerte ist dann ΣP + ΣT + ΣPT + ΣE.<br />

Für die Messmittelanalyse werden folgende Varianzen<br />

berechnet:<br />

Hierbei wird unterschieden, ob der Einfluss der<br />

Wechselwirkung signifikant ist oder nicht. ( F-Test,<br />

Prüfwert s²PT/ s²E, krit. Wert FfII, fI,1 - α ).<br />

Die Varianzen berechnen sich entsprechend aus<br />

Quotient aus der Summe der quadratischen Abweichungen<br />

durch den entsprechenden Freiheitsgrad:<br />

Varianz Prüfereinfluss s²P := ΣP / f IV<br />

Varianz Teileeinfluss s²T := ΣT / f III<br />

Bei signifikanter Wechselwirkung<br />

Varianz Wechselwirkung s²PT := ΣPT / f II<br />

Varianz Messmitteleinfluss s²E := ΣE / f I .<br />

Bei nicht signifikanter Wechselwirkung<br />

Varianz ADDWechselw/Messm.<br />

s²add := (ΣE+ΣPT ) / ( f I + f II ) .<br />

1. Wechselwirkungseinfluss signifikant:<br />

Die Vertrauensbereiche <strong>zum</strong> Niveau 1-α berechnen<br />

sich hier aus<br />

2<br />

s � E �<br />

s<br />

w �<br />

�F<br />

2<br />

PT<br />

χ<br />

f<br />

I<br />

2<br />

fI,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

/ s<br />

2<br />

E<br />

fII,<br />

fI,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2 2<br />

s � PT �<br />

sP<br />

/ s<br />

tw �<br />

� F<br />

2<br />

s � PT �<br />

s<br />

pw �<br />

�F<br />

2<br />

PT<br />

fIII,<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

PT<br />

fIV,<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

s<br />

2<br />

E<br />

≤ σ<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

2<br />

E<br />

2<br />

PT<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

2<br />

P<br />

2<br />

T<br />

≤<br />

χ<br />

f<br />

I<br />

2<br />

fI,<br />

α / 2<br />

2<br />

s � E<br />

≤ �<br />

s<br />

w �<br />

� F<br />

s<br />

2<br />

PT<br />

2<br />

s � PT<br />

≤ �<br />

s<br />

tw �<br />

� F<br />

2<br />

s � PT<br />

≤ �<br />

s<br />

pw �<br />

�F<br />

2<br />

E<br />

/ s<br />

2<br />

E<br />

fII,<br />

fI,<br />

α / 2<br />

2<br />

P<br />

/ s<br />

2<br />

PT<br />

fIII,<br />

fII,<br />

α / 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

PT<br />

fIV,<br />

fII,<br />

α / 2<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

1 � f<br />

�<br />

� III 2<br />

2<br />

2 �<br />

�<br />

sP<br />

+ t(<br />

w − 1)<br />

sE<br />

+ ( t − 1)<br />

s<br />

2<br />

PT<br />

tw<br />

�<br />

� χ fIII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

�<br />

�<br />

�<br />

2 2 2 1 f 2<br />

2<br />

2<br />

≤ + + ≤ � III<br />

σ<br />

�<br />

P σ T σ PT �<br />

sP<br />

+ t(<br />

w − 1)<br />

sE<br />

+ ( t − 1)<br />

s<br />

2<br />

PT<br />

tw<br />

�<br />

� χ fIII,<br />

α / 2<br />

�<br />

Sum of square deviations within repetitions of operator<br />

p measures part t:<br />

ΣE := � �<br />

� i=<br />

1..<br />

p j=<br />

1..<br />

t k=<br />

1..<br />

w<br />

with degree of freedom f I := pt (w - 1);<br />

( X i j k - X i j• ) 2<br />

The sum of square deviations over all measurement<br />

values is thus ΣP + ΣT + ΣPT + ΣE.<br />

The following variances are calculated for measurement<br />

system analysis:<br />

Here it is differentiated whether the influence of the<br />

interaction is significant or not.<br />

( F test, test value s²PT/ s²E, crit. value FfII, fI,1 - α ).<br />

The variances are calculated accordingly from the<br />

quotient of the sum of square deviations divided by<br />

the corresponding degree of freedom:<br />

Variance operator influence s²P := ΣP / f IV<br />

Variance part influence s²T := ΣT / f III<br />

In case of significant interaction<br />

Variance interaction s²PT := ΣPT / f II<br />

Variance gage influence s²E := ΣE / f I .<br />

In case of not significant interaction<br />

Variance ADDinteraction/gage<br />

s²add := (ΣE+ΣPT ) / ( f I + f II ) .<br />

1. Significant interaction influence:<br />

Confidence intervals for level 1-α are calculated<br />

from<br />

fI<br />

2 2 fI<br />

2<br />

s<br />

2 E ≤ σE<br />

≤ s 2 E<br />

χ<br />

χ<br />

2<br />

s � E �<br />

s<br />

w �<br />

�F<br />

fI,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

fII,<br />

fI,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

2<br />

PT<br />

2<br />

s � PT �<br />

s<br />

tw �<br />

�F<br />

2<br />

s � PT �<br />

s<br />

pw �<br />

�F<br />

2<br />

P<br />

/ s<br />

/ s<br />

2<br />

E<br />

2<br />

PT<br />

fIII,<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

PT<br />

fIV,<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2<br />

PT<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

2<br />

P<br />

2<br />

T<br />

fI,<br />

α / 2<br />

2<br />

s � E<br />

≤ �<br />

s<br />

w �<br />

� F<br />

2<br />

PT<br />

/ s<br />

2<br />

E<br />

fII,<br />

fI,<br />

α / 2<br />

2 2<br />

s � PT<br />

≤ �<br />

sP<br />

/ s<br />

tw �<br />

�F<br />

2<br />

s � PT<br />

≤ �<br />

s<br />

pw �<br />

�F<br />

2<br />

PT<br />

fIII,<br />

fII,<br />

α / 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

PT<br />

fIV,<br />

fII,<br />

α / 2<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

1 � f<br />

�<br />

� III 2<br />

2<br />

2 �<br />

�<br />

sP<br />

+ t(<br />

w − 1)<br />

sE<br />

+ ( t − 1)<br />

s<br />

2<br />

PT<br />

tw<br />

�<br />

� χ<br />

fIII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

�<br />

�<br />

�<br />

2 2 2 1 f 2<br />

2<br />

2<br />

≤ + + ≤ � III<br />

σ<br />

�<br />

P σ T σ PT �<br />

sP<br />

+ t(<br />

w − 1)<br />

sE<br />

+ ( t − 1)<br />

s<br />

2<br />

PT<br />

tw<br />

�<br />

� χ fIII,<br />

α / 2<br />


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 50 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 50 of 107<br />

Mit Hilfe der Kenngrößen<br />

Messmittel : VE := s²E<br />

Wechselwirkung (Prüfer misst Teil):<br />

VW := (s²PT - s²E)/ w<br />

Prüfer : VP := (s²P - s²PT)/ tw<br />

Teil : VT := (s²T - s²PT)/ pw<br />

kann auf den Einfluss der einzelnen Komponenten<br />

geschlossen werden (das Produkt 5.15 * s entspricht<br />

einem Anteil <strong>von</strong> 99% der Werte bei normalverteilter<br />

Grundgesamtheit):<br />

EV (Streuung des Messmittels) : 5.15 VE<br />

AV (Streuung des Prüfers) : 5.15 VP<br />

IA (Streuung der Wechselwirkung) : 5.15 VW<br />

PV (Streuung des Teils)<br />

R&R<br />

: 5.15 VT<br />

(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV² + IA²<br />

2. Wechselwirkungseinfluss nicht signifikant:<br />

Die Vertrauensbereiche <strong>zum</strong> Niveau 1-α berechnen<br />

sich hier aus<br />

2<br />

s<br />

tw<br />

add<br />

χ<br />

f + f<br />

I II<br />

2<br />

fI+<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2 �<br />

�<br />

sP<br />

/ s<br />

�<br />

� FfIII,<br />

2<br />

s � add �<br />

s<br />

pw �<br />

�F<br />

1<br />

tw<br />

� f<br />

�<br />

� 2<br />

� χ fIII,<br />

2<br />

add<br />

fI+<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

add<br />

s<br />

fIV,<br />

fI+<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2 2<br />

≤ σ + σ ≤<br />

P<br />

III<br />

T<br />

s<br />

2<br />

P<br />

1<br />

tw<br />

2<br />

add<br />

≤ σ<br />

�<br />

− 1�<br />

�<br />

≤ σ<br />

�<br />

2<br />

add<br />

2<br />

P<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

+ ( tw − 1)<br />

s<br />

� f<br />

�<br />

� 2<br />

� χ fIII,<br />

III<br />

1−α<br />

/ 2<br />

Mit Hilfe der Kenngrößen<br />

2<br />

T<br />

2<br />

P<br />

f + f<br />

≤<br />

χ<br />

I II<br />

2<br />

fI+<br />

fII,<br />

α / 2<br />

2<br />

s � add<br />

≤ �<br />

s<br />

tw �<br />

� F<br />

2<br />

add<br />

s<br />

2<br />

P<br />

2<br />

s � add<br />

≤ �<br />

s<br />

pw �<br />

�F<br />

�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

s<br />

2<br />

add<br />

/ s<br />

2<br />

add<br />

fIII,<br />

fI+<br />

fII,<br />

α / 2<br />

2<br />

T<br />

+ ( tw − 1)<br />

s<br />

/ s<br />

2<br />

add<br />

fIV,<br />

fIfII,<br />

α / 2<br />

2<br />

add<br />

Messmittel : VE := s²add<br />

Prüfer : VP := (s²P - s²add)/ tw<br />

Teil : VT := (s²T - s²add)/ pw<br />

�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

− 1�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

kann auf den Einfluss der einzelnen Komponenten<br />

geschlossen werden (das Produkt 5.15 * s entspricht<br />

einem Anteil <strong>von</strong> 99% der Werte bei normalverteilter<br />

Grundgesamtheit):<br />

EV (Streuung des Messmittels) : 5.15 VE<br />

AV (Streuung des Prüfers) : 5.15 VP<br />

Using the calculated values<br />

Gage : VE := s²E<br />

Interaction (operator measures part):<br />

VW := (s²PT - s²E)/ w<br />

Operator : VP := (s²P - s²PT)/ tw<br />

Part : VT := (s²T - s²PT)/ pw<br />

it is possible to draw conclusions on the influence of<br />

the individual components (the product 5.15 * s<br />

equals a proportion of 99% of the values in case of a<br />

normally distributed population):<br />

EV (Equipment Variation) : 5.15 VE<br />

AV (Appraiser Variation) : 5.15 VP<br />

IA (Interaction) : 5.15 VW<br />

PV (Part Variation)<br />

R&R<br />

: 5.15 VT<br />

(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV² + IA²<br />

2. Non significant interaction influence:<br />

The confidence intervals for level 1-α are calculated<br />

from<br />

f + f<br />

I II<br />

2<br />

fI+<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

I II<br />

2<br />

fI+<br />

fII,<br />

α / 2<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

2<br />

s<br />

tw<br />

add<br />

χ<br />

2 � s<br />

� P / s<br />

�<br />

� FfIII,<br />

2<br />

s � add s<br />

�<br />

pw �<br />

�F<br />

2<br />

add<br />

fI+<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

add<br />

s<br />

fIV,<br />

fI+<br />

fII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

2<br />

add<br />

≤ σ<br />

�<br />

− 1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

2<br />

add<br />

2<br />

P<br />

�<br />

−1�<br />

≤ σ<br />

�<br />

�<br />

2<br />

T<br />

1 � f<br />

� III 2<br />

�<br />

sP<br />

+ ( tw − 1)<br />

s<br />

2<br />

tw � χ fIII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

�<br />

2 2 1 f<br />

≤ + ≤ � III<br />

σ P σ T �<br />

s<br />

2<br />

tw � χ fIII,<br />

1−α<br />

/ 2<br />

Using the calculated values<br />

f + f<br />

≤<br />

χ<br />

2<br />

s � add s<br />

≤ �<br />

tw �<br />

� F<br />

2<br />

P<br />

2<br />

s � add s<br />

≤ �<br />

pw �<br />

�F<br />

2<br />

add<br />

2<br />

P<br />

�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

s<br />

/ s<br />

2<br />

add<br />

2<br />

add<br />

fIII,<br />

fI+<br />

fII,<br />

α / 2<br />

2<br />

T<br />

/ s<br />

2<br />

add<br />

fIV,<br />

fIfII,<br />

α / 2<br />

+ ( tw − 1)<br />

s<br />

2<br />

add<br />

Gage : VE := s²add<br />

Operator : VP := (s²P - s²add)/ tw<br />

Part : VT := (s²T - s²add)/ pw<br />

�<br />

− 1�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

−1�<br />

�<br />

�<br />

it is possible to draw conclusions on the influence of<br />

the individual components (the product 5.15 * s<br />

equals a proportion of 99% of the values in case of a<br />

normally distributed population):<br />

EV (Equipment Variation) : 5.15 VE<br />

AV (Appraiser Variation) : 5.15 VP<br />

PV (Part Variation) : 5.15 VT<br />

�<br />

�<br />

�<br />


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 51 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 51 of 107<br />

PV (Streuung des Teils) : 5.15 VT<br />

R&R<br />

(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV²<br />

R&R<br />

(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV²<br />

Fallbeispiel: Example:<br />

Prüfer / Operator 1 Prüfer / Operator 2<br />

Wdh./Rep. 1 Wdh./Rep. 2 Wdh./Rep. 1 Wdh./Rep. 2<br />

Teil/Part 1 2 1 1 1<br />

Teil/Part 2 1 1 1 2<br />

Teil/Part 3 2 1 1 1<br />

Teil/Part 4 3 2 1 2<br />

Teil/Part 5 1 3 1 1<br />

Um die einzelnen Mittelwerte, Summen der<br />

quadratischen Abweichungen und Varianzen zu<br />

berechnen, verwendet man bei Handrechnung<br />

die ANOVA- Zerlegungstafel:<br />

For manual calculation of the individual averages,<br />

sums of square deviations and variances<br />

the ANOVA table is used:<br />

Prüfer/Operator 1 Prüfer/Operator 2 � � (�)² �()²<br />

W1+W2 W1²+W2² W1+W2 W1²+W2²<br />

T1 3 2 a1=5 c1=25 e1=13<br />

T1 5 2 b1=7<br />

T2 2 3 a2=5 c2=25 e2=13<br />

T2 2 5 b2=7<br />

T3 3 2 a3=5 c3=25 e3=13<br />

T3 5 2 b3=7<br />

T4 5 3 a4=8 c4=64 e4=34<br />

T4 13 5 b4=18<br />

T5 4 2 a5=6 c5=36 e5=20<br />

T5 10 2 b5=12<br />

� A1=17 A2=12 A=29 C=175<br />

� B1=35 B2=16 B=51<br />

(�)² D1=289 D2=144 D=433<br />

�()² E1=63 E2=30 E=93<br />

Daraus ergeben sich folgende Kenngrößen:<br />

Xpt• = Summe W1+W2 <strong>von</strong> Prüfer p, Teil t dividiert<br />

durch Anzahl Wdh.:<br />

X11• = 3/2 = 1.5 X12• = 2/2 = 1<br />

X14• = 5/2 = 2.5<br />

X21• = 2/2 = 1 X22• = 3/2 = 1.5<br />

X24• = 3/2 = 1.5<br />

Xp•• = Ap dividiert durch Teile *Wdh.:<br />

X1•• = 17/10 = 1.7 X2•• = 12/10 = 1.2<br />

X•t• = at dividiert durch Prüfer *Wdh.:<br />

X•1• = 5/4 = 1.25 X•2• = 5/4 = 1.25<br />

X•4• = 8/4 = 2<br />

X••• = A dividiert durch Prüfer*Teile *Wdh.<br />

= 29/20 =1.45.<br />

ΣP = D/(tw) - A²/(ptw)<br />

This results in the following statistics:<br />

Xpt• = Sum W1+W2 of operator p, part t divided<br />

by no. of repetitions:<br />

X11• = 3/2 = 1.5 X12• = 2/2 = 1<br />

X14• = 5/2 = 2.5<br />

X21• = 2/2 = 1 X22• = 3/2 = 1.5<br />

X24• = 3/2 = 1.5<br />

Xp•• = Ap divided by parts *rep.:<br />

X1•• = 17/10 = 1.7 X2•• = 12/10 = 1.2<br />

X•t• = at divided by operator *rep.:<br />

X•1• = 5/4 = 1.25 X•2• = 5/4 = 1.25<br />

X•4• = 8/4 = 2<br />

X••• = A divided by operator *parts *rep.<br />

= 29/20 =1.45.<br />

ΣP = D/(tw) - A²/(ptw)<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 52 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 52 of 107<br />

= 433/10 - 841/20<br />

= 1.25<br />

s²P = 1.25 / 1 = 1.25<br />

ΣT = C/(pw) - A²/(ptw)<br />

= 175/4 - 841/20<br />

= 1.7<br />

s²T = 1.7 / 4 = 0.425<br />

ΣPT = E/w - C/(pw) - D/(tw)+ A²/(ptw)<br />

= 93/2 -175/4 - 433/10 + 841/20<br />

= 1.5<br />

s²PT = 1.5 / 4 = 0.375<br />

ΣE = B - E/w<br />

= 51 - 93/2<br />

= 4.5<br />

s²E = 4.5 / 10 = 0.45<br />

Prüfwert F-Test: s²PT/ s²E = 0.375 / 0.45 =<br />

0.8334 < 3.48 = F10,4,1-95%<br />

damit ist die Wechselwirkung nicht signifikant, d.h.<br />

s²add = (ΣE+ΣPT ) / ptw-p-t+1<br />

= 6 / 14 = 0.4285<br />

Messmittel : VE = 0.429<br />

Prüfer : VP = 0.0821<br />

Teil : VT = 0 (da < 0)<br />

EV (Streuung des Messmittels):<br />

5.15 VE = 3.373,<br />

AV (Streuung des Prüfers):<br />

5.15 VP = 1.476,<br />

PV (Streuung des Teils):<br />

5.15 VT = 0<br />

R&R EV² + AV² = 3.682.<br />

Das Ergebnis R&R ist ins Verhältnis zu einer vorgegebenen<br />

Referenzgröße (RF) zu setzen:<br />

R & R<br />

% R & R = ⋅100%<br />

RF<br />

Dieses Ergebnis ist mit den festgelegten Annahmekriterien<br />

zu vergleichen.<br />

= 433/10 - 841/20<br />

= 1.25<br />

s²P = 1.25 / 1 = 1.25<br />

ΣT = C/(pw) - A²/(ptw)<br />

= 175/4 - 841/20<br />

= 1.7<br />

s²T = 1.7 / 4 = 0.425<br />

ΣPT = E/w - C/(pw) - D/(tw)+ A²/(ptw)<br />

= 93/2 -175/4 - 433/10 + 841/20<br />

= 1.5<br />

s²PT = 1.5 / 4 = 0.375<br />

ΣE = B - E/w<br />

= 51 - 93/2<br />

= 4.5<br />

s²E = 4.5 / 10 = 0.45<br />

Test value F test: s²PT/ s²E = 0.375 / 0.45 =<br />

0.8334 < 3.48 = F10,4,1-95%<br />

thus interaction is not significant, i.e.<br />

s²add = (ΣE+ΣPT ) / ptw-p-t+1<br />

= 6 / 14 = 0.4285<br />

Gage : VE = 0.429<br />

Operator : VP = 0.0821<br />

Part : VT = 0 (da < 0)<br />

EV (Equipment Variation):<br />

5.15 VE = 3.373,<br />

AV (Appraiser Variation):<br />

5.15 VP = 1.476,<br />

PV (Part Variation):<br />

5.15 VT = 0<br />

R&R EV² + AV² = 3.682.<br />

The result R&R must be put into relation to a given<br />

reference figure (RF):<br />

R & R<br />

% R & R = ⋅100%<br />

RF<br />

This result is to be compared to the stipulated<br />

acceptance criteria.<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 53 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 53 of 107<br />

13.4.2 ANOVA für Verfahren 3<br />

Zur Beurteilung eines automatischen Messsystems<br />

bietet sich das Modell der balancierten<br />

einfachen Varianzanalyse mit Zufallskomponenten<br />

an. Es wird da<strong>von</strong> ausgegangen, dass sich<br />

jeder Messwert aus: „Gesamtmittelwert + Einfluss<br />

des Teils + Einfluss des Messmittels“ zusammensetzt.<br />

Um nur den Einfluss des Messmittels<br />

beurteilen zu können, ist durch geeignete<br />

Maßnahmen der Teileeinfluss gering zu halten.<br />

Dies kann beispielsweise durch die Markierung<br />

der Messstellen geschehen.<br />

Die Summe der quadratischen Abweichungen<br />

der Wiederholungen (= Messungen pro Teil):<br />

�<br />

n<br />

k<br />

E = ��<br />

i=<br />

1 j=<br />

1<br />

( ) 2<br />

X − X<br />

ij<br />

i•<br />

mit X i•<br />

= Mittelwert der Messungen pro Teil<br />

i = 1, 2, ..., n = Anzahl Teile<br />

j = 1, 2, ..., k = Anzahl Messungen pro Teil<br />

Daraus errechnet sich:<br />

Streuung des Messmittels<br />

1<br />

s = �E<br />

f<br />

2<br />

E<br />

mit Freiheitsgrad f = n ⋅ ( k − 1)<br />

EV = 5, 15 ⋅ sE<br />

für Vertrauensniveau 99%<br />

Für die Berechnung der Gesamtstreuung des<br />

Messsystems %R&R wird EV ins Verhältnis zu<br />

einer vorgegebenen Toleranz gesetzt:<br />

EV<br />

% R & R = % EV = ⋅100%<br />

T<br />

Dieser Kennwert ist mit den festgelegten Annahmekriterien<br />

zu vergleichen. Typische Referenzgrößen<br />

sind die Toleranz, die sechsfache<br />

Prozessstreuung oder die Teilestreuung (= die<br />

Streuung zwischen den verschiedenen Teilen,<br />

PV = Part Variation). Diese kann aus der quadratischen<br />

Abweichung zwischen den Teilen bestimmt<br />

werden:<br />

�<br />

T = k<br />

n<br />

� ( x i•<br />

− x ••<br />

)<br />

i=<br />

1<br />

mit i = 1, 2, ..., n = Anzahl Teile<br />

2<br />

13.4.2 ANOVA for Type-3 Study<br />

For the evaluation of an automatic measurement<br />

system, the model of the balanced simple<br />

analysis of variance with random components is<br />

available. It is assumed that every measurement<br />

value is composed of: “overall average +<br />

part influence + gage influence”. In order to<br />

evaluate gage influence only, part influence<br />

must be kept low by means of appropriate<br />

measures. This may be realized by marking of<br />

the measurement positions.<br />

The sum of the squared deviations of the repetitions<br />

(= measurements per part):<br />

( ) 2<br />

X − X<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

�<br />

n<br />

k<br />

E = ��<br />

i=<br />

1 j=<br />

1<br />

ij<br />

i•<br />

where X i•<br />

= average of measurements per part<br />

i = 1, 2, ..., n = number of parts<br />

j = 1, 2, ..., k = no. of measurements per part<br />

This is used for calculating:<br />

Gage Variation<br />

1<br />

s = �E<br />

f<br />

2<br />

E<br />

with degrees of freedom f = n ( k − 1)<br />

⋅ .<br />

EV = 5, 15 ⋅ sE<br />

for 99% confidence level<br />

For calculation of the total gage variation<br />

%R&R, EV is viewed relative to a given reference<br />

figure (RF):<br />

EV<br />

% R & R = % EV = ⋅100%<br />

RF<br />

This calculated value must be compared to the<br />

stipulated acceptance criteria. Typical reference<br />

figures are tolerance, 6* process variation, or<br />

part variation (= the variation between the different<br />

parts, PV = Part Variation). This may be<br />

determined from the squared deviation between<br />

the parts:<br />

�<br />

T = k<br />

n<br />

� ( x i•<br />

− x ••<br />

)<br />

i=<br />

1<br />

where i = 1, 2, ..., n = number of parts<br />

2


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 54 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 54 of 107<br />

k = Anzahl Messungen pro Teil<br />

x ••<br />

= Gesamtmittelwert<br />

�<br />

2 ( E )<br />

= und<br />

2<br />

s T<br />

T<br />

fT<br />

VT =<br />

2<br />

s T − s<br />

k<br />

mit Freiheitsgrad = n − 1<br />

f T<br />

PV = 5,<br />

15 ⋅ VT für Vertrauensniveau 99%<br />

Falls keine signifikante Teilestreuung vorhanden<br />

ist, kann VT < 0 sein. In diesem Fall darf<br />

die Teilestreuung nicht als Referenzgröße herangezogen<br />

werden.<br />

Fallbeispiel:<br />

Zehn Teile werden zweimal gemessen. Die<br />

Merkmalstoleranz T ist 0,06 mm.<br />

k = number of measurements per part<br />

x ••<br />

= total average<br />

�<br />

( )<br />

= and<br />

2<br />

s T<br />

T<br />

fT<br />

VT =<br />

2 2<br />

s T − sE<br />

k<br />

with degrees of freedom = n − 1<br />

PV = 5,<br />

15 ⋅ VT for 99% confidence level<br />

If no significant part variation exists then VT < 0<br />

is possible. In this case, part variation must not<br />

be used as reference figure.<br />

Example:<br />

Ten parts are measured twice. The characteristic’s<br />

tolerance T is 0.06 mm.<br />

i x1i x2i xi. (x1i-xi•)² (x2i-xi•)² E T<br />

1 6,029 6,030 6,0295 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00065536<br />

2 6,019 6,020 6,0195 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00024336<br />

3 6,004 6,003 6,0035 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00000016<br />

4 5,982 5,982 5,9820 0,00000000 0,00000000 0,0000000 0,00047961<br />

5 6,009 6,009 6,0090 0,00000000 0,00000000 0,0000000 0,00002601<br />

6 5,971 5,972 5,9715 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00104976<br />

7 5,995 5,997 5,9960 0,00000100 0,00000100 0,0000020 0,00006241<br />

8 6,014 6,018 6,0160 0,00000400 0,00000400 0,0000080 0,00014641<br />

9 5,985 5,987 5,9860 0,00000100 0,00000100 0,0000020 0,00032041<br />

10 6,024 6,028 6,0260 0,00000400 0,00000400 0,0000080 0,00048841<br />

x•• = 6,0039 ΣE = 0,0000220 ΣT = 0,00347190<br />

für die Streuung des Messsystems<br />

s 2<br />

E<br />

0,<br />

000022<br />

= = 0,0000022<br />

10<br />

( 2 − 1)<br />

EV = 5,<br />

15 ⋅ 0,<br />

0000022 = 0,00763<br />

für Vertrauensniveau 99%<br />

0,<br />

00763<br />

% R & R = % EV = ⋅100%<br />

= 12,<br />

73%<br />

0,<br />

06<br />

for Measurement System Variation<br />

( 2 − 1)<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

s 2<br />

E<br />

f T<br />

0.<br />

000022<br />

= = 0.0000022<br />

10<br />

EV = 5.<br />

15 ⋅ 0.<br />

0000022 = 0.00763<br />

for 99% confidence level<br />

0.<br />

00763<br />

% R & R =<br />

% EV = ⋅100%<br />

=<br />

0.<br />

06<br />

12.<br />

73%


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 55 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 55 of 107<br />

für die Streuung zwischen den Teilen<br />

0,<br />

0034719<br />

s<br />

9<br />

2<br />

T = = 0,000386<br />

( 0,<br />

000386 − 0,<br />

000022)<br />

VT = = 0,0001819<br />

2<br />

PV = 5,<br />

15 ⋅ 0,<br />

0001819 = 0,069<br />

für Vertrauensniveau 99%<br />

for Variation between the parts<br />

0,<br />

0034719<br />

T = = 0,000386<br />

9<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

s 2<br />

( 0,<br />

000386 − 0,<br />

000022)<br />

VT = = 0,0001819<br />

2<br />

PV = 5.<br />

15 ⋅ 0,<br />

0001819 = 0,069<br />

for 99% confidence level


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 56 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 56 of 107<br />

13.5 Faktoren<br />

Tabelle mit d2* Werten für K Faktoren<br />

Anzahl Stichproben: k · n<br />

Anzahl Prüfer (k) * Anzahl Teile (n)<br />

13.5 Table of Constants<br />

Table of d2* Values for K factors<br />

Sample Size: No. of Repetitions (r) for K1 or No. of Operators (k) for K2<br />

Stichprobenumfang: Anzahl Wiederholungen (r) für K1 oder Anzahl Prüfer (k) für K2<br />

d2* 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15<br />

1 1.41 1.91 2.24 2.48 2.67 2.83 2.96 3.08 3.18 3.27 3.35 3.42 3.49 3.55<br />

2 1.28 1.81 2.15 2.40 2.60 2.77 2.91 3.02 3.13 3.22 3.30 3.38 3.45 3.51<br />

3 1.23 1.77 2.12 2.38 2.58 2.75 2.89 3.01 3.11 3.21 3.29 3.37 3.43 3.50<br />

4 1.21 1.75 2.11 2.37 2.57 2.74 2.88 3.00 3.10 3.20 3.28 3.36 3.43 3.49<br />

5 1.19 1.74 2.10 2.36 2.56 2.73 2.87 2.99 3.10 3.19 3.28 3.35 3.42 3.49<br />

6 1.18 1.73 2.09 2.35 2.56 2.73 2.87 2.99 3.10 3.19 3.27 3.35 3.42 3.49<br />

7 1.17 1.73 2.08 2.35 2.55 2.72 2.87 2.99 3.10 3.19 3.27 3.35 3.42 3.48<br />

8 1.17 1.72 2.08 2.35 2.55 2.72 2.87 2.98 3.09 3.19 3.27 3.35 3.42 3.48<br />

9 1.16 1.72 2.08 2.34 2.55 2.72 2.86 2.98 3.09 3.18 3.27 3.35 3.42 3.48<br />

10 1.16 1.72 2.08 2.34 2.55 2.72 2.86 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.42 3.48<br />

11 1.16 1.71 2.08 2.34 2.55 2.72 2.86 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />

12 1.15 1.71 2.07 2.34 2.55 2.72 2.85 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />

13 1.15 1.71 2.07 2.34 2.55 2.71 2.85 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />

14 1.15 1.71 2.07 2.34 2.54 2.71 2.85 2.98 3.08 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />

15 1.15 1.71 2.07 2.34 2.54 2.71 2.85 2.98 3.08 3.18 3.26 3.34 3.41 3.48<br />

> 15 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847 2.970 3.078 3.173 3.258 3.336 3.407 3.472<br />

Die K Faktoren (K1 und K2) werden mit<br />

5 . 152<br />

∗<br />

d2<br />

für 99% (basierend auf einer Normalverteilung)<br />

berechnet.<br />

K1 ist abhängig <strong>von</strong> der Anzahl Wiederholungen<br />

(r) und der Anzahl Teile (n) mal der Anzahl<br />

der Prüfer (k).<br />

K2 ist abhängig <strong>von</strong> der Anzahl der Prüfer. Da<br />

nur eine Spannweite berechnet wird, gilt nur<br />

Zeile 1.<br />

Beispiele:<br />

1. 2 Wiederholungen (r=2), 3 Prüfer (k=3),<br />

10 Teile (n=10)<br />

falls k ⋅ n = 3 ⋅10<br />

= 30 dann gilt die Zeile<br />

>15 ∗<br />

d2 = 1.<br />

128<br />

K1 = 5 . 152 = 4.567<br />

1.<br />

128<br />

2. 10 Wiederholungen (r=10), 1 Prüfer<br />

(k=1), 5 Teile (n=5)<br />

k ⋅ n = 1⋅<br />

5 = 5<br />

∗<br />

d2 = 3.<br />

10<br />

K1 = 5 . 152 = 1.662<br />

3.<br />

1<br />

3. 3 Prüfer k=3<br />

K2 = 5 . 152 = 2.697<br />

1.<br />

91<br />

∗<br />

d2 = 1.<br />

91<br />

The K factors (K1 and K2) are calculated from<br />

5 . 152 (to represent 99% of the normal distribu-<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

∗<br />

d2<br />

tion).<br />

K1 is dependent on the number of trials (r) and<br />

the number of pieces (n) times the number of<br />

operators (k).<br />

K2 is dependent on the number of operators.<br />

Since there is only one range calculation, only<br />

row 1 is applicable.<br />

Examples:<br />

1. 2 trials (r=2), 3 operators (k=3), 10 pieces<br />

(n=10)<br />

k ⋅ n = 3 ⋅10<br />

= 30 , so the “>15” row is appli-<br />

∗ cable d2 = 1.<br />

128<br />

K1 = 5 . 152 = 4.567<br />

1.<br />

128<br />

2. 10 trials (r=10), 1 operator (k=1), 5 parts<br />

(n=5)<br />

k ⋅ n = 1⋅<br />

5 = 5<br />

∗<br />

d2 = 3.<br />

10<br />

K1 = 5 . 152 = 1.66<br />

3.<br />

1<br />

3. 3 operators (k=3)<br />

K2 = 5 . 152 = 2.697 ∗<br />

d2 = 1.<br />

91<br />

1.<br />

91


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 57 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 57 of 107<br />

13.6 Formblätter / Fallbeispiele<br />

Die folgenden, mit qs-STAT ® 3.x erstellten,<br />

Formblätter und Fallbeispiele sind in Form und<br />

Inhalt als ein Vorschlag zu verstehen.<br />

Verfahren 1 – Leerformular Cg-Studie<br />

Verfahren 1 – Cg-Studie<br />

Verfahren 2 – Leerformular ARM-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 2 – Leerformular ARM-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ARM-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ARM-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ARM-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ARM-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

13.6 Work sheets / Samples<br />

The following work sheets and samples, created<br />

using qs-STAT ® 3.x, are intended to serve<br />

as a suggestion regarding layout and contents.<br />

Type-1 study – empty form sheet Cg-Study<br />

Type-1 study – Cg-Study<br />

Type-2 study – empty form sheet ARM<br />

new measurement systems<br />

Type-2 study – empty form sheet ARM<br />

measurement systems in use<br />

Type-2 study – ARM method<br />

new measurement systems<br />

Type-2 study – ARM method<br />

measurement systems in use<br />

Type-2 study – ANOVA method<br />

new measurement systems<br />

Type-2 study – ANOVA method<br />

measurement systems in use<br />

Type-3 study – ARM method<br />

new measurement systems<br />

Type-3 study – ARM method<br />

measurement systems in use<br />

Type-3 study – ANOVA method<br />

new measurement systems<br />

Type-3 study – ANOVA method<br />

measurement systems in use<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 82 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 82 of 107<br />

13.7 Formblätter / Fallbeispiele ME<br />

Die folgenden, mit qs-STAT ME erstellten,<br />

Formblätter und Fallbeispiele sind in Form und<br />

Inhalt als ein Vorschlag zu verstehen.<br />

Verfahren 1 – Cg-Studie<br />

Verfahren 2 – ARM-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ARM-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ARM-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ARM-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />

neue Messsysteme<br />

Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />

vorhandene Messsysteme<br />

Linearität<br />

Stabilität<br />

13.7 Work sheets / Samples ME<br />

The following work sheets and samples, created<br />

using qs-STAT ME, are intended to serve<br />

as a suggestion regarding layout and contents.<br />

Type-1 study – Cg-Study<br />

Type-2 study – ARM method<br />

new measurement systems<br />

Type-2 study – ARM method<br />

measurement systems in use<br />

Type-2 study – ANOVA method<br />

new measurement systems<br />

Type-2 study – ANOVA method<br />

measurement systems in use<br />

Type-3 study – ARM method<br />

new measurement systems<br />

Type-3 study – ARM method<br />

measurement systems in use<br />

Type-3 study – ANOVA method<br />

new measurement systems<br />

Type-3 study – ANOVA method<br />

measurement systems in use<br />

Linearity<br />

Stability<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002


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<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 105 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 105 of 107<br />

14 Index<br />

A<br />

Abkürzungen · 43<br />

Annahmebedingungen · 4<br />

Annahmeprüfung · 15<br />

ANOVA · 48, 53<br />

Arbeitskreis · 1<br />

Auflösung · 10, 16<br />

B<br />

Begriffe · 10<br />

C<br />

Chemische Analysen · 40<br />

D<br />

DIN EN ISO 10012 · 7<br />

DIN EN ISO 9000ff · 4<br />

DIN EN ISO 9001 · 7<br />

Drehmoment · 40<br />

Drei-Koordinaten-Messgeräte · 40<br />

Durchflussmesssysteme · 40<br />

Dynamische Messung · 40<br />

E<br />

Eignungsnachweis · 7<br />

Einflussgröße · 10<br />

Einstellmeister · 10<br />

F<br />

<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> · 7, 16<br />

Faktoren · 56<br />

Fallbeispiele · 57, 82<br />

Farbmesssysteme · 40<br />

Fließmessungen · 40<br />

Formblätter · 57<br />

Formeln · 45<br />

Formtest · 40<br />

G<br />

Geltungsbereich · 15<br />

Grenzwerte · 10<br />

GUM · 7<br />

H<br />

Haftungsausschluss · 2<br />

Härteprüfung · 40<br />

Hitzetest · 40<br />

I<br />

Internationales Normal · 10<br />

14 Index<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

A<br />

Abbreviations · 43<br />

Acceptance Control · 15<br />

Acceptance Terms · 4<br />

Accuracy of Measurement · 10<br />

Adjustment · 10<br />

Allocation processes · 40<br />

ANOVA · 48, 53<br />

B<br />

Balancing Machines · 40<br />

C<br />

Calibration · 10<br />

Capability Study · 7<br />

Chemical Analyses · 40<br />

Coating Thickness · 40<br />

Cold Test · 40<br />

Color measurement systems · 40<br />

Control · 15<br />

Coordinate Measuring Machines · 40<br />

Copyright · 2<br />

Correction · 10<br />

D<br />

Definitions · 10<br />

Destructive Testing · 40<br />

DIN EN ISO 10012 · 7<br />

DIN EN ISO 9000ff · 4<br />

DIN EN ISO 9001 · 7<br />

Disclaimer · 2<br />

Drift · 10<br />

Dynamic Measurement · 40<br />

F<br />

Flow Meters · 40<br />

Flow Testers · 40<br />

Formulae · 45<br />

G<br />

Gage · 10<br />

Gage Control · 8<br />

Guidelines · 4<br />

GUM · 7<br />

H<br />

Hardness Testers · 40<br />

Hot Test · 40<br />

I<br />

Individual Values · 35<br />

Influence Quantity · 10<br />

International Standard · 10


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 106 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 106 of 107<br />

J<br />

Justierung · 10<br />

K<br />

Kalibrierung · 10<br />

Kältetest · 40<br />

Korrektion · 10<br />

L<br />

Lecktester · 40<br />

Linearität · 10, 17, 31, 46<br />

M<br />

Messabweichung · 10<br />

Messbereich · 10<br />

Messbeständigkeit · 10, 17, 22, 35<br />

Messgenauigkeit · 10<br />

Messgerät · 10<br />

Messgerätedrift · 10<br />

Messgröße · 10<br />

Messkette · 10<br />

Messmittel · 10<br />

Messprozess · 10<br />

Messsystem · 10<br />

Messung · 10<br />

Messunsicherheit · 7, 10<br />

N<br />

Nationales Normal · 10<br />

Nicht fähige Messsysteme · 37<br />

Normal · 10<br />

O<br />

Oberflächenmessung · 40<br />

Optische Kompensatoren · 40<br />

P<br />

Partikelzählung · 40<br />

Prüfmittelüberwachung · 8<br />

Q<br />

QS-9000 · 4, 7<br />

Qualitätsaudit · 10<br />

R<br />

Referenzbedingungen · 10<br />

Referenzmaterial · 10<br />

Richtlinien · 4<br />

Rückführbarkeit · 10<br />

Rückverfolgbarkeit · 10<br />

S<br />

Schichtdicke · 40<br />

Shewhart-Qualitätsregelkarte · 35<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

L<br />

Leak Testers · 40<br />

Limits · 10<br />

Linearity · 10, 17, 31, 46<br />

M<br />

Master · 10<br />

Measurand · 10<br />

Measurement · 10<br />

Measurement Error · 10<br />

Measurement Process · 10<br />

Measurment System · 10<br />

Measuring Instrument · 10<br />

Measuring Chain · 10<br />

Measuring equipment · 10<br />

N<br />

National Standard · 10<br />

Non-capable Measurement Systems · 37<br />

O<br />

Optical Gaging · 40<br />

P<br />

Particle Counts · 40<br />

Precision Form Measurement Machines · 40<br />

Proof of Capability · 7, 16<br />

Q<br />

QS-9000 · 4, 7<br />

Quality audit · 10<br />

R<br />

Random Error of Measurement · 10<br />

Reference Conditions · 10<br />

Reference Material · 10<br />

Repeatability · 10<br />

Reproducibility · 10<br />

Resolution · 10, 16<br />

S<br />

Samples · 57, 82<br />

Scope · 15<br />

Shewhart Quality Control Chart · 35<br />

Special Cases · 40<br />

Specified measuring range · 10<br />

Stability · 10, 17, 22, 35<br />

Stability · 10, 17, 35<br />

Standard · 10<br />

Surface Texture Gauges · 40<br />

Systematic Error of Measurement · 10<br />

T<br />

Table of Constants · 56<br />

Torque · 40


<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 107 <strong>von</strong> 107<br />

Measurement System Capability Page 107 of 107<br />

Sonderfälle · 40<br />

Stabilität · 10, 17, 35<br />

Systematische Messabweichung · 10<br />

U<br />

Überwachung · 15<br />

Urheberrechtsschutz · 2<br />

Urwerte · 35<br />

V<br />

VDA 6.1 · 4, 7<br />

Verfahren 1 · 16, 19<br />

Verfahren 2 · 16, 24<br />

Verfahren 3 · 16, 28<br />

Vergleichpräzision · 10<br />

W<br />

Wiederholpräzision · 10<br />

Wuchtmaschinen · 40<br />

Z<br />

Zerstörende Prüfungen · 40<br />

Zufällige Messabweichung · 10<br />

Zupaarungsvorgänge · 40<br />

Traceability · 10<br />

Type-1 Study · 16, 19<br />

Type-2 Study · 16, 24<br />

Type-3 Study · 16, 28<br />

Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />

U<br />

Uncertainty of Measurement · 7, 10<br />

V<br />

VDA 6.1 · 4, 7<br />

W<br />

Work Group · 1<br />

Work Sheets · 57

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