Leitfaden zum "Fähigkeitsnachweis von Messsystemen - Q-DAS
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<strong>Leitfaden</strong> <strong>zum</strong> "<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>"<br />
"Measurement System Capability" Reference Manual<br />
Stand/Status: 17. September 2002<br />
Version 2.1 D/E
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 1 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 1 of 107<br />
Dieser <strong>Leitfaden</strong> wurde im Rahmen eines Arbeitskreises<br />
erstellt. Folgende Personen haben<br />
daran mitgearbeitet:<br />
Audi AG<br />
Peter Friedrich<br />
Siegfried Hübner<br />
Christian Neukirch<br />
BMW AG<br />
Helmut Simon<br />
Robert Bosch GmbH<br />
Rolf Ofen<br />
DaimlerChrysler AG<br />
Werk Untertürkheim<br />
Hartmut Nowack<br />
Roland Steiniger<br />
Fiat Auto S.p.A.<br />
Dr. Roberto Bargelli<br />
Diego di Dato<br />
Leiter des Arbeitskreises:<br />
Head of the work group:<br />
Dr. Edgar Dietrich<br />
Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH, Birkenau<br />
This reference manual was developed by a<br />
work group comprising the following people:<br />
Ford-Werke AG<br />
Rainer Koch<br />
Martin Künster<br />
Herbert Löschner<br />
Franz-Georg Reitinger<br />
Adam Opel AG<br />
Hans Stritzl<br />
Bruno Winkler<br />
Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH<br />
Dr. Edgar Dietrich<br />
Alfred Schulze<br />
T.Q.M. Itaca s.r.l.<br />
Vincenzo Guerrini<br />
Volkswagen AG<br />
Dr. Michael Sandau<br />
Dietrich Sawallisch<br />
Reinhard Stief<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 2 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 2 of 107<br />
Allgemeine Vorbemerkungen<br />
General Remarks<br />
Der Titel des <strong>Leitfaden</strong>s lautet: "Fähigkeits- This paragraph does not apply to the English<br />
nachweis <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>". Die Begriffe "Fä- version, as it is only an explanation regarding<br />
higkeit" und "Messsystem" sind nicht genormt. certain definitions in German.<br />
Da beide Begriffe umgangssprachlich einen hohen<br />
Bekanntheitsgrad haben, haben die Ersteller<br />
des <strong>Leitfaden</strong>s bewusst die Begriffe beibehalten.<br />
Die Begriffe "Fähigkeit" bzw. "fähig" sind gleichbedeutend<br />
mit "Eignung" bzw. "geeignet" (s. DIN<br />
55350 bzw. DGQ 13-61). Daher sind beide Begriffe<br />
als gleichwertig anzusehen.<br />
Der Definition des Begriffes "Messsystem" ist<br />
ein eigener Abschnitt gewidmet.<br />
Haftungsausschluss<br />
Der vorliegende <strong>Leitfaden</strong> enthält Empfehlungen,<br />
die jedermann frei zur Anwendung stehen.<br />
Wer sie anwendet, hat für die richtige Anwendung<br />
im konkreten Fall Sorge zu tragen.<br />
Der <strong>Leitfaden</strong> berücksichtigt den <strong>zum</strong> Zeitpunkt<br />
der jeweiligen Ausgabe herrschenden Stand der<br />
Technik. Durch das Anwenden der Empfehlungen<br />
entzieht sich niemand der Verantwortung für<br />
sein eigenes Handeln. Jeder handelt insoweit<br />
auf eigene Gefahr. Eine Haftung der Autoren ist<br />
ausgeschlossen.<br />
Sollten Sie bei der Anwendung der Empfehlungen<br />
auf Unrichtigkeiten oder die Möglichkeit einer<br />
unrichtigen Auslegung stoßen, setzen Sie<br />
sich bitte mit der Fa. Q-<strong>DAS</strong> ® Disclaimer<br />
The reference manual on hand contains recommendations<br />
to be used freely by anybody. Whoever<br />
makes use of them must make provisions<br />
for correct application in the actual case.<br />
The reference manual considers the level of<br />
technology valid at the actual time of each issue.<br />
Nobody escape the responsibility for his own action<br />
through application of the recommendations.<br />
Insofar, everybody acts on his own risk.<br />
Liability of the authors is excluded.<br />
If you should come across inaccuracies or the<br />
possibility of an incorrect interpretation during<br />
application of the recommendations, please con-<br />
in Verbindung.<br />
tact Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH.<br />
Urheberrechtsschutz<br />
Der <strong>Leitfaden</strong> einschließlich aller seiner Teile ist<br />
urheberrechtlich nicht geschützt. Damit kann<br />
das Dokument in seiner Originalfassung jederzeit<br />
vervielfältigt werden.<br />
Die Originalfassung kann über Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH,<br />
Eisleber Str. 2, D-69469 Weinheim,<br />
Fax: 06201/3941-24, E-mail: q-das@q-das.de,<br />
unter Angabe des Titels bezogen werden.<br />
Wird das Dokument oder Textpassagen daraus<br />
eigenständig verändert, sind zur Vermeidung<br />
<strong>von</strong> Verwechslungen die Abweichungen<br />
deutlich zu kennzeichnen!<br />
Copyright<br />
The reference manual including all of its parts is<br />
not protected by copyright. This means that the<br />
document may be reproduced anytime in its<br />
original version.<br />
The original version may be purchased through<br />
Q-<strong>DAS</strong> ® GmbH, Eisleber Str. 2,<br />
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E-mail: q-das@q-das.de.<br />
If the document or text passages are<br />
changed independently, the changes must<br />
be marked explicitly in order to avoid confusion!<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 3 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 3 of 107<br />
Änderungsblatt / Changes<br />
Nr. Seite<br />
Änderung<br />
Datum Name<br />
No. Page<br />
Change<br />
Date<br />
1 28 Voraussetzung: Verfahren 2 wurde durch Verfahren 3 ersetzt 26.08.99 HM<br />
1 28 Precondition: Type-2 study replaced by Type-3 study 26.08.99 HM<br />
2 58 – 81 Alle Formulare ausgetauscht 06.09.99 HM<br />
2 58 – 81 All form sheets replaced 06.09.99 HM<br />
3 82 - 104 Neue Formulare aus qs-STAT ME eingefügt 17.09.02 HM<br />
3 82 - 104 New form sheets added from qs-STAT ME 17.09.02 HM<br />
4 alle An neue deutsche Rechtschreibung angepasst 17.09.02 HM<br />
4 all German text adapted to new orthography rules 17.09.02 HM<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 4 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 4 of 107<br />
Vorwort<br />
Die Beurteilung <strong>von</strong> Maschinen, Fertigungseinrichtungen<br />
und einer laufenden Fertigung<br />
basiert auf der statistischen Auswertung <strong>von</strong><br />
Merkmalswerten. Die Merkmalswerte stammen<br />
<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>, mit deren Hilfe vordefinierte<br />
Merkmale gemessen werden. Um Fehlinterpretationen<br />
zu vermeiden, müssen die erfassten<br />
Messwerte den tatsächlichen Sachverhalt<br />
ausreichend sicher widerspiegeln.<br />
Diese Forderungen sind in verschiedenen Normen<br />
und Verbandsrichtlinien festgehalten. Insbesondere<br />
beim Aufbau und bei der Zertifizierung<br />
eines Qualitätsmanagementsystems nach<br />
DIN EN ISO 9000ff, QS-9000 oder VDA 6.1<br />
wird ein Unternehmen mit dieser Fragestellung<br />
konfrontiert. Einerseits gibt es diese Forderung<br />
schon sehr lange, andererseits aber keine konkreten<br />
Hinweise, wie diese Forderungen umgesetzt<br />
werden sollen. Daher haben sich insbesondere<br />
die Großkonzerne der Automobilindustrie<br />
und deren Zulieferer in den vergangenen<br />
Jahren eigene Richtlinien zur Beurteilung<br />
<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> geschaffen. Die Konsequenz<br />
war, dass die entstandenen Richtlinien<br />
vom Prinzip her alle ähnlich waren, sich allerdings<br />
teilweise in der Vorgehensweise, der Berechnungsmethodik<br />
und den geforderten<br />
Grenzwerten unterschieden haben. Dies stellt<br />
für die Hersteller <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> und für die<br />
Kunden-/ Lieferantenbeziehung ein nicht unerhebliches<br />
Problem dar. Die Zulieferer sehen<br />
sich unterschiedlichen Forderungen ausgesetzt,<br />
die je nach Auftraggeber eingehalten werden<br />
müssen. Der Abnehmer hat das Problem, dass<br />
er seine Annahmebedingungen jedes Mal ändern<br />
muss.<br />
Um hier mehr Transparenz zu schaffen, ist auf<br />
Anregung der Automobilindustrie dieser Arbeitskreis<br />
zusammengetreten mit der Zielsetzung:<br />
„Einen für die Automobil- und Zulieferindustrie<br />
einheitlichen <strong>Leitfaden</strong> <strong>zum</strong> Eignungsnachweis<br />
<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> zu erarbeiten.“ Die Richtlinie<br />
soll geltende Normen sowie Verbandsrichtlinien<br />
berücksichtigen. Im Rahmen dieses<br />
Arbeitskreises ist es gelungen, in den wesentlichen<br />
Sachfragen Konsens in den Berechnungsmethoden<br />
zu finden und eine Empfehlung für<br />
Grenzwerte zu geben. Hierauf basierend können<br />
die Firmen bezüglich allgemeiner Annahmemodalitäten<br />
und praxisbezogener Abwicklungen<br />
individuelle Ergänzungen bzw. Festlegungen<br />
vornehmen.<br />
Preface<br />
The evaluation of machines, production facilities,<br />
and of ongoing production is based on the<br />
statistical evaluation of measurement values.<br />
These measurement values are supplied by<br />
measurement systems used to measure predefined<br />
characteristics. In order to avoid erroneous<br />
conclusions, the recorded measurement<br />
values must reflect the true situation with an<br />
appropriate degree of accuracy.<br />
These requirements are defined in various<br />
standards and association guidelines. This issue<br />
is of particular importance to companies involved<br />
in the creation and certification of a quality<br />
management system according to DIN EN<br />
ISO 9000ff, QS-9000 or VDA 6.1. On the one<br />
hand, these requirements have been in existence<br />
for a very long time, but on the other hand<br />
there are no specific instructions as to the practical<br />
implementation of these requirements. For<br />
this reason, major automotive manufacturers,<br />
and their supplier base, have been among the<br />
first to develop their own guidelines for the<br />
evaluation of measurement systems during the<br />
past few years. The consequence was that the<br />
created guidelines were all based on very similar<br />
concepts, but exhibited differences concerning<br />
individual aspects of procedure, calculation<br />
methods and minimum requirements. This<br />
poses a significant problem for the manufacturers<br />
of measurement systems and the customer/<br />
supplier relationship. The suppliers are faced<br />
with different requirements, which must be met<br />
depending on the demands made by the individual<br />
customer. The inspector is faced with the<br />
problem that his acceptance terms must be<br />
changed every time.<br />
In order to create a higher degree of transparency,<br />
this work group was set up on the suggestion<br />
of the automotive industry with the objective “to<br />
create a uniform reference manual for the determination<br />
of measurement systems capability in<br />
the automotive industry and its supplier base.”<br />
The guideline must take into account existing<br />
standards and association guidelines. Within the<br />
framework of the work group it was possible to<br />
reach consensus on the important issues regarding<br />
calculation methods and to give a recommendation<br />
for minimum requirements. From this<br />
baseline, companies are able to supplement individual<br />
requirements regarding general acceptance<br />
terms and practical implementation.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 5 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 5 of 107<br />
Inhaltsverzeichnis<br />
Vorwort............................................................4<br />
Inhaltsverzeichnis ..........................................5<br />
1 Einleitung .................................................7<br />
1.1 DIN EN ISO 9001..................................... 7<br />
1.2 DIN EN ISO 10012 Forderungen an die<br />
Qualitätssicherung <strong>von</strong> Messmitteln ... 7<br />
1.3 Forderung aus QS-9000......................... 8<br />
1.4 Forderung aus VDA 6.1 ......................... 8<br />
1.5 GUM und DIN EN ISO 14253-1 .............. 9<br />
2 Begriffe ...................................................10<br />
2.1 Messabweichung ................................. 10<br />
2.1.1 Systematische Messabweichung ... 10<br />
2.1.2 Zufällige Messabweichung............. 11<br />
2.2 Messgerät ............................................. 11<br />
2.3 Messmittel............................................. 11<br />
2.4 Linearität ............................................... 12<br />
2.5 Normal / Einstellmeister ...................... 12<br />
2.6 Messkette.............................................. 12<br />
2.7 Messprozeß / -system.......................... 13<br />
2.8 Wiederholpräzision .............................. 13<br />
2.9 Vergleichpräzision ............................... 14<br />
2.10 Messbeständigkeit / Stabilität............. 14<br />
3 Geltungsbereich ....................................15<br />
4 Verfahren für den <strong>Fähigkeitsnachweis</strong>16<br />
4.10.1 Auflösung des Messgerätes........... 16<br />
4.10.2 Verfahren 1..................................... 16<br />
4.10.3 Verfahren 2..................................... 16<br />
4.10.4 Verfahren 3..................................... 17<br />
4.10.5 Linearität......................................... 17<br />
4.10.6 Messbeständigkeit / Stabilität......... 18<br />
4.10.7 Vorgehensweise............................. 18<br />
5 Verfahren 1.............................................19<br />
6 Verfahren 2.............................................24<br />
7 Verfahren 3.............................................28<br />
Table of Contents<br />
Preface ........................................................... 4<br />
Table of Contents .......................................... 5<br />
1 Introduction............................................. 7<br />
1.1 DIN EN ISO 9001 .....................................7<br />
1.2 DIN EN ISO 10012 Quality assurance<br />
requirements for measuring equipment7<br />
1.3 QS-9000 Requirements ..........................8<br />
1.4 VDA 6.1 Requirements ...........................8<br />
1.5 GUM and ISO 14253-1 ............................9<br />
2 Definitions ............................................. 10<br />
2.1 Measurement Error...............................10<br />
2.1.1 Systematic Error of Measurement....10<br />
2.1.2 Random Error of Measurement........11<br />
2.2 Measuring Instrument ..........................11<br />
2.3 Gage.......................................................11<br />
2.4 Linearity.................................................12<br />
2.5 Master / Standard .................................12<br />
2.6 Measuring Chain...................................12<br />
2.7 Measurement Process / System..........13<br />
2.8 Repeatability .........................................13<br />
2.9 Reproducibility......................................14<br />
2.10 Stability..................................................14<br />
3 Scope ..................................................... 15<br />
4 Procedures for a Capability Study ...... 16<br />
4.1.1 Measurement System Resolution ....16<br />
4.1.2 Type-1 Study ....................................16<br />
4.1.3 Type-2 Study ....................................16<br />
4.1.4 Type-3 Study ....................................17<br />
4.1.5 Linearity............................................17<br />
4.1.6 Stability.............................................18<br />
4.1.7 Procedure.........................................18<br />
5 Type-1 Study ......................................... 19<br />
6 Type-2 Study ......................................... 24<br />
7 Type-3 Study ......................................... 28<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 6 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 6 of 107<br />
8 Linearität / Untersuchung an den<br />
Spezifikationsgrenzen...........................31<br />
8.1 Vorbemerkung...................................... 31<br />
8.2 Untersuchung an den<br />
Spezifikationsgrenzen ......................... 32<br />
8.3 Beurteilung der Linearität anhand <strong>von</strong><br />
drei Normalen ....................................... 33<br />
8.4 Beurteilung der Linearität bei mehr als<br />
drei Normalen ....................................... 34<br />
9 Messbeständigkeit / Stabilität ..............35<br />
10 Vorgehensweise „Nicht fähige<br />
Messsysteme“........................................37<br />
11 Sonderfälle .............................................40<br />
12 Literatur ..................................................41<br />
13 Anhang ...................................................43<br />
13.1 Abkürzungen ........................................ 43<br />
13.2 Formeln ................................................. 45<br />
13.3 Formeln zur Berechnung der Linearität<br />
46<br />
13.4 ANOVA .................................................. 48<br />
13.4.1 ANOVA für Verfahren 2.................. 48<br />
13.4.2 ANOVA für Verfahren 3.................. 53<br />
13.5 Faktoren ................................................ 56<br />
13.6 Formblätter / Fallbeispiele................... 57<br />
13.7 Formblätter / Fallbeispiele ME ............ 82<br />
14 Index .....................................................105<br />
8 Linearity / Study near the Specification<br />
Limits ..................................................... 31<br />
8.1 Introduction...........................................31<br />
8.2 Study Near the Specification Limits . 32<br />
8.3 Linearity study using three masters. 33<br />
8.4 Linearity evaluation using more than<br />
three masters ........................................34<br />
9 Stability.................................................. 35<br />
10 “Non-capable Measurement Systems”<br />
Procedure .............................................. 37<br />
11 Special Cases........................................ 40<br />
12 Literature ............................................... 41<br />
13 Appendix ............................................... 43<br />
13.1 Abbreviations........................................43<br />
13.2 Formulae................................................45<br />
13.3 Formulae for Linearity Calculation ... 46<br />
13.4 ANOVA...................................................48<br />
13.4.1 ANOVA for Type-2 study ................48<br />
13.4.2 ANOVA for Type-3 Study................53<br />
13.5 Table of Constants ...............................56<br />
13.6 Work sheets / Samples ........................57<br />
14 Index .................................................... 105<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 7 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 7 of 107<br />
1 Einleitung<br />
Die Forderungen bezüglich des Eignungsnachweises<br />
<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> sind exemplarisch<br />
an folgenden Stellen aufgeführt:<br />
1.1 DIN EN ISO 9001<br />
Auszug aus Abschnitt 4.11.1 ISO 9001:<br />
... Prüfmittel müssen in einer Weise benutzt<br />
werden, die sicherstellt, dass die Messunsicherheit<br />
bekannt und mit der betreffenden<br />
Forderung vereinbar ist. ...<br />
1.2 DIN EN ISO 10012<br />
Forderungen an die Qualitätssicherung<br />
<strong>von</strong> Messmitteln<br />
Folgende Forderungen sind an das Messmittel<br />
gestellt (siehe Abschnitt 4.2 ISO 10012):<br />
Die Messmittel müssen die für den beabsichtigten<br />
Einsatz und Zweck geforderten metrologischen<br />
Merkmale aufweisen (<strong>zum</strong> Beispiel Genauigkeit,<br />
Messbeständigkeit, Messbereich und<br />
Auflösung).<br />
Die Einrichtungen und die Dokumentation sind<br />
so zu unterhalten, dass Korrektionen, Einsatzbedingungen<br />
(einschließlich Umgebungsbedingungen)<br />
usw. die zur Erreichung der geforderten<br />
Leistung notwendig sind, Rechnung getragen<br />
wird.<br />
Die geforderte Leistung ist zu dokumentieren.<br />
An die Messunsicherheit sind folgende Forderungen<br />
gestellt (siehe Abschnitt 4.6 ISO<br />
10012):<br />
Bei der Durchführung <strong>von</strong> Messungen und der<br />
Angabe und Anwendung der Ergebnisse hat<br />
der Lieferant alle wichtigen bekannten Unsicherheiten<br />
des Messvorgangs einschließlich<br />
derer, die auf das Messmittel (einschließlich<br />
der Messnormale) und auf Personal, Verfahren<br />
und Umgebung zurückzuführen sind, zu berücksichtigen.<br />
Beim Schätzen der Unsicherheiten muss der<br />
Lieferant alle relevanten Daten berücksichtigen<br />
einschließlich derjenigen, die aus statistischen<br />
Prozesslenkungssystemen erhältlich sind, die<br />
vom oder für den Lieferanten betrieben werden.<br />
1 Introduction<br />
Requirements for the demonstration of measurement<br />
system capability can e.g. be found in<br />
the following guidelines:<br />
1.1 DIN EN ISO 9001<br />
Excerpt from paragraph 4.11.1 ISO 9001:<br />
... Inspection, measuring and test equipment<br />
shall be used in a manner which ensures that<br />
the measurement uncertainty is known and is<br />
consistent with the required measurement capability.<br />
...<br />
1.2 DIN EN ISO 10012<br />
Quality assurance requirements<br />
for measuring equipment<br />
The measuring equipment should meet the<br />
following requirements (see paragraph 4.2 ISO<br />
10012):<br />
Measuring equipment shall have metrological<br />
characteristics as required for the intended use<br />
(for example accuracy, stability, range and<br />
resolution).<br />
Equipment and documentation shall be maintained<br />
so as to take account of any corrections,<br />
conditions of use (including environmental conditions),<br />
etc. that are necessary to achieve the<br />
required performance.<br />
The required performance shall be documented.<br />
The uncertainty of measurement should meet<br />
the following requirements (see paragraph 4.6<br />
ISO 10012):<br />
In performing measurements and in stating and<br />
making use of the results, the supplier shall<br />
take into account all significant identified uncertainties<br />
in the measurement process including<br />
those that are attributable to measuring equipment<br />
(including measurement standards) and<br />
those contributed by personnel, procedures<br />
and environment.<br />
In estimating the uncertainties, the supplier<br />
shall take account of all relevant data including<br />
that available from any statistical process control<br />
system operated by or for the supplier.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 8 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 8 of 107<br />
1.3 Forderung aus QS-9000<br />
„Prüfmittelüberwachung“ Element 4.11 „Untersuchung<br />
<strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>“:<br />
Es sind angemessene statistische Untersuchungen<br />
zur Beurteilung <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong><br />
und Prüfeinrichtungen durchzuführen. Die dabei<br />
angewandten analytischen Methoden und<br />
Annahmekriterien sollten mit denen in dem Referenz-Manual<br />
„Measurement Systems Analysis“<br />
übereinstimmen. Andere analytische Methoden<br />
und Annahmekriterien können ebenfalls<br />
angewandt werden, sofern der Kunde damit<br />
einverstanden ist.<br />
1.4 Forderung aus VDA 6.1<br />
Auszug aus Abschnitt 16 "Prüfmittelüberwachung"<br />
Voraussetzung <strong>zum</strong> Einsatz <strong>von</strong> Prüfmitteln<br />
(Prüfeinrichtungen einschließlich Prüfsoftware<br />
und Lehren) ist die Sicherstellung, dass das<br />
Prüfmittel für den vorgesehenen Zweck geeignet<br />
ist, z.B. durch Prüfmittelfähigkeitsnachweis<br />
bzw. Vergleichsmessung.<br />
Prüfmittel sind so auszuwählen, dass die zu<br />
prüfenden Merkmale mit einer vertretbaren Unsicherheit,<br />
die bekannt sein muss, gemessen<br />
werden können.<br />
Abhängig <strong>von</strong> Prozess-/Produktspezifikation<br />
und der Prüfanweisung ergibt sich die höchstzulässige<br />
Messunsicherheit.<br />
Die „Fähigkeit <strong>von</strong> Prüfmitteln“ wird <strong>von</strong> der<br />
Messunsicherheit des Prüfmittels im Verhältnis<br />
zur Toleranz des Prüfmerkmals bestimmt.<br />
Die Fähigkeitsuntersuchung <strong>von</strong> Prüfmitteln ist<br />
über statistische Auswertung <strong>von</strong> Messreihen<br />
nachzuweisen. Dies kann rechnerisch oder<br />
grafisch erfolgen (Korrelationsdiagramm). Hierbei<br />
sind spezielle Kundenforderungen soweit<br />
möglich zu berücksichtigen, andere Verfahren<br />
sind ggf. zu vereinbaren.<br />
Die Prüfmittelfähigkeit wird über die Wiederholbarkeit<br />
oder Vergleichbarkeit mit Hilfe der<br />
Spannweiten-Methode oder der Mittelwert- und<br />
Spannweiten-Methode unter Beachtung des<br />
Zufallsstreubereiches (95%, 99%, 99,73%) ermittelt.<br />
1.3 QS-9000 Requirements<br />
Paragraph 4.11 “Control of Inspection, Measuring<br />
and Test Equipment”:<br />
Evidence is required that appropriate statistical<br />
studies have been conducted to analyze the<br />
variation present in the results of each type of<br />
measuring and test equipment system. The<br />
analytical methods and acceptance criteria<br />
used should conform to those in the Measurement<br />
Systems Analysis reference manual.<br />
Other analytical methods and acceptance criteria<br />
may be used if approved by the customer.<br />
1.4 VDA 6.1 Requirements<br />
Excerpt from chapter 16 "Gage control"<br />
Before any inspection, measuring or test<br />
equipment (including software and gages) can<br />
be used, it must be ensured that the equipment<br />
used is suitable for its purpose, e.g. by demonstrating<br />
measurement system capability or by<br />
carrying out comparative measurements.<br />
Inspection, measuring or test equipment must<br />
be selected such that the characteristics to be<br />
checked can be measured with a known and<br />
acceptable degree of uncertainty.<br />
The maximum permissible uncertainty of<br />
measurement depends on the product or process<br />
specification.<br />
“Measurement system capability” is a function<br />
of the system’s uncertainty of measurement<br />
relative to the characteristic’s tolerance.<br />
Measurement system capability studies must<br />
be based on statistical analyses of sets of<br />
measurement values. Both calculation and<br />
graphical methods (scatter plot) can be used<br />
for this. In the analysis, special customer requirements<br />
should be taken into account as far<br />
as possible, and the use of other methods<br />
should be agreed as appropriate.<br />
Measurement system capability is determined<br />
based on repeatability or reproducibility using<br />
the range method or the average and range<br />
method, based on a 95%, 99% or 99.73%<br />
spread.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 9 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 9 of 107<br />
Das Ergebnis der Untersuchung wird nicht nur<br />
durch das Prüfmittel selbst, sondern durch<br />
Einflüsse bestimmt, wie z.B.<br />
• Beschaffenheit der geprüften Produkte<br />
• Bedienungsperson<br />
• Messaufnahmen<br />
• Spannmittel<br />
• Umgebungsbedingungen.<br />
Die Notwendigkeit eines <strong>Fähigkeitsnachweis</strong>es<br />
für Prüfmittel ist u.a. abhängig <strong>von</strong>:<br />
• der Messunsicherheit des Prüfmittels<br />
• der Komplexität des Prüfmittels<br />
• dem Einsatz ineinandergreifender<br />
Prüfmittel/Prüfmethoden.<br />
Das gilt vorwiegend für komplexe Prüfmittel wie<br />
z.B.:<br />
• Messmaschinen<br />
• MehrstellenMessvorrichtungen<br />
• Messmittel zur statistischen<br />
Messwertaufnahme<br />
• Prüfmittel für elektrische Größen.<br />
1.5 GUM und DIN EN ISO 14253-1<br />
Hierbei handelt es sich um den „<strong>Leitfaden</strong> zur<br />
Angabe der Unsicherheit beim Messen“ (GUM)<br />
und „Entscheidungsregeln für die Feststellung<br />
<strong>von</strong> Übereinstimmung oder Nicht-Übereinstimmung<br />
mit Spezifikationen“.<br />
The results of the study do not just reflect the<br />
measuring equipment itself, but also other influences<br />
such as<br />
• properties of the measured items<br />
• appraiser<br />
• measurement receptacles<br />
• clamping devices<br />
• environmental conditions<br />
The need for a proof of measurement system<br />
capability depends, amongst others, on:<br />
• the system’s uncertainty of measurement<br />
• the system’s complexity<br />
• the use of interlocking measurement systems/methods<br />
This is particularly true for complex measurement<br />
equipment such as:<br />
• gaging machines<br />
• multiposition measuring devices<br />
• measurement systems for statistical recording<br />
of measurements<br />
• measurement systems for electrical measurands<br />
1.5 GUM and ISO 14253-1<br />
These guidelines are the “Guide to the Expression<br />
of Uncertainty in Measurement” (GUM)<br />
and “Decision rules for proving conformance or<br />
non-conformance with specifications”.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 10 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 10 of 107<br />
2 Begriffe<br />
Die im folgenden verwendeten Begriffe sind in<br />
DIN EN ISO 10012 beschrieben:<br />
• Messmittel<br />
• Messung<br />
• Messgröße<br />
• Einflußgröße<br />
• Messgenauigkeit<br />
• Messunsicherheit<br />
• Korrektion<br />
• Justierung<br />
• Messbereich<br />
• Referenzbedingungen<br />
• Auflösung (einer Anzeigeeinrichtung)<br />
• Messgerätedrift<br />
• Grenzwerte für Messabweichungen<br />
• Referenzmaterial<br />
• Internationales Normal<br />
• Nationales Normal<br />
• Rückführbarkeit/Rückverfolgbarkeit<br />
• Kalibrierung<br />
• Qualitätsaudit<br />
In dem vorliegenden <strong>Leitfaden</strong> sind weitere<br />
Begriffe verwendet, die zur besseren Übersicht<br />
im folgenden kurz erläutert werden. Diese sind<br />
den Literaturstellen [10] bzw. [3] entnommen<br />
und <strong>zum</strong> Teil umgangssprachlich ergänzt.<br />
2.1 Messabweichung<br />
2.1.1 Systematische Messabweichung<br />
Unter systematischer Messabweichung wird die<br />
Abweichung zwischen dem Mittelwert der<br />
Anzeige des Messsystems bei wiederholtem<br />
Messen des gleichen Merkmals und dem Referenzwert<br />
des Merkmals verstanden. Das zu<br />
messende Teil ist ein Normal (Referenzwert),<br />
dessen Wert mit Präzisions<strong>Messsystemen</strong>, z.B.<br />
KoordinatenMessgeräten ermittelt wird und das<br />
auf ein nationales oder internationales Normal<br />
zurückführbar sein muß. Ein Referenzwert<br />
kann bestimmt werden, indem mehrere Messungen<br />
mit einem höherwertigen Messgerät<br />
durchgeführt werden (z.B. Messraum oder Kalibrierlabor).<br />
2 Definitions<br />
The following concepts are defined in DIN EN<br />
ISO 10012:<br />
• measuring equipment<br />
• measurement<br />
• measurand<br />
• influence quantity<br />
• accuracy of measurement<br />
• uncertainty of measurement<br />
• correction<br />
• adjustment<br />
• specified measuring range<br />
• reference conditions<br />
• resolution (of an indicating device)<br />
• drift<br />
• limits of permissible error<br />
• reference material<br />
• international (measurement) standard<br />
• national (measurement) standard<br />
• traceability<br />
• calibration<br />
• (quality) audit<br />
Further definitions are used also in the present<br />
reference manual, a short description is found<br />
below for better overview. These may be found<br />
in literature [10] and [3] and are partially supplemented<br />
to colloquial speech.<br />
2.1 Measurement Error<br />
2.1.1 Systematic Error of Measurement<br />
Also called bias, this is the difference between<br />
the observed average of measurements and<br />
the reference value. The part to be measured<br />
is a measurement standard or master, whose<br />
value (reference value) has been determined<br />
with precision measurement systems, e.g. coordinate<br />
measurement devices, and which can<br />
be traced back to a national or international<br />
measurement standard. A reference value can<br />
be established by carrying out several measurements<br />
with a higher-level measurement device<br />
(e.g. metrology lab or calibration lab).<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 11 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 11 of 107<br />
Referenzwert<br />
xm<br />
Systematische<br />
Meßabweichung<br />
Mittelwert<br />
xg<br />
Systematische Messabweichung<br />
2.1.2 Zufällige Messabweichung<br />
Messergebnis minus dem Mittelwert, der sich<br />
aus einer unbegrenzten Anzahl <strong>von</strong> Messungen<br />
derselben Messgröße ergeben würde, die<br />
unter Wiederholbedingungen ausgeführt<br />
wurden.<br />
2.2 Messgerät<br />
Gerät, das allein oder in Verbindung mit zusätzlichen<br />
Einrichtungen für Messungen gebraucht<br />
werden soll.<br />
2.3 Messmittel<br />
Alle Messgeräte, Normale, Referenzmaterialien,<br />
Hilfsmittel und Anweisungen, die für die<br />
Durchführung einer Messung notwendig sind.<br />
Dieser Begriff umfaßt Messmittel, die für Prüfzwecke<br />
und solche, die für die Kalibrierung<br />
verwendet werden.<br />
Reference Value<br />
xm<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
Bias<br />
Average<br />
xg<br />
Systematic error (Bias)<br />
2.1.2 Random Error of Measurement<br />
Measurement result minus the mean that would<br />
result from an infinite number of measurements<br />
of the same measurand carried out under repeatability<br />
conditions.<br />
2.2 Measuring Instrument<br />
Device intended to be used to make measurements,<br />
alone or in conjunction with supplementary<br />
devices.<br />
2.3 Gage<br />
All of the measuring instruments, measurement<br />
standards, reference materials, auxiliary apparatus<br />
and instructions that are necessary to<br />
carry out a measurement. This term includes<br />
measuring equipment used in the course of<br />
testing and inspection, as well as those used in<br />
calibration.
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 12 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 12 of 107<br />
2.4 Linearität<br />
Konstant bleibender Zusammenhang zwischen<br />
der Ausgangsgröße und der Eingangs- (Mess-)<br />
größe eines Messmittels bei deren Änderung.<br />
Linearität<br />
Referenzwert<br />
xg<br />
Meßbereich<br />
Beobachteter<br />
Mittelwert<br />
Systematische<br />
Meßabweichung<br />
Referenzwert<br />
Referenzwert<br />
xg<br />
xm xg xm xm keine systematische<br />
Meßabweichung<br />
Bezugsgröße<br />
Linearität (Variabler Streubereich)<br />
2.5 Normal / Einstellmeister<br />
Ein Referenzteil zur Einstellung des Messmittels<br />
auf einen Bezugswert. Der Bezugswert<br />
des Normals muß zertifiziert und auf das<br />
entsprechende nationale bzw. internationale<br />
Normal rückführbar sein. Das Normal wird für<br />
die Fähigkeitsuntersuchung verwendet.<br />
2.6 Messkette<br />
Folge <strong>von</strong> Elementen eines Messgerätes oder<br />
einer Messeinrichtung, die den Weg des Messsignals<br />
<strong>von</strong> der Eingabe zur Ausgabe bildet.<br />
2.4 Linearity<br />
Constant relationship between the output variable<br />
and the input variable (measurand) as this<br />
changes.<br />
Linearity<br />
Observed<br />
Average<br />
Bias no Bias<br />
Linearity (Varying Linear Bias)<br />
Reference Figure<br />
2.5 Master / Standard<br />
A device used to set a gage to a reference<br />
value. The reference value of the master must<br />
be certified, with traceability to the appropriate<br />
national or international standard. The master<br />
is used for the capability study.<br />
2.6 Measuring Chain<br />
Series of elements of a measuring instrument<br />
or system that constitutes the path of the measurement<br />
signal from the input to the output.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 13 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 13 of 107<br />
2.7 Messprozeß / -system<br />
Die Gesamtheit aller Einflusskomponenten zur<br />
Ermittlung eines Messwerts für ein Merkmal:<br />
Verfahren, Vorgehensweise, Messgerät, Hilfsmittel,<br />
Normal, Software, Personal etc., das dazu<br />
benutzt wird, um dem zu messenden Merkmal<br />
einen Wert zuzuweisen. Mit anderen Worten:<br />
der Gesamtprozess zur Erfassung <strong>von</strong><br />
Messwerten. Der Gesamt-/Messprozess wird<br />
als Messsystem bezeichnet.<br />
Bediener<br />
Normal,<br />
Einstellmeister<br />
Umgebung<br />
Prüfling,<br />
Prüfobjekt<br />
Meß-, Prüfgerät,<br />
Meßmittel,<br />
Meßeinrichtung<br />
Meßergebnis<br />
2.8 Wiederholpräzision<br />
Meßverfahren<br />
Wiederholpräzision (eines Messgerätes) ist die<br />
Fähigkeit eines Messgerätes, bei wiederholtem<br />
Anlegen derselben Messgröße unter denselben<br />
Messbedingungen nahe beieinander liegende<br />
Anzeigen zu liefern.<br />
-4sg -3sg -2s g<br />
Wiederholpräzision<br />
gemessener<br />
Mittelwert<br />
x<br />
g<br />
+2s +3s +4s<br />
g g g<br />
2.7 Measurement Process / System<br />
The sum total of all the factors that affect the<br />
determination of a measurement value for a<br />
characteristic: operation, procedure, measuring<br />
instrument, auxiliary equipment, standard, software,<br />
personnel, etc. used to assign a number<br />
to the characteristic to be measured; the<br />
complete process used to obtain measurements.<br />
The complete/measuring process is<br />
called a measurement system.<br />
Master<br />
Operator Environment<br />
Test piece<br />
2.8 Repeatability<br />
Measuring instrument,<br />
Gage,<br />
Measurement system<br />
Measurement Result<br />
Measurement<br />
procedure<br />
Repeatability (of a measuring instrument) is the<br />
ability of a measuring instrument to provide<br />
closely similar indications for repeated applications<br />
of the same measurand under the same<br />
conditions of measurement.<br />
-4sg -3sg -2s g<br />
Repeatability<br />
measured<br />
average<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
x<br />
g<br />
+2s +3s +4s<br />
g g g
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 14 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 14 of 107<br />
2.9 Vergleichpräzision<br />
Vergleichpräzision (<strong>von</strong> Messergebnissen) ist<br />
ein Ausmaß der gegenseitigen Annäherung<br />
zwischen Messergebnissen derselben Messgröße,<br />
gewonnen unter veränderten Messbedingungen.<br />
Vergleichpräzision<br />
Bediener 1 Bediener 2 Bediener 3<br />
x<br />
1<br />
x<br />
2<br />
x<br />
3<br />
Vergleichpräzision<br />
x<br />
Diff<br />
Gesamt-Mittelwert<br />
2.10 Messbeständigkeit / Stabilität<br />
x<br />
6 s<br />
Fähigkeit eines Messsystems, seine metrologischen<br />
Merkmale zeitlich unverändert beizubehalten.<br />
max.<br />
Abweichung<br />
Zeit 1<br />
Messbeständigkeit / Stabilität<br />
Zeit n<br />
2.9 Reproducibility<br />
Reproducibility (of results of measurement) is<br />
the closeness of the agreement between the<br />
results of measurements of the same measurand<br />
carried out under changed conditions of<br />
measurement.<br />
Reproducibility<br />
2.10 Stability<br />
Operator 1 Operator 2 Operator 3<br />
x<br />
1<br />
x<br />
2<br />
x<br />
3<br />
Reproducibility<br />
x<br />
Diff<br />
Total Average<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
x<br />
6 s<br />
Ability of a measuring instrument to maintain<br />
constant metrological characteristics over time.<br />
Stability<br />
max.<br />
deviation<br />
time 1<br />
time n
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 15 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 15 of 107<br />
3 Geltungsbereich<br />
Die im <strong>Leitfaden</strong> enthaltenen Verfahren eignen<br />
sich nur für messende Einrichtungen. Diese<br />
werden in Standardmessverfahren bzw. in Sonderfälle<br />
eingeteilt. Der vorliegende <strong>Leitfaden</strong><br />
beschreibt nur die Beurteilungen für die Standardverfahren.<br />
In einem separaten Dokuments<br />
sind für verschiedene Sonderfälle Beispiele<br />
enthalten.<br />
Dieser <strong>Leitfaden</strong> ist gültig beim Neukauf und<br />
Einsatz sowie der Bewertung vorhandener<br />
Messsysteme. Eventuell bestehende Gesetze<br />
und Verordnungen in den jeweiligen Ländern<br />
haben uneingeschränkt Vorrang.<br />
Der <strong>Leitfaden</strong> erstreckt sich auf die Annahmeprüfung<br />
und laufende Überwachung aller Messsysteme<br />
in den Werken, sowie die Annahmeprüfung<br />
bei den Herstellern der Messsysteme.<br />
Eine Annahmeprüfung muß vor Inbetriebnahme<br />
der Messsysteme durchgeführt werden, nach<br />
Neuaufstellungen, Generalüberholungen,<br />
wesentlichen konstruktiven Änderungen und<br />
Umstellungen. Diese Annahmeprüfungen<br />
sollten vor der Beurteilung <strong>von</strong> Maschinen- und<br />
Prozeßfähigkeit durchgeführt werden.<br />
3 Scope<br />
The procedures presented in this reference<br />
manual are applicable only to measuring systems.<br />
These may be separated into standard<br />
measurement procedures or special cases. The<br />
present reference manual begins by describing<br />
only the evaluations for standard measurement<br />
procedures. Examples of various special cases<br />
are available in a separate document.<br />
This reference manual applies to the procurement<br />
and use of new, as well as the evaluation<br />
of existing measurement systems. Any existing<br />
laws and regulations of the home country of the<br />
concerned plant take unrestricted precedence.<br />
The reference manual covers the acceptance<br />
and ongoing control of all variable-type part<br />
measurement systems in production plants, as<br />
well as the acceptance at the manufacturer. An<br />
acceptance test must be carried out prior to putting<br />
measurement systems into operation, and<br />
again after relocation, a general overhaul or any<br />
major design changes or conversions. These<br />
acceptance tests should be carried out before<br />
the machine and process capability study.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 16 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 16 of 107<br />
4 Verfahren für den<br />
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong><br />
Für den <strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong><br />
haben sich verschiedene Methoden als sinnvoll<br />
herausgestellt. Je nach Verfahren können die<br />
verschiedenen Unsicherheitskomponenten ermittelt<br />
werden.<br />
4.10.1 Auflösung des Messgerätes<br />
Bevor eine der genannten Untersuchungen<br />
durchgeführt wird, ist zu überprüfen, ob die Auflösung<br />
des Messgerätes gegeben ist.<br />
Das Messgerät muss eine Auflösung <strong>von</strong> %RE<br />
≤ 5% der Toleranz des Merkmals haben, um<br />
Messwerte sicher ermitteln und ablesen zu können.<br />
Fallbeispiel:<br />
Längenmaß 125 ± 0.25 mm<br />
Bei einer Toleranz <strong>von</strong> 0,5 mm entsprechen 5%<br />
der Toleranz 0,025 mm. D.h., das Messsystem<br />
darf eine Auflösung <strong>von</strong> maximal 0,025 mm über<br />
den gesamten Messbereich haben. Gewählt<br />
wird z.B. eine Messuhr mit 0,01 mm Skalenteilung.<br />
4.10.2 Verfahren 1<br />
Dieses Verfahren wird in der Regel beim Lieferanten<br />
zur Beurteilung <strong>von</strong> neuen und geänderten<br />
<strong>Messsystemen</strong> durchgeführt, bevor diese<br />
eingesetzt werden. Anhand des Fähigkeitskennwertes<br />
kann die Eignung festgestellt werden.<br />
4.10.3 Verfahren 2<br />
Verfahren 2 findet zur Beurteilung <strong>von</strong> neuen<br />
und vorhandenen <strong>Messsystemen</strong> vor der<br />
Annahmeprüfung beim Kunden am endgültigen<br />
Aufstellungsort statt. Dieses Verfahren kann<br />
auch beim Lieferanten eingesetzt werden. Dies<br />
setzt voraus, dass sowohl Teile als auch Prüfer<br />
beim Lieferanten vorhanden sind. Dieses Verfahren<br />
wird auch im Rahmen <strong>von</strong> routinemäßigen<br />
Audits oder zu Zwischenprüfungen eingesetzt.<br />
Die Beurteilung erfolgt dabei unter möglichst<br />
realen Bedingungen, d.h. die Untersuchung<br />
wird am Einsatzort, mit original Messobjekten<br />
und den Prüfern vor Ort durchgeführt.<br />
4 Procedures for a Capability<br />
Study<br />
Various methods have been found to be suitable<br />
for establishing the capability of measurement<br />
systems. Depending on the procedure,<br />
different uncertainty factors may be determined.<br />
4.1.1 Measurement System Resolution<br />
Before one of the studies mentioned can be<br />
carried out, the resolution of the measurement<br />
system should be checked.<br />
The measurement system must have a resolution<br />
of %RE ≤ 5% of the characteristic’s<br />
specified tolerance, in order to be able to reliably<br />
determine and observe measurement values.<br />
Example:<br />
Specified dimension = 125.00 ± 0.25 mm<br />
In this case of a specified tolerance of 0.5 mm,<br />
5% is equivalent to 0.025 mm. This means that<br />
the measurement system should have a resolution<br />
of 0.025 mm or better over the total measuring<br />
range. A precision gage with a scale<br />
graduation of 0.01 mm is selected.<br />
4.1.2 Type-1 Study<br />
This type of study is usually carried out at the<br />
supplier’s plant to evaluate new or modified<br />
measurement systems prior to their first use. A<br />
capability index is calculated to determine the<br />
suitability of the system.<br />
4.1.3 Type-2 Study<br />
The Type-2 study is carried out at the customer’s<br />
plant at the system’s intended point of<br />
use, in order to evaluate new and existing<br />
measurement systems prior to final acceptance.<br />
The method can also be used at the supplier’s<br />
plant. This requires the presence of both parts<br />
and operators at the supplier’s site. This<br />
method is also used for routine audits or<br />
intermediate test purposes. The assessment is<br />
carried out under conditions which mirror the<br />
actual conditions of use as far as possible, i.e.<br />
at the point of use, with real measuring objects<br />
and the actual operators who will perform the<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 17 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 17 of 107<br />
Die Beurteilung wird anhand des sogenannten<br />
%R&R Kennwertes festgestellt.<br />
4.10.4 Verfahren 3<br />
Bei Verfahren 3 handelt es sich um einen Sonderfall<br />
<strong>von</strong> Verfahren 2. Diese Vorgehensweise<br />
wird bei <strong>Messsystemen</strong> ohne Bedienereinfluss,<br />
d.h. automatischen oder mechanisierten <strong>Messsystemen</strong><br />
(z.B. bei Post-Prozess-, In-Prozess-<br />
Messeinrichtungen und vollautomatischen Messeinrichtungen)<br />
in Transferstraßen bzw. halbautomatischen<br />
<strong>Messsystemen</strong> (z.B. Drei-Koordinaten-Messgeräten,<br />
Nockenformprüfgeräten<br />
und Mehrstellenmessgeräten) eingesetzt.<br />
Die Beurteilung dieses Messverfahrens erfolgt<br />
ebenfalls anhand des %R&R Kennwertes. Es<br />
wird in Analogie zu Verfahren 2 die gleiche Abkürzung<br />
verwendet, obwohl eigentlich die Vergleichspräzision<br />
(Reproducibility) null ist.<br />
Hinweis zu Verfahren 2 und 3<br />
Die Beurteilung <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> mit Hilfe<br />
<strong>von</strong> Verfahren 2 und 3 erfolgt über die sogenannte<br />
Mittelwert-Spannweiten-Methode (ARM<br />
Average-Range-Methode) oder über die<br />
ANOVA-Methode (Analysis of Variance). Aufgrund<br />
der genaueren statistischen Betrachtung<br />
wird die Berechnungsmethode nach ANOVA<br />
empfohlen. Allerdings ist dabei der Einsatz eines<br />
Rechnerprogramms erforderlich.<br />
Die Vorgehensweise zur Ermittlung der Merkmalswerte<br />
und die Interpretation der Ergebnisse<br />
ist bei beiden Verfahren gleich. Aufgrund der<br />
unterschiedlichen Berechnungsmethoden (ARM<br />
bzw. ANOVA) können die Ergebnisse verschieden<br />
sein. Dadurch ist eine Vergleichbarkeit nur<br />
innerhalb eines Verfahrens möglich.<br />
Bei der Beschreibung der Verfahren wurde der<br />
Einfachheit halber die ARM-Methode verwendet.<br />
Die ANOVA-Methode ist im Anhang erläutert.<br />
4.10.5 Linearität<br />
Anhand dieser Studie ist zu untersuchen, ob die<br />
Messgenauigkeit über den gesamten Messbereich<br />
als geeignet angesehen werden kann. Die<br />
Untersuchung der Linearität kann sowohl beim<br />
Lieferant als auch beim Kunden am endgültigen<br />
Aufstellungsort stattfinden.<br />
Ist Linearität gefordert, ist diese vor oder in Verbindung<br />
mit Verfahren 1 durchzuführen.<br />
measurements. The evaluation is based on a<br />
statistic called %R&R.<br />
4.1.4 Type-3 Study<br />
The Type-3 study is a special case of the Type-<br />
2 study. It is used for measurement systems<br />
without appraiser influence, i.e. automated<br />
measurement systems (e.g. post-process or inprocess<br />
measuring equipment and automated<br />
or mechanized gaging machines) in transfer<br />
lines, or semi-automated measuring systems<br />
(three-coordinate measuring equipment, cam<br />
profile gaging equipment, and multiposition<br />
measuring devices).<br />
The evaluation of this measurement procedure<br />
is likewise based on the %R&R statistic. By<br />
analogy to the type-2 study the same abbreviation<br />
is used, even though reproducibility equals<br />
zero.<br />
Note on Type-2 and Type-3 studies<br />
The evaluation of measurement systems using<br />
the type-2 and type-3 studies is carried out<br />
through the so-called ARM (Average-Range-<br />
Method) or through the ANOVA method (Analysis<br />
of Variance). The ANOVA method is recommended,<br />
as it is statistically more precise.<br />
However, it does require the use of statistics<br />
software.<br />
The procedure for the taking of measurement<br />
values and the interpretation of results remain<br />
as described here for both studies. Based on<br />
the different calculation methods (ANOVA or<br />
ARM) the results may be different. Comparability<br />
is thus possible only within the same procedure.<br />
For simplicity's sake, the ARM method was<br />
used for description of the procedures. The<br />
ANOVA method is detailed in the appendix.<br />
4.1.5 Linearity<br />
This study is used to examine whether the<br />
measurement accuracy can be considered suitable<br />
over the entire measurement range. The<br />
assessment of linearity can take place either at<br />
the supplier’s site or at the final point of use<br />
within the customer’s site. If a linearity study is<br />
required, it should be carried out prior to or in<br />
conjunction with the Type-1 study.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 18 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 18 of 107<br />
4.10.6 Messbeständigkeit / Stabilität<br />
Bei den Fähigkeitsuntersuchungen (insbesondere<br />
den Verfahren 1, 2 und 3) sowie der Beurteilung<br />
der Linearität handelt es sich immer nur<br />
um eine Momentaufnahme. Anhand <strong>von</strong> Stabilitätsuntersuchungen<br />
ist nachzuweisen, dass die<br />
eingesetzten Messeinrichtungen ihre Eignung<br />
über die Dauer des Einsatzes halten.<br />
4.10.7 Vorgehensweise<br />
Der Ablauf der Eignungsuntersuchung kann<br />
nach folgendem Flussdiagramm erfolgen:<br />
ja<br />
Verfahren 2<br />
i.O.<br />
ja<br />
Neues / geändertes<br />
Meßsystem<br />
ja<br />
ja<br />
Verfahren 1<br />
i.O.<br />
ja<br />
nein<br />
Beurteilung der Linearität<br />
Meßmittel abgenommen<br />
Meßbeständigkeit während<br />
des Einsatzes überprüfen<br />
nein<br />
nein<br />
nein<br />
nein<br />
Verfahren 3<br />
i.O.<br />
ja<br />
Meßsystem<br />
mit höherer Auflösung<br />
Nachbesserung<br />
ja<br />
Nachbesserung<br />
möglich?<br />
nein<br />
s. Abschnitt Vorgehensweise<br />
“Nicht fähige Meßsysteme”<br />
➀ Messsystem muß eindeutig durch eine Identnummer<br />
gekennzeichnet sein.<br />
nein<br />
4.1.6 Stability<br />
Capability studies (especially type-1, 2, and 3<br />
studies) as well as linearity assessment only<br />
ever represent a “snapshot” assessment. Stability<br />
studies should be carried out to demonstrate<br />
that the measurement systems used retain their<br />
suitability over their entire period of use.<br />
4.1.7 Procedure<br />
The capability assessment procedure may follow<br />
the flow chart shown below:<br />
Type-2 Study<br />
O.K.<br />
Type-1 Study<br />
O.K.<br />
Linearity Study<br />
Measurement System Accepted<br />
Control Measurement Stability<br />
during use<br />
Type-3 Study<br />
O.K.<br />
System with<br />
higher resolution<br />
Improve System<br />
see paragraph Procedure<br />
“Not capable measurement systems”<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
yes<br />
yes<br />
New / modified<br />
Type Gage<br />
yes<br />
yes<br />
yes<br />
no<br />
no<br />
no<br />
no<br />
no<br />
yes<br />
yes<br />
Possible<br />
Operator<br />
Influence?<br />
➀ Measurement system must be clearly identified by<br />
means of an ID number.<br />
no<br />
no
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 19 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 19 of 107<br />
5 Verfahren 1<br />
Ziel der Untersuchung<br />
Anhand der Fähigkeitskennwerte Cg und Cgk<br />
wird entschieden, ob eine Messeinrichtung unter<br />
Verwendung eines Normals für den vorgesehenen<br />
Einsatz unter Betriebsbedingungen<br />
geeignet ist.<br />
Voraussetzung<br />
1. Die Messeinrichtung ist entsprechend den<br />
Vorschriften des Herstellers einzurichten und<br />
gebrauchsfertig zu machen.<br />
2. Es muss ein Normal/Einstellmeister vorhanden<br />
sein, dessen richtiger Wert durch Kalibrierung<br />
auf nationale oder internationale Normale<br />
rückführbar ist und sich im Laufe der<br />
Zeit nicht verändert.<br />
Die Messunsicherheit der übergeordneten<br />
Messverfahren, mit denen der richtige Wert<br />
des Normals bestimmt wird, ist anzugeben.<br />
3. Steht aus Messtechnischen Gründen kein<br />
Normal zur Verfügung, entfällt die Berechnung<br />
<strong>von</strong> Cgk. In diesem Fall kann mit Hilfe eines<br />
geeigneten Messobjektes nur die<br />
Wiederholpräzision Cg bestimmt werden.<br />
Hinweis:<br />
Bei der Verwendung eines Messobjektes<br />
kann eine größere Streuung auftreten.<br />
5 Type-1 Study<br />
Objective<br />
The capability indices Cg and Cgk is used to decide<br />
if the measurement device is capable for<br />
its intended use under actual operating conditions,<br />
based on measurements of a standard or<br />
master.<br />
Requirements<br />
1. The measurement device must be set up<br />
and prepared for use in accordance with the<br />
manufacturer’s instructions.<br />
2. A measurement standard/master must be<br />
available whose true value is traceable to a<br />
national or international measurement standard<br />
through calibration and is not subject to<br />
changes over time.<br />
The uncertainty of measurement of the<br />
higher-level measuring procedure used to<br />
determine the true value of the measurement<br />
standard must be indicated.<br />
3. If for technical reasons related to the<br />
measuring application no measurement<br />
standard is available, the calculation of Cgk is<br />
omitted. In this case only the repeatability Cg<br />
using a suitable measuring object.<br />
Note:<br />
A larger variation may be caused through the<br />
use of the measuring object.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 20 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 20 of 107<br />
Bezug:<br />
Toleranz<br />
Dokumentation<br />
Normal n mal<br />
messen und<br />
dokumentieren<br />
Berechnung <strong>von</strong><br />
Mittelwert und<br />
Standardabweichung<br />
Berechnung der<br />
Fähigkeitsindizes<br />
C und C<br />
g gk<br />
C und C 1,33<br />
g gk<br />
Ja<br />
Verfahren 2<br />
- Teile-Nr., Bezeichnung<br />
- Merkmal, Toleranz<br />
- Prüfmittel, Prüfm.-Nr.<br />
- Auflösung<br />
- Normal, Ist-Maß<br />
- usw.<br />
Nein<br />
Vorgehensweise<br />
“Nicht fähige<br />
Meßsysteme”<br />
Messung und Auswertung<br />
1. Schritt<br />
Merkmalswert und Toleranz T in das Auswerteblatt<br />
eintragen.<br />
2. Schritt<br />
Beurteilung der Auflösung (RE) der Messeinrichtung<br />
(Messwertaufnehmer mit Anzeige).<br />
RF Bezugsgröße (Reference Figure) meist<br />
Toleranz T<br />
RE<br />
% RE = ⋅100%<br />
RF<br />
%RE ≤ 5% geeignete Auflösung<br />
%RE > 5% Das Messgerät ist aufgrund der<br />
unzureichenden Auflösung ungeeignet für diese<br />
Messaufgabe.<br />
Hinweis:<br />
Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />
müssen im Einzelfall getroffen werden (s. Vorgehensweise<br />
"Nicht fähige Messsysteme").<br />
1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />
Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />
kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />
<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />
Reference:<br />
Tolerance<br />
Documentation<br />
Standard n times<br />
measuring and<br />
documentation<br />
Calculation of<br />
Average and<br />
Standard Deviation<br />
Calculation of<br />
Capability Indices<br />
C and C<br />
g gk<br />
C and C 1,33<br />
g gk<br />
- Part No., Description<br />
- Characteristic,<br />
Tolerance<br />
- Gage, Gage No.<br />
- Resolution<br />
- Master, act. dimension<br />
- etc.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
Yes<br />
Type-2 Study<br />
Measurement and Analysis<br />
No<br />
Procedure<br />
“Not capable<br />
measurement<br />
systems<br />
Step 1<br />
Enter the characteristic’s nominal value and tolerance,<br />
T, into the worksheet.<br />
Step 2<br />
Evaluate the resolution, RE, of the measuring<br />
instrument (sensor and display).<br />
The RF (reference figure) is usually the<br />
specified tolerance, T.<br />
RE<br />
% RE = ⋅100%<br />
RF<br />
%RE ≤ 5% Appropriate resolution.<br />
%RE > 5% The measurement device is not<br />
suitable for the measuring task due<br />
to insufficient resolution.<br />
Note:<br />
For very small tolerances 2 exceptions may be<br />
made on a case-by-case basis (see procedure<br />
"Not capable measurement systems").<br />
2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />
differently depending on the measuring task. This<br />
may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />
range of 10µ in the production.
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 21 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 21 of 107<br />
3. Schritt<br />
Festlegung und Auswahl eines Normals, dessen<br />
richtiger Wert xm im Toleranzfeld des Prüfmerkmals<br />
liegt. Die Messposition ist am Normal<br />
zu kennzeichnen, zwangsweise zu positionieren<br />
oder zu beschreiben.<br />
4. Schritt<br />
Einstellung und Abgleich, eventuell Justierung<br />
der Messeinrichtung nach der gültigen Vorschrift.<br />
Während der Durchführung der Messung<br />
sind Veränderungen an der Messeinrichtung<br />
nicht zulässig.<br />
5. Schritt<br />
Am Standort sind 50 (min. 20) Wiederholmessungen<br />
in kurzen Zeitabständen am Normal<br />
nach der gültigen Vorschrift (Wiederholbedingungen)<br />
durch denselben Prüfer durchzuführen.<br />
Das Normal ist vor jeder Messung erneut bei<br />
gleicher Messposition in die Messvorrichtung<br />
einzulegen. Die Werte sind in das Auswerteblatt<br />
(Verfahren 1) einzutragen.<br />
Hinweis:<br />
Die Anzahl der Wiederholungsmessungen sollte<br />
in Abhängigkeit der Messaufgabe festgelegt<br />
und zwischen Kunde und Lieferant abgestimmt<br />
werden.<br />
So kann ein Messvorgang sehr lange dauern,<br />
so dass die Messzeit bei 50 Wiederholungen<br />
mehrere Stunden in Anspruch nehmen würde.<br />
Weiter zeigen Untersuchungen, dass sich die<br />
Standardabweichungen nach 10 Wiederholungsmessungen<br />
nicht mehr signifikant ändern.<br />
Damit reichen in der Regel 20 Wiederholungsmessungen<br />
aus.<br />
6. Schritt<br />
Berechnung des angezeigten Mittelwerts x g<br />
und der Wiederholstandardabweichung sg der<br />
angezeigten Werte.<br />
7. Schritt<br />
Berechnung des Abweichungsbetrags Bi des<br />
Mittelwerts x g vom richtigen Wert xm des Nor-<br />
mals:<br />
Bi = x − x<br />
g<br />
m<br />
8. Schritt<br />
Bestimmung des Fähigkeitskennwerts Cgk, der<br />
eine systematische und eine zufällige Komponente<br />
berücksichtigt:<br />
C<br />
gk<br />
0,<br />
1⋅<br />
T − Bi<br />
=<br />
2 ⋅ s<br />
g<br />
Step 3<br />
Determine and select a measurement standard<br />
whose true value xm is within the tolerance<br />
range of the test characteristic. Mark the measuring<br />
position on the standard or set or describe<br />
a fixed position.<br />
Step 4<br />
Set up and balance, possibly adjust the measurement<br />
device in accordance with the appropriate<br />
instructions. During the study, no further<br />
adjustments of the measurement device are<br />
permitted.<br />
Step 5<br />
On site, have the same appraiser carry out, at<br />
short intervals, 50 (min. 20) repeat measurements<br />
on the measurement standard, following<br />
the appropriate instructions (repeatability conditions).<br />
The measurement standard must be removed<br />
from the device and re-inserted in the<br />
same measuring position before each measurement.<br />
Enter the measurement values into<br />
the worksheet (Type-1 Study).<br />
Note:<br />
The number of repeat measurements should be<br />
set depending on the measuring task and<br />
agreed on between customer and supplier.<br />
A measuring procedure may last a very long<br />
time, so that the total measuring time in case of<br />
50 repetitions would last several hours. Tests<br />
have shown that the standard deviations do not<br />
show significant changes after 10 repeat measurements.<br />
For this purpose, 20 repeat measurements<br />
are sufficient as a rule.<br />
Step 6<br />
Calculate the average measurement value x g<br />
and the repeatability standard deviation sg of<br />
the measurement values.<br />
Step 7<br />
Calculate Bi, the difference between the average<br />
measurement value x g and the standard’s<br />
true value xm:<br />
Bi = x − x<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
g<br />
m<br />
Step 8<br />
Determine the capability index Cgk, which reflects<br />
both a systematic and a random error<br />
component:<br />
C<br />
gk<br />
0.<br />
1⋅<br />
T − Bi<br />
=<br />
2 ⋅ s<br />
g
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 22 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 22 of 107<br />
Anmerkung:<br />
Bei Cgk = 1,33 => 3 ⋅ sg<br />
+ xg<br />
− xm<br />
= ˆ 10%<br />
Toleranz<br />
9. Schritt<br />
Bestimmung des Fähigkeitskennwerts Cg, der<br />
nur eine zufällige Komponente (Wiederholpräzision)<br />
berücksichtigt. Bei zweiseitig begrenzten<br />
Merkmalen zeigt die Differenz zwischen Cgk und<br />
Cg die Verbesserungsmöglichkeit durch genaues<br />
Einstellen der Messeinrichtung an, was einer<br />
systematischen Messabweichung Bi = 0 entspricht.<br />
C<br />
g<br />
0,<br />
2 ⋅ T<br />
=<br />
4 ⋅ s<br />
g<br />
Hinweise:<br />
Messbeständigkeit<br />
Bei Verfahren 1 handelt es sich um eine Kurzzeitbeurteilung<br />
des Messsystems, die keine<br />
Aussage über die Messbeständigkeit beim Einsatz<br />
zuläßt. Daher wird empfohlen, die Messbeständigkeit<br />
separat zu betrachten (siehe Abschnitt<br />
9 Messbeständigkeit / Stabilität).<br />
Warum 4⋅sg als Streuungsbereich?<br />
In den bisher vorliegenden Richtlinien zur Berechnung<br />
der Fähigkeitsindizes Cg bzw. Cgk<br />
wurde in der Regel als Streubereich des Messsystems<br />
6⋅sg herangezogen. In dem vorliegenden<br />
<strong>Leitfaden</strong> wurde der Streubereich des<br />
Messsystems auf 4⋅sg verringert.<br />
Begründung:<br />
1. Insbesondere wenn die Auflösung des<br />
Messsystems nicht wesentlich unter 5% der<br />
Toleranz liegt, klassiert das Messverfahren<br />
quasi die Messwerte. In diesem Fall ist als<br />
Verteilungsmodell der Messwerte die Normalverteilung<br />
nicht zutreffend.<br />
2. Umfangreiche praktische Versuche haben<br />
bestätigt, dass bei Messprozessen, sowohl<br />
in der industriellen Fertigungsüberwachung<br />
als auch bei Kalibrierungen in Laboratorien,<br />
die Messwertstreuung bei Wiederholmessungen<br />
mit einem Streubereich <strong>von</strong> ±2sg,<br />
vollständig abgedeckt ist. Das gilt bei Annahme<br />
einer Normalverteilung. Treten Werte<br />
außerhalb dieses Bereichs auf, sind diese<br />
auf eine defekte Messeinrichtung oder<br />
auf unzulässig in die Messung mit einbezogene<br />
Trends zurückzuführen.<br />
Remark:<br />
for Cgk = 1.33 => 3 ⋅ sg<br />
+ xg<br />
− xm<br />
= 10%<br />
Toleranz<br />
Step 9<br />
Determine the capability index Cg, which reflects<br />
only a random error component (repeatability).<br />
In case of bilaterally limited characteristics<br />
the difference between Cgk and Cg therefore<br />
indicates the scope for improvement achievable<br />
by exact setup of the measurement device, i.e.<br />
with a systematic error (bias) of Bi = 0.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
C<br />
g<br />
0,<br />
2 ⋅ T<br />
=<br />
4 ⋅ s<br />
Notes:<br />
g<br />
Stability<br />
The Type-1 study is a short-term assessment of<br />
the measurement system which does not provide<br />
any information on measurement stability<br />
during use. Hence it is recommended to assess<br />
stability in a separate study (see paragraph 9<br />
Stability).<br />
Why use a 4sg spread?<br />
Earlier guidelines for calculating the capability<br />
indices Cg or Cgk usually based this calculation<br />
on a measurement spread of 6sg. In the present<br />
reference manual, this measurement spread<br />
has been reduced to 4sg.<br />
Reasons:<br />
1. Especially where the resolution lies trivially<br />
below 5% of the tolerance, the measurement<br />
values are assigned to classes by the<br />
measurment procedure. In this case, the<br />
normal distribution is not a suitable model<br />
for the distribution of measurement values.<br />
2. Large-scale studies of real-life processes<br />
have shown that in measuring processes, in<br />
industrial process control as well as in calibrations<br />
in laboratories ±2sg is the true<br />
spread of the measurement device for repeat<br />
measurements. This is valid if a normal<br />
distribution is assumed. If values occur outside<br />
this region, they must be attributed to a<br />
defect measuring device or trends improperly<br />
included in the measurement.
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 23 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 23 of 107<br />
Beurteilung des Ergebnisses: Evaluation of results:<br />
I. Fall: Cgk ≥ 1,33 1 st case: Cgk ≥ 1.33<br />
Das Messgerät ist fähig.<br />
The measurement device is capable.<br />
Der Fall sg = 0 ist zu begründen. Dieser Fall The case sg = 0 must be justified. This case can<br />
kann z.B. unter folgenden Bedingungen auftre- only occur for example under the following conten:ditions:<br />
a: Das Normal ist sehr gleichmäßig in seiner a: The measurement standard’s characteristic<br />
Merkmalsausprägung.<br />
is very consistent.<br />
b: Die Auflösung der Messeinrichtung reicht b: The resolution of the measurement device is<br />
nicht aus, um die Einflüsse zu erkennen. not high enough to recognize the existing in-<br />
c: Fehler in der Messeinrichtung (z.B. Messfluences.taster klemmt).<br />
c: Measuring device error (i.e. measuring finger<br />
jammed).<br />
II. Fall: Cgk < 1,33 2 nd case: Cgk < 1.33<br />
Das Messgerät ist nicht fähig.<br />
The measurement device is not capable.<br />
Die Messabweichung und/oder Messwertstreu- The accuracy and/or measurement value deviaung<br />
sind/ist durch geeignete Maßnahmen zu tion must be improved by suitable measures un-<br />
reduzieren, bis Cgk ≥ 1,33 erfüllt ist.<br />
til Cgk ≥ 1.33 has been achieved.<br />
Ist der Cg-Wert größer 1,33 und wurde ein Ge- If Cg is greater than 1.33 and a working stanbrauchsnormal<br />
verwendet, so kann es sein, dard has been used, then it may be possible that<br />
dass der richtige Wert xm des Normals nicht the true value xm of the standard was not deter-<br />
korrekt ermittelt wurde (z.B. unterschiedliche mined correctly (e.g. different measuring posi-<br />
Messpunkte). Der richtige Wert xm ist zu übertions). The true value xm should be checked and<br />
prüfen und gegebenenfalls anzupassen. adjusted if necessary.<br />
Ist der Cg-Wert ebenfalls < 1,33, ist durch Ein- If the Cg-value is also < 1.33, then it won’t be<br />
stellung keine ausreichende Verbesserung zu possible to achieve a sufficient improvement by<br />
erzielen, da die Wiederholstandardabweichung means of setup, since the repeatability-based<br />
der Messprozesses zu groß ist. Eventuell ist ein standard deviation of the measurement process<br />
anderes Messverfahren notwendig.<br />
is too large. It may be necessary to consider a<br />
different measuring procedure.<br />
Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />
müssen im Einzelfall getroffen werden (siehe<br />
hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige<br />
Messsysteme“).<br />
Anmerkung:<br />
Durch Umstellen der Formel für Cgk mit<br />
Cgk ≥ 1,33 kann der kleinste Betrag der Toleranz<br />
errechnet werden, ab dem die Messeinrichtung<br />
nach Verfahren 1 geeignet ist.<br />
4 ⋅ sg<br />
+ Bi<br />
≥ = 40s<br />
+ 10Bi<br />
0,<br />
1<br />
Tmin g<br />
1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />
Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />
kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />
<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />
For very small tolerances 2 exceptions may be<br />
made on a case-by-case basis (see also “Noncapable<br />
measurement systems” procedure).<br />
Remark:<br />
By setting Cgk ≥ 1.33 and solving the Cgk formula<br />
for T, it is possible to calculate the smallest<br />
permissible tolerance for which the measurement<br />
device will still be capable according to<br />
the criteria of the Type-1 Study.<br />
4 ⋅ sg<br />
+ Bi<br />
T ≥ = 40 ⋅ sg<br />
+ 10Bi<br />
0.<br />
1<br />
2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />
differently depending on the measuring task. This<br />
may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />
range of 10µ in the production.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 24 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 24 of 107<br />
6 Verfahren 2<br />
Vorbemerkung<br />
Beim Verfahren 2 wird der Bedienereinfluss ermittelt.<br />
Der Bedienereinfluss ist durch die Konstruktion<br />
der Messeinrichtung möglichst auszuschließen.<br />
Ist ein Bedienereinfluss bei einer<br />
Messeinrichtung gegeben, so muss dieser Einfluss<br />
untersucht werden. Ansonsten kann Verfahren<br />
3 (keine Berücksichtigung des Bedienereinflusses)<br />
angewendet werden. Ein Bedienereinfluss<br />
ist nur dann ganz auszuschließen,<br />
wenn einschließlich der Beschickung der Messeinrichtung<br />
mit dem Messobjekt der Messprozess<br />
automatisiert abläuft.<br />
Ziel des Verfahrens<br />
Anhand des Kennwertes %R&R wird beurteilt,<br />
ob eine Messeinrichtung unter Berücksichtigung<br />
aller Einflussgrößen für die vorgesehene Messaufgabe<br />
geeignet ist. Zu den Einflussgrößen<br />
gehören z.B. Verschmutzung, Erschütterung,<br />
zeitlicher und örtlicher Temperaturgradient, Bediener,<br />
Messmethode, Messverfahren, Beschaffenheit<br />
des Messobjektes usw..<br />
Voraussetzung<br />
Das Verfahren 2 darf nur nach erfolgreichem<br />
Nachweis der Eignung aus Verfahren 1 durchgeführt<br />
werden.<br />
Bei der Beurteilung<br />
ist zwischen neuem<br />
Meßsystem und<br />
System im Einsatz zu<br />
unterscheiden<br />
neues Meßsystem<br />
Dokumentation<br />
Datenerfassung:<br />
An 10 Meßobjekten IST-<br />
Maße mit 2 Prüfern und<br />
je 2 Meßreihen ermitteln<br />
Berechnung <strong>von</strong><br />
Wiederholpräzision,<br />
Vergleichspräzision<br />
und Gesamtstreuung<br />
- Teile-Nr., Bezeichnung<br />
- Merkmal, Toleranz<br />
- Prüfmittel, Prüfm.-Nr.<br />
- Auflösung<br />
- Normal, Ist-Maß<br />
- usw.<br />
Meßsystem im Einsatz<br />
nein<br />
%R&R ≤ 20%<br />
%R&R ≤ 30%<br />
ja<br />
Vorgehensweise "Nicht<br />
fähige Meßsysteme"<br />
ja<br />
Meßsystem fähig<br />
6 Type-2 Study<br />
Preliminary Note<br />
The Type-2 Study determines the appraiser influence.<br />
Wherever possible, the measurement<br />
device should be designed in such a way that<br />
all appraiser influence is eliminated. However, if<br />
a measurement device is subject to appraiser<br />
influence, then this influence must be investigated.<br />
In all other cases, a Type-3 Study (which<br />
does not consider appraiser influence) may be<br />
applied. It is only possible to exclude user influence<br />
entirely, if the measuring process is automated<br />
completely including loading the measuring<br />
object into the measuring device.<br />
Objective<br />
The index %R&R is used to assess whether a<br />
measurement device is suitable for the measuring<br />
task at hand, taking into account all the influences.<br />
As an example, among the influences<br />
are soiling, vibration, temperature gradients<br />
caused by time and location, operator, measuring<br />
method, measuring procedure, nature of the<br />
measuring object, etc..<br />
Precondition<br />
It is only allowed to carry out the type-2 study<br />
after successful capability proof using the type-<br />
1 Study.<br />
For evaluation<br />
differentiate between<br />
new measurement<br />
system and<br />
system in use<br />
new Measurement<br />
System<br />
Documentation<br />
Recording data:<br />
measure actual value<br />
on 10 measuring<br />
objects with 2 operators<br />
and 2 trials each<br />
Calculate repeatability,<br />
reproducibility, and total<br />
variation<br />
- Part No., Description<br />
- Characteristic, Tolerance<br />
- Gauge, Gauge No.<br />
- Resolution<br />
- Master, actual dimension<br />
- etc.<br />
Measurement System<br />
in use<br />
no<br />
%R&R ≤ 20%<br />
%R&R ≤ 30%<br />
Procedure "Not capable<br />
measurement system"<br />
Measurement system capable<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
yes<br />
yes
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 25 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 25 of 107<br />
Messung und Auswertung<br />
1. Schritt<br />
Festlegung der Anzahl <strong>von</strong> Prüfern (k ≥ 2), die<br />
Auswahl <strong>von</strong> 10 Messobjekten (n ≥ 5), die möglichst<br />
über den Toleranzbereich verteilt sind und<br />
die Anzahl der Messungen pro Prüfer (r ≥ 2).<br />
Dabei muss das Produkt k ⋅ r ⋅ n größer gleich<br />
30 sein: k ⋅ r ⋅n<br />
≥ 30.<br />
Standardfall: 2 Prüfer, 10 Teile mit 2 Messreihen<br />
pro Prüfer.<br />
2. Schritt<br />
Die Teile werden nummeriert. Um den Einfluss<br />
des Messobjekts, z.B. die Teilegeometrie, auszuschließen,<br />
wird die Messposition gekennzeichnet<br />
oder dokumentiert. Die Umgebungsbedingungen<br />
(z.B. Temperatur, Bediener,<br />
Schwingungen usw.) sind zu dokumentieren.<br />
3. Schritt<br />
Der erste Gerätebediener stellt die Messeinrichtung<br />
ein und ermittelt die Merkmalswerte der<br />
Messobjekte in der durch die Nummerierung vorgegebenen<br />
Reihenfolge und nach der gültigen<br />
Vorschrift unter Beachtung der Messposition. Die<br />
Messwerte werden dokumentiert. In derselben<br />
Reihenfolge und nach derselben Verfahrensweise<br />
ermittelt der erste Gerätebediener die<br />
Merkmalswerte der Messobjekte ein zweites Mal.<br />
Die Messergebnisse der zweiten Messung dürfen<br />
<strong>von</strong> den Ergebnissen der ersten Messung<br />
nicht beeinflusst werden. Während der Durchführung<br />
der Untersuchung sind Veränderungen an<br />
der Messeinrichtung nicht zulässig.<br />
Hinweis:<br />
Die hier empfohlene Reihenfolge für den Messablauf<br />
kann oftmals aus praktischen Gegebenheiten<br />
nicht eingehalten werden. Um bestimmte<br />
Eigenschaften einer Messeinrichtung bzw. den<br />
Drift durch Temperatureinfluss erkennen zu<br />
können, ist es ebenfalls sinnvoll, eine andere<br />
Reihenfolge zu wählen.<br />
Daher empfiehlt sich, die Reihenfolge des<br />
Messablaufs je nach Messaufgabe in Absprache<br />
zwischen Kunde und Lieferant individuell<br />
festzulegen und entsprechend zu dokumentieren.<br />
Measurement and Analysis<br />
Step 1<br />
Determine the number of appraisers (k ≥ 2), select<br />
10 measuring objects (n ≥ 5), which to the<br />
extent possible should be spread across the entire<br />
tolerance range, and determine the number<br />
of measurements per appraiser (r ≥ 2). Note<br />
that the product k ⋅ r ⋅ n must be greater than 30,<br />
i.e. k ⋅ r ⋅n<br />
≥ 30.<br />
Standard case: 2 appraisers, 10 parts with 2<br />
measurement series per appraiser.<br />
Step 2<br />
The parts are numbered. In order to eliminate<br />
the influence of the measuring object, i.e. part<br />
geometry, the measuring position is marked or<br />
documented. Record the environmental conditions<br />
(e.g. temperature, appraiser, vibrations,<br />
etc.).<br />
Step 3<br />
The first appraiser sets up the measurement<br />
device and measures the characteristics of the<br />
measuring objects in the sequence given by the<br />
numbering, following the appropriate instructions<br />
and adhering to the measuring position.<br />
The measured values are recorded. The first<br />
appraiser measures the measuring objects a<br />
second time in the same sequence, following<br />
the same procedure. The results of the second<br />
measurement run must not be affected by the<br />
results of the first run. During the study, adjustments<br />
of the measurement device are not permitted.<br />
Note:<br />
For practical reasons, it is often not possible to<br />
observe strictly the sequence for the measuring<br />
procedure recommended here. In order to be<br />
able to recognize certain characteristics of a<br />
measuring device or the drift caused by temperature<br />
influences, it may also be sensible to<br />
choose another sequence.<br />
For this reason it is recommended to stipulate<br />
and document individually the sequence of the<br />
measuring procedure depending on the measuring<br />
task in an agreement between customer<br />
and supplier.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 26 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 26 of 107<br />
4. Schritt<br />
Schritt 3 ist mit jedem weiteren Prüfer zu wiederholen.<br />
Die jeweiligen Messergebnisse<br />
sollten während der Durchführung der Messung<br />
den anderen Prüfern nicht bekannt sein.<br />
5. Schritt<br />
Ermittlung der Spannweiten aus den Ergebnissen<br />
des ersten Prüfers pro Messobjekt.<br />
6. Schritt<br />
Berechnung des Mittelwertes der Einzelwerte<br />
des ersten Prüfers x 1 und der mittleren Spann-<br />
R aus den Messreihen des ersten Prüfers.<br />
weite 1<br />
7. Schritt<br />
Schritt 5 und 6 sind für jeden weiteren Prüfer zu<br />
wiederholen.<br />
8. Schritt<br />
Berechnung der Wiederholbarkeit des Messsystems<br />
(EV)<br />
EV = K1<br />
⋅ R mit R Mittelwert der mittleren<br />
Spannweiten<br />
Hinweis:<br />
Die K1-Faktoren sind dem Anhang zu entnehmen.<br />
9. Schritt<br />
Berechnung der Vergleichbarkeit des Messsystems<br />
(AV)<br />
x = x − x<br />
Diff<br />
max<br />
AV = K ⋅<br />
2 xDiff<br />
min<br />
Hinweis:<br />
Die K2-Faktoren sind dem Anhang zu entnehmen.<br />
10. Schritt<br />
Berechnung der Wiederhol- und Vergleichpräzision<br />
R&R<br />
R & R = EV +<br />
2 2<br />
AV<br />
R & R<br />
% R & R = ⋅100%<br />
RF<br />
Step 4<br />
Step 3 should be repeated with the other appraisers.<br />
The respective measuring results<br />
should not be available to the other appraisers<br />
during measuring.<br />
Step 5<br />
Determine the ranges from the first appraiser’s<br />
results for each measuring object.<br />
Step 6<br />
Calculate the average x1 of the individual results<br />
of the first appraiser and the average<br />
range R 1 from the measurement series of the<br />
first appraiser.<br />
Step 7<br />
Repeat steps 5 and 6 for the other appraisers.<br />
Step 8<br />
Calculate the repeatability of the measurement<br />
system (EV)<br />
EV = K1<br />
⋅ R with R = average of the average<br />
ranges<br />
Note:<br />
The K1 values are given in the Appendix.<br />
Step 9<br />
Calculate the reproducibility of the measurement<br />
system (AV)<br />
x = x − x<br />
max<br />
2 xDiff<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
Diff<br />
AV = K ⋅<br />
min<br />
Note:<br />
The K2 values are given in the Appendix.<br />
Step 10<br />
Calculate Repeatability and Reproducibility,<br />
R & R<br />
R & R = EV +<br />
2 2<br />
AV<br />
R & R<br />
% R & R =<br />
⋅100%<br />
RF
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 27 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 27 of 107<br />
Beurteilung des Ergebnisses: Evaluation of results:<br />
I. Fall: %R&R ≤ 20% für neue Messsysteme 1 st case: %R&R ≤ 20% for new systems<br />
II. Fall: %R&R ≤ 30% für Messsysteme<br />
im Einsatz<br />
2 nd case: %R&R ≤ 30% for systems in use<br />
Das Messsystem ist geeignet.<br />
The measurement device is capable.<br />
Tritt bei einem oder mehreren Prüfern der Fall If for one or several appraisers the case R = 0<br />
R = 0 auf, so ist dies zu begründen. Dieser Fall occurs, then this has to be justified. This case<br />
kann z.B. nur unter folgenden Bedingungen auf- can occur for example under the following contreten:ditions:<br />
a: Das Messgerät ist sehr gleichmäßig in sei- a: The measurement device is very consistent<br />
ner Merkmalsausprägung.<br />
in its characteristics.<br />
b: Die Auflösung der Messeinrichtung reicht b: The resolution of the measurement device is<br />
nicht aus, um die Einflüsse zu erkennen. not high enough to recognize the existing in-<br />
c: Fehler in der Messeinrichtung (z.B. Messfluences.taster klemmt).<br />
c: Measuring device error (i.e. measuring finger<br />
jammed).<br />
III. Fall: %R&R > 20% bzw. 30% 3 rd case: %R&R > 20% or 30% respectively<br />
Das Messsystem ist nicht geeignet.<br />
The measurement system is not capable.<br />
Der Einfluss der Prüfer und/oder die Mess- The influence of the appraiser and/or the measstreuung<br />
sind durch geeignete Maßnahmen zu urement variability must be reduced through<br />
reduzieren, bis die Forderung erfüllt ist. Eventu- suitable measures until the requirement is met.<br />
ell ist ein anderes Messverfahren oder eine It may be necessary to choose a different<br />
bessere Schulung der Prüfer notwendig (siehe measuring procedure or to improve training of<br />
hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige the operators (see also “Non-capable meas-<br />
Messsysteme“).<br />
urement systems” procedure).<br />
Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />
müssen im Einzelfall getroffen werden (siehe<br />
hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige<br />
Messsysteme“).<br />
Anmerkung:<br />
Durch Umstellung der Ungleichung %R&R ≤<br />
20% bzw. 30% kann die kleinste zulässige Betrag<br />
der Toleranzvorgabe errechnet werden, für<br />
die die Messeinrichtung nach Verfahren 2<br />
eingesetzt werden kann.<br />
T min<br />
T min<br />
≥ 5 ⋅R<br />
& R bei neuen <strong>Messsystemen</strong><br />
10<br />
≥ ⋅R<br />
& R bei <strong>Messsystemen</strong> im Einsatz<br />
3<br />
1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />
Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />
kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />
<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />
For very small tolerances 2 exceptions may be<br />
made on a case-by-case basis (see also “Noncapable<br />
measurement systems” procedure).<br />
Remark:<br />
By rearranging the inequation % R & R ≤ 20%<br />
, it<br />
is possible to calculate the smallest permissible<br />
tolerance amount for which the measuring device<br />
can still be used according to the type-2<br />
study.<br />
≥ 5 ⋅R<br />
& R for new measurement systems<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
T min<br />
T min<br />
10<br />
≥ ⋅R<br />
& R for measurement systems in use<br />
3<br />
2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />
differently depending on the measuring task. This<br />
may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />
range of 10µ in the production.
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 28 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 28 of 107<br />
7 Verfahren 3<br />
Vorbemerkung<br />
Das Verfahren 3 ist ein Sonderfall des Verfahrens<br />
2 und wird bei <strong>Messsystemen</strong> angewendet,<br />
bei denen kein Bedienereinfluss vorliegt.<br />
(z.B. mechanisierte Messeinrichtung, Prüfautomaten,<br />
automatisches Handling usw.) bzw. der<br />
Bedienereinfluss vernachlässigbar klein ist.<br />
Ziel des Verfahrens<br />
Anhand des Kennwerts %EV wird beurteilt, ob<br />
eine Messeinrichtung unter Verwendung <strong>von</strong><br />
Messobjekten (z.B. Produktionsteilen) unter Betriebsbedingungen<br />
und Berücksichtigung des<br />
möglichen Einflusses der zu messenden Produktionsteile<br />
(Oberflächeneinfluss, Verschmutzung,<br />
Temperatureinfluss etc.) für die vorgesehene<br />
Messaufgabe geeignet ist.<br />
Voraussetzung<br />
Das Verfahren 3 darf nur nach erfolgreichem<br />
Nachweis der Eignung aus Verfahren 1 durchgeführt<br />
werden.<br />
Messung und Auswertung<br />
1. Schritt<br />
Auswahl <strong>von</strong> Messobjekten (n ≥ 5), die möglichst<br />
über die Toleranz verteilt sind und Festlegung<br />
der Anzahl Messungen pro Messobjekt (r<br />
≥ 2). Dabei muss das Produkt n ⋅ r größer<br />
gleich 20 sein: n ⋅ r ≥ 20 .<br />
Standardfall:<br />
25 Teile mit 2 Messungen pro Messobjekt.<br />
2. Schritt<br />
Die Teile werden nummeriert. Um den Einfluss<br />
des Messobjekts (z.B. der Teilegeometrie) auszuschließen,<br />
wird die Messposition gekennzeichnet<br />
oder zu dokumentieren. Die Einflussgrößen<br />
(z.B. Temperatur, Schwingung usw.)<br />
sind festzuhalten.<br />
3. Schritt<br />
Der Gerätebediener stellt die Messeinrichtung<br />
ein und ermittelt die Messwerte der Messobjekte<br />
in der durch die Nummerierung vorgegebenen<br />
Reihenfolge und nach der gültigen<br />
Vorschrift unter Beachtung der Messposition.<br />
Die Messwerte werden dokumentiert. In derselben<br />
Reihenfolge und nach derselben Verfahrensweise<br />
ermittelt der Gerätebediener die<br />
7 Type-3 Study<br />
Preliminary Note<br />
The Type-3 Study constitutes a special case of<br />
the Type-2 Study and is used for measurement<br />
systems which are not subject to appraiser influence<br />
(e.g. mechanized measuring device<br />
automatic gages, automatic handling etc.) or<br />
where the appraiser influence is negligible.<br />
Objective<br />
The index %EV is used to assess whether a<br />
measurement device is suitable for the measuring<br />
task at hand, taking into account the operating<br />
conditions and any influences originating<br />
from the objects (i.e. production parts) to be<br />
measured (surface condition, soiling, effect of<br />
temperature etc.). This assessment is based on<br />
the measurement of production parts.<br />
Precondition<br />
It is only allowed to carry out the type-3 study<br />
after successful capability proof using the type-<br />
1 Study.<br />
Measurement and Analysis<br />
Step 1<br />
Select measuring objects (n ≥ 5), which to the<br />
extent possible should be spread across the entire<br />
tolerance range, and determine the number<br />
of measurements per object (r ≥ 2). Note that<br />
the product n ⋅ r must be greater than 20, i.e.<br />
n ⋅ r ≥ 20 .<br />
Standard case:<br />
25 parts with 2 measurements per object.<br />
Step 2<br />
The parts are numbered. In order to eliminate<br />
the influence of the measuring object (i.e. part<br />
geometry), the measuring position is marked or<br />
documented. Record the sources of variation<br />
(e.g. temperature, vibration, etc.).<br />
Step 3<br />
The operator sets up the measurement device<br />
and measures the measuring objects in the sequence<br />
given by the numbering, following the<br />
appropriate instructions and adhering to the<br />
measuring position. The measured values are<br />
recorded. The operator then measures the parts<br />
a second time in the same sequence, following<br />
the same procedure The results of the second<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 29 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 29 of 107<br />
Merkmalswerte der Teile ein zweites Mal. Die<br />
Messergebnisse der zweiten Messung dürfen<br />
<strong>von</strong> den Ergebnissen der ersten Messung nicht<br />
beeinflusst werden. Während der Durchführung<br />
der Untersuchung sind Veränderungen an der<br />
Messeinrichtung nicht zulässig.<br />
Hinweis:<br />
Die hier empfohlene Reihenfolge für den Messablauf<br />
kann oftmals aus praktischen Gegebenheiten<br />
nicht eingehalten werden. Um bestimmte<br />
Eigenschaften einer Messeinrichtung bzw. den<br />
Drift durch Temperatureinfluss erkennen zu<br />
können, ist es ebenfalls sinnvoll, eine andere<br />
Reihenfolge zu wählen.<br />
Daher empfiehlt sich, die Reihenfolge des<br />
Messablaufs je nach Messaufgabe in Absprache<br />
zwischen Kunde und Lieferant individuell<br />
festzulegen und entsprechend zu dokumentieren.<br />
4. Schritt<br />
Ermittlung der Spannweite pro Messobjekt.<br />
5. Schritt<br />
Berechnung der mittleren Spannweite R aus<br />
den Ergebnissen der Messungen.<br />
6. Schritt<br />
Berechnung der Wiederholbarkeit Messsystem<br />
(EV)<br />
R & R EV K1<br />
R ⋅ = =<br />
mit R Mittelwert der Spannweiten<br />
Hinweis:<br />
Die K1-Faktoren sind dem Anhang zu entnehmen.<br />
EV<br />
% R & R = % EV = ⋅100%<br />
RF<br />
the same procedure. The results of the second<br />
measurement run must not be affected by the<br />
results of the first run. During the study, adjustments<br />
of the measurement device are not permitted.<br />
Note:<br />
For practical reasons, it is often not possible to<br />
observe strictly the sequence for the measuring<br />
procedure recommended here. In order to be<br />
able to recognize certain characteristics of a<br />
measuring device or the drift caused by temperature<br />
influences, it may also be sensible to<br />
choose another sequence.<br />
For this reason it is recommended to stipulate<br />
and document individually the sequence of the<br />
measuring procedure depending on the measuring<br />
task in an agreement between customer<br />
and supplier.<br />
Step 4<br />
Determine the range for each measuring object.<br />
Step 5<br />
Calculate the average range R from the measurement<br />
results.<br />
Step 6<br />
Calculate the repeatability of the measurement<br />
system (EV)<br />
R & R EV K1<br />
R ⋅ = =<br />
with R average range<br />
Note:<br />
The K1 values are given in the Appendix.<br />
EV<br />
% R & R =<br />
% EV = ⋅100%<br />
RF<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 30 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 30 of 107<br />
Beurteilung der Ergebnisse Evaluation of Results<br />
I. Fall: %R&R=%EV ≤ 20% für neue Messsysteme<br />
II. Fall: %R&R=%EV ≤ 30% für Messsysteme<br />
im Einsatz<br />
Das Messgerät ist geeignet.<br />
Der Fall R = 0 ist zu begründen. Dieser Fall<br />
kann z.B. unter folgenden Bedingungen auftreten:<br />
a: Das Messgerät ist sehr gleichmäßig in seiner<br />
Merkmalsausprägung.<br />
b: Die Auflösung der Messeinrichtung reicht<br />
nicht aus, um die Einflüsse zu erkennen.<br />
c: Fehler in der Messeinrichtung (z.B. Messtaster<br />
klemmt).<br />
1 st case: %R&R=%EV ≤ 20% for new systems<br />
2 nd case: %R&R=%EV ≤ 30% for system in<br />
use<br />
The measurement device is capable.<br />
The case R = 0 has to be justified. This case<br />
can occur only under the following conditions:<br />
a: The measurement device is very consistent<br />
in its characteristics.<br />
b: The resolution of the measuring device is<br />
not sufficient to recognize the existing influences.<br />
c: Measuring device error (i.e. measuring finger<br />
jammed).<br />
III. Fall: %R&R=%EV > 20% bzw. 30% 3 rd case: %R&R=%EV > 20% or 30%<br />
Das Messgerät ist nicht geeignet.<br />
The measurement device is not capable.<br />
Die Messstreuung ist zu reduzieren, bis die The measurement variability must be reduced<br />
Forderung erfüllt ist (siehe hierzu auch Vorge- until the requirement is met (see also “Nonhensweise<br />
„Nicht fähige Messsysteme“). capable measurement systems” procedure).<br />
Ausnahmeregelungen bei kleinen Toleranzen 1<br />
müssen im Einzelfall getroffen werden (siehe<br />
hierzu auch Vorgehensweise „Nicht fähige<br />
Messsysteme“).<br />
Anmerkung:<br />
Durch Umstellung der Ungleichung %EV ≤ 20%<br />
bzw. 30% kann die kleinste zulässige Betrag<br />
der Toleranzvorgabe errechnet werden, für die<br />
die Messeinrichtung zur Messung nach Verfahren<br />
3 eingesetzt werden kann:<br />
T ≥ 5 ⋅ EV bei neuem Messsystem<br />
10<br />
T ≥ ⋅ EV bei Messsystem im Einsatz<br />
3<br />
1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />
Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />
kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />
<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />
For very small tolerances 2 exceptions may be<br />
made on a case-by-case basis (see also “Noncapable<br />
measurement systems” procedure).<br />
Remark:<br />
By rearranging the inequation %EV ≤ 20% or<br />
30%, it is possible to calculate the smallest<br />
permissible tolerance amount for which the<br />
measuring device can still be used to measure<br />
production parts according to the type-3 study:<br />
T ≥ 5 ⋅ EV for new measurement system<br />
10<br />
T ≥ ⋅ EV for measurement system in use<br />
3<br />
2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />
differently depending on the measuring task. This<br />
may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />
range of 10µ in the production.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 31 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 31 of 107<br />
8 Linearität / Untersuchung an<br />
den Spezifikationsgrenzen<br />
8.1 Vorbemerkung<br />
Es sind folgende Situationen zu unterscheiden:<br />
• das Messsystem enthält eine lineare Maßverkörperung.<br />
Dies ist in Form eines Zertifikates<br />
bzw. Überprüfung nachzuweisen.<br />
In diesem Fall ist keine separate Linearitätsstudie<br />
erforderlich. Die Beurteilung des<br />
Messverfahrens nach Verfahren 1 ist ausreichend.<br />
• Das Messsystem enthält keine lineare Maßverkörperung.<br />
Aufgrund des vorhandenen Messverfahrens<br />
ist bekannt, dass die Maßverkörperung<br />
als nicht linear angesehen werden kann.<br />
Typische Beispiele sind induktive Taster,<br />
pneumatische Messungen etc. In diesem<br />
Fall wird zwischen zwei Vorgehensweisen<br />
unterschieden:<br />
- Untersuchung an den Grenzwerten des<br />
Toleranzbereiches (8.2)<br />
- Linearitätsuntersuchungen (8.3 und 8.4)<br />
Bei einer reinen Absicherung der Spezifikationsgrenzen<br />
wird mit Hilfe eines min- und max-<br />
Normals in der Nähe der Spezifikationsgrenzen<br />
Verfahren 1 durchgeführt. Bei Tasterverknüpfungen<br />
werden mindestens drei Normale empfohlen.<br />
Bei einer Fähigkeits-/Linearitätsuntersuchung<br />
werden folgende Situationen unterschieden:<br />
• Ohne Normal: die Linearität wird gesondert<br />
nachgewiesen<br />
• Ein Normal plus weiterer Linearitäts-<br />
nachweis<br />
• Drei Meister min / mittel / max<br />
• Mehr als 3 Meister: Regressions-<br />
betrachtung<br />
Hinweis:<br />
Im konkreten Fall ist zwischen Kunde und Lieferant<br />
das jeweils zu verwendende Verfahren<br />
festzulegen.<br />
8 Linearity / Study near the<br />
Specification Limits<br />
8.1 Introduction<br />
The following situations must be distinguished:<br />
• The measurement system includes a linear<br />
reference standard. This should be proved<br />
by means of a certificate or testing.<br />
In this case, no separate linearity study is<br />
required. The Type-1 study alone is enough.<br />
• The measurement system does not include<br />
a linear reference standard.<br />
Based on the measuring procedure used it<br />
is known that the reference standard cannot<br />
be considered to be linear. Typical examples<br />
are induction probes, pneumatic measurements<br />
etc. In this case, two procedures<br />
are distinguished:<br />
- study near the limits of the tolerance<br />
range (8.2)<br />
- linearity studies (8.3 and 8.4)<br />
For mere safeguarding of the specification limits,<br />
a Type-1 study is carried out close to the<br />
specification limits using min. and max. standards.<br />
For linked probes, at least three masters<br />
are recommended.<br />
In capability/linearity studies, three situations<br />
are distinguished:<br />
• without standard: linearity is demonstrated<br />
separately<br />
• one standard plus additional proof of<br />
linearity<br />
• three masters, min., mid., max.<br />
• more than three masters: regression<br />
analysis<br />
Note:<br />
The procedure to be used should be determined<br />
between customer and supplier for the<br />
actual case.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 32 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 32 of 107<br />
8.2 Untersuchung an den<br />
Spezifikationsgrenzen<br />
Vorbemerkung<br />
Verfügt die Messeinrichtung nicht über eine<br />
eingebaute lineare Maßverkörperung (Glasmaßstab<br />
o. ä.), ist nachfolgende Untersuchung<br />
zu empfehlen.<br />
Ziel der Untersuchung<br />
Durch die mehrmalige Anwendung <strong>von</strong> Verfahren<br />
1 wird festgestellt, ob eine Messeinrichtung<br />
über den gesamten Messbereich bzw. Anwendungsbereich<br />
den Anforderungen entspricht.<br />
Als Minimalforderung gilt die Anwendung des<br />
Verfahrens 1. Hierzu sind zwei Normale nahe<br />
den Spezifikationsgrenzen (Grenzwerte des Toleranzbereichs)<br />
notwendig.<br />
Hinweis:<br />
Die Messung und Auswertung, sowie die Beurteilung<br />
der Ergebnisse ist mit der in Verfahren 1<br />
beschriebenen Vorgehensweise identisch.<br />
8.2 Study Near the Specification<br />
Limits<br />
Preliminary Note<br />
If the measurement device does not include an<br />
in-built linear reference standard (glass scale or<br />
similar), the following study is recommended.<br />
Objective<br />
To determine, by applying several Type-1 Studies<br />
in succession, if a measurement device<br />
meets the requirement over the whole measuring/application<br />
range.<br />
The minimum requirement is the application of<br />
a Type-1. For this purpose two measurement<br />
standards close to the specification limits<br />
(tolerance range limits) are required.<br />
Note:<br />
Measurement and analysis, as well as the<br />
evaluation of results, is identical to the procedure<br />
described for the Type-1 study.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 33 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 33 of 107<br />
8.3 Beurteilung der Linearität<br />
anhand <strong>von</strong> drei Normalen<br />
Die Linearitätsabweichung ist wie folgt zu ermitteln:<br />
Es werden n Messungen im unteren, im oberen<br />
und im mittleren Toleranzbereich des Merkmals<br />
mit Hilfe <strong>von</strong> Prüfnormalen durchgeführt<br />
(Standardfall ist n=10). Dabei ist x gu der Mittelwert<br />
über alle 10 Messungen im unteren, x go<br />
der Mittelwert über alle 10 Messungen im oberen<br />
Toleranzbereich und x g der Mittelwert über<br />
alle 10 Messungen im mittleren Toleranzbereich.<br />
Für x g können u.U. auch die Werte aus<br />
der Prüfmittelfähigkeitsuntersuchung Verfahren<br />
1 verwendet werden.<br />
xm, xmu und xmo sind die richtigen Werte des<br />
Prüfnormals im mittleren, unteren und oberen<br />
Toleranzbereich.<br />
Die untere Linearitätsabweichung berechnet<br />
sich nach<br />
Li<br />
u<br />
x<br />
= 1−<br />
x<br />
m<br />
g<br />
− x<br />
− x<br />
mu<br />
gu<br />
⋅100%<br />
und die obere Linearitätsabweichung<br />
Li<br />
o<br />
x<br />
= 1−<br />
x<br />
mo<br />
go<br />
− x<br />
− x<br />
m<br />
g<br />
⋅100%<br />
Beide Werte müssen folgende Bedingungen erfüllen:<br />
% Liu<br />
, Lio<br />
≤<br />
[ 3%<br />
+ ( % U)<br />
]<br />
U1<br />
mit % U = ⋅100%<br />
T<br />
und<br />
U1 = Kalibrierunsicherheit des Normals<br />
T = Toleranz<br />
%U = Kalibrierunsicherheit im Verhältnis zur<br />
Toleranz. Der Grenzwert für %U ist:<br />
%U ≤ 5% der Toleranz.<br />
8.3 Linearity study using three masters<br />
The deviation from linearity should be determined<br />
as follows:<br />
n measurements each are taken in the lower,<br />
center and upper part of the tolerance range (as<br />
a rule, n = 10), by measuring appropriate standards.<br />
Then x gl is the average of the 10 measurements<br />
taken at the lower end of the tolerance<br />
range, x gu is the average of the 10 measurements<br />
taken at the upper end of the tolerance<br />
range, and x g is the average of the 10<br />
measurements taken in the center of the tolerance<br />
range. For x g it may be possible to use<br />
the values recorded in the course of the Type-1<br />
study.<br />
xm, xml and xmu are the true values of the standards<br />
in the lower, middle and upper part of the<br />
tolerance range.<br />
The lower linearity deviation is calculated as follows:<br />
x<br />
= 1−<br />
x<br />
⋅100%<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
Li<br />
u<br />
m<br />
g<br />
− x<br />
− x<br />
ml<br />
gl<br />
The upper linearity deviation is calculated as<br />
follows:<br />
Li<br />
o<br />
x<br />
= 1−<br />
x<br />
mu<br />
gu<br />
− x<br />
− x<br />
m<br />
g<br />
⋅100%<br />
Both values must fulfill the following requirements:<br />
% Lil<br />
, Liu<br />
≤<br />
[ 3%<br />
+ ( % U)<br />
]<br />
U1<br />
with % U = ⋅100%<br />
T<br />
and<br />
U1 = calibration uncertainty of the standard<br />
T = tolerance<br />
%U = calibration uncertainty relative to the<br />
tolerance. The limit for %U is:<br />
%U ≤ 5% of the tolerance.
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 34 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 34 of 107<br />
8.4 Beurteilung der Linearität bei<br />
mehr als drei Normalen<br />
Zur Berechnung der Linearität, z.B. Klassierungen,<br />
werden die gleichen Werte herangezogen,<br />
wie beim R&R-Verfahren. Die richtigen Werte<br />
der N Teile, die für das R&R-Verfahren verwendet<br />
werden, müssen bekannt sein.<br />
Die Streuung dieser Referenzwerte sollte so<br />
weit wie möglich im Bereich der Bezugsgröße<br />
liegen (RF). Die Formeln zur Berechnung der<br />
Linearität gemäß [1] sind im Anhang zusammengefasst.<br />
Das Ergebnis ist die Kenngröße %Li, die zur<br />
Beurteilung der Linearität herangezogen wird.<br />
Es gelten folgende Bedingungen:<br />
%Li ≤ 5% RF<br />
Messsystem ist geeignet.<br />
5% RF < %Li ≤ 10% RF<br />
Messsystem kann unter Berücksichtigung der<br />
Bedeutung der Messaufgabe, der Kosten des<br />
Messmittels, der Reparaturkosten usw. akzeptiert<br />
werden.<br />
%Li > 10% RF<br />
Messsystem muss verbessert werden. Probleme<br />
sind festzustellen und zu korrigieren.<br />
Falls eine Linearitätsbeurteilung nicht gültig ist,<br />
ist die größte systematische Messabweichung<br />
(Bii) mit den oben aufgeführten Annahmebedingungen<br />
zu vergleichen und zu beurteilen.<br />
8.4 Linearity evaluation using more<br />
than three masters<br />
The Linearity analysis, i.e. classification, is conducted<br />
on the same data acquired during the<br />
R&R study. The true values of the five pieces<br />
used in the R&R study must be known.<br />
These reference values should have a spread<br />
which approximates the tolerance spread (RF).<br />
The formulae used for calculation of the linearity<br />
according to [1] are grouped in the appendix.<br />
The result is the calculated value %Li which is<br />
used for linearity evaluation.<br />
The following requirements apply:<br />
%Li ≤ 5% RF<br />
Measurement system is acceptable.<br />
5% RF < %Li ≤ 10% RF<br />
May be acceptable depending upon importance<br />
of application, cost of gage, cost of repairs, etc.<br />
%Li > 10% RF<br />
Measurement system needs improvement.<br />
Make every effort to identify the problems and<br />
have them corrected.<br />
In the case where a linearity assessment is not<br />
valid, the largest bias (Bii) must be compared to<br />
the above acceptance criteria and reported.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 35 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 35 of 107<br />
9 Messbeständigkeit / Stabilität<br />
Bei den vorher genannten Verfahren wird immer<br />
nur eine Kurzzeitbetrachtung vorgenommen.<br />
Daher ist die kontinuierliche Untersuchung<br />
der Messbeständigkeit zu empfehlen.<br />
Für den Stabilitätsnachweis sind zunächst in<br />
kurzen Zeitabständen Überprüfungen vorzunehmen.<br />
Zur Ermittlung der Urwerte sind stabilisierte<br />
Erzeugnisteile und Normale/Einstellmeister<br />
zu verwenden. Basierend auf den Ergebnissen<br />
ist ein Intervall festzulegen, zu dem<br />
regelmäßig neue Überprüfungen stattfinden sollen.<br />
Die Beurteilung der Messbeständigkeit kann auf<br />
2 Arten vorgenommen werden:<br />
• Es sind die Urwerte aufzuzeichnen und die<br />
Grenzwerte situationsbezogen festzulegen.<br />
Diese dürfen maximal ±10% der Toleranz<br />
bezogen auf den Ist-Wert des Normals/<br />
Werkstücks betragen.<br />
• Die gemessenen Werte sind in Form einer<br />
Shewhart-Qualitätsregelkarte aufzuzeichnen.<br />
Hierbei gelten firmenspezifische Festlegungen.<br />
Beispiel zur Messung und Auswertung<br />
1. Schritt<br />
Dokumentieren der Daten zu Messeinrichtung,<br />
Normal, Merkmal, Toleranz etc.<br />
2. Schritt<br />
Eintragen der Grenzen der Messbeständigkeit<br />
in die Regelkarte für Urwerte (n = 1).<br />
Fallbeispiel:<br />
OEG = xm 2,<br />
576 ⋅ sg<br />
UEG = xm − 2,<br />
576 ⋅ sg<br />
9 Stability<br />
All the procedures described above represent a<br />
short-term assessment of the measurement<br />
system. Hence an ongoing assessment of<br />
measurement stability is recommended.<br />
Initially, studies to demonstrate stability should<br />
be performed at short intervals. Production<br />
parts and standard/setting masters must be<br />
used for establishing the raw values. Based on<br />
the results, an appropriate interval for routine<br />
checks should be established.<br />
There are two possible methods for assessing<br />
stability:<br />
• Individual measurements values are plotted<br />
and limits are established based on the<br />
specific situation at hand. These must not<br />
exceed ±10% of the tolerance relative to the<br />
actual value of the standard or work piece.<br />
• The measurement values are plotted on a<br />
Shewhart control chart, following companyspecific<br />
control charting guidelines.<br />
Example: Measurement and Evaluation<br />
Step 1<br />
Record data on the measurement device, standard,<br />
characteristic, tolerance etc.<br />
Step 2<br />
Plot stability limits on the control chart for individual<br />
values (n = 1).<br />
mit sg aus<br />
Example:<br />
x + 2,<br />
576 ⋅ s<br />
Verfahren 1 für 99% LCL = xm − 2,<br />
576 ⋅ sg<br />
+ UCL = m<br />
g<br />
Hinweis:<br />
Falls der Abstand der natürlichen Eingriffsgrenzen<br />
einer Urwertkarte < 10% der Toleranz ist,<br />
können die Eingriffsgrenzen auf 10% der<br />
Toleranz festgelegt werden, um zu verhindern,<br />
dass die Auflösung des Messmittels der Grund<br />
für eine Verletzung der Eingriffsgrenze ist.<br />
with sg from Type-1<br />
Study for 99%<br />
Note:<br />
If the distance between the natural control limits<br />
of an individuals chart < 10% of the tolerance,<br />
one can set the control limits to 10% of the tolerance<br />
in order to avoid spurious out-of-control<br />
indications due merely to the resolution of the<br />
measurement device.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 36 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 36 of 107<br />
alternativ: alternatively:<br />
OEG = xm + 0,<br />
1⋅<br />
T<br />
UCL = xm + 0.<br />
1⋅<br />
T<br />
UEG = − 0,<br />
1⋅<br />
T<br />
LCL = − 0.<br />
1⋅<br />
T<br />
x m<br />
3. Schritt<br />
Prüfintervall festlegen. Bei der Untersuchung<br />
sollte mindestens eine ganze Schicht erfasst<br />
und beurteilt werden.<br />
4. Schritt<br />
Einstellen der Messeinrichtung mit Hilfe des<br />
Normals nach der gültigen Vorschrift.<br />
5. Schritt<br />
Ausführung <strong>von</strong> Einzelmessungen am Normal<br />
und/oder Werkstück in festgelegten Prüfintervallen<br />
nach der gültigen Vorschrift. Während<br />
der Messbeständigkeitsprüfung darf nicht nachgestellt<br />
werden.<br />
6. Schritt<br />
Die Messergebnisse werden in die Urwertekarte<br />
eingetragen.<br />
Beurteilung und Maßnahmen bei der Messbeständigkeitsprüfung<br />
I. Fall:<br />
Die Messwerte liegen innerhalb der vorgegebenen<br />
Eingriffsgrenzen: Es reicht aus, die Messeinrichtung<br />
in festgelegten Intervallen, <strong>zum</strong> Beispiel,<br />
jeweils am Arbeitsbeginn einzustellen.<br />
II. Fall:<br />
Es treten Über- oder Unterschreitungen der<br />
vorgegebenen Eingriffsgrenzen aufgrund eines<br />
Trends auf: Das Intervall ist so zu verkürzen,<br />
dass die Messwerte innerhalb der Grenzen verbleiben.<br />
III. Fall:<br />
Es finden Über- und Unterschreitungen der vorgegebenen<br />
Grenzen ohne Trend statt, so dass<br />
bei der Messeinrichtung keine stabile Phase erkennbar<br />
ist. Das bedeutet, dass die Messeinrichtung<br />
ungeeignet ist. Es sind Verbesserungen<br />
einzuleiten (siehe hierzu auch Vorgehensweise<br />
„Nicht fähige Messsysteme").<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
x m<br />
Step 3<br />
Determine test interval. When carrying out the<br />
test one should at least cover and evaluate one<br />
whole shift.<br />
Step 4<br />
Set up the measurement device using the standard,<br />
in accordance with the relevant instructions.<br />
Step 5<br />
At regular intervals corresponding to the test interval<br />
determined, take individual measurements<br />
of the measurement standard and/or<br />
work piece, following the appropriate instructions.<br />
No adjustments may be made in the<br />
course of the stability test.<br />
Step 6<br />
Plot the measurement results on an individuals<br />
control chart.<br />
Interpretation and Actions Based on Stability<br />
Testing<br />
Case I:<br />
The measured values lie within the predefined<br />
control limits: All that need be done is to set up<br />
the measurement device at regular intervals,<br />
such as at the beginning of each shift.<br />
Case II:<br />
There are values above and/or below the predefined<br />
control limits, due to a trend in the data:<br />
The interval must be shortened such that the<br />
measured values remain within the defined limits.<br />
Case III:<br />
There are values above and/or below the predefined<br />
control limits, but there is no trend, only<br />
a general and persistent lack of stability: This<br />
means that the measurement device is not suitable.<br />
Appropriate improvements must be initiated<br />
(see also “Non-capable measurement systems”<br />
procedure).
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 37 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 37 of 107<br />
10 Vorgehensweise „Nicht fähige<br />
Messsysteme“<br />
Ist ein Messsystem gemäß den vorausgegangenen<br />
Verfahren nicht fähig, empfiehlt sich folgende<br />
Vorgehensweise:<br />
MeßsystemMeßsystemfreigabe<br />
ja<br />
ja<br />
ja<br />
Meßsystem nicht fähig<br />
Meßsystem<br />
verbessern<br />
Beschaffung<br />
genaueres<br />
Meßsystem<br />
Toleranz-,<br />
ProzeßbetrachProzeßbetrachtung<br />
Sonderregelung (befristet)<br />
1. Schritt:<br />
Messsystem überprüfen, verbessern<br />
1. Schritt<br />
2. Schritt<br />
3. Schritt<br />
4. Schritt<br />
• Messeinrichtung, Einstellnormale<br />
- Mess-, Spann-, Niederhaltekräfte<br />
- Messorte, Definition Messstellen<br />
- Aufnahmen, Fluchtung Prüfling, Messtaster<br />
- Antastelemente; Güte Einstellnormal(e)<br />
- Führungen, Reibung, Verschleiß,<br />
- Positionierung, Verkippung Prüfling<br />
- Messablauf; Warmlaufphase, ...<br />
• Messverfahren, -strategie<br />
- Bezugselement, Basis für Aufnahme<br />
- Messgeschwindigkeit, Einschwingzeiten<br />
- Mehrpunktmessungen bzw. Scannen<br />
anstatt Einzelmesswert, ...<br />
- Mittelwert aus Wiederholungsmessungen<br />
- Messtechnik-, Statistik-Software<br />
- Kalibrierkette, Einstellverfahren, ...<br />
(z.B. vor jeder Messung neu einstellen)<br />
• Umgebungsbedingungen<br />
- Erschütterungen, Schwingungen<br />
- Staub, Ölnebel, Zugluft, Feuchtigkeit<br />
- Temperaturschwankungen<br />
- Elektrische Störungen, Spannungsspitzen<br />
- Energieschwankungen (Luft, Strom,..)<br />
• Prüfling<br />
- Sauberkeit, Waschrückstände<br />
- Oberflächenbeschaffenheit, Grate<br />
- Formfehler, Bezugsbasis<br />
- Materialeigenschaften<br />
- Temperaturkoeffizient, ...<br />
10 “Non-capable Measurement<br />
Systems” Procedure<br />
If one of the preceding capability studies shows<br />
that a measurement system is not capable, the<br />
following procedure is recommended:<br />
Approve<br />
system<br />
Measurement system not capable<br />
Improve<br />
system<br />
Procure<br />
more accurate<br />
system<br />
Tolerance<br />
or process<br />
study<br />
Special permit (limited time)<br />
1st Step<br />
2nd Step<br />
3rd Step<br />
4th Step<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
yes<br />
yes<br />
yes<br />
1 st Step:<br />
Check, improve measurement system<br />
• Measuring equipment, standards<br />
- Measuring, clamping, holding forces<br />
- Measuring locations, definition of positions<br />
- Receptacles, subject alignment, probes<br />
- Styluses; quality of standard(s)<br />
- Guides, friction, wear<br />
- Positioning, subject tilting<br />
- Measuring steps, warm-up stage, ...<br />
• Measuring procedure, strategy<br />
- Reference element, measurement baseline<br />
- Measurement speed, settling times<br />
- Multi-point measurements or scanning<br />
instead of individual measurements, ...<br />
- Average of repeat measurements<br />
- Metrology/statistics software<br />
- Calibration chain, set-up procedure, ...<br />
(e.g. set-up prior to each measurement)<br />
• Environmental conditions<br />
- Impacts, vibration<br />
- Dust, oil mist, draft, humidity<br />
- Temperature fluctuations<br />
- Electrical interference, voltage spikes<br />
- Energy fluctuations (air, current,..)<br />
• Subject<br />
- Cleanness, wash residues<br />
- Surface finish, burrs<br />
- Non-conforming shape, reference point<br />
- Material properties<br />
- Temperature coefficient, ...
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 38 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 38 of 107<br />
• Bediener<br />
- Eingewiesen, geschult<br />
- Sorgfalt, Handhabung<br />
- Sauberkeit, (Hautreste, Handfett,...)<br />
- Wärmeübertragung, ...<br />
2. Schritt:<br />
Genaueres Messsystem beschaffen<br />
Mögliche Maßnahmen :<br />
• Auflösung < 5%<br />
• Lineare Systeme einsetzen<br />
• Absolut messende Systeme bevorzugen<br />
(digital inkremental anstatt analog induktiv)<br />
• Robuste Messeinrichtung (Lagerungen,<br />
Führungen, Messhebel,<br />
Übertragungselemente,...)<br />
• Bedienerunabhängige Messeinrichtung<br />
• Neue (berührungslose) Messverfahren, ...<br />
3. Schritt:<br />
Merkmals-, Toleranz-, Prozessbetrachtung<br />
Mögliche Maßnahmen :<br />
• Merkmal auf Funktionsabhängigkeit überprüfen<br />
(ggf. neues Merkmal definieren z.B.<br />
Dichtheit anstelle Rundheit)<br />
• 100% verlesen mit reduzierten Toleranzen<br />
• Messsystemstreuung <strong>von</strong> Toleranz abziehen<br />
• Auswirkungen auf Prozessregelung und<br />
Prozessfähigkeit berücksichtigen<br />
• Toleranz anpassen (statistische Tolerierung;<br />
Toleranz und Prozessstreuung gegenüberstellen;<br />
Toleranzehrlichkeit!) – Abstimmung<br />
mit Fertigungsplanung, Produktion,<br />
Qualitätssicherung, Entwicklung, Kunde<br />
4. Schritt: Sonderregelung<br />
• Zusätzliche Absicherung (z.B. Stabilitätsüberwachung,<br />
zusätzlicher Regelkreis, genaueres<br />
Messmittel im Feinmessraum,<br />
Funktionsabsicherung, -überprüfung)<br />
• Operator<br />
- Training<br />
- Care, handling<br />
- Cleanliness (skin flakes, hand cream,...)<br />
- Heat transmission, ...<br />
2 nd Step:<br />
Procure more accurate measurement system<br />
Possible actions :<br />
• Resolution < 5%<br />
• Use linear systems<br />
• Absolute measuring systems to be preferred<br />
(digital/incremental rather than analog/inductive)<br />
• Robust measuring equipment (bearings,<br />
guide rails, measuring levers,<br />
transmission elements,...)<br />
• Operator-independent equipment<br />
• New (no-contact) measuring procedures, ...<br />
3 rd Step:<br />
Characteristic, tolerance or process study<br />
Possible Actions :<br />
• Check characteristic’s relationship to function<br />
(re-define where appropriate, e.g. tightness<br />
instead of roundness)<br />
• 100% inspection with reduced tolerances<br />
• Deduct gage variation from tolerance<br />
• Consider effects on process control and<br />
process capability<br />
• Adjust tolerance (statistical tolerancing;<br />
compare tolerance and process spread;<br />
honesty about tolerances!) – agreements<br />
between manufacturing engineering, production,<br />
quality assurance, product engineering,<br />
customer<br />
4 th Step: Special Operating Permit<br />
• Additional safeguards (e.g. stability checks,<br />
additional control loop, more accurate gage<br />
in precision gage room, assurance or<br />
checking of function)<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 39 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 39 of 107<br />
• Zeitlich befristete Sonderregelung treffen<br />
– Abstimmung mit Messtechnikexperten,<br />
Fertigungsplanung, Produktion, Qualitätssicherung,<br />
Entwicklung, Kunde<br />
• Regelung z.B. jährlich neu bewerten gemäß<br />
Schritt 1 bis 4 und ggf. Regelung überarbeiten<br />
bzw. für weitere Zeitspanne bestätigen<br />
Anmerkung:<br />
Es ist zu beachten, dass nicht immer die Messeinrichtung<br />
der Verursacher eines nicht geeigneten<br />
Messprozesses ist. Oftmals sind die Urheber<br />
die Umgebung und die Messstrategie.<br />
• Issue special, time-limited operating permit<br />
– agreement with metrology experts, manufacturing<br />
engineering, production, quality<br />
assurance, product engineering, customer<br />
• Re-assess decision e.g. on an annual basis,<br />
according to steps 1 to 4, revise decision or<br />
re-confirm for another term as appropriate<br />
Remark:<br />
It must be taken into regard that the measuring<br />
system is not always the cause for a non capable<br />
measuring process. Frequently, environment<br />
and measuring strategy are responsible.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 40 <strong>von</strong> 107<br />
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11 Sonderfälle<br />
Nicht alle Messsysteme bzw. Problemstellungen<br />
können mit der hier beschriebenen Vorgehensweise<br />
beurteilt werden. Diese können sein:<br />
• attributive Prüfung<br />
• kleine Toleranz 1<br />
• automatische Beladung<br />
• einseitig begrenzte Merkmale<br />
• Vergleich <strong>von</strong> Messgeräten<br />
• ohne Einstellmeister<br />
• unterschiedliche Form des Masters<br />
• kein stabiles Normal<br />
• Härteprüfung<br />
• Oberflächenmessung<br />
• optische Kompensatoren<br />
• Drei-Koordinaten-Messgeräte<br />
• Lecktester<br />
• Fließmessungen<br />
• chemische Analysen<br />
• Wuchtmaschinen<br />
• dynamische Messung<br />
• Formtest<br />
• Kältetest<br />
• Hitzetest<br />
• Drehmoment, Winkel<br />
• Klassier-, Zupaarungsvorgänge<br />
• Partikelzählung, Kontaminationszahl<br />
• Vollständigkeitskontrolle mit BV-Systemen<br />
• Zerstörende Prüfungen<br />
• Farbmesssysteme<br />
• Durchflußmesssysteme<br />
• Kraftmesssysteme, Federprüfgeräte<br />
(Hystereseprobleme)<br />
• Drehmomenteinstell- und Messsysteme<br />
• Schichtdicke, Wirbelstromprüfgeräte<br />
• Formprüfgeräte bei kleinen Geometrien<br />
• Lasermesssysteme (naturkonstante stabilisierte<br />
Wellenlänge)<br />
• Überwachung, Kontrolle Wandlerkarten<br />
(z.B.: A/D,....)<br />
In einem separaten Dokument soll für diese<br />
Sonderfälle Hilfestellung in Form <strong>von</strong> Empfehlungen<br />
und einem Fallbeispiel für die Beurteilung<br />
gegeben werden.<br />
1 "Kleine Toleranzen" ist ein subjektiver Begriff, der je nach<br />
Messaufgabe unterschiedlich zu interpretieren ist. Das<br />
kann beispielsweise das Messen einer Welle in einem Toleranzbereich<br />
<strong>von</strong> 10µ in der Fertigung sein.<br />
11 Special Cases<br />
Not all measurement systems or situations may<br />
be evaluated using the procedure described<br />
here. Here are some examples:<br />
• attribute test<br />
• small tolerances 2<br />
• Automatic loading<br />
• Unilateral tolerances<br />
• Comparison of several gages<br />
• Without standard<br />
• Different shape of master<br />
• No stable standard<br />
• Hardness testers<br />
• Surface texture gauges<br />
• Optical gaging<br />
• Coordinate measuring machines<br />
• Leak testers<br />
• Flow testers<br />
• Chemical analyses<br />
• Balancing machines<br />
• Dynamic measurement<br />
• Precision Form Measurement Machines<br />
• Cold Test<br />
• Hot Test<br />
• Torque, angles<br />
• Classification, allocation processes<br />
• Particle counts, contamination number<br />
• Completeness check using imaging systems<br />
• Destructive testing<br />
• Color measurement systems<br />
• Flow meters<br />
• Force measurements, spring testing (hysteresis<br />
problems)<br />
• Torque setting and measuring systems<br />
• Coating thickness, eddy current testing<br />
• Shape testers for small-scale geometries<br />
• Laser measurement systems (naturally constant<br />
stabilized wavelength)<br />
• Monitoring, control of converter cards (e.g.<br />
A/D, ...)<br />
A separate document will provide help on how<br />
to deal with these special cases, including recommendations<br />
and a case study illustrating the<br />
evaluation process.<br />
2 "Small tolerances" is a subjective term which must be interpreted<br />
differently depending on the measuring task. This<br />
may possibly be the measuring of a shaft in a tolerance<br />
range of 10µ in the production.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 41 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 41 of 107<br />
12 Literatur<br />
[1] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />
Motor Company, General Motors Corp.<br />
Measurement Systems Analysis.<br />
Michigan, 1995.<br />
[2] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />
Motor Company, General Motors Corp.<br />
Forderungen an Qualitätsmanagement-<br />
Systeme – QS-9000.<br />
3. Auflage, 1998.<br />
[3] DGQ Deutsche Gesellschaft<br />
für Qualität e.V.<br />
DGQ Band 13-61: Prüfmittelmanagement.<br />
Beuth Verlag, Frankfurt, 1998.<br />
[4] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />
Statistische Verfahren zur Maschinen-<br />
und Prozessqualifikation<br />
3., überarbeitete Auflage.<br />
Carl Hanser Verlag, München, 1998.<br />
[5] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />
Richtlinien zur Beurteilung <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong><br />
und Prozessen, Abnahme <strong>von</strong> Fertigungseinrichtungen.<br />
Carl Hanser Verlag, München, 1998.<br />
[6] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />
DIN EN ISO 10012 – Forderungen an die<br />
Qualitätssicherung <strong>von</strong> Messmitteln.<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1992.<br />
[7] DIN EN ISO 14253-1<br />
Geometrische Produktspezifikation (GPS)<br />
– Prüfung <strong>von</strong> Werkstücken und Messgeräten<br />
durch Messungen – Teil 1: Entscheidungsregeln<br />
für die Feststellung <strong>von</strong><br />
Übereinstimmung oder Nicht-<br />
Übereinstimmung mit Spezifikationen.<br />
März 1999.<br />
[8] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />
<strong>Leitfaden</strong> zur Angabe der Unsicherheit bei<br />
Messen (GUM) – DIN V ENV 13005.<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1999.<br />
[9] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />
DIN ISO 9000ff: Qualitätsmanagement-<br />
und Qualitätssicherungsnormen.<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />
12 Literature<br />
[1] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />
Motor Company, General Motors Corp.<br />
Measurement Systems Analysis.<br />
Michigan, 1995.<br />
[2] A.I.A.G; Chrysler Corporation, Ford<br />
Motor Company, General Motors Corp.<br />
Quality System Requirements – QS-9000.<br />
3rd edition, 1998.<br />
[3] DGQ Deutsche Gesellschaft<br />
für Qualität e.V.<br />
DGQ Band 13-61: Prümittelmanagement.<br />
Beuth Verlag, Frankfurt, 1998<br />
[4] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />
Statistical Procedures for Machine and<br />
Process Qualification<br />
ASQC Quality Press,<br />
Milwaukee, 1999.<br />
[5] Dietrich, E. / Schulze, A.<br />
Guidelines for the Evaluation of Measurement<br />
Systems and Processes, Acceptance<br />
of Production Facilities.<br />
Carl Hanser Verlag, München, 1998.<br />
[6] ISO – International Organization for<br />
Standardization<br />
DIN ISO 10012 – Quality Assurance Requirements<br />
for Measuring Equipment.<br />
[7] DIN ISO 14253-1<br />
Geometrical Product Specifications (GPS)<br />
- Inspection by measurement of workpieces<br />
and measuring equipment - Part 1:<br />
Decision rules for proving conformance or<br />
non-conformance with specifications.<br />
1998.<br />
[8] ISO – International Organization for<br />
Standardization<br />
Guide to the Expression of Uncertainty in<br />
Measurement (GUM).<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1999.<br />
[9] ISO – International Organization for<br />
Standardization<br />
DIN EN ISO 9000ff: Quality Management<br />
and Quality Assurance Standards.<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 42 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 42 of 107<br />
[10] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />
Internationales Wörterbuch der Metrologie.<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />
[11] Ford Motor Co.: EU 1880<br />
Richtlinie für die Fähigkeit <strong>von</strong><br />
<strong>Messsystemen</strong> und Messmitteln.<br />
Köln, Oktober 1997.<br />
[12] General Motors Corp.<br />
GMPT Specification MS 1<br />
Abnahme <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong>.<br />
Adam Opel AG<br />
Rüsselsheim, Oktober 1998.<br />
[13] Robert Bosch GmbH<br />
Schriftenreihe Qualitätssicherung in der<br />
Bosch-Gruppe Nr. 10.<br />
Technische Statistik, Fähigkeit <strong>von</strong> Messeinrichtungen.<br />
Stuttgart, 1990.<br />
[14] VDA – Verband der Automobilindustrie<br />
VDA Schrift 6 Teil 1, QM-Systemaudit.<br />
4., vollständig überarbeitete Auflage<br />
VDA, Frankfurt 1998.<br />
[15] Volkswagen AG – Audi AG<br />
VW 101 18-2 – Prüfmittelfähigkeit.<br />
Oktober 1998.<br />
[10] DIN – Deutsches Institut für Normung<br />
International Vocabulary of basic and general<br />
terms in metrology.<br />
Beuth Verlag, Berlin, 1994.<br />
[11] Ford Motor Co.: PTG02-188MT<br />
Guideline for Measurement System and<br />
Equipment Capability.<br />
Köln, October 1997.<br />
[12] General Motors Corp.<br />
GMPT Specification MS 1<br />
Evaluation of Measurement Systems.<br />
GMPT Headquarters<br />
Pontiac, Michigan, October 1998.<br />
[13] Robert Bosch GmbH<br />
Schriftenreihe Qualitätssicherung in der<br />
Bosch-Gruppe Nr. 10.<br />
Technische Statistik, Fähigkeit <strong>von</strong> Messeinrichtungen.<br />
Stuttgart, 1990.<br />
[14] VDA – Verband der Automobilindustrie<br />
VDA Schrift 6 Teil 1, QM-Systemaudit.<br />
3., vollständig überarbeitete Auflage<br />
VDA, Frankfurt 1996.<br />
[15] Volkswagen AG – Audi AG<br />
VW 101 18-2 – Prüfmittelfähigkeit.<br />
October, 1998.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 43 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 43 of 107<br />
13 Anhang<br />
13.1 Abkürzungen<br />
13 Appendix<br />
13.1 Abbreviations<br />
ANOVA (Varianzanalyse) Analysis of Variance ANOVA Analysis of Variance<br />
ARM Mittelwert-Spannweiten-Methode<br />
(Average Range Method)<br />
AV Vergleichpräzision (Reproducibility /<br />
Appraiser Variation)<br />
%AV Vergleichpräzision (Reproducibility /<br />
Appraiser Variation) in % bezogen auf die<br />
Bezugsgröße (RF)<br />
Bi Systematische Messabweichung<br />
= x − x<br />
g<br />
m<br />
%Bi Systematische Messabweichung (Bias) in<br />
% bezogen auf die Bezugsgröße (RF)<br />
Cg<br />
Cgk<br />
Die systematische Messabweichung wird<br />
häufig als Genauigkeit bezeichnet. In der<br />
ISO 10012 ist aber der Begriff “Genauigkeit”<br />
als qualitativer Begriff definiert. Daher<br />
wird in dieser Richtlinie die Differenz zwischen<br />
dem beobachteten Mittelwert x g<br />
und dem “wahren Wert” xm mit systematischer<br />
Messabweichung bezeichnet.<br />
Potential Messsystem (gage potential<br />
index)<br />
Fähigkeitsindex Messsystem (gage<br />
capability index) Verfahren 1<br />
EV Wiederholpräzision (Repeatability – Equipment<br />
Variation) Messsystem<br />
%EV Wiederholpräzision (Repeatability –<br />
Equipment Variation) Messsystem in %<br />
bezogen auf die Bezugsgröße (RF)<br />
ARM Average Range Method<br />
AV Reproducibility / Appraiser Variation<br />
%AV Reproducibility / Appraiser Variation in %<br />
relative to the reference figure RF<br />
Bi Bias = xg − xm<br />
%Bi Bias in % relative to the reference figure<br />
RF<br />
The bias is often termed accuracy. However,<br />
in ISO 10012 the term “Accuracy” is<br />
defined as a qualitative term. For this reason,<br />
the difference between the observed<br />
average x g and the “real value” xm is<br />
termed bias in this guideline.<br />
Cg gage potential index<br />
Cgk gage capability index – Type-1 study<br />
EV Repeatability – Equipment Variation measurement<br />
system<br />
%EV Repeatability – Equipment Variation measurement<br />
system in % relative to the reference<br />
figure RF<br />
k Anzahl der Prüfer (operators) k number of operators<br />
K1, K2<br />
Faktoren, die <strong>von</strong> der Anzahl der Prüfer,<br />
Wiederholungen und Teile abhängt<br />
Li Linearität (Linearity) Li Linearity<br />
K1, K2 Factors depending on the number of operators,<br />
repetitions, and parts<br />
Liun, Liob Linearität für min. bzw. max. Meister Lilo, Liup Linearity for min. or max. master<br />
%Li Linearität (Linearity) in % bezogen auf die<br />
Bezugsgröße (RF)<br />
%Li Linearity in % relative to the reference<br />
figure RF<br />
n Anzahl der Teile (number of parts) n number of parts<br />
OEG Obere Eingriffsgrenze UCL Upper Control Limit<br />
OSG Obere Spezifikationsgrenze USL Upper Specification Limit<br />
r Anzahl der Messwertreihen pro Prüfer r Number of trials per operator<br />
R<br />
R<br />
Mittelwert der mittleren Spannweiten R<br />
mittlere Spannweite<br />
average of the average ranges<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
R<br />
average range
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 44 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 44 of 107<br />
R&R Wiederhol- und Vergleichpräzision,<br />
Repeatability & Reproducibility<br />
%R&R Wiederhol- und Vergleichpräzision<br />
(Repeatability & Reproducibility) in %<br />
bezogen auf die Bezugsgröße (RF)<br />
R&R Repeatability & Reproducibility<br />
%R&R Repeatability & Reproducibility in % relative<br />
to the reference figure (RF)<br />
RE Auflösung (Resolution) des Messsystems RE Resolution of the measurement system<br />
%RE Auflösung (Resolution) des Messsystems<br />
in %<br />
RF Bezugsgröße (Reference Figure), z.B.<br />
Prozeßtoleranz, Prozeßstreuung,<br />
Toleranz, Klassentoleranz<br />
sg<br />
Standardabweichung einer, mit einem<br />
Messsystem am Normal erfaßten,<br />
Messreihe<br />
T Toleranz T tolerance<br />
U Unsicherheit U Uncertainty<br />
%U Unsicherheit in % bezogen auf die<br />
Bezugsgröße (RF)<br />
%RE Resolution of the measurement system<br />
in %<br />
RF Reference Figure, i.e. process tolerance,<br />
process variation, tolerance, class tolerance<br />
sg Standard deviation of a measurement series<br />
collected from the master using a<br />
gage<br />
%U Uncertainty in % relative to the reference<br />
figure RF<br />
UEG Untere Eingriffsgrenze LCL Lower Control Limit<br />
USG Untere Spezifikations Grenze LSL Lower Specification Limit<br />
x Diff<br />
x g<br />
max. Differenz zwischen den Mittelwerten<br />
mehrerer Messwertreihen (<strong>von</strong> x )<br />
Mittelwert einer, mit einem Messsystem<br />
am Normal erfaßten, Messwertreihe<br />
x unterer Mittelwert einer, mit einem Mess-<br />
gu<br />
system am Normal erfaßten,<br />
Messwertreihe<br />
x oberer Mittelwert einer, mit einem Mess-<br />
go<br />
system am Normal erfaßten,<br />
Messwertreihe<br />
x Diff max. difference between the averages of<br />
several measurement series (of x )<br />
x g average value of a measurement series<br />
collected from the master using a gage<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
x gl<br />
lower average value of a measurement series<br />
collected from the master using a<br />
gage<br />
x upper average value of a measurement<br />
gu<br />
series collected from the master using a<br />
gage<br />
xi Einzelwerte einer Messwertreihe xi individual values of a measurement series<br />
xm<br />
Referenzwert (master) (<strong>von</strong> Normal)<br />
entspricht “richtiger” bzw. “wahrer” Wert<br />
xm Reference value (master) equals “true” or<br />
“real” value<br />
xmu, xmo Referenzwert des min. bzw. max. Normals xml, xmu Reference value of the min. or max. master<br />
x-Karte Einzelwertkarte x chart individuals chart
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 45 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 45 of 107<br />
13.2 Formeln<br />
x<br />
s<br />
g<br />
g<br />
1<br />
=<br />
n<br />
=<br />
n<br />
�<br />
i=<br />
1<br />
x<br />
i<br />
1<br />
n − 1<br />
R = x − x<br />
max<br />
Bi = x − x<br />
g<br />
n<br />
�<br />
i=<br />
1<br />
m<br />
min<br />
Bi<br />
% Bi = ⋅100%<br />
T<br />
C<br />
C<br />
g<br />
gk<br />
0,<br />
2 ⋅ T<br />
=<br />
4 ⋅ s<br />
g<br />
0,<br />
1⋅<br />
T − Bi<br />
=<br />
2 ⋅ s<br />
EV = K1<br />
⋅R<br />
EV<br />
% EV = ⋅100%<br />
T<br />
AV = K ⋅<br />
2 xDiff<br />
g<br />
( x − x )<br />
AV<br />
% AV = ⋅100%<br />
T<br />
R & R = EV +<br />
2 2<br />
AV<br />
R & R<br />
% R & R = ⋅100%<br />
RF<br />
i<br />
g<br />
2<br />
13.2 Formulae<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
x<br />
s<br />
g<br />
g<br />
1<br />
=<br />
n<br />
=<br />
n<br />
�<br />
i=<br />
1<br />
x<br />
i<br />
1<br />
n − 1<br />
R = x − x<br />
max<br />
Bi = x − x<br />
g<br />
n<br />
�<br />
i=<br />
1<br />
m<br />
min<br />
Bi<br />
% Bi = ⋅100%<br />
T<br />
C<br />
C<br />
g<br />
gk<br />
0,<br />
2 ⋅ T<br />
=<br />
4 ⋅ s<br />
g<br />
0,<br />
1⋅<br />
T − Bi<br />
=<br />
2 ⋅ s<br />
EV = K1<br />
⋅R<br />
EV<br />
% EV = ⋅100%<br />
T<br />
AV = K ⋅<br />
2 xDiff<br />
g<br />
( x − x )<br />
AV<br />
% AV = ⋅100%<br />
T<br />
R & R = EV +<br />
2 2<br />
AV<br />
R & R<br />
% R & R =<br />
⋅100%<br />
RF<br />
i<br />
g<br />
2
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 46 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 46 of 107<br />
13.3 Formeln zur Berechnung der<br />
Linearität<br />
13.3 Formulae for Linearity<br />
Calculation<br />
k ⋅ No. of measurements per part k ⋅ r<br />
k r 1<br />
i =<br />
k ⋅r<br />
yij<br />
1<br />
y i =<br />
k ⋅r<br />
Anzahl Messungen pro Teil r<br />
Mittelwert der Messwerte Teil i � ⋅<br />
y Average of measurements part i � ⋅ k r<br />
j<br />
Referenzwert Teil i ( x m ) i<br />
Reference value part i ( x m ) i<br />
Abweichung in Teil i Bii = yi<br />
− ( xm<br />
) Deviation part i<br />
i<br />
Bii = yi<br />
− ( xm<br />
) i<br />
1<br />
N<br />
N<br />
Mittelwert der Abweichungen Bi = �Bi<br />
j<br />
Average of deviations Bi = �<br />
N j<br />
N j<br />
1<br />
N<br />
N<br />
Mittelwert der Referenzwerte x m = �(<br />
xm<br />
) j<br />
Average of reference values x m = �(<br />
xm<br />
)<br />
j<br />
N<br />
Summe der Quadrate Refe-<br />
2<br />
Q = ( )<br />
renzwerte x2<br />
� x m j<br />
Quadrat der Summe<br />
Summe der Quadrate Abweichungen<br />
Quadrat der Summe Abweichungen<br />
Vorgehensweise:<br />
Q<br />
Bi<br />
�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
N<br />
j<br />
j<br />
N<br />
�<br />
Bi � j �<br />
�<br />
2<br />
= � Square sum<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
1<br />
1<br />
N<br />
N<br />
j<br />
N<br />
j<br />
Bi<br />
Sum of Reference values<br />
2<br />
Q = ( )<br />
squares x2<br />
� x m j<br />
Q<br />
Bi<br />
j<br />
y<br />
j<br />
ij<br />
� N �<br />
= � Bi �<br />
��<br />
j �<br />
� j �<br />
2<br />
Q Bi2<br />
= �Bij<br />
Sum of squares deviations Q Bi2<br />
= �<br />
Q<br />
�<br />
j<br />
�<br />
N<br />
2<br />
Bi = � Bi �<br />
��<br />
j<br />
Square sum deviations<br />
�<br />
j<br />
Man berechnet die Regressionsgerade aus<br />
Messfehler gegen die bekannten Werte y=ax+b<br />
für die Punkte<br />
( ( ) , Bi ) , i = 1�N<br />
xm i i<br />
Die Parameter a und b ergeben sich aus<br />
a<br />
N<br />
�(<br />
( xm<br />
) i−<br />
xm<br />
)( Bi i−<br />
Bi)<br />
i = N<br />
b = Bi − a ⋅ x<br />
�(<br />
( xm<br />
) i−<br />
xm<br />
)<br />
i<br />
m<br />
2<br />
Der Korrelationskoeffizient R 2 berechnet sich<br />
aus<br />
R<br />
2<br />
�<br />
�<br />
=<br />
�<br />
N<br />
� ( ( xm<br />
) i Bi i )<br />
i<br />
1<br />
1<br />
( Q − Q ) ( Q − Q )<br />
x2<br />
N<br />
xm<br />
− N ⋅ x<br />
Bi2<br />
m<br />
N<br />
.<br />
�<br />
⋅Bi�<br />
�<br />
Zwei Bedingungen müssen für eine sinnvolle<br />
Linearitätsuntersuchung eingehalten werden:<br />
Bi<br />
2<br />
�<br />
�<br />
Procedure:<br />
Q<br />
Bi<br />
N<br />
j<br />
Bi<br />
2<br />
2<br />
j<br />
� N �<br />
= � Bi �<br />
��<br />
j �<br />
� j �<br />
The regression plot of measurement error versus<br />
the known values y=ax+b is calculated for<br />
the points<br />
( ( ) , Bi ) , i = 1�N<br />
xm i i<br />
Parameters a and b result from<br />
a<br />
N<br />
�(<br />
( xm<br />
) i−<br />
xm<br />
)( Bi i−<br />
Bi)<br />
i = N<br />
b = Bi − a ⋅ x<br />
�(<br />
( xm<br />
) i−<br />
xm<br />
)<br />
i<br />
m<br />
2<br />
The correlation coefficient R 2 results from<br />
R<br />
2<br />
�<br />
�<br />
=<br />
�<br />
N<br />
� ( ( x m ) i Bi i )<br />
i<br />
1<br />
1<br />
( Q − Q ) ( Q − Q )<br />
x2<br />
N<br />
xm<br />
− N ⋅ x<br />
Bi2<br />
m<br />
N<br />
.<br />
�<br />
⋅Bi�<br />
�<br />
In order for a sensible linearity study to be<br />
made, two conditions must be met:<br />
Bi<br />
2<br />
j<br />
2
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 47 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 47 of 107<br />
1. Die Streuung <strong>von</strong> N Stichproben muss ≥<br />
50% RF sein.<br />
2. Der Korrelationskoeffizient R 2 muss ≥ 0.95<br />
sein.<br />
Falls diese beiden Bedingungen erfüllt werden,<br />
kann anhand der Steigung der Regressionsgeraden<br />
(a) auf die Linearität geschlossen werden.<br />
Die dazu herangezogenen Kenngrößen berechnen<br />
sich aus:<br />
Li = a ⋅ RF<br />
%Li = 100 ⋅ a%<br />
Das Ergebnis ist die Kenngröße %Li, die zur<br />
Beurteilung der Linearität herangezogen wird.<br />
1. Variation of N samples must be ≥ 50% RF.<br />
2. Correlation coefficient R 2 must be ≥ 0.95.<br />
If both these conditions are met, conclusions<br />
may be drawn on the linearity using the slope of<br />
the regression plot (a).<br />
The values used for this purpose are:<br />
Li = a ⋅ RF<br />
%Li = 100 ⋅ a%<br />
The result is the calculated value %Li which is<br />
used for linearity evaluation.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 48 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 48 of 107<br />
13.4 ANOVA<br />
13.4.1 ANOVA für Verfahren 2<br />
P Prüfer messen mit einem Messmittel T Teile<br />
jeweils mit W Wiederholungen.<br />
Es wird da<strong>von</strong> ausgegangen, dass sich jeder<br />
Messwert additiv zusammensetzt aus dem Gesamtmittelwert<br />
der Messwerte, dem Einfluss<br />
<strong>von</strong> Prüfer, dem Einfluss des Teils, dem Einfluss<br />
des Zusammentreffens <strong>von</strong> Prüfer und Teil<br />
(Wechselwirkungseinfluss) sowie der Restabweichung<br />
(Einfluss des Messmittels), also<br />
Messwert <strong>von</strong> Prüfer an Teil in Wiederholung =<br />
Gesamtmittelwert + Einfluss vom Prüfer<br />
+ Einfluss vom Teil<br />
+ Einfluss <strong>von</strong> (Prüfer misst Teil)<br />
+ Restabweichung.<br />
Um die Einflüsse getrennt beurteilen zu können,<br />
zerlegt man zunächst die Summe der quadratischen<br />
Abweichungen über alle Messwerte in<br />
Teilsummen und berechnet daraus dann die<br />
Varianzen.<br />
Zur Berechnung:<br />
Der Mittelwert <strong>von</strong> „Prüfer p misst Teil t“ über die Wiederholungen<br />
: Xpt•<br />
Der Mittelwert über die Messwerte <strong>von</strong> Prüfer p : Xp••<br />
Der Mittelwert über die Messwerte <strong>von</strong> Teil t : X•t•<br />
Der Gesamtmittelwert : X•••<br />
Summe der quadratischen Abweichungen zwischen<br />
den p Prüfern:<br />
ΣP := tw [( X1•• - X••• ) 2 + ( X2•• - X••• ) 2 + ( X3•• -<br />
X••• ) 2 . . . ( Xp•• - X••• ) 2 ]<br />
mit Freiheitsgrad f IV := p - 1;<br />
Summe der quadratischen Abweichungen zwischen<br />
den t Teilen:<br />
ΣT := pw [( X•1• - X••• ) 2 + ( X•2• - X••• ) 2 + ( X•3•<br />
- X••• ) 2 . . . ( X•t• - X••• ) 2 ]<br />
mit Freiheitsgrad f III := t - 1;<br />
Summe der quadratischen Abweichungen durch die<br />
Wechselwirkung (p misst t):<br />
� i=<br />
1..<br />
p j=<br />
1..<br />
t<br />
ΣPT :=w �<br />
mit Freiheitsgrad f II := (p - 1)( t - 1);<br />
( X i j• - X i•• - X• j• - X••• ) 2<br />
13.4 ANOVA<br />
13.4.1 ANOVA for Type-2 study<br />
P operators use a gage to measure T parts with<br />
W repetitions each.<br />
It is assumed that every measurement value is<br />
composed from the total average of the measurement<br />
values, operator influence, part influence,<br />
the influence of interactions between operator<br />
and part, as well as residual deviation<br />
(gage influence), i.e.<br />
measurement value by operator on part in repetition =<br />
Total average + Operator influence<br />
+ Part influence<br />
+ Influence of (operator measures part)<br />
+ Residual deviation.<br />
In order to be able to evaluate the influences<br />
separately, first of all the sum of the square deviations<br />
over all measurement values is divided<br />
into partial sums and from these the variances<br />
are calculated.<br />
For calculation:<br />
The average of „Operator p measures part t“ over the<br />
repetitions : Xpt•<br />
Average over the measurements of operator p : Xp••<br />
Average over the measurements of part t : X•t•<br />
The total average : X•••<br />
Sum of square deviations between the p operators:<br />
ΣP := tw [( X1•• - X••• ) 2 + ( X2•• - X••• ) 2 + ( X3•• -<br />
X••• ) 2 . . . ( Xp•• - X••• ) 2 ]<br />
with degree of freedom f IV := p - 1;<br />
Sum of square deviations between the t parts:<br />
ΣT := pw [( X•1• - X••• ) 2 + ( X•2• - X••• ) 2 + ( X•3•<br />
- X••• ) 2 . . . ( X•t• - X••• ) 2 ]<br />
with degree of freedom f III := t - 1;<br />
Sum of square deviations through interaction (p<br />
measures t):<br />
� i=<br />
1..<br />
p j=<br />
1..<br />
t<br />
ΣPT :=w �<br />
( X i j• - X i•• - X• j• - X••• ) 2<br />
with degree of freedom f II := (p - 1)( t - 1);<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 49 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 49 of 107<br />
Summe der quadratischen Abweichungen innerhalb<br />
der Wiederholungen <strong>von</strong> Prüfer p misst Teil t:<br />
ΣE := � � ( X i j k - X i j• ) 2<br />
� i=<br />
1..<br />
p j=<br />
1..<br />
t k=<br />
1..<br />
w<br />
mit Freiheitsgrad f I := pt (w - 1);<br />
Die Summe der quadratischen Abweichungen über<br />
alle Messwerte ist dann ΣP + ΣT + ΣPT + ΣE.<br />
Für die Messmittelanalyse werden folgende Varianzen<br />
berechnet:<br />
Hierbei wird unterschieden, ob der Einfluss der<br />
Wechselwirkung signifikant ist oder nicht. ( F-Test,<br />
Prüfwert s²PT/ s²E, krit. Wert FfII, fI,1 - α ).<br />
Die Varianzen berechnen sich entsprechend aus<br />
Quotient aus der Summe der quadratischen Abweichungen<br />
durch den entsprechenden Freiheitsgrad:<br />
Varianz Prüfereinfluss s²P := ΣP / f IV<br />
Varianz Teileeinfluss s²T := ΣT / f III<br />
Bei signifikanter Wechselwirkung<br />
Varianz Wechselwirkung s²PT := ΣPT / f II<br />
Varianz Messmitteleinfluss s²E := ΣE / f I .<br />
Bei nicht signifikanter Wechselwirkung<br />
Varianz ADDWechselw/Messm.<br />
s²add := (ΣE+ΣPT ) / ( f I + f II ) .<br />
1. Wechselwirkungseinfluss signifikant:<br />
Die Vertrauensbereiche <strong>zum</strong> Niveau 1-α berechnen<br />
sich hier aus<br />
2<br />
s � E �<br />
s<br />
w �<br />
�F<br />
2<br />
PT<br />
χ<br />
f<br />
I<br />
2<br />
fI,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
/ s<br />
2<br />
E<br />
fII,<br />
fI,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2 2<br />
s � PT �<br />
sP<br />
/ s<br />
tw �<br />
� F<br />
2<br />
s � PT �<br />
s<br />
pw �<br />
�F<br />
2<br />
PT<br />
fIII,<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
PT<br />
fIV,<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
s<br />
2<br />
E<br />
≤ σ<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
2<br />
E<br />
2<br />
PT<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
2<br />
P<br />
2<br />
T<br />
≤<br />
χ<br />
f<br />
I<br />
2<br />
fI,<br />
α / 2<br />
2<br />
s � E<br />
≤ �<br />
s<br />
w �<br />
� F<br />
s<br />
2<br />
PT<br />
2<br />
s � PT<br />
≤ �<br />
s<br />
tw �<br />
� F<br />
2<br />
s � PT<br />
≤ �<br />
s<br />
pw �<br />
�F<br />
2<br />
E<br />
/ s<br />
2<br />
E<br />
fII,<br />
fI,<br />
α / 2<br />
2<br />
P<br />
/ s<br />
2<br />
PT<br />
fIII,<br />
fII,<br />
α / 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
PT<br />
fIV,<br />
fII,<br />
α / 2<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
1 � f<br />
�<br />
� III 2<br />
2<br />
2 �<br />
�<br />
sP<br />
+ t(<br />
w − 1)<br />
sE<br />
+ ( t − 1)<br />
s<br />
2<br />
PT<br />
tw<br />
�<br />
� χ fIII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
�<br />
�<br />
�<br />
2 2 2 1 f 2<br />
2<br />
2<br />
≤ + + ≤ � III<br />
σ<br />
�<br />
P σ T σ PT �<br />
sP<br />
+ t(<br />
w − 1)<br />
sE<br />
+ ( t − 1)<br />
s<br />
2<br />
PT<br />
tw<br />
�<br />
� χ fIII,<br />
α / 2<br />
�<br />
Sum of square deviations within repetitions of operator<br />
p measures part t:<br />
ΣE := � �<br />
� i=<br />
1..<br />
p j=<br />
1..<br />
t k=<br />
1..<br />
w<br />
with degree of freedom f I := pt (w - 1);<br />
( X i j k - X i j• ) 2<br />
The sum of square deviations over all measurement<br />
values is thus ΣP + ΣT + ΣPT + ΣE.<br />
The following variances are calculated for measurement<br />
system analysis:<br />
Here it is differentiated whether the influence of the<br />
interaction is significant or not.<br />
( F test, test value s²PT/ s²E, crit. value FfII, fI,1 - α ).<br />
The variances are calculated accordingly from the<br />
quotient of the sum of square deviations divided by<br />
the corresponding degree of freedom:<br />
Variance operator influence s²P := ΣP / f IV<br />
Variance part influence s²T := ΣT / f III<br />
In case of significant interaction<br />
Variance interaction s²PT := ΣPT / f II<br />
Variance gage influence s²E := ΣE / f I .<br />
In case of not significant interaction<br />
Variance ADDinteraction/gage<br />
s²add := (ΣE+ΣPT ) / ( f I + f II ) .<br />
1. Significant interaction influence:<br />
Confidence intervals for level 1-α are calculated<br />
from<br />
fI<br />
2 2 fI<br />
2<br />
s<br />
2 E ≤ σE<br />
≤ s 2 E<br />
χ<br />
χ<br />
2<br />
s � E �<br />
s<br />
w �<br />
�F<br />
fI,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
fII,<br />
fI,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
2<br />
PT<br />
2<br />
s � PT �<br />
s<br />
tw �<br />
�F<br />
2<br />
s � PT �<br />
s<br />
pw �<br />
�F<br />
2<br />
P<br />
/ s<br />
/ s<br />
2<br />
E<br />
2<br />
PT<br />
fIII,<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
PT<br />
fIV,<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2<br />
PT<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
2<br />
P<br />
2<br />
T<br />
fI,<br />
α / 2<br />
2<br />
s � E<br />
≤ �<br />
s<br />
w �<br />
� F<br />
2<br />
PT<br />
/ s<br />
2<br />
E<br />
fII,<br />
fI,<br />
α / 2<br />
2 2<br />
s � PT<br />
≤ �<br />
sP<br />
/ s<br />
tw �<br />
�F<br />
2<br />
s � PT<br />
≤ �<br />
s<br />
pw �<br />
�F<br />
2<br />
PT<br />
fIII,<br />
fII,<br />
α / 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
PT<br />
fIV,<br />
fII,<br />
α / 2<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
1 � f<br />
�<br />
� III 2<br />
2<br />
2 �<br />
�<br />
sP<br />
+ t(<br />
w − 1)<br />
sE<br />
+ ( t − 1)<br />
s<br />
2<br />
PT<br />
tw<br />
�<br />
� χ<br />
fIII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
�<br />
�<br />
�<br />
2 2 2 1 f 2<br />
2<br />
2<br />
≤ + + ≤ � III<br />
σ<br />
�<br />
P σ T σ PT �<br />
sP<br />
+ t(<br />
w − 1)<br />
sE<br />
+ ( t − 1)<br />
s<br />
2<br />
PT<br />
tw<br />
�<br />
� χ fIII,<br />
α / 2<br />
�
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 50 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 50 of 107<br />
Mit Hilfe der Kenngrößen<br />
Messmittel : VE := s²E<br />
Wechselwirkung (Prüfer misst Teil):<br />
VW := (s²PT - s²E)/ w<br />
Prüfer : VP := (s²P - s²PT)/ tw<br />
Teil : VT := (s²T - s²PT)/ pw<br />
kann auf den Einfluss der einzelnen Komponenten<br />
geschlossen werden (das Produkt 5.15 * s entspricht<br />
einem Anteil <strong>von</strong> 99% der Werte bei normalverteilter<br />
Grundgesamtheit):<br />
EV (Streuung des Messmittels) : 5.15 VE<br />
AV (Streuung des Prüfers) : 5.15 VP<br />
IA (Streuung der Wechselwirkung) : 5.15 VW<br />
PV (Streuung des Teils)<br />
R&R<br />
: 5.15 VT<br />
(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV² + IA²<br />
2. Wechselwirkungseinfluss nicht signifikant:<br />
Die Vertrauensbereiche <strong>zum</strong> Niveau 1-α berechnen<br />
sich hier aus<br />
2<br />
s<br />
tw<br />
add<br />
χ<br />
f + f<br />
I II<br />
2<br />
fI+<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2 �<br />
�<br />
sP<br />
/ s<br />
�<br />
� FfIII,<br />
2<br />
s � add �<br />
s<br />
pw �<br />
�F<br />
1<br />
tw<br />
� f<br />
�<br />
� 2<br />
� χ fIII,<br />
2<br />
add<br />
fI+<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
add<br />
s<br />
fIV,<br />
fI+<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2 2<br />
≤ σ + σ ≤<br />
P<br />
III<br />
T<br />
s<br />
2<br />
P<br />
1<br />
tw<br />
2<br />
add<br />
≤ σ<br />
�<br />
− 1�<br />
�<br />
≤ σ<br />
�<br />
2<br />
add<br />
2<br />
P<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
+ ( tw − 1)<br />
s<br />
� f<br />
�<br />
� 2<br />
� χ fIII,<br />
III<br />
1−α<br />
/ 2<br />
Mit Hilfe der Kenngrößen<br />
2<br />
T<br />
2<br />
P<br />
f + f<br />
≤<br />
χ<br />
I II<br />
2<br />
fI+<br />
fII,<br />
α / 2<br />
2<br />
s � add<br />
≤ �<br />
s<br />
tw �<br />
� F<br />
2<br />
add<br />
s<br />
2<br />
P<br />
2<br />
s � add<br />
≤ �<br />
s<br />
pw �<br />
�F<br />
�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
s<br />
2<br />
add<br />
/ s<br />
2<br />
add<br />
fIII,<br />
fI+<br />
fII,<br />
α / 2<br />
2<br />
T<br />
+ ( tw − 1)<br />
s<br />
/ s<br />
2<br />
add<br />
fIV,<br />
fIfII,<br />
α / 2<br />
2<br />
add<br />
Messmittel : VE := s²add<br />
Prüfer : VP := (s²P - s²add)/ tw<br />
Teil : VT := (s²T - s²add)/ pw<br />
�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
− 1�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
kann auf den Einfluss der einzelnen Komponenten<br />
geschlossen werden (das Produkt 5.15 * s entspricht<br />
einem Anteil <strong>von</strong> 99% der Werte bei normalverteilter<br />
Grundgesamtheit):<br />
EV (Streuung des Messmittels) : 5.15 VE<br />
AV (Streuung des Prüfers) : 5.15 VP<br />
Using the calculated values<br />
Gage : VE := s²E<br />
Interaction (operator measures part):<br />
VW := (s²PT - s²E)/ w<br />
Operator : VP := (s²P - s²PT)/ tw<br />
Part : VT := (s²T - s²PT)/ pw<br />
it is possible to draw conclusions on the influence of<br />
the individual components (the product 5.15 * s<br />
equals a proportion of 99% of the values in case of a<br />
normally distributed population):<br />
EV (Equipment Variation) : 5.15 VE<br />
AV (Appraiser Variation) : 5.15 VP<br />
IA (Interaction) : 5.15 VW<br />
PV (Part Variation)<br />
R&R<br />
: 5.15 VT<br />
(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV² + IA²<br />
2. Non significant interaction influence:<br />
The confidence intervals for level 1-α are calculated<br />
from<br />
f + f<br />
I II<br />
2<br />
fI+<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
I II<br />
2<br />
fI+<br />
fII,<br />
α / 2<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
2<br />
s<br />
tw<br />
add<br />
χ<br />
2 � s<br />
� P / s<br />
�<br />
� FfIII,<br />
2<br />
s � add s<br />
�<br />
pw �<br />
�F<br />
2<br />
add<br />
fI+<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
add<br />
s<br />
fIV,<br />
fI+<br />
fII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
2<br />
add<br />
≤ σ<br />
�<br />
− 1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
2<br />
add<br />
2<br />
P<br />
�<br />
−1�<br />
≤ σ<br />
�<br />
�<br />
2<br />
T<br />
1 � f<br />
� III 2<br />
�<br />
sP<br />
+ ( tw − 1)<br />
s<br />
2<br />
tw � χ fIII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
�<br />
2 2 1 f<br />
≤ + ≤ � III<br />
σ P σ T �<br />
s<br />
2<br />
tw � χ fIII,<br />
1−α<br />
/ 2<br />
Using the calculated values<br />
f + f<br />
≤<br />
χ<br />
2<br />
s � add s<br />
≤ �<br />
tw �<br />
� F<br />
2<br />
P<br />
2<br />
s � add s<br />
≤ �<br />
pw �<br />
�F<br />
2<br />
add<br />
2<br />
P<br />
�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
s<br />
/ s<br />
2<br />
add<br />
2<br />
add<br />
fIII,<br />
fI+<br />
fII,<br />
α / 2<br />
2<br />
T<br />
/ s<br />
2<br />
add<br />
fIV,<br />
fIfII,<br />
α / 2<br />
+ ( tw − 1)<br />
s<br />
2<br />
add<br />
Gage : VE := s²add<br />
Operator : VP := (s²P - s²add)/ tw<br />
Part : VT := (s²T - s²add)/ pw<br />
�<br />
− 1�<br />
�<br />
�<br />
�<br />
−1�<br />
�<br />
�<br />
it is possible to draw conclusions on the influence of<br />
the individual components (the product 5.15 * s<br />
equals a proportion of 99% of the values in case of a<br />
normally distributed population):<br />
EV (Equipment Variation) : 5.15 VE<br />
AV (Appraiser Variation) : 5.15 VP<br />
PV (Part Variation) : 5.15 VT<br />
�<br />
�<br />
�<br />
�
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 51 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 51 of 107<br />
PV (Streuung des Teils) : 5.15 VT<br />
R&R<br />
(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV²<br />
R&R<br />
(Repeatability & Reproducibility) : EV² + AV²<br />
Fallbeispiel: Example:<br />
Prüfer / Operator 1 Prüfer / Operator 2<br />
Wdh./Rep. 1 Wdh./Rep. 2 Wdh./Rep. 1 Wdh./Rep. 2<br />
Teil/Part 1 2 1 1 1<br />
Teil/Part 2 1 1 1 2<br />
Teil/Part 3 2 1 1 1<br />
Teil/Part 4 3 2 1 2<br />
Teil/Part 5 1 3 1 1<br />
Um die einzelnen Mittelwerte, Summen der<br />
quadratischen Abweichungen und Varianzen zu<br />
berechnen, verwendet man bei Handrechnung<br />
die ANOVA- Zerlegungstafel:<br />
For manual calculation of the individual averages,<br />
sums of square deviations and variances<br />
the ANOVA table is used:<br />
Prüfer/Operator 1 Prüfer/Operator 2 � � (�)² �()²<br />
W1+W2 W1²+W2² W1+W2 W1²+W2²<br />
T1 3 2 a1=5 c1=25 e1=13<br />
T1 5 2 b1=7<br />
T2 2 3 a2=5 c2=25 e2=13<br />
T2 2 5 b2=7<br />
T3 3 2 a3=5 c3=25 e3=13<br />
T3 5 2 b3=7<br />
T4 5 3 a4=8 c4=64 e4=34<br />
T4 13 5 b4=18<br />
T5 4 2 a5=6 c5=36 e5=20<br />
T5 10 2 b5=12<br />
� A1=17 A2=12 A=29 C=175<br />
� B1=35 B2=16 B=51<br />
(�)² D1=289 D2=144 D=433<br />
�()² E1=63 E2=30 E=93<br />
Daraus ergeben sich folgende Kenngrößen:<br />
Xpt• = Summe W1+W2 <strong>von</strong> Prüfer p, Teil t dividiert<br />
durch Anzahl Wdh.:<br />
X11• = 3/2 = 1.5 X12• = 2/2 = 1<br />
X14• = 5/2 = 2.5<br />
X21• = 2/2 = 1 X22• = 3/2 = 1.5<br />
X24• = 3/2 = 1.5<br />
Xp•• = Ap dividiert durch Teile *Wdh.:<br />
X1•• = 17/10 = 1.7 X2•• = 12/10 = 1.2<br />
X•t• = at dividiert durch Prüfer *Wdh.:<br />
X•1• = 5/4 = 1.25 X•2• = 5/4 = 1.25<br />
X•4• = 8/4 = 2<br />
X••• = A dividiert durch Prüfer*Teile *Wdh.<br />
= 29/20 =1.45.<br />
ΣP = D/(tw) - A²/(ptw)<br />
This results in the following statistics:<br />
Xpt• = Sum W1+W2 of operator p, part t divided<br />
by no. of repetitions:<br />
X11• = 3/2 = 1.5 X12• = 2/2 = 1<br />
X14• = 5/2 = 2.5<br />
X21• = 2/2 = 1 X22• = 3/2 = 1.5<br />
X24• = 3/2 = 1.5<br />
Xp•• = Ap divided by parts *rep.:<br />
X1•• = 17/10 = 1.7 X2•• = 12/10 = 1.2<br />
X•t• = at divided by operator *rep.:<br />
X•1• = 5/4 = 1.25 X•2• = 5/4 = 1.25<br />
X•4• = 8/4 = 2<br />
X••• = A divided by operator *parts *rep.<br />
= 29/20 =1.45.<br />
ΣP = D/(tw) - A²/(ptw)<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 52 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 52 of 107<br />
= 433/10 - 841/20<br />
= 1.25<br />
s²P = 1.25 / 1 = 1.25<br />
ΣT = C/(pw) - A²/(ptw)<br />
= 175/4 - 841/20<br />
= 1.7<br />
s²T = 1.7 / 4 = 0.425<br />
ΣPT = E/w - C/(pw) - D/(tw)+ A²/(ptw)<br />
= 93/2 -175/4 - 433/10 + 841/20<br />
= 1.5<br />
s²PT = 1.5 / 4 = 0.375<br />
ΣE = B - E/w<br />
= 51 - 93/2<br />
= 4.5<br />
s²E = 4.5 / 10 = 0.45<br />
Prüfwert F-Test: s²PT/ s²E = 0.375 / 0.45 =<br />
0.8334 < 3.48 = F10,4,1-95%<br />
damit ist die Wechselwirkung nicht signifikant, d.h.<br />
s²add = (ΣE+ΣPT ) / ptw-p-t+1<br />
= 6 / 14 = 0.4285<br />
Messmittel : VE = 0.429<br />
Prüfer : VP = 0.0821<br />
Teil : VT = 0 (da < 0)<br />
EV (Streuung des Messmittels):<br />
5.15 VE = 3.373,<br />
AV (Streuung des Prüfers):<br />
5.15 VP = 1.476,<br />
PV (Streuung des Teils):<br />
5.15 VT = 0<br />
R&R EV² + AV² = 3.682.<br />
Das Ergebnis R&R ist ins Verhältnis zu einer vorgegebenen<br />
Referenzgröße (RF) zu setzen:<br />
R & R<br />
% R & R = ⋅100%<br />
RF<br />
Dieses Ergebnis ist mit den festgelegten Annahmekriterien<br />
zu vergleichen.<br />
= 433/10 - 841/20<br />
= 1.25<br />
s²P = 1.25 / 1 = 1.25<br />
ΣT = C/(pw) - A²/(ptw)<br />
= 175/4 - 841/20<br />
= 1.7<br />
s²T = 1.7 / 4 = 0.425<br />
ΣPT = E/w - C/(pw) - D/(tw)+ A²/(ptw)<br />
= 93/2 -175/4 - 433/10 + 841/20<br />
= 1.5<br />
s²PT = 1.5 / 4 = 0.375<br />
ΣE = B - E/w<br />
= 51 - 93/2<br />
= 4.5<br />
s²E = 4.5 / 10 = 0.45<br />
Test value F test: s²PT/ s²E = 0.375 / 0.45 =<br />
0.8334 < 3.48 = F10,4,1-95%<br />
thus interaction is not significant, i.e.<br />
s²add = (ΣE+ΣPT ) / ptw-p-t+1<br />
= 6 / 14 = 0.4285<br />
Gage : VE = 0.429<br />
Operator : VP = 0.0821<br />
Part : VT = 0 (da < 0)<br />
EV (Equipment Variation):<br />
5.15 VE = 3.373,<br />
AV (Appraiser Variation):<br />
5.15 VP = 1.476,<br />
PV (Part Variation):<br />
5.15 VT = 0<br />
R&R EV² + AV² = 3.682.<br />
The result R&R must be put into relation to a given<br />
reference figure (RF):<br />
R & R<br />
% R & R = ⋅100%<br />
RF<br />
This result is to be compared to the stipulated<br />
acceptance criteria.<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 53 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 53 of 107<br />
13.4.2 ANOVA für Verfahren 3<br />
Zur Beurteilung eines automatischen Messsystems<br />
bietet sich das Modell der balancierten<br />
einfachen Varianzanalyse mit Zufallskomponenten<br />
an. Es wird da<strong>von</strong> ausgegangen, dass sich<br />
jeder Messwert aus: „Gesamtmittelwert + Einfluss<br />
des Teils + Einfluss des Messmittels“ zusammensetzt.<br />
Um nur den Einfluss des Messmittels<br />
beurteilen zu können, ist durch geeignete<br />
Maßnahmen der Teileeinfluss gering zu halten.<br />
Dies kann beispielsweise durch die Markierung<br />
der Messstellen geschehen.<br />
Die Summe der quadratischen Abweichungen<br />
der Wiederholungen (= Messungen pro Teil):<br />
�<br />
n<br />
k<br />
E = ��<br />
i=<br />
1 j=<br />
1<br />
( ) 2<br />
X − X<br />
ij<br />
i•<br />
mit X i•<br />
= Mittelwert der Messungen pro Teil<br />
i = 1, 2, ..., n = Anzahl Teile<br />
j = 1, 2, ..., k = Anzahl Messungen pro Teil<br />
Daraus errechnet sich:<br />
Streuung des Messmittels<br />
1<br />
s = �E<br />
f<br />
2<br />
E<br />
mit Freiheitsgrad f = n ⋅ ( k − 1)<br />
EV = 5, 15 ⋅ sE<br />
für Vertrauensniveau 99%<br />
Für die Berechnung der Gesamtstreuung des<br />
Messsystems %R&R wird EV ins Verhältnis zu<br />
einer vorgegebenen Toleranz gesetzt:<br />
EV<br />
% R & R = % EV = ⋅100%<br />
T<br />
Dieser Kennwert ist mit den festgelegten Annahmekriterien<br />
zu vergleichen. Typische Referenzgrößen<br />
sind die Toleranz, die sechsfache<br />
Prozessstreuung oder die Teilestreuung (= die<br />
Streuung zwischen den verschiedenen Teilen,<br />
PV = Part Variation). Diese kann aus der quadratischen<br />
Abweichung zwischen den Teilen bestimmt<br />
werden:<br />
�<br />
T = k<br />
n<br />
� ( x i•<br />
− x ••<br />
)<br />
i=<br />
1<br />
mit i = 1, 2, ..., n = Anzahl Teile<br />
2<br />
13.4.2 ANOVA for Type-3 Study<br />
For the evaluation of an automatic measurement<br />
system, the model of the balanced simple<br />
analysis of variance with random components is<br />
available. It is assumed that every measurement<br />
value is composed of: “overall average +<br />
part influence + gage influence”. In order to<br />
evaluate gage influence only, part influence<br />
must be kept low by means of appropriate<br />
measures. This may be realized by marking of<br />
the measurement positions.<br />
The sum of the squared deviations of the repetitions<br />
(= measurements per part):<br />
( ) 2<br />
X − X<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
�<br />
n<br />
k<br />
E = ��<br />
i=<br />
1 j=<br />
1<br />
ij<br />
i•<br />
where X i•<br />
= average of measurements per part<br />
i = 1, 2, ..., n = number of parts<br />
j = 1, 2, ..., k = no. of measurements per part<br />
This is used for calculating:<br />
Gage Variation<br />
1<br />
s = �E<br />
f<br />
2<br />
E<br />
with degrees of freedom f = n ( k − 1)<br />
⋅ .<br />
EV = 5, 15 ⋅ sE<br />
for 99% confidence level<br />
For calculation of the total gage variation<br />
%R&R, EV is viewed relative to a given reference<br />
figure (RF):<br />
EV<br />
% R & R = % EV = ⋅100%<br />
RF<br />
This calculated value must be compared to the<br />
stipulated acceptance criteria. Typical reference<br />
figures are tolerance, 6* process variation, or<br />
part variation (= the variation between the different<br />
parts, PV = Part Variation). This may be<br />
determined from the squared deviation between<br />
the parts:<br />
�<br />
T = k<br />
n<br />
� ( x i•<br />
− x ••<br />
)<br />
i=<br />
1<br />
where i = 1, 2, ..., n = number of parts<br />
2
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 54 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 54 of 107<br />
k = Anzahl Messungen pro Teil<br />
x ••<br />
= Gesamtmittelwert<br />
�<br />
2 ( E )<br />
= und<br />
2<br />
s T<br />
T<br />
fT<br />
VT =<br />
2<br />
s T − s<br />
k<br />
mit Freiheitsgrad = n − 1<br />
f T<br />
PV = 5,<br />
15 ⋅ VT für Vertrauensniveau 99%<br />
Falls keine signifikante Teilestreuung vorhanden<br />
ist, kann VT < 0 sein. In diesem Fall darf<br />
die Teilestreuung nicht als Referenzgröße herangezogen<br />
werden.<br />
Fallbeispiel:<br />
Zehn Teile werden zweimal gemessen. Die<br />
Merkmalstoleranz T ist 0,06 mm.<br />
k = number of measurements per part<br />
x ••<br />
= total average<br />
�<br />
( )<br />
= and<br />
2<br />
s T<br />
T<br />
fT<br />
VT =<br />
2 2<br />
s T − sE<br />
k<br />
with degrees of freedom = n − 1<br />
PV = 5,<br />
15 ⋅ VT for 99% confidence level<br />
If no significant part variation exists then VT < 0<br />
is possible. In this case, part variation must not<br />
be used as reference figure.<br />
Example:<br />
Ten parts are measured twice. The characteristic’s<br />
tolerance T is 0.06 mm.<br />
i x1i x2i xi. (x1i-xi•)² (x2i-xi•)² E T<br />
1 6,029 6,030 6,0295 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00065536<br />
2 6,019 6,020 6,0195 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00024336<br />
3 6,004 6,003 6,0035 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00000016<br />
4 5,982 5,982 5,9820 0,00000000 0,00000000 0,0000000 0,00047961<br />
5 6,009 6,009 6,0090 0,00000000 0,00000000 0,0000000 0,00002601<br />
6 5,971 5,972 5,9715 0,00000025 0,00000025 0,0000005 0,00104976<br />
7 5,995 5,997 5,9960 0,00000100 0,00000100 0,0000020 0,00006241<br />
8 6,014 6,018 6,0160 0,00000400 0,00000400 0,0000080 0,00014641<br />
9 5,985 5,987 5,9860 0,00000100 0,00000100 0,0000020 0,00032041<br />
10 6,024 6,028 6,0260 0,00000400 0,00000400 0,0000080 0,00048841<br />
x•• = 6,0039 ΣE = 0,0000220 ΣT = 0,00347190<br />
für die Streuung des Messsystems<br />
s 2<br />
E<br />
0,<br />
000022<br />
= = 0,0000022<br />
10<br />
( 2 − 1)<br />
EV = 5,<br />
15 ⋅ 0,<br />
0000022 = 0,00763<br />
für Vertrauensniveau 99%<br />
0,<br />
00763<br />
% R & R = % EV = ⋅100%<br />
= 12,<br />
73%<br />
0,<br />
06<br />
for Measurement System Variation<br />
( 2 − 1)<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
s 2<br />
E<br />
f T<br />
0.<br />
000022<br />
= = 0.0000022<br />
10<br />
EV = 5.<br />
15 ⋅ 0.<br />
0000022 = 0.00763<br />
for 99% confidence level<br />
0.<br />
00763<br />
% R & R =<br />
% EV = ⋅100%<br />
=<br />
0.<br />
06<br />
12.<br />
73%
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 55 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 55 of 107<br />
für die Streuung zwischen den Teilen<br />
0,<br />
0034719<br />
s<br />
9<br />
2<br />
T = = 0,000386<br />
( 0,<br />
000386 − 0,<br />
000022)<br />
VT = = 0,0001819<br />
2<br />
PV = 5,<br />
15 ⋅ 0,<br />
0001819 = 0,069<br />
für Vertrauensniveau 99%<br />
for Variation between the parts<br />
0,<br />
0034719<br />
T = = 0,000386<br />
9<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
s 2<br />
( 0,<br />
000386 − 0,<br />
000022)<br />
VT = = 0,0001819<br />
2<br />
PV = 5.<br />
15 ⋅ 0,<br />
0001819 = 0,069<br />
for 99% confidence level
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 56 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 56 of 107<br />
13.5 Faktoren<br />
Tabelle mit d2* Werten für K Faktoren<br />
Anzahl Stichproben: k · n<br />
Anzahl Prüfer (k) * Anzahl Teile (n)<br />
13.5 Table of Constants<br />
Table of d2* Values for K factors<br />
Sample Size: No. of Repetitions (r) for K1 or No. of Operators (k) for K2<br />
Stichprobenumfang: Anzahl Wiederholungen (r) für K1 oder Anzahl Prüfer (k) für K2<br />
d2* 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15<br />
1 1.41 1.91 2.24 2.48 2.67 2.83 2.96 3.08 3.18 3.27 3.35 3.42 3.49 3.55<br />
2 1.28 1.81 2.15 2.40 2.60 2.77 2.91 3.02 3.13 3.22 3.30 3.38 3.45 3.51<br />
3 1.23 1.77 2.12 2.38 2.58 2.75 2.89 3.01 3.11 3.21 3.29 3.37 3.43 3.50<br />
4 1.21 1.75 2.11 2.37 2.57 2.74 2.88 3.00 3.10 3.20 3.28 3.36 3.43 3.49<br />
5 1.19 1.74 2.10 2.36 2.56 2.73 2.87 2.99 3.10 3.19 3.28 3.35 3.42 3.49<br />
6 1.18 1.73 2.09 2.35 2.56 2.73 2.87 2.99 3.10 3.19 3.27 3.35 3.42 3.49<br />
7 1.17 1.73 2.08 2.35 2.55 2.72 2.87 2.99 3.10 3.19 3.27 3.35 3.42 3.48<br />
8 1.17 1.72 2.08 2.35 2.55 2.72 2.87 2.98 3.09 3.19 3.27 3.35 3.42 3.48<br />
9 1.16 1.72 2.08 2.34 2.55 2.72 2.86 2.98 3.09 3.18 3.27 3.35 3.42 3.48<br />
10 1.16 1.72 2.08 2.34 2.55 2.72 2.86 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.42 3.48<br />
11 1.16 1.71 2.08 2.34 2.55 2.72 2.86 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />
12 1.15 1.71 2.07 2.34 2.55 2.72 2.85 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />
13 1.15 1.71 2.07 2.34 2.55 2.71 2.85 2.98 3.09 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />
14 1.15 1.71 2.07 2.34 2.54 2.71 2.85 2.98 3.08 3.18 3.27 3.34 3.41 3.48<br />
15 1.15 1.71 2.07 2.34 2.54 2.71 2.85 2.98 3.08 3.18 3.26 3.34 3.41 3.48<br />
> 15 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847 2.970 3.078 3.173 3.258 3.336 3.407 3.472<br />
Die K Faktoren (K1 und K2) werden mit<br />
5 . 152<br />
∗<br />
d2<br />
für 99% (basierend auf einer Normalverteilung)<br />
berechnet.<br />
K1 ist abhängig <strong>von</strong> der Anzahl Wiederholungen<br />
(r) und der Anzahl Teile (n) mal der Anzahl<br />
der Prüfer (k).<br />
K2 ist abhängig <strong>von</strong> der Anzahl der Prüfer. Da<br />
nur eine Spannweite berechnet wird, gilt nur<br />
Zeile 1.<br />
Beispiele:<br />
1. 2 Wiederholungen (r=2), 3 Prüfer (k=3),<br />
10 Teile (n=10)<br />
falls k ⋅ n = 3 ⋅10<br />
= 30 dann gilt die Zeile<br />
>15 ∗<br />
d2 = 1.<br />
128<br />
K1 = 5 . 152 = 4.567<br />
1.<br />
128<br />
2. 10 Wiederholungen (r=10), 1 Prüfer<br />
(k=1), 5 Teile (n=5)<br />
k ⋅ n = 1⋅<br />
5 = 5<br />
∗<br />
d2 = 3.<br />
10<br />
K1 = 5 . 152 = 1.662<br />
3.<br />
1<br />
3. 3 Prüfer k=3<br />
K2 = 5 . 152 = 2.697<br />
1.<br />
91<br />
∗<br />
d2 = 1.<br />
91<br />
The K factors (K1 and K2) are calculated from<br />
5 . 152 (to represent 99% of the normal distribu-<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
∗<br />
d2<br />
tion).<br />
K1 is dependent on the number of trials (r) and<br />
the number of pieces (n) times the number of<br />
operators (k).<br />
K2 is dependent on the number of operators.<br />
Since there is only one range calculation, only<br />
row 1 is applicable.<br />
Examples:<br />
1. 2 trials (r=2), 3 operators (k=3), 10 pieces<br />
(n=10)<br />
k ⋅ n = 3 ⋅10<br />
= 30 , so the “>15” row is appli-<br />
∗ cable d2 = 1.<br />
128<br />
K1 = 5 . 152 = 4.567<br />
1.<br />
128<br />
2. 10 trials (r=10), 1 operator (k=1), 5 parts<br />
(n=5)<br />
k ⋅ n = 1⋅<br />
5 = 5<br />
∗<br />
d2 = 3.<br />
10<br />
K1 = 5 . 152 = 1.66<br />
3.<br />
1<br />
3. 3 operators (k=3)<br />
K2 = 5 . 152 = 2.697 ∗<br />
d2 = 1.<br />
91<br />
1.<br />
91
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 57 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 57 of 107<br />
13.6 Formblätter / Fallbeispiele<br />
Die folgenden, mit qs-STAT ® 3.x erstellten,<br />
Formblätter und Fallbeispiele sind in Form und<br />
Inhalt als ein Vorschlag zu verstehen.<br />
Verfahren 1 – Leerformular Cg-Studie<br />
Verfahren 1 – Cg-Studie<br />
Verfahren 2 – Leerformular ARM-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 2 – Leerformular ARM-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ARM-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ARM-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ARM-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ARM-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
13.6 Work sheets / Samples<br />
The following work sheets and samples, created<br />
using qs-STAT ® 3.x, are intended to serve<br />
as a suggestion regarding layout and contents.<br />
Type-1 study – empty form sheet Cg-Study<br />
Type-1 study – Cg-Study<br />
Type-2 study – empty form sheet ARM<br />
new measurement systems<br />
Type-2 study – empty form sheet ARM<br />
measurement systems in use<br />
Type-2 study – ARM method<br />
new measurement systems<br />
Type-2 study – ARM method<br />
measurement systems in use<br />
Type-2 study – ANOVA method<br />
new measurement systems<br />
Type-2 study – ANOVA method<br />
measurement systems in use<br />
Type-3 study – ARM method<br />
new measurement systems<br />
Type-3 study – ARM method<br />
measurement systems in use<br />
Type-3 study – ANOVA method<br />
new measurement systems<br />
Type-3 study – ANOVA method<br />
measurement systems in use<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 82 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 82 of 107<br />
13.7 Formblätter / Fallbeispiele ME<br />
Die folgenden, mit qs-STAT ME erstellten,<br />
Formblätter und Fallbeispiele sind in Form und<br />
Inhalt als ein Vorschlag zu verstehen.<br />
Verfahren 1 – Cg-Studie<br />
Verfahren 2 – ARM-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ARM-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 2 – ANOVA-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ARM-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ARM-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />
neue Messsysteme<br />
Verfahren 3 – ANOVA-Methode<br />
vorhandene Messsysteme<br />
Linearität<br />
Stabilität<br />
13.7 Work sheets / Samples ME<br />
The following work sheets and samples, created<br />
using qs-STAT ME, are intended to serve<br />
as a suggestion regarding layout and contents.<br />
Type-1 study – Cg-Study<br />
Type-2 study – ARM method<br />
new measurement systems<br />
Type-2 study – ARM method<br />
measurement systems in use<br />
Type-2 study – ANOVA method<br />
new measurement systems<br />
Type-2 study – ANOVA method<br />
measurement systems in use<br />
Type-3 study – ARM method<br />
new measurement systems<br />
Type-3 study – ARM method<br />
measurement systems in use<br />
Type-3 study – ANOVA method<br />
new measurement systems<br />
Type-3 study – ANOVA method<br />
measurement systems in use<br />
Linearity<br />
Stability<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002
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<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 105 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 105 of 107<br />
14 Index<br />
A<br />
Abkürzungen · 43<br />
Annahmebedingungen · 4<br />
Annahmeprüfung · 15<br />
ANOVA · 48, 53<br />
Arbeitskreis · 1<br />
Auflösung · 10, 16<br />
B<br />
Begriffe · 10<br />
C<br />
Chemische Analysen · 40<br />
D<br />
DIN EN ISO 10012 · 7<br />
DIN EN ISO 9000ff · 4<br />
DIN EN ISO 9001 · 7<br />
Drehmoment · 40<br />
Drei-Koordinaten-Messgeräte · 40<br />
Durchflussmesssysteme · 40<br />
Dynamische Messung · 40<br />
E<br />
Eignungsnachweis · 7<br />
Einflussgröße · 10<br />
Einstellmeister · 10<br />
F<br />
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> · 7, 16<br />
Faktoren · 56<br />
Fallbeispiele · 57, 82<br />
Farbmesssysteme · 40<br />
Fließmessungen · 40<br />
Formblätter · 57<br />
Formeln · 45<br />
Formtest · 40<br />
G<br />
Geltungsbereich · 15<br />
Grenzwerte · 10<br />
GUM · 7<br />
H<br />
Haftungsausschluss · 2<br />
Härteprüfung · 40<br />
Hitzetest · 40<br />
I<br />
Internationales Normal · 10<br />
14 Index<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
A<br />
Abbreviations · 43<br />
Acceptance Control · 15<br />
Acceptance Terms · 4<br />
Accuracy of Measurement · 10<br />
Adjustment · 10<br />
Allocation processes · 40<br />
ANOVA · 48, 53<br />
B<br />
Balancing Machines · 40<br />
C<br />
Calibration · 10<br />
Capability Study · 7<br />
Chemical Analyses · 40<br />
Coating Thickness · 40<br />
Cold Test · 40<br />
Color measurement systems · 40<br />
Control · 15<br />
Coordinate Measuring Machines · 40<br />
Copyright · 2<br />
Correction · 10<br />
D<br />
Definitions · 10<br />
Destructive Testing · 40<br />
DIN EN ISO 10012 · 7<br />
DIN EN ISO 9000ff · 4<br />
DIN EN ISO 9001 · 7<br />
Disclaimer · 2<br />
Drift · 10<br />
Dynamic Measurement · 40<br />
F<br />
Flow Meters · 40<br />
Flow Testers · 40<br />
Formulae · 45<br />
G<br />
Gage · 10<br />
Gage Control · 8<br />
Guidelines · 4<br />
GUM · 7<br />
H<br />
Hardness Testers · 40<br />
Hot Test · 40<br />
I<br />
Individual Values · 35<br />
Influence Quantity · 10<br />
International Standard · 10
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 106 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 106 of 107<br />
J<br />
Justierung · 10<br />
K<br />
Kalibrierung · 10<br />
Kältetest · 40<br />
Korrektion · 10<br />
L<br />
Lecktester · 40<br />
Linearität · 10, 17, 31, 46<br />
M<br />
Messabweichung · 10<br />
Messbereich · 10<br />
Messbeständigkeit · 10, 17, 22, 35<br />
Messgenauigkeit · 10<br />
Messgerät · 10<br />
Messgerätedrift · 10<br />
Messgröße · 10<br />
Messkette · 10<br />
Messmittel · 10<br />
Messprozess · 10<br />
Messsystem · 10<br />
Messung · 10<br />
Messunsicherheit · 7, 10<br />
N<br />
Nationales Normal · 10<br />
Nicht fähige Messsysteme · 37<br />
Normal · 10<br />
O<br />
Oberflächenmessung · 40<br />
Optische Kompensatoren · 40<br />
P<br />
Partikelzählung · 40<br />
Prüfmittelüberwachung · 8<br />
Q<br />
QS-9000 · 4, 7<br />
Qualitätsaudit · 10<br />
R<br />
Referenzbedingungen · 10<br />
Referenzmaterial · 10<br />
Richtlinien · 4<br />
Rückführbarkeit · 10<br />
Rückverfolgbarkeit · 10<br />
S<br />
Schichtdicke · 40<br />
Shewhart-Qualitätsregelkarte · 35<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
L<br />
Leak Testers · 40<br />
Limits · 10<br />
Linearity · 10, 17, 31, 46<br />
M<br />
Master · 10<br />
Measurand · 10<br />
Measurement · 10<br />
Measurement Error · 10<br />
Measurement Process · 10<br />
Measurment System · 10<br />
Measuring Instrument · 10<br />
Measuring Chain · 10<br />
Measuring equipment · 10<br />
N<br />
National Standard · 10<br />
Non-capable Measurement Systems · 37<br />
O<br />
Optical Gaging · 40<br />
P<br />
Particle Counts · 40<br />
Precision Form Measurement Machines · 40<br />
Proof of Capability · 7, 16<br />
Q<br />
QS-9000 · 4, 7<br />
Quality audit · 10<br />
R<br />
Random Error of Measurement · 10<br />
Reference Conditions · 10<br />
Reference Material · 10<br />
Repeatability · 10<br />
Reproducibility · 10<br />
Resolution · 10, 16<br />
S<br />
Samples · 57, 82<br />
Scope · 15<br />
Shewhart Quality Control Chart · 35<br />
Special Cases · 40<br />
Specified measuring range · 10<br />
Stability · 10, 17, 22, 35<br />
Stability · 10, 17, 35<br />
Standard · 10<br />
Surface Texture Gauges · 40<br />
Systematic Error of Measurement · 10<br />
T<br />
Table of Constants · 56<br />
Torque · 40
<strong>Fähigkeitsnachweis</strong> <strong>von</strong> <strong>Messsystemen</strong> Seite 107 <strong>von</strong> 107<br />
Measurement System Capability Page 107 of 107<br />
Sonderfälle · 40<br />
Stabilität · 10, 17, 35<br />
Systematische Messabweichung · 10<br />
U<br />
Überwachung · 15<br />
Urheberrechtsschutz · 2<br />
Urwerte · 35<br />
V<br />
VDA 6.1 · 4, 7<br />
Verfahren 1 · 16, 19<br />
Verfahren 2 · 16, 24<br />
Verfahren 3 · 16, 28<br />
Vergleichpräzision · 10<br />
W<br />
Wiederholpräzision · 10<br />
Wuchtmaschinen · 40<br />
Z<br />
Zerstörende Prüfungen · 40<br />
Zufällige Messabweichung · 10<br />
Zupaarungsvorgänge · 40<br />
Traceability · 10<br />
Type-1 Study · 16, 19<br />
Type-2 Study · 16, 24<br />
Type-3 Study · 16, 28<br />
Version 2.1 D/E Stand/Status: 17. September 2002<br />
U<br />
Uncertainty of Measurement · 7, 10<br />
V<br />
VDA 6.1 · 4, 7<br />
W<br />
Work Group · 1<br />
Work Sheets · 57