Fertigungsspezifikation
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10 Verfügbare Bohrer<br />
10<br />
10<br />
Verfügbare Bohrer<br />
Verfügbare Bohrer<br />
Verfügbare Bohrer<br />
Arten von Durchmesser Bohrungen größer 6,2 mm werden gefräst.<br />
Arten von Bohrungen<br />
Arten Es gibt von 7<br />
Es Durchmesser verschiedene<br />
gibt Bohrungen Arten<br />
6 verschiedene größer von<br />
Arten 6,2 Bohrungen mm von werden Bohrungen gefräst.<br />
Es gibt 7 verschiedene Arten von Bohrungen<br />
Arten von D Bohrungen<br />
= nicht durchkontaktierte Bohrung<br />
Es gibt D 7 E = nicht = durchkontaktierte Bohrung<br />
D verschiedene = nicht durchkontaktierte Arten von Bohrungen Bohrungen<br />
Bohrung<br />
F = Geschlossene Durchkontaktierungen (vias closed)<br />
E E = durchkontaktierte = durchkontaktierte Bohrungen<br />
Bohrung<br />
A = Blind Vias<br />
F F<br />
D<br />
=<br />
C<br />
Geschlossene =<br />
=<br />
Geschlossene<br />
nicht durchkontaktierte<br />
= Buried Vias<br />
Durchkontaktierungen<br />
Bohrung<br />
(vias closed)<br />
A<br />
E<br />
=<br />
Blind<br />
durchkontaktierte<br />
Vias<br />
Bohrung<br />
A B = Blind = Planar Vias verschlossene und Mikrovias Vias (plugged vias)<br />
C<br />
F<br />
=<br />
Buried<br />
Geschlossene<br />
Vias<br />
Durchkontaktierungen (vias closed)<br />
C B = A Buried =<br />
Planar<br />
Blind Vias Vias<br />
verschlossene Vias (plugged vias)<br />
C = Buried Vias<br />
ggp B = Standard: Planar verschlossene Klasse 1 & 2 Vias (plugged vias)<br />
B = Planar verschlossene Vias (plugged vias)<br />
A B C D E F<br />
ggp Sonderanforderungen Standard: Klasse 1 der & 2 Klasse 3 nur nach vorheriger Absprache mit der Geschäftsleitung, Werkleitung und dem<br />
Sonderanforderungen Qualitätsmanagement.<br />
ggp Standard: Klasse der<br />
1 1 & & Klasse<br />
2 2 3 nur nach vorheriger Absprache mit der Geschäftsleitung, Werkleitung und dem<br />
Auszug aus der Tabelle 3-2 der IPC-6012B<br />
Qualitätsmanagement.<br />
Sonderanforderungen der Klasse 3 nur nach vorheriger Absprache mit der Geschäftsleitung, Werkleitung und dem<br />
Auszug Sonderanforderungen aus der Tabelle 3-2 der IPC-6012B der Klasse 3 nur nach vorheriger Absprache mit der Geschäftsleitung, Werkleitung und<br />
Qualitätsmanagement.<br />
dem Qualitätsmanagement. Endoberfläche Klasse 1 Klasse 2 Klasse 3<br />
10<br />
Bohrerdurchmesser Verfügbar in Abstufungen<br />
Bohrerdurchmesser<br />
0,15 bis 6,20 mm<br />
Verfügbar in Abstufungen<br />
Von 0,05 mm<br />
0,15 Bohrerdurchmesser bis 6,20 mm Von Verfügbar 0,05 mm in Abstufungen<br />
Durchmesser 0,15 bis 6,20 größer mm 6,2 mm werden gefräst.<br />
Durchmesser größer 6,2 mm werden gefräst.<br />
Von 0,05 mm<br />
Auszug aus der Tabelle 3-2 der IPC-6012B<br />
Auszug aus der Tabelle 3-2 der IPC-6012B Endoberfläche<br />
Durchgangslöcher<br />
Klasse 1 Klasse 2 Klasse 3<br />
Durchgangslöcher<br />
Endoberfläche Klasse 1 Klasse 2 Klasse 3<br />
Kupfer² (kleinster Mittelwert) 20µm 20µm 25µm<br />
Kupfer² Mindestwert Durchgangslöcher<br />
(kleinster im dünnen Mittelwert) Bereich 20µm 18µm 20µm 18µm 25µm 20µm<br />
Mindestwert<br />
Sacklöcher<br />
Kupfer² (kleinster im dünnen Mittelwert) Bereich 18µm 20µm 18µm 20µm 20µm 25µm<br />
Sacklöcher<br />
Kupfer² Mindestwert (kleinster im dünnen Mittelwert) Bereich 20µm 18µm 20µm 18µm 25µm 20µm<br />
Kupfer² Mindestwert Sacklöcher (kleinster im dünnen Mittelwert) Bereich 20µm 18µm 20µm 18µm 25µm 20µm<br />
Mindestwert<br />
Sacklöcher Kupfer² (kleinster Mikrovias³<br />
im dünnen Mittelwert) Bereich 18µm 20µm 18µm 20µm 20µm 25µm<br />
Sacklöcher<br />
Kupfer² Mindestwert (kleinster<br />
Mikrovias³ im dünnen Mittelwert) Bereich 12µm 18µm 12µm 18µm 12µm 20µm<br />
Kupfer² Mindestwert Sacklöcher (kleinster im Mikrovias³ dünnen Mittelwert) Bereich 12µm 10µm 12µm 10µm 12µm 10µm<br />
Mindestwert<br />
Kernbereiche Kupfer² (kleinster im<br />
nicht<br />
dünnen Mittelwert) durchgehender<br />
Bereich<br />
Verbindungslöcher<br />
10µm 12µm 10µm 12µm 10µm 12µm<br />
Kernbereiche<br />
Kupfer² Mindestwert (kleinster im nicht dünnen Mittelwert)<br />
durchgehender Bereich Verbindungslöcher<br />
13µm 10µm 15µm 10µm 15µm 10µm<br />
Kupfer² Mindestwert Kernbereiche (kleinster im dünnen nicht Mittelwert) durchgehender Bereich Verbindungslöcher<br />
13µm 11µm 15µm 13µm 15µm 13µm<br />
Mindestwert<br />
Nicht Kupfer² durchgehende (kleinster im dünnen Mittelwert) Verbindungslöcher<br />
Bereich<br />
(> 2 Lagen)<br />
11µm 13µm 13µm 15µm 13µm 15µm<br />
Nicht<br />
Kupfer² Mindestwert durchgehende<br />
(kleinster im dünnen Mittelwert)<br />
Verbindungslöcher Bereich (> 2 Lagen)<br />
20µm 11µm 20µm 13µm 25µm 13µm<br />
Kupfer² Mindestwert Nicht durchgehende (kleinster im dünnen Mittelwert) Verbindungslöcher Bereich (> 2 Lagen)<br />
20µm 18µm 20µm 18µm 25µm 20µm<br />
Mindestwert Kupfer² (kleinster im dünnen Mittelwert) Bereich 18µm 20µm 18µm 20µm 20µm 25µm<br />
² Die Dicke der Kupfermetallisierung gilt für die Oberfläche und die Lochwandungen. Die Reduzierung der Kupferstärke beim Übergang<br />
Mindestwert im dünnen Bereich 18µm 18µm 20µm<br />
von der Oberfläche zur Lochwandung aufgrund der Planarisierung der Verbindungslochmetallisierung darf 50% der minimalen Oberflä-<br />
² Die Dicke der Kupfermetallisierung gilt für die Oberfläche und die Lochwandungen. Die Reduzierung der Kupferstärke beim Übergang<br />
chenkupferstärke nicht überschreiten.<br />
von der Oberfläche zur Lochwandung aufgrund der Planarisierung der Verbindungslochmetallisierung darf 50% der minimalen Oberflä-<br />
² Die Dicke der Kupfermetallisierung gilt für die Oberfläche und die Lochwandungen. Die Reduzierung der Kupferstärke beim Übergang<br />
chenkupferstärke nicht überschreiten.<br />
³ von Sackloch-Mikrovias der Oberfläche zur sind Lochwandung Sacklöcher mit aufgrund einem Durchmesser der Planarisierung 250 µm<br />
Kontur +/- 0,10 mm* +/- 0,15 mm +/- 0,15 mm +/- 0,15 mm<br />
Kontur +/- 0,10 mm* +/- 0,15 mm +/- 0,15 mm +/- 0,15 mm<br />
Fräsradius<br />
0,4 mm<br />
0,5 mm<br />
0,8 mm<br />
1,0 mm<br />
Fräsradius<br />
0,4 mm<br />
0,5 mm<br />
0,8 mm<br />
1,0 mm<br />
Steckerleisten<br />
+/- 0,05mm **<br />
-<br />
-<br />
-<br />
Steckerleisten<br />
Aspect Ratio (max. 1:8) ***<br />
Aspect Ratio (max. 1:8)<br />
+/- 0,05mm **<br />
-<br />
-<br />
-<br />
Dk 1:8 Bis 1:7 1:5 bis 1:6 < 1:5<br />
Dk 1:8 Bis 1:7 1:5 bis 1:6 < 1:5<br />
blind vias 1:0,8<br />
blind vias 1:0,8<br />
buried vias 1:8<br />
buried vias 1:8<br />
* Interner Hinweis: Aufnahmebohrungen innerhalb der LP erforderlich!<br />
* Interner Hinweis: Aufnahmebohrungen innerhalb der LP erforderlich!<br />
* ** Interner Interner Hinweis: Hinweis: Aufnahmebohrungen CCD-Kamera erforderlich innerhalb der = Mehrkosten LP erforderlich! durch erhöhten Aufwand<br />
Achten ** Interner Sie beim Hinweis: Layouten CCD-Kamera darauf, erforderlich immer innerhalb = Mehrkosten einer Klasse durch erhöhten zu bleiben. Aufwand Jeder Schritt in eine höhere Klasse ist ein Kosten-<br />
** Interner Hinweis: CCD-Kamera erforderlich = Mehrkosten durch erhöhten Aufwand<br />
faktor. Achten Artikel- Sie beim und Layouten kundenspezifische darauf, immer Vorgaben innerhalb einer sollten Klasse mit zu unserer bleiben. Technik Jeder Schritt abgestimmt in eine werden. höhere Klasse ist ein Kostenfaktor.<br />
Achten Sie beim Layouten darauf, immer innerhalb einer Klasse zu bleiben. Jeder Schritt in eine höhere Klasse ist ein Kostenfaktor.<br />
Artikel Plattendicke<br />
– und Kundenspezifische Vorgaben sollten mit unserer Technik abgestimmt werden.<br />
Artikel ***AR= – und Kundenspezifische Vorgaben sollten mit unserer Technik abgestimmt werden.<br />
geb. Durchmesser<br />
Kupferstärken<br />
im<br />
im<br />
Verhältnis<br />
Verhältnis<br />
zu<br />
zu<br />
Leiterzugbreiten<br />
Leiterzugbreiten-<br />
– und<br />
Abständen<br />
abständen<br />
Kupferstärken im Verhältnis zu Leiterzugbreiten – und Abständen<br />
Kupferstärke (Endkupfer) Leiterzugbreiten und –abstände<br />
Kupferstärke (Endkupfer) Leiterzugbreiten und –abstände<br />
35 µm 120 µm<br />
35 µm 120 µm<br />
70 µm 150µm<br />
70 µm 170 150µm<br />
105 µm 200µm<br />
105 µm 250 200µm<br />
140 µm 250µm<br />
140 µm 270 250µm<br />
210 µm 300µm<br />
210 µm 320 300µm<br />
250 µm 350µm<br />
250 µm 350µm<br />
Stegbreiten Stopplack<br />
Stegbreiten Stopplack<br />
80µm<br />
80µm<br />
100µm<br />
100µm<br />
170µm<br />
170µm<br />
170µm<br />
170µm<br />
170µm<br />
170µm<br />
200µm<br />
200µm<br />
Zur möglichst gleichmäßigen Gestaltung des Layouts in Bezug auf die Dimensionsstabilität des Materials der Innenlagen, sowie zur gleichmäßigen<br />
Zur möglichst gleichmäßigen Gestaltung des Layouts in Bezug auf die Dimensionsstabilität des Materials der Innenlagen, sowie zur gleichmäßigen<br />
Feldverteilung im Galvanik-Prozeß der Außenlagen, sind größere Freiflächen (Innen – und Außenlagenbilder) mit Aufrasterungen zu versehen, die<br />
Feldverteilung im Galvanik-Prozeß der Außenlagen, sind größere Freiflächen (Innen – und Außenlagenbilder) mit Aufrasterungen zu versehen, die<br />
der Dichte des Leiterbildes entsprechen.<br />
der Dichte des Leiterbildes entsprechen.<br />
Diese werden außerhalb der Leiterplatte bzw. des Kundennutzens durch die CAM-Abteilung ohne Anweisung der Arbeitsvorbereitung gesetzt, inner-<br />
Diese werden außerhalb der Leiterplatte bzw. des Kundennutzens durch die CAM-Abteilung ohne Anweisung der Arbeitsvorbereitung gesetzt, innerhalb<br />
des Layouts nur mit Anweisung der Arbeitsvorbereitung nach Kundenrücksprache.<br />
halb des Layouts nur mit Anweisung der Arbeitsvorbereitung nach Kundenrücksprache.<br />
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