24.11.2012 Aufrufe

Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

Optimierung der elektrischen Eigenschaften von lateralen ...

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

88 Kapitel 4 Statisches Verhalten <strong>von</strong> SJ‐LDMOS‐Transistoren<br />

_________________________________________________________________________________________________________________<br />

erkennbar, dass sich die Durchbruchspannung <strong>der</strong> ungleichförmigen SJ bei solchen<br />

Abweichungen nicht so drastisch reduziert wie bei <strong>der</strong> gleichförmigen SJ. Diese<br />

geringere Sensitivität <strong>der</strong> Spannungsfestigkeit gegen gestörten Ladungsausgleich<br />

deutet auf eine Beson<strong>der</strong>heit <strong>der</strong> ungleichförmigen Säulenauslegung, worauf im<br />

nächsten Abschnitt näher eingegangen wird.<br />

Auch gemäß Gl. (4.8) ist eine Reduktion des Durchlasswi<strong>der</strong>standes durch Erhöhung<br />

<strong>der</strong> Dicke <strong>der</strong> Driftzone d, o<strong>der</strong>, mit an<strong>der</strong>en Worten, <strong>der</strong> Höhe <strong>der</strong> p‐Säulen<br />

möglich. Abb. 4.20 zeigt RDS(on)⋅A und U(BR)DSS in Abhängigkeit <strong>von</strong> <strong>der</strong> Driftzonentiefe<br />

d. Bei kleinen Driftzonentiefen nimmt RDS(on)⋅A offenbar bei gleichzeitigem Anstieg<br />

<strong>von</strong> U(BR)DSS ab. Erst wenn die Driftzonentiefe über einen kritischen Wert <strong>von</strong> ca. 15<br />

µm erhöht wird, kommt es ebenfalls zur Verschlechterung <strong>der</strong> Blockierfähigkeit des<br />

Bauelements. Dabei sinkt RDS(on)⋅A weiterhin, sein Verlauf zeigt aber geringere Sen‐<br />

kungen, da <strong>der</strong> Stromfluss beim SJ‐LDMOS in <strong>der</strong> Regel oberflächennah erfolgt. Die<br />

Einwirkung <strong>der</strong> Driftzonentiefe auf U(BR)DSS lässt sich anhand <strong>der</strong> Abbildungen 4.21<br />

und 4.22 anschaulich erklären. Wenn die Driftzone nicht zu tief ist (d < 12 µm),<br />

kommt es lange vor dem Erreichen des Durchbruchs an einem pn‐Übergang zu einer<br />

Verarmung an Ladungsträgern in dieser Driftzone. Somit findet <strong>der</strong> Durchbruch am<br />

n + n‐Übergang statt. Eine weitere Vergrößerung <strong>der</strong> Driftzonentiefe verschiebt den<br />

Durchbruch vom n + n‐Übergang auf dem vertikalen pn‐Übergang vom Substrat in die<br />

Driftzone, an dem die Durchbruchspannung ihren Höchstwert hat. Beim Über‐<br />

schreiten des kritischen Werts (d ≈ 15 µm) wird die Wechselwirkung des vertikalen<br />

pn‐Überganges mit den <strong>lateralen</strong> pn‐Übergängen weniger wirksam, was wie<strong>der</strong>um<br />

den oberflächennahen Durchbruch entwe<strong>der</strong> am Übergang <strong>der</strong> p‐Basis in die n‐<br />

Driftzone o<strong>der</strong> am Übergang <strong>der</strong> p‐Säulen in die n‐Driftzone eintreten lässt und<br />

damit die Durchbruchspannung verringert.

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!